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成立于1964年，日本知名的機械密封制造商，其生產的機械密封廣泛地使用于汽車、鋼鐵、石化、制藥、航空及海洋等領域，主要從事制造、銷售各種機械密封、特殊閥門、成套設備機器、船用產品金屬波紋管應用品等產品

日(ri)(ri)本(ben)EKK(Eagle Industry Co.， Ltd)伊格(ge)爾株式會(hui)社成立于1964年10月1日(ri)(ri)，是(shi)日(ri)(ri)本(ben)知名的(de)機械密封制造商，其生產的(de)機械密封廣泛地使用于汽車(che)、鋼鐵、石(shi)化、制藥、航(hang)空(kong)及海洋等領域(yu)，目前公(gong)司(si)從業人員(yuan)有近5000名，公(gong)司(si)已在東京(jing)證交所上市。

EKK是各種(zhong)機械密(mi)封、特殊閥門(men)、成套設(she)備(bei)機器(qi)、船(chuan)用(yong)產品金屬波紋管(guan)應用(yong)品等(deng)的制造(zao)、銷(xiao)售等(deng)，EKK從(cong)1964年十月(yue)份成立(li)(li)之后(hou)，到1987年12月(yue)通過與NOK株(zhu)式(shi)會社及(ji)瑞(rui)進通商（韓國）合資，成立(li)(li)以生(sheng)產、銷(xiao)售機械密(mi)封為(wei)目的的NOK EAGLE KOREA CO，LTD.(現為(wei)NEK Co.， Ltd.)，后(hou)續EKK從(cong)NOK株(zhu)式(shi)會社接受蓄(xu)能器(qi)、住宅設(she)備(bei)用(yong)閥門(men)產品的業務(wu)，2012年同年10月(yue)份，成立(li)(li)了(le)主要以生(sheng)產、銷(xiao)售汽車(che)變速箱用(yong)電磁閥為(wei)目的的EKK Eagle Industry Mexico S.A. de C.V.，到了(le)2013年兼并了(le)Lignum Vitae株(zhu)式(shi)會社。

EKK機(ji)(ji)械(xie)密封技術(shu)：泵、壓(ya)縮機(ji)(ji)等(deng)(deng)軸旋轉(zhuan)的動力(li)機(ji)(ji)械(xie)通常被(bei)稱為(wei)“轉(zhuan)動設(she)(she)(she)備(bei)”。機(ji)(ji)械(xie)密封是安裝于傳遞轉(zhuan)動設(she)(she)(she)備(bei)動力(li)的軸上的一種(zhong)襯墊類(lei)部(bu)品，廣泛應用于從汽車、船舶、火箭、工業成套設(she)(she)(she)備(bei)到住宅用設(she)(she)(she)備(bei)等(deng)(deng)領域。其作用是，防止(zhi)設(she)(she)(she)備(bei)中的水或油等(deng)(deng)流體泄漏至(zhi)設(she)(she)(she)備(bei)外部(bu)（空氣、水中等(deng)(deng)），從而達到防止(zhi)環境污染，能提高設(she)(she)(she)備(bei)運行(xing)效率并節約能源、進而為(wei)保障(zhang)設(she)(she)(she)備(bei)安全作出貢獻(xian)。

EKK公司(si)的(de)產品對(dui)于機械密封有著表面紋(wen)理環技術、材(cai)料(liao)技術、測量分析技術、材(cai)料(liao)分析技術等。

對(dui)于(yu)機械(xie)密封的密封轉動部(bu)位而言，EKK公司對(dui)于(yu)這(zhe)個部(bu)分考慮的是強度、耐磨性這(zhe)兩個非常重要的指(zhi)標，EKK公司特別采用(yong)碳化硅(gui)（SIC：碳化硅(gui)）及碳等進(jin)行研發。

表(biao)面紋理(li)環技(ji)術是EKK公司通過密封(feng)面可視(shi)化技(ji)術以及先進的(de)(de)數(shu)值(zhi)分析技(ji)術，來實現密封(feng)表(biao)面微造(zao)型的(de)(de)可行性，EKK這樣的(de)(de)目的(de)(de)是希望(wang)生產出(chu)零泄漏、低扭矩、低環境(jing)載荷的(de)(de)密封(feng)。

測(ce)量(liang)分析(xi)技術(shu)(shu)是EKK公司利用測(ce)量(liang)技術(shu)(shu)、分析(xi)技術(shu)(shu)這(zhe)些(xie)固有的技術(shu)(shu)U上再進行可視化實驗，屬(shu)于技術(shu)(shu)升(sheng)級的部分。

材料分析技術是EKK公司利用XRD分析薄膜的示(shi)例，來確認晶體結構隨(sui)成膜速(su)率變化的情況。