1、超聲(sheng)波(bo)在(zai)(zai)介(jie)質(zhi)(zhi)中(zhong)傳播(bo)時(shi)(shi)，在(zai)(zai)不同質(zhi)(zhi)界面(mian)上具(ju)有反(fan)射(she)的特性(xing)，如遇到缺(que)(que)陷(xian)，缺(que)(que)陷(xian)的尺(chi)寸等于(yu)或大于(yu)超聲(sheng)波(bo)波(bo)長(chang)時(shi)(shi)，則(ze)超聲(sheng)波(bo)在(zai)(zai)缺(que)(que)陷(xian)上反(fan)射(she)回來(lai)，探傷儀可將反(fan)射(she)波(bo)顯示出(chu)來(lai)；如缺(que)(que)陷(xian)的尺(chi)寸甚至小于(yu)波(bo)長(chang)時(shi)(shi)，聲(sheng)波(bo)將繞過射(she)線而不能反(fan)射(she)。
2、波聲的方(fang)向性好，頻率越(yue)高，方(fang)向性越(yue)好，以很窄的波束向介質中輻射，易于(yu)確定缺陷的位(wei)置。
3、超(chao)聲波的(de)傳(chuan)播能(neng)量大，如頻(pin)率為1MHZ（1兆(zhao)赫茲）的(de)超(chao)聲波所傳(chuan)播的(de)能(neng)量，相(xiang)當于振幅相(xiang)同而頻(pin)率為1000HZ（赫茲）的(de)聲波的(de)100萬(wan)倍。
探傷儀(yi)檢(jian)測(ce)通常是對被(bei)測(ce)物體(ti)(ti)（比如工(gong)業(ye)材料、人體(ti)(ti)）發射(she)超聲，然(ran)后利用其(qi)反射(she)、多(duo)普(pu)勒效(xiao)應、透射(she)等來獲取(qu)被(bei)測(ce)物體(ti)(ti)內部的信息并經過處理形(xing)成圖像。
探(tan)傷(shang)儀其中多普勒(le)效應法(fa)是利用超聲在遇到運動(dong)的(de)(de)物(wu)體時發生的(de)(de)多普勒(le)頻移效應來得出該物(wu)體的(de)(de)運動(dong)方(fang)向(xiang)和速度等(deng)特(te)性；透(tou)射法(fa)則是通過分(fen)析超聲穿(chuan)透(tou)過被測(ce)物(wu)體之后的(de)(de)變(bian)化而(er)得出物(wu)體的(de)(de)內(nei)部特(te)性的(de)(de)，其應用還(huan)處于研制階段；
探傷儀(yi)內部缺陷性質的估判(pan)及原因和防(fang)止措施
單個(ge)(ge)氣孔回(hui)波高(gao)(gao)度低，波形為單縫，較穩定。從(cong)各個(ge)(ge)方向探測(ce)，反(fan)(fan)射波大體(ti)相同，但稍一(yi)動探頭就消失，密(mi)(mi)集氣孔會出(chu)現一(yi)簇反(fan)(fan)射波，波高(gao)(gao)隨(sui)氣孔大小而不(bu)同，當探頭作定點(dian)轉(zhuan)動時(shi)，會出(chu)現此(ci)起彼落的(de)現象。產生這類(lei)缺陷的(de)原(yuan)因主要是焊(han)(han)(han)材(cai)(cai)未按(an)規定溫度烘(hong)干，焊(han)(han)(han)條(tiao)藥(yao)皮變質脫落、焊(han)(han)(han)芯(xin)銹蝕(shi)(shi)，焊(han)(han)(han)絲清理(li)不(bu)干凈，手(shou)工焊(han)(han)(han)時(shi)電流過大，電弧(hu)過長(chang);埋弧(hu)焊(han)(han)(han)時(shi)電壓(ya)(ya)過高(gao)(gao)或(huo)網絡電壓(ya)(ya)波動太大;氣體(ti)保護焊(han)(han)(han)時(shi)保護氣體(ti)純度低等。如果焊(han)(han)(han)縫中(zhong)存(cun)在著氣孔，既破壞了焊(han)(han)(han)縫金屬的(de)致密(mi)(mi)性，又使(shi)得焊(han)(han)(han)縫有效截面(mian)積減少(shao)，降低了機械性能(neng)，特(te)別是存(cun)鏈狀氣孔時(shi)，對(dui)彎(wan)曲和沖擊韌性會有比(bi)較明(ming)顯降低。防止這類(lei)缺陷產生的(de)措施有：不(bu)使(shi)用藥(yao)皮開裂、剝(bo)落、變質及焊(han)(han)(han)芯(xin)銹蝕(shi)(shi)的(de)焊(han)(han)(han)條(tiao)，生銹的(de)焊(han)(han)(han)絲必須除銹后才能(neng)使(shi)用。所(suo)用焊(han)(han)(han)接材(cai)(cai)料(liao)應按(an)規定溫度烘(hong)干，坡(po)口及其兩側清理(li)干凈，并要選用合適的(de)焊(han)(han)(han)接電流、電弧(hu)電壓(ya)(ya)和焊(han)(han)(han)接速度等。
點(dian)狀(zhuang)夾渣(zha)回(hui)(hui)波(bo)信(xin)號(hao)與點(dian)狀(zhuang)氣孔相似，條狀(zhuang)夾渣(zha)回(hui)(hui)波(bo)信(xin)號(hao)多呈鋸齒(chi)狀(zhuang)波(bo)幅(fu)不(bu)(bu)(bu)高，波(bo)形多呈樹枝(zhi)狀(zhuang)，主(zhu)峰(feng)邊上有小(xiao)峰(feng)，探頭(tou)平移波(bo)幅(fu)有變動(dong)，從各個(ge)方(fang)向探測時反射波(bo)幅(fu)不(bu)(bu)(bu)相同。這類缺陷產生的原(yuan)因(yin)有：焊(han)(han)接(jie)(jie)電流過小(xiao)，速度過快，熔渣(zha)來(lai)不(bu)(bu)(bu)及浮起，被焊(han)(han)邊緣和各層(ceng)(ceng)焊(han)(han)縫清(qing)(qing)理(li)不(bu)(bu)(bu)干凈，其本金屬和焊(han)(han)接(jie)(jie)材(cai)料化學成分(fen)不(bu)(bu)(bu)當，含硫、磷較多等。防止措施有：正確選用(yong)焊(han)(han)接(jie)(jie)電流，焊(han)(han)接(jie)(jie)件的坡口角(jiao)度不(bu)(bu)(bu)要(yao)太小(xiao)，焊(han)(han)前必須把坡口清(qing)(qing)理(li)干凈，多層(ceng)(ceng)焊(han)(han)時必須層(ceng)(ceng)層(ceng)(ceng)清(qing)(qing)除焊(han)(han)渣(zha);并合理(li)選擇運條角(jiao)度焊(han)(han)接(jie)(jie)速度等。
反(fan)射率(lv)高，波(bo)幅也較(jiao)高，探(tan)頭平移時(shi)，波(bo)形較(jiao)穩(wen)定，在焊縫兩(liang)側探(tan)傷時(shi)均能得到大致相同的(de)(de)(de)反(fan)射波(bo)幅。這類(lei)缺(que)陷(xian)不(bu)(bu)僅(jin)降低了(le)焊接接頭的(de)(de)(de)機械性能，而且在未焊透處的(de)(de)(de)缺(que)口和端部形成應力集中點(dian)，承載后往(wang)往(wang)會引(yin)起裂紋(wen)，是一種危險(xian)性缺(que)陷(xian)。其產生原(yuan)因一般是：坡口純邊間隙太(tai)小(xiao)，焊接電流太(tai)小(xiao)或運條(tiao)速度過(guo)快，坡口角(jiao)度小(xiao)，運條(tiao)角(jiao)度不(bu)(bu)對以及電弧偏吹等(deng)。防止措施有：合(he)理選(xuan)用坡口型式、裝(zhuang)配間隙和采用正確(que)的(de)(de)(de)焊接工藝等(deng)。
探頭平移時(shi)(shi)，波形(xing)較穩定，兩(liang)側探測時(shi)(shi)，反射波幅不同，有(you)時(shi)(shi)只能從(cong)一側探到。其產生(sheng)的原(yuan)因(yin)：坡(po)(po)口(kou)不干凈(jing)(jing)，焊速太快，電流過小(xiao)或過大，焊條角度不對(dui)，電弧偏吹等。防(fang)止措(cuo)施：正確選用坡(po)(po)口(kou)和電流，坡(po)(po)口(kou)清理干凈(jing)(jing)，正確操作防(fang)止焊偏等。
