Ram Stress Test(RST)是一個維(wei)修(xiu)級內(nei)存(cun)檢(jian)測(ce)工具,能夠檢(jian)測(ce)內(nei)存(cun)有哪一塊(kuai)顆粒損(sun)壞,PCB板有沒有短路(lu)或虛焊;Ram Stress Test能檢(jian)測(ce)SD內(nei)存(cun),也能檢(jian)測(ce)DDR內(nei)存(cun),是專業的內(nei)存(cun)維(wei)修(xiu)工具,完(wan)全可以取代(dai)昂貴的內(nei)存(cun)檢(jian)測(ce)卡。