Ram Stress Test(RST)是(shi)一個維修級內(nei)存檢(jian)測工(gong)(gong)具,能夠檢(jian)測內(nei)存有哪一塊顆粒損(sun)壞(huai),PCB板有沒有短(duan)路或虛(xu)焊;Ram Stress Test能檢(jian)測SD內(nei)存,也能檢(jian)測DDR內(nei)存,是(shi)專業的(de)內(nei)存維修工(gong)(gong)具,完全可以取(qu)代昂(ang)貴的(de)內(nei)存檢(jian)測卡。