回波(bo)高(gao)(gao)度較大，波(bo)幅(fu)寬，會出(chu)現(xian)(xian)多(duo)峰(feng)，探(tan)頭(tou)平移時反射(she)波(bo)連續出(chu)現(xian)(xian)波(bo)幅(fu)有(you)變(bian)動，探(tan)頭(tou)轉時，波(bo)峰(feng)有(you)上下錯動現(xian)(xian)象。裂紋(wen)(wen)是一(yi)種(zhong)危險性最大的(de)(de)缺陷，它(ta)除(chu)降低焊接接頭(tou)的(de)(de)強(qiang)度外(wai)，還因裂紋(wen)(wen)的(de)(de)末端呈尖銷的(de)(de)缺口，焊件承載后，引起應(ying)力(li)集(ji)中，成(cheng)為(wei)結(jie)構(gou)斷裂的(de)(de)起源。裂紋(wen)(wen)分為(wei)熱裂紋(wen)(wen)、冷裂紋(wen)(wen)和再熱裂紋(wen)(wen)三種(zhong)。熱裂紋(wen)(wen)產(chan)生的(de)(de)原因是：焊接時熔池的(de)(de)冷卻速度很快(kuai)，造成(cheng)偏析(xi);焊縫受熱不均勻(yun)產(chan)生拉應(ying)力(li)。防止措施：限制母(mu)材和焊接材料中易(yi)偏析(xi)元(yuan)素和有(you)害雜(za)質的(de)(de)含量(liang)，主要限制硫(liu)含量(liang)，提(ti)(ti)高(gao)(gao)錳含量(liang);提(ti)(ti)高(gao)(gao)焊條(tiao)或(huo)焊劑(ji)的(de)(de)堿度，以降低雜(za)質含量(liang)，改善偏析(xi)程度;改進(jin)焊接結(jie)構(gou)形式，采用合理的(de)(de)焊接順序，提(ti)(ti)高(gao)(gao)焊縫收(shou)縮時的(de)(de)自由度。
探(tan)傷(shang)(shang)儀(yi)檢(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)這(zhe)(zhe)里主(zhu)要介紹(shao)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)是(shi)(shi)(shi)應用最多(duo)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)通過(guo)(guo)反(fan)(fan)(fan)射(she)(she)法(fa)(fa)來(lai)獲(huo)取物體(ti)(ti)(ti)(ti)內(nei)(nei)部特性信(xin)息(xi)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)方(fang)(fang)法(fa)(fa)。反(fan)(fan)(fan)射(she)(she)法(fa)(fa)是(shi)(shi)(shi)基于(yu)(yu)(yu)超(chao)(chao)(chao)聲(sheng)在(zai)(zai)(zai)通過(guo)(guo)不(bu)同(tong)聲(sheng)阻(zu)抗組(zu)(zu)織(zhi)界(jie)面(mian)(mian)時(shi)(shi)(shi)會(hui)發生(sheng)(sheng)較強反(fan)(fan)(fan)射(she)(she)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)原理(li)工(gong)作的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)，正(zheng)如我們(men)所知(zhi)道(dao)，聲(sheng)波(bo)在(zai)(zai)(zai)從一(yi)(yi)種(zhong)介質(zhi)傳(chuan)播(bo)到(dao)另外(wai)一(yi)(yi)種(zhong)介質(zhi)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)時(shi)(shi)(shi)候(hou)在(zai)(zai)(zai)兩者之(zhi)(zhi)間(jian)(jian)(jian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)界(jie)面(mian)(mian)處(chu)會(hui)發生(sheng)(sheng)反(fan)(fan)(fan)射(she)(she)，而(er)且(qie)介質(zhi)之(zhi)(zhi)間(jian)(jian)(jian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)差(cha)別越(yue)大反(fan)(fan)(fan)射(she)(she)就(jiu)會(hui)越(yue)大，所以(yi)我們(men)可(ke)以(yi)對(dui)一(yi)(yi)個(ge)物體(ti)(ti)(ti)(ti)發射(she)(she)出(chu)穿透力強、能夠直線(xian)傳(chuan)播(bo)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)超(chao)(chao)(chao)聲(sheng)波(bo)，探(tan)傷(shang)(shang)儀(yi)然后(hou)對(dui)反(fan)(fan)(fan)射(she)(she)回(hui)來(lai)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)超(chao)(chao)(chao)聲(sheng)波(bo)進行接(jie)(jie)收并根據(ju)這(zhe)(zhe)些反(fan)(fan)(fan)射(she)(she)回(hui)來(lai)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)超(chao)(chao)(chao)聲(sheng)波(bo)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)先后(hou)、幅(fu)度(du)等(deng)(deng)(deng)情況就(jiu)可(ke)以(yi)判(pan)斷出(chu)這(zhe)(zhe)個(ge)組(zu)(zu)織(zhi)中(zhong)含(han)有(you)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)各種(zhong)介質(zhi)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)大小、分(fen)(fen)布情況以(yi)及各種(zhong)介質(zhi)之(zhi)(zhi)間(jian)(jian)(jian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)對(dui)比差(cha)別程(cheng)(cheng)度(du)等(deng)(deng)(deng)信(xin)息(xi)（其(qi)(qi)(qi)中(zhong)反(fan)(fan)(fan)射(she)(she)回(hui)來(lai)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)超(chao)(chao)(chao)聲(sheng)波(bo)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)先后(hou)可(ke)以(yi)反(fan)(fan)(fan)映出(chu)反(fan)(fan)(fan)射(she)(she)界(jie)面(mian)(mian)離(li)探(tan)測(ce)(ce)(ce)(ce)表面(mian)(mian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)距離(li)，幅(fu)度(du)則可(ke)以(yi)反(fan)(fan)(fan)映出(chu)介質(zhi)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)大小、對(dui)比差(cha)別程(cheng)(cheng)度(du)等(deng)(deng)(deng)特性），探(tan)傷(shang)(shang)儀(yi)從而(er)判(pan)斷出(chu)該被測(ce)(ce)(ce)(ce)物體(ti)(ti)(ti)(ti)是(shi)(shi)(shi)否有(you)異常。在(zai)(zai)(zai)這(zhe)(zhe)個(ge)過(guo)(guo)程(cheng)(cheng)中(zhong)就(jiu)涉及到(dao)很(hen)多(duo)方(fang)(fang)面(mian)(mian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)內(nei)(nei)容，包括(kuo)超(chao)(chao)(chao)聲(sheng)波(bo)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)產生(sheng)(sheng)、接(jie)(jie)收、信(xin)號(hao)(hao)(hao)轉(zhuan)換和處(chu)理(li)等(deng)(deng)(deng)。其(qi)(qi)(qi)中(zhong)產生(sheng)(sheng)超(chao)(chao)(chao)聲(sheng)波(bo)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)方(fang)(fang)法(fa)(fa)是(shi)(shi)(shi)通過(guo)(guo)電路產生(sheng)(sheng)激勵電信(xin)號(hao)(hao)(hao)傳(chuan)給(gei)具有(you)壓電效應的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)晶(jing)體(ti)(ti)(ti)(ti)（比如石英、硫酸鋰等(deng)(deng)(deng)），使(shi)其(qi)(qi)(qi)振動(dong)從而(er)產生(sheng)(sheng)超(chao)(chao)(chao)聲(sheng)波(bo)；而(er)接(jie)(jie)收反(fan)(fan)(fan)射(she)(she)回(hui)來(lai)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)超(chao)(chao)(chao)聲(sheng)波(bo)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)時(shi)(shi)(shi)候(hou)，這(zhe)(zhe)個(ge)壓電晶(jing)體(ti)(ti)(ti)(ti)又會(hui)受(shou)到(dao)反(fan)(fan)(fan)射(she)(she)回(hui)來(lai)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)聲(sheng)波(bo)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)壓力而(er)產生(sheng)(sheng)電信(xin)號(hao)(hao)(hao)并傳(chuan)送給(gei)信(xin)號(hao)(hao)(hao)處(chu)理(li)電路進行一(yi)(yi)系列的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)處(chu)理(li)，探(tan)傷(shang)(shang)儀(yi)最后(hou)形(xing)(xing)成圖(tu)像(xiang)(xiang)供人(ren)們(men)觀察(cha)(cha)判(pan)斷。這(zhe)(zhe)里根據(ju)圖(tu)像(xiang)(xiang)處(chu)理(li)方(fang)(fang)法(fa)(fa)（也(ye)就(jiu)是(shi)(shi)(shi)將(jiang)得到(dao)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)信(xin)號(hao)(hao)(hao)轉(zhuan)換成什么(me)形(xing)(xing)式的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)圖(tu)像(xiang)(xiang)）的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)種(zhong)類又可(ke)以(yi)分(fen)(fen)為A型(xing)(xing)顯(xian)示(shi)(shi)(shi)、M型(xing)(xing)顯(xian)示(shi)(shi)(shi)、B型(xing)(xing)顯(xian)示(shi)(shi)(shi)、C型(xing)(xing)顯(xian)示(shi)(shi)(shi)、F型(xing)(xing)顯(xian)示(shi)(shi)(shi)等(deng)(deng)(deng)。其(qi)(qi)(qi)中(zhong)A型(xing)(xing)顯(xian)示(shi)(shi)(shi)是(shi)(shi)(shi)將(jiang)接(jie)(jie)收到(dao)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)超(chao)(chao)(chao)聲(sheng)信(xin)號(hao)(hao)(hao)處(chu)理(li)成波(bo)形(xing)(xing)圖(tu)像(xiang)(xiang)，根據(ju)波(bo)形(xing)(xing)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)形(xing)(xing)狀可(ke)以(yi)看出(chu)被測(ce)(ce)(ce)(ce)物體(ti)(ti)(ti)(ti)里面(mian)(mian)是(shi)(shi)(shi)否有(you)異常和缺(que)陷在(zai)(zai)(zai)那里、有(you)多(duo)大等(deng)(deng)(deng)，探(tan)傷(shang)(shang)儀(yi)主(zhu)要用于(yu)(yu)(yu)工(gong)業檢(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)；M型(xing)(xing)顯(xian)示(shi)(shi)(shi)是(shi)(shi)(shi)將(jiang)一(yi)(yi)條經(jing)過(guo)(guo)輝(hui)度(du)處(chu)理(li)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)探(tan)測(ce)(ce)(ce)(ce)信(xin)息(xi)按時(shi)(shi)(shi)間(jian)(jian)(jian)順序(xu)展開(kai)形(xing)(xing)成一(yi)(yi)維的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)"空間(jian)(jian)(jian)多(duo)點(dian)運動(dong)時(shi)(shi)(shi)序(xu)圖(tu)"，適(shi)于(yu)(yu)(yu)觀察(cha)(cha)內(nei)(nei)部處(chu)于(yu)(yu)(yu)運動(dong)狀態的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)物體(ti)(ti)(ti)(ti)，探(tan)傷(shang)(shang)儀(yi)如運動(dong)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)臟器、動(dong)脈血(xue)管等(deng)(deng)(deng)；B型(xing)(xing)顯(xian)示(shi)(shi)(shi)是(shi)(shi)(shi)將(jiang)并排很(hen)多(duo)條經(jing)過(guo)(guo)輝(hui)度(du)處(chu)理(li)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)探(tan)測(ce)(ce)(ce)(ce)信(xin)息(xi)組(zu)(zu)合成的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)二維的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)、反(fan)(fan)(fan)映出(chu)被測(ce)(ce)(ce)(ce)物體(ti)(ti)(ti)(ti)內(nei)(nei)部斷層(ceng)切面(mian)(mian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)"解剖圖(tu)像(xiang)(xiang)"（醫(yi)院里使(shi)用的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)B超(chao)(chao)(chao)就(jiu)是(shi)(shi)(shi)用這(zhe)(zhe)種(zhong)原理(li)做(zuo)(zuo)出(chu)來(lai)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)），探(tan)傷(shang)(shang)儀(yi)適(shi)于(yu)(yu)(yu)觀察(cha)(cha)內(nei)(nei)部處(chu)于(yu)(yu)(yu)靜(jing)態的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)物體(ti)(ti)(ti)(ti)；而(er)C型(xing)(xing)顯(xian)示(shi)(shi)(shi)、F型(xing)(xing)顯(xian)示(shi)(shi)(shi)用得比較少(shao)。探(tan)傷(shang)(shang)儀(yi)檢(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)不(bu)但可(ke)以(yi)做(zuo)(zuo)到(dao)非常準確，而(er)且(qie)相對(dui)其(qi)(qi)(qi)他(ta)檢(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)方(fang)(fang)法(fa)(fa)來(lai)說(shuo)更為方(fang)(fang)便、快(kuai)捷，也(ye)不(bu)會(hui)對(dui)檢(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)對(dui)象(xiang)和操作者產生(sheng)(sheng)危害(hai)，所以(yi)受(shou)到(dao)了人(ren)們(men)越(yue)來(lai)越(yue)普遍的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)歡迎，有(you)著非常廣闊的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)發展前(qian)景(jing)。
探傷儀的(de)(de)(de)(de)應(ying)用(yong)(yong)(yong)(yong)有很(hen)廣泛，比如用(yong)(yong)(yong)(yong)超(chao)(chao)聲的(de)(de)(de)(de)反射來(lai)測量距(ju)離，利(li)用(yong)(yong)(yong)(yong)大功(gong)率(lv)超(chao)(chao)聲的(de)(de)(de)(de)振動來(lai)清除附(fu)著在(zai)鍋爐(lu)上(shang)面的(de)(de)(de)(de)水(shui)垢，利(li)用(yong)(yong)(yong)(yong)高能超(chao)(chao)聲做(zuo)成"超(chao)(chao)聲刀(dao)"來(lai)消(xiao)滅(mie)、擊碎人體(ti)(ti)內的(de)(de)(de)(de)癌變(bian)、結石等(deng)(deng)，探傷儀而利(li)用(yong)(yong)(yong)(yong)超(chao)(chao)聲的(de)(de)(de)(de)反射等(deng)(deng)效應(ying)和穿透力(li)強、能夠直線傳(chuan)播等(deng)(deng)的(de)(de)(de)(de)特性來(lai)進(jin)行檢(jian)測也是其中一個(ge)很(hen)大的(de)(de)(de)(de)應(ying)用(yong)(yong)(yong)(yong)領(ling)域。探傷儀的(de)(de)(de)(de)檢(jian)測應(ying)用(yong)(yong)(yong)(yong)主要包括(kuo)在(zai)工(gong)(gong)業上(shang)對(dui)各種材料(liao)(liao)的(de)(de)(de)(de)檢(jian)測和在(zai)醫療上(shang)對(dui)人體(ti)(ti)的(de)(de)(de)(de)檢(jian)測診(zhen)斷(duan)，通過(guo)它(ta)人們可以(yi)探測出金屬等(deng)(deng)工(gong)(gong)業材料(liao)(liao)中有沒有氣(qi)泡、傷痕、裂(lie)縫等(deng)(deng)缺(que)陷，可以(yi)檢(jian)測出人們身體(ti)(ti)的(de)(de)(de)(de)軟組織、血流等(deng)(deng)是否(fou)正常。
粉探傷(shang)儀適用于零件(jian)表面的探傷(shang)，主要適用于濕磁粉法檢(jian)(jian)測曲軸、凸輪(lun)軸、花鍵軸等各種中小型(xing)零件(jian)的表面及近表面因(yin)鑄造(zao)、淬火、加工、疲勞(lao)等原因(yin)引起(qi)的裂紋(wen)及細微缺陷，是單(dan)件(jian)檢(jian)(jian)測，小批抽檢(jian)(jian)，大(da)批量檢(jian)(jian)測的首選機型(xing)。
輕小，可(ke)以到現場(chang)探(tan)傷(shang)(shang)(shang)乃至(zhi)高空(kong)進行(xing)探(tan)傷(shang)(shang)(shang)作業。包(bao)括對大型零部件(jian)進行(xing)局部磁(ci)化探(tan)傷(shang)(shang)(shang)。特別(bie)適用于(yu)平焊(han)縫、角焊(han)縫、壓力容器、管道及形狀復雜零部件(jian)的探(tan)傷(shang)(shang)(shang)。對不允許(xu)高電壓進入設備內探(tan)傷(shang)(shang)(shang)的場(chang)合(he)更為(wei)適合(he)。
磁粉(fen)探傷(shang)儀只能對大型工件分段(duan)探傷(shang)，不能一次性檢測出(chu)全(quan)方位(wei)的裂紋(wen)，所以其探傷(shang)效率較低。
該設備(bei)操作(zuo)(zuo)簡便，工(gong)作(zuo)(zuo)效(xiao)率高，采用工(gong)業PLC控制，既可手動(dong)單步操作(zuo)(zuo)，亦可自動(dong)循環工(gong)作(zuo)(zuo)，周(zhou)、縱(zong)向(xiang)電(dian)流分別可調(diao)，具有斷電(dian)相位控制功(gong)能(neng)。可分別進行周(zhou)向(xiang)、縱(zong)向(xiang)、復合(he)磁(ci)化。工(gong)件可以(yi)轉(zhuan)動(dong)，檢測時機器(qi)可按(an)工(gong)藝(yi)要(yao)求設定的(de)(de)程(cheng)序自動(dong)完成除上下料及觀察外（如夾緊、噴液、磁(ci)化、退磁(ci)、轉(zhuan)動(dong)等等）的(de)(de)自動(dong)化工(gong)作(zuo)(zuo)。
1、周向磁化(hua)電(dian)流：AC0－4000A連續可調(diao)駛(shi)帶(dai)斷(duan)電(dian)相位控制；
2、縱向磁化電流：DC0－20000AT連(lian)續可調帶斷電相位(wei)控(kong)制；
3、退磁磁勢：AC20000－0AT連續可(ke)調自動(dong)衰(shuai)減；
4、退磁(ci)效果：≤0.2mT；
5、夾緊方式：氣(qi)動或電動夾緊；
6、電極間距：0－1000mm由夾(jia)具確定；
7、夾緊行程：0－50mm；
8、夾頭轉速(su)：10rpm；
（1）超聲波探傷儀PD-F1儀器特點：
高(gao)分(fen)辨率TFTLCD，獨特的遮陽設計，符(fu)合人體(ti)工(gong)程學。
采用高端(duan)ARM處理器，系統響應速度(du)快，實時性好。
采(cai)用性能先進的前置放大(da)器，大(da)大(da)減小檢測盲區(qu)。
簡潔易用的人機交互，儀器操(cao)控性強。
高達4GB海量(liang)存(cun)儲，能夠進行長時間的(de)探傷波(bo)形動態記錄(lu)，存(cun)儲大量(liang)波(bo)形信(xin)息。
具有豐(feng)富的通信接口(kou)，強大的數據(ju)備(bei)份和數據(ju)轉儲能(neng)力。
防水(shui)等級IP64。
鍵盤背光功能。
探頭接口采用瑞士原裝進口的LEMO接頭，美觀大方(fang)，耐(nai)用性好。
增加Ethernet網口(kou)，可接入以(yi)太網。
增加(jia)了(le)大量的操(cao)作(zuo)提示信息，人(ren)機交互界面更加(jia)友好。
用戶可根據自己喜好來選擇不(bu)同的(de)屏幕顏色(se)。
內(nei)置AWS、API5UE等多種標準(zhun)。
（2）超聲波探傷儀主要性能指標：
探測范圍：(0~9999)mm
工作頻(pin)率：(0.25~20)MHz
各頻段等效輸入(ru)噪聲：<15%
發射(she)脈(mo)沖：負脈(mo)沖s
能(neng)量可選擇，適用探頭范圍廣(guang)。
脈沖寬度(du)在(zai)(0.1~0.5)μs范圍內連續調節，以匹配不同頻率的(de)探頭(tou)。
脈沖幅度：低(di)（300伏）、中（500伏）、高（700伏）分級選(xuan)擇(ze)，適用(yong)探頭范(fan)圍(wei)廣。
脈沖寬度：在（0.1~0.5）μs范圍(wei)內連續調節，以匹配不同頻率(lv)的(de)探(tan)頭(tou)。
超聲波探傷儀探頭(tou)阻尼：50Ω，150Ω、300Ω、400Ω可選，滿足靈(ling)敏度及分辨率的不同工作。
動態范圍：≥36dB
數字抑制：(0~80)%，不(bu)影響線性與(yu)增(zeng)益。
垂直線性(xing)誤差(cha)：≤2.6%。
水平(ping)線(xian)性誤差：≤0.1%。
分辨(bian)力：>38dB。
靈敏(min)度余(yu)量(liang)：60dB。
電(dian)噪聲電(dian)平：≤10%。
濾波頻帶：（0.25~20）MHz，根據探頭頻率全自動(dong)匹配，無(wu)需手動(dong)設置(zhi)。
探傷(shang)通道(dao)：200組探傷(shang)工作通道(dao)。
探頭接口(kou)：LEMO接口(kou)，ERA.1S。
探頭(tou)(tou)類型：直探頭(tou)(tou)、斜探頭(tou)(tou)、雙晶(jing)探頭(tou)(tou)、穿透(tou)探頭(tou)(tou)。
報警：蜂鳴器報警，鍵盤(pan)背光燈報警。
電(dian)源：直流(liu)（DC）9V；鋰電(dian)池連續工作(zuo)6~8小時以上。
外(wai)型尺寸：220×156×58(mm)結構待定。
環境溫度：(-10~50)℃。
相對濕度：(20~95)%RH。
注：以上指標是在探頭頻率為2.5MHz、檢(jian)波方式(shi)為全(quan)波的情況下(xia)所測得(de)的。
（3）超聲波探傷儀PD-F1主要功能參數：
數據采集：
硬件實時采(cai)樣：10位AD轉換器，采(cai)樣速度125MHz，波形高(gao)度保真。
檢(jian)波(bo)(bo)(bo)方(fang)式：正半波(bo)(bo)(bo)、負半波(bo)(bo)(bo)、全波(bo)(bo)(bo)、射頻(pin)檢(jian)波(bo)(bo)(bo)。
閘(zha)門(men)(men)讀(du)數(shu)(shu)：單閘(zha)門(men)(men)和雙閘(zha)門(men)(men)讀(du)數(shu)(shu)方式(shi)可選；閘(zha)門(men)(men)內峰值讀(du)數(shu)(shu)、邊緣檢測可選。
增(zeng)益：0-110dB，最小增(zeng)益調節(jie)量0.1dB，獨(du)特的全自動增(zeng)益調節(jie)及(ji)掃查(cha)增(zeng)益功能。
超聲波探傷儀探傷功能
波峰記憶：實時檢(jian)索缺陷最高(gao)波，記錄缺陷最大值。
Φ值計算(suan)：直探頭鍛件探傷找(zhao)準缺陷最高波后自動(dong)計算(suan)、顯示缺陷當量尺寸。
缺陷定位：實時顯示缺陷水平、深度（垂(chui)直）、聲程位置。
缺陷定(ding)量(liang)(liang)：缺陷當量(liang)(liang)dB值實時(shi)顯示；
缺陷定性：通過回波(bo)包絡波(bo)形，方(fang)便人工(gong)經(jing)驗判斷；
探頭頻率檢(jian)測：通過抓取回波(bo)，準確檢(jian)測出探頭的(de)中心頻率，500mm范圍內任(ren)意波(bo)幅回波(bo)，一鍵輕松完成檢(jian)測；
曲(qu)面(mian)修正(zheng)：修正(zheng)斜探(tan)頭(tou)圓管(guan)檢測時的深(shen)度和水平距離；
超聲波探傷儀修正模式：內弧/外弧；
DAC/AVG：曲線自動(dong)(dong)生成(cheng)，取樣(yang)點(dian)不(bu)受限制，并可進行補償與(yu)修正。曲線隨(sui)增益(yi)自動(dong)(dong)浮動(dong)(dong)、隨(sui)聲(sheng)程(cheng)自動(dong)(dong)擴展、隨(sui)延時自動(dong)(dong)移動(dong)(dong)。能顯示任意孔徑的(de)AVG曲線。
裂(lie)紋測高：利用(yong)端點衍射波(bo)自動測量(liang)、計算(suan)裂(lie)紋高度。
B型(xing)掃描(miao)：采用(yong)定時掃描(miao)方式形成B型(xing)圖像(xiang)。
門(men)內展寬：放大回(hui)波細節，便(bian)于回(hui)波分析。
動(dong)態(tai)記(ji)錄(lu)：檢測實時動(dong)態(tai)記(ji)錄(lu)、存儲、回放(fang)波形，每段記(ji)錄(lu)可(ke)達8分鐘。
波形凍結：凍結屏幕上顯示的波形，便(bian)于缺陷分析。
焊縫圖示(shi)(shi)：顯示(shi)(shi)焊縫坡口形式和聲束走(zou)向，直觀顯示(shi)(shi)缺(que)陷(xian)位置。
內置標準：可自由設置各行業探傷(shang)工藝標準。
回(hui)波(bo)編碼：輸(shu)入工件厚(hou)度，儀器根據一次波(bo)、二次波(bo)及多次波(bo)的(de)區域能生成不同的(de)背景(jing)色(se)彩。
工作方式：直探(tan)頭(tou)、斜探(tan)頭(tou)、雙晶探(tan)頭(tou)、穿透探(tan)傷。
閘(zha)門(men)報(bao)(bao)警(jing)：門(men)位、門(men)寬、門(men)高任意可(ke)調(diao)；B閘(zha)門(men)可(ke)選擇設(she)置進波報(bao)(bao)警(jing)或失波報(bao)(bao)警(jing)；數據存儲(chu)：200組探傷(shang)(shang)參數通(tong)道(dao)，可(ke)預先調(diao)校好各(ge)類探頭(tou)和(he)儀器(qi)的組合參數，自由設(she)置各(ge)行(xing)業探傷(shang)(shang)標準；可(ke)存儲(chu)10000幅探傷(shang)(shang)回波信號及參數，實現存儲(chu)、讀出及通(tong)過USB接(jie)口傳(chuan)輸。
實時時鐘：實時探傷日期(qi)、時間的跟蹤記錄，并記錄存儲。
通(tong)訊接口：USB主機(ji)接口和從機(ji)接口，既能與PC機(ji)通(tong)信，又能方(fang)便地訪問U盤。藍牙無線通(tong)信模塊(kuai)。
電(dian)(dian)(dian)池模塊：高容(rong)量(liang)鋰電(dian)(dian)(dian)池模塊，在線充電(dian)(dian)(dian)和脫機充電(dian)(dian)(dian)兩(liang)種充電(dian)(dian)(dian)方(fang)式(shi)，方(fang)便探(tan)傷。
醫用超聲波探傷儀
超聲(sheng)(sheng)波探傷(shang)儀工作原理與聲(sheng)(sheng)納有(you)一(yi)定的(de)(de)相(xiang)似性，即將(jiang)超聲(sheng)(sheng)波發射(she)(she)到人體(ti)(ti)(ti)內，當(dang)它在體(ti)(ti)(ti)內遇到界面時會發生(sheng)(sheng)反射(she)(she)及折射(she)(she)，并(bing)且(qie)在人體(ti)(ti)(ti)組(zu)織(zhi)中可(ke)能被(bei)吸收(shou)而衰(shuai)減。因(yin)為人體(ti)(ti)(ti)各種組(zu)織(zhi)的(de)(de)形(xing)態與結構是(shi)(shi)(shi)不相(xiang)同(tong)的(de)(de)，因(yin)此其反射(she)(she)與折射(she)(she)以及吸收(shou)超聲(sheng)(sheng)波的(de)(de)程度也(ye)就不同(tong)，醫生(sheng)(sheng)們正(zheng)是(shi)(shi)(shi)通過儀器所反映(ying)出的(de)(de)波型(xing)、曲線，或影(ying)象的(de)(de)特征來辨別它們。此外再結合解剖學知(zhi)識、正(zheng)常與病理的(de)(de)改變，便可(ke)診(zhen)(zhen)斷所檢查的(de)(de)器官(guan)是(shi)(shi)(shi)否(fou)有(you)病。醫生(sheng)(sheng)們應用的(de)(de)超聲(sheng)(sheng)診(zhen)(zhen)斷方法有(you)不同(tong)的(de)(de)形(xing)式(shi)，可(ke)分為A型(xing)、B型(xing)、M型(xing)及D型(xing)四(si)大(da)類:
A型(xing)：是(shi)以(yi)波形(xing)來(lai)顯示組(zu)織(zhi)特征的方法，主(zhu)要(yao)用(yong)于測量(liang)器(qi)官的徑線，以(yi)判定其大小。可用(yong)來(lai)鑒別病(bing)變組(zu)織(zhi)的一些(xie)物理特性，如實質性、液(ye)體或(huo)是(shi)氣體是(shi)否存(cun)在等。
B型：用平面圖形的(de)形式(shi)來(lai)顯示被探查組織的(de)具體(ti)情況。檢查時(shi)，將人體(ti)界(jie)面的(de)反射信號轉變為(wei)強(qiang)(qiang)弱不(bu)同的(de)光(guang)點(dian)，這些光(guang)點(dian)可(ke)(ke)通過熒光(guang)屏顯現出來(lai)，這種方法直觀性好，重(zhong)復性強(qiang)(qiang)，可(ke)(ke)供(gong)前(qian)后對比，所以廣泛用于婦產科、泌尿、消化及心血(xue)管等系統(tong)疾病的(de)診斷。
M型：是用(yong)(yong)于觀(guan)察活動(dong)界(jie)面時間變化的一種方法。最適用(yong)(yong)于檢查(cha)心(xin)臟(zang)(zang)的活動(dong)情況(kuang)，其曲(qu)線的動(dong)態改變稱為超聲心(xin)動(dong)圖，可以用(yong)(yong)來觀(guan)察心(xin)臟(zang)(zang)各層結構的位置、活動(dong)狀態、結構的狀況(kuang)等，多用(yong)(yong)于輔助心(xin)臟(zang)(zang)及大血管疫病的診斷。
D型(xing)：是(shi)專門用來檢測血(xue)(xue)液(ye)流(liu)動和器官(guan)活動的(de)(de)一(yi)(yi)種超(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)診斷方法，又稱為多(duo)普(pu)勒(le)超(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)診斷法。可(ke)確定血(xue)(xue)管(guan)是(shi)否(fou)通暢、管(guan)腔有(you)否(fou)狹窄、閉塞以及病變部位(wei)。新一(yi)(yi)代的(de)(de)D型(xing)超(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)波還能定量(liang)地測定管(guan)腔內血(xue)(xue)液(ye)的(de)(de)流(liu)量(liang)。科學家又發(fa)展了彩(cai)色(se)編(bian)碼多(duo)普(pu)勒(le)系統，可(ke)在超(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)心動圖解剖(pou)標(biao)志的(de)(de)指示下，以不同顏色(se)顯(xian)示血(xue)(xue)流(liu)的(de)(de)方向，色(se)澤的(de)(de)深淺(qian)代表血(xue)(xue)流(liu)的(de)(de)流(liu)速。還有(you)立(li)體(ti)超(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)顯(xian)象、超(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)CT、超(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)內窺鏡等(deng)超(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)技術(shu)不斷涌現出來，并且還可(ke)以與(yu)其他檢查儀(yi)器結合(he)使用，使疾病的(de)(de)診斷準確率大大提高。超(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)波技術(shu)正在醫學界發(fa)揮著巨(ju)大的(de)(de)作用，隨著科學的(de)(de)進(jin)步，它將(jiang)更(geng)加完善，將(jiang)更(geng)好(hao)地造福于人類。
主(zhu)要用于探測機加工件內部有無缺陷（裂紋、砂眼、氣孔、白(bai)點、夾雜等），焊縫是(shi)否(fou)合格，查(cha)找有無暗傷，從而(er)判定(ding)工件合格與否(fou)。
全數字
真彩顯示器：五種顏色可(ke)選、亮(liang)度(du)可(ke)調
高性(xing)能鋰電池，連續(xu)工作7小時
與計算(suan)機通訊(xun)，可自動(dong)生成(cheng)探傷(shang)報(bao)告(gao)
實時顯示SL、EL、GL、RL定(ding)量值
自(zi)動(dong)校準：自(zi)動(dong)測試“探頭零點”、“K值(zhi)”、“前沿”及(ji)“材料聲(sheng)速”；
自動(dong)顯(xian)示(shi)缺陷回波(bo)位置(zhi)（深度d、水平p、距離s、波(bo)幅、當量dB、孔徑ф值）；
自(zi)由切換(huan)三種標(biao)尺（深度d、水(shui)平p、距(ju)離s），滿足不同的探傷(shang)標(biao)準要(yao)求(qiu)和探傷(shang)工程師的標(biao)尺使用習慣；
自動(dong)增益：自動(dong)將波(bo)形調至屏高的(de)80%，大大提(ti)高了探傷效率；
自(zi)動(dong)(dong)錄制探傷過程并可以進行動(dong)(dong)態(tai)回放；
自動(dong)φ值計算：直探(tan)(tan)頭鍛(duan)件探(tan)(tan)傷(shang)，找準(zhun)缺陷最(zui)高波自動(dong)換算孔徑(jing)ф值；
自動DAC、AVG曲線自動生成并可以分段制作，取樣點不受限制，并可進行修正與補償，滿足任意探傷標準；阻(zu)尼自動(dong)。
硬(ying)件實時采樣：150MHz，波(bo)形(xing)高度保真
閘(zha)門信(xin)號(hao)：單(dan)閘(zha)門、雙閘(zha)門，峰值(zhi)或邊緣讀數
增益調(diao)節(jie)(jie)：手動調(diao)節(jie)(jie)110dB（0.2dB、0.5dB、1dB、2dB、6dB、12dB步進）或(huo)自(zi)動調(diao)節(jie)(jie)至屏高(gao)的80%
曲線(xian)包(bao)絡和波峰記憶：實時檢索(suo)并記錄(lu)缺陷(xian)最高(gao)波
φ值(zhi)計(ji)算：直(zhi)探頭(tou)鍛件探傷找準缺陷最高波自動換算
動(dong)態錄制：實時動(dong)態錄制波形(xing)，并(bing)可(ke)存(cun)儲(chu)、回放
缺陷(xian)定位：實時顯示水平值(zhi)(zhi)L、深度值(zhi)(zhi)H、聲程值(zhi)(zhi)S
缺(que)陷定(ding)量：實時顯示SL、EL、GL、RL定(ding)量值(zhi)
實時顯示孔(kong)狀(zhuang)缺陷Φ值
缺陷(xian)定性：通過波形，人工經(jing)驗判斷(duan)
曲(qu)(qu)面修正：曲(qu)(qu)面工件探傷，修正曲(qu)(qu)率換算
B型掃(sao)描(miao)：實時掃(sao)查(cha)，描(miao)述(shu)缺陷橫切(qie)面
閘門報(bao)警：進波報(bao)警、失波報(bao)警
DAC報警(jing)：自由設置(zhi)SL、EL、GL、RL報警(jing)
五大常規方法是指射線探傷法、超聲波探傷法、磁粉(fen)探傷法、渦流探傷法和(he)滲透探傷法。
射(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)是利用(yong)(yong)射(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)的(de)穿透(tou)性和直(zhi)線(xian)(xian)(xian)性來(lai)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)的(de)方法。這些(xie)射(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)雖然不會像可(ke)見(jian)光(guang)那樣憑肉(rou)眼(yan)就(jiu)(jiu)能直(zhi)接察知，但它可(ke)使照(zhao)相底(di)片(pian)(pian)感光(guang)，也可(ke)用(yong)(yong)特殊的(de)接收(shou)器來(lai)接收(shou)。常用(yong)(yong)于(yu)(yu)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)的(de)射(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)有(you)x光(guang)和同位素(su)發(fa)出的(de)γ射(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)，分別稱為(wei)x光(guang)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)和γ射(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)。當這些(xie)射(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)穿過(guo)（照(zhao)射(she)(she)(she)(she)(she)(she)）物(wu)質時，該(gai)物(wu)質的(de)密(mi)度越大，射(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)強度減弱得(de)越多，即(ji)射(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)能穿透(tou)過(guo)該(gai)物(wu)質的(de)強度就(jiu)(jiu)越小(xiao)。此(ci)(ci)時，若用(yong)(yong)照(zhao)相底(di)片(pian)(pian)接收(shou)，則底(di)片(pian)(pian)的(de)感光(guang)量(liang)就(jiu)(jiu)小(xiao)；若用(yong)(yong)儀器來(lai)接收(shou)，獲得(de)的(de)信號(hao)就(jiu)(jiu)弱。因此(ci)(ci)，用(yong)(yong)射(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)來(lai)照(zhao)射(she)(she)(she)(she)(she)(she)待探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)的(de)零部(bu)(bu)件時，若其內部(bu)(bu)有(you)氣孔、夾(jia)渣等缺(que)陷，射(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)穿過(guo)有(you)缺(que)陷的(de)路徑比沒有(you)缺(que)陷的(de)路徑所透(tou)過(guo)的(de)物(wu)質密(mi)度要(yao)小(xiao)得(de)多，其強度就(jiu)(jiu)減弱得(de)少些(xie)，即(ji)透(tou)過(guo)的(de)強度就(jiu)(jiu)大些(xie)，若用(yong)(yong)底(di)片(pian)(pian)接收(shou)，則感光(guang)量(liang)就(jiu)(jiu)大些(xie)，就(jiu)(jiu)可(ke)以(yi)從底(di)片(pian)(pian)上反映出缺(que)陷垂直(zhi)于(yu)(yu)射(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)方向的(de)平(ping)面(mian)投影(ying)(ying)；若用(yong)(yong)其它接收(shou)器也同樣可(ke)以(yi)用(yong)(yong)儀表來(lai)反映缺(que)陷垂直(zhi)于(yu)(yu)射(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)方向的(de)平(ping)面(mian)投影(ying)(ying)和射(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)的(de)透(tou)過(guo)量(liang)。由(you)此(ci)(ci)可(ke)見(jian)，一般情況下，射(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)是不易發(fa)現裂紋的(de)，或者說(shuo)，射(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)對裂紋是不敏感的(de)。因此(ci)(ci)，射(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)對氣孔、夾(jia)渣、未焊透(tou)等體積型缺(que)陷最敏感。即(ji)射(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)適宜用(yong)(yong)于(yu)(yu)體積型缺(que)陷探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)，而不適宜面(mian)積型缺(que)陷探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)。
人(ren)們(men)的(de)(de)耳(er)朵能直接(jie)(jie)接(jie)(jie)收(shou)(shou)到(dao)的(de)(de)聲(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)的(de)(de)頻率范圍通常是20Hz到(dao)20kHz，即(ji)音（聲(sheng)(sheng)）頻。頻率低于(yu)20Hz的(de)(de)稱(cheng)為次聲(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)，高于(yu)20kHz的(de)(de)稱(cheng)為超(chao)聲(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)。工業上常用(yong)數兆赫茲(zi)超(chao)聲(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)來探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)。超(chao)聲(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)頻率高，則傳(chuan)(chuan)(chuan)播的(de)(de)直線性(xing)強，又易(yi)(yi)于(yu)在固體中傳(chuan)(chuan)(chuan)播，并且(qie)遇到(dao)兩種(zhong)不同介(jie)質(zhi)形(xing)(xing)成的(de)(de)界面時易(yi)(yi)于(yu)反(fan)射，這樣(yang)就(jiu)可以用(yong)它來探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)。通常用(yong)超(chao)聲(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)探(tan)(tan)(tan)(tan)頭與(yu)待探(tan)(tan)(tan)(tan)工件(jian)表面良(liang)好的(de)(de)接(jie)(jie)觸，探(tan)(tan)(tan)(tan)頭則可有效(xiao)地向(xiang)工件(jian)發射超(chao)聲(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)，并能接(jie)(jie)收(shou)(shou)（缺陷(xian)）界面反(fan)射來的(de)(de)超(chao)聲(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)，同時轉換成電信(xin)號，再傳(chuan)(chuan)(chuan)輸給儀器(qi)進行處理。根(gen)據(ju)(ju)超(chao)聲(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)在介(jie)質(zhi)中傳(chuan)(chuan)(chuan)播的(de)(de)速度(du)（常稱(cheng)聲(sheng)(sheng)速）和傳(chuan)(chuan)(chuan)播的(de)(de)時間(jian)，就(jiu)可知道缺陷(xian)的(de)(de)位置。當缺陷(xian)越大，反(fan)射面則越大，其反(fan)射的(de)(de)能量(liang)(liang)也就(jiu)越大，故可根(gen)據(ju)(ju)反(fan)射能量(liang)(liang)的(de)(de)大小來查知各缺陷(xian)（當量(liang)(liang)）的(de)(de)大小。常用(yong)的(de)(de)探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)波(bo)(bo)(bo)形(xing)(xing)有縱波(bo)(bo)(bo)、橫(heng)波(bo)(bo)(bo)、表面波(bo)(bo)(bo)等(deng)，前二者適用(yong)于(yu)探(tan)(tan)(tan)(tan)測(ce)內(nei)部(bu)缺陷(xian)，后者適宜于(yu)探(tan)(tan)(tan)(tan)測(ce)表面缺陷(xian)，但對表面的(de)(de)條件(jian)要求高。
磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)探(tan)(tan)(tan)傷是建立在漏磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)原理基礎上(shang)的(de)一種磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)力探(tan)(tan)(tan)傷方法。當磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)力線(xian)穿過鐵磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)材(cai)料及(ji)其制(zhi)品時，在其（磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)性）不連續處將(jiang)產生漏磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)場，形成磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)極(ji)。此(ci)時撒(sa)上(shang)干磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)或(huo)澆上(shang)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)懸液，磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)極(ji)就(jiu)會吸附磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)，產生用(yong)肉眼(yan)能(neng)(neng)直接(jie)觀察(cha)的(de)明(ming)顯磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)痕(hen)。因此(ci)，可借助于(yu)該磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)痕(hen)來顯示鐵磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)材(cai)料及(ji)其制(zhi)品的(de)缺(que)陷(xian)(xian)情況。磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)探(tan)(tan)(tan)傷法可探(tan)(tan)(tan)測露出(chu)表(biao)面(mian)(mian)(mian)，用(yong)肉眼(yan)或(huo)借助于(yu)放大鏡(jing)也不能(neng)(neng)直接(jie)觀察(cha)到的(de)微小缺(que)陷(xian)(xian)，也可探(tan)(tan)(tan)測未露出(chu)表(biao)面(mian)(mian)(mian)，而是埋(mai)藏在表(biao)面(mian)(mian)(mian)下幾毫(hao)米(mi)的(de)近表(biao)面(mian)(mian)(mian)缺(que)陷(xian)(xian)。用(yong)這(zhe)種方法雖然也能(neng)(neng)探(tan)(tan)(tan)查氣孔(kong)、夾雜、未焊透等(deng)(deng)體積型缺(que)陷(xian)(xian)，但對面(mian)(mian)(mian)積型缺(que)陷(xian)(xian)更(geng)靈敏，更(geng)適于(yu)檢查因淬火(huo)、軋制(zhi)、鍛造、鑄造、焊接(jie)、電鍍、磨削、疲勞(lao)等(deng)(deng)引起的(de)裂紋。
磁(ci)(ci)(ci)力探(tan)(tan)傷(shang)中對缺陷的(de)顯(xian)(xian)(xian)示(shi)(shi)方法有(you)多(duo)種(zhong)，有(you)用磁(ci)(ci)(ci)粉(fen)顯(xian)(xian)(xian)示(shi)(shi)的(de)，也有(you)不用磁(ci)(ci)(ci)粉(fen)顯(xian)(xian)(xian)示(shi)(shi)的(de)。用磁(ci)(ci)(ci)粉(fen)顯(xian)(xian)(xian)示(shi)(shi)的(de)稱為(wei)磁(ci)(ci)(ci)粉(fen)探(tan)(tan)傷(shang)，因它顯(xian)(xian)(xian)示(shi)(shi)直觀(guan)、操作簡(jian)單、人們(men)樂于(yu)(yu)(yu)使用，故它是最常(chang)用的(de)方法之一。不用磁(ci)(ci)(ci)粉(fen)顯(xian)(xian)(xian)示(shi)(shi)的(de)，習慣(guan)上(shang)稱為(wei)漏磁(ci)(ci)(ci)探(tan)(tan)傷(shang)，它常(chang)借助(zhu)于(yu)(yu)(yu)感應線圈(quan)、磁(ci)(ci)(ci)敏管、霍爾(er)元件等來(lai)反映缺陷，它比磁(ci)(ci)(ci)粉(fen)探(tan)(tan)傷(shang)更衛生，但不如(ru)前者直觀(guan)。由于(yu)(yu)(yu)磁(ci)(ci)(ci)力探(tan)(tan)傷(shang)主要(yao)用磁(ci)(ci)(ci)粉(fen)來(lai)顯(xian)(xian)(xian)示(shi)(shi)缺陷，因此(ci)，人們(men)有(you)時把磁(ci)(ci)(ci)粉(fen)探(tan)(tan)傷(shang)直接(jie)稱為(wei)磁(ci)(ci)(ci)力探(tan)(tan)傷(shang)，其設(she)備稱為(wei)磁(ci)(ci)(ci)力探(tan)(tan)傷(shang)設(she)備。
渦(wo)(wo)流(liu)(liu)(liu)探(tan)傷是(shi)(shi)由交(jiao)流(liu)(liu)(liu)電(dian)(dian)流(liu)(liu)(liu)產生的(de)(de)交(jiao)變磁場作(zuo)用于(yu)待(dai)探(tan)傷的(de)(de)導電(dian)(dian)材(cai)料(liao)，感應出電(dian)(dian)渦(wo)(wo)流(liu)(liu)(liu)。如(ru)果(guo)材(cai)料(liao)中有(you)(you)缺陷，它將(jiang)干擾(rao)所產生的(de)(de)電(dian)(dian)渦(wo)(wo)流(liu)(liu)(liu)，即形成(cheng)干擾(rao)信(xin)號(hao)(hao)。用渦(wo)(wo)流(liu)(liu)(liu)探(tan)傷儀檢測出其干擾(rao)信(xin)號(hao)(hao)，就可知(zhi)道(dao)缺陷的(de)(de)狀況。影(ying)響渦(wo)(wo)流(liu)(liu)(liu)的(de)(de)因素很(hen)多(duo)，即是(shi)(shi)說渦(wo)(wo)流(liu)(liu)(liu)中載有(you)(you)豐富的(de)(de)信(xin)號(hao)(hao)，這些信(xin)號(hao)(hao)與材(cai)料(liao)的(de)(de)很(hen)多(duo)因素有(you)(you)關(guan)，如(ru)何將(jiang)其中有(you)(you)用的(de)(de)信(xin)號(hao)(hao)從(cong)諸多(duo)的(de)(de)信(xin)號(hao)(hao)中一(yi)(yi)一(yi)(yi)分離出來(lai)，是(shi)(shi)渦(wo)(wo)流(liu)(liu)(liu)研究(jiu)工作(zuo)者的(de)(de)難題，多(duo)年來(lai)已經取得了(le)一(yi)(yi)些進(jin)展，在一(yi)(yi)定條件下可解決一(yi)(yi)些問題，但(dan)還(huan)遠不能滿足(zu)現場的(de)(de)要求，有(you)(you)待(dai)于(yu)大力(li)發展。
渦流(liu)探傷(shang)(shang)的(de)顯著特點是(shi)(shi)對導(dao)電材(cai)料(liao)就能起作用，而不一定是(shi)(shi)鐵磁(ci)材(cai)料(liao)，但對鐵磁(ci)材(cai)料(liao)的(de)效果(guo)較差(cha)。其次，待探工(gong)件(jian)(jian)表面的(de)光潔(jie)度、平整度、邊介等(deng)(deng)對渦流(liu)探傷(shang)(shang)都(dou)有較大影響，因(yin)此常將渦流(liu)探傷(shang)(shang)用于形狀較規則、表面較光潔(jie)的(de)銅管等(deng)(deng)非鐵磁(ci)性工(gong)件(jian)(jian)探傷(shang)(shang)。
滲(shen)透(tou)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)是利用(yong)毛(mao)細(xi)現象(xiang)來進(jin)行探(tan)(tan)(tan)傷(shang)的(de)(de)(de)(de)方法。對于表(biao)(biao)(biao)面(mian)(mian)光(guang)滑(hua)而清潔的(de)(de)(de)(de)零部件(jian)，用(yong)一種帶色（常(chang)為(wei)紅色）或(huo)帶有熒光(guang)的(de)(de)(de)(de)、滲(shen)透(tou)性很(hen)(hen)強的(de)(de)(de)(de)液(ye)(ye)體，涂覆(fu)于待探(tan)(tan)(tan)零部件(jian)的(de)(de)(de)(de)表(biao)(biao)(biao)面(mian)(mian)。若(ruo)表(biao)(biao)(biao)面(mian)(mian)有肉眼不能直接察知(zhi)的(de)(de)(de)(de)微裂(lie)紋，由(you)于該(gai)液(ye)(ye)體的(de)(de)(de)(de)滲(shen)透(tou)性很(hen)(hen)強，它將(jiang)沿著(zhu)裂(lie)紋滲(shen)透(tou)到其(qi)根(gen)部。然后將(jiang)表(biao)(biao)(biao)面(mian)(mian)的(de)(de)(de)(de)滲(shen)透(tou)液(ye)(ye)洗去(qu)，再涂上(shang)對比度較大(da)的(de)(de)(de)(de)顯示液(ye)(ye)（常(chang)為(wei)白色）。放置(zhi)片刻后，由(you)于裂(lie)紋很(hen)(hen)窄，毛(mao)細(xi)現象(xiang)作用(yong)顯著(zhu)，原滲(shen)透(tou)到裂(lie)紋內的(de)(de)(de)(de)滲(shen)透(tou)液(ye)(ye)將(jiang)上(shang)升(sheng)到表(biao)(biao)(biao)面(mian)(mian)并擴散(san)，在(zai)白色的(de)(de)(de)(de)襯底上(shang)顯出較粗的(de)(de)(de)(de)紅線，從而顯示出裂(lie)紋露于表(biao)(biao)(biao)面(mian)(mian)的(de)(de)(de)(de)形狀，因(yin)此(ci)(ci)，常(chang)稱(cheng)為(wei)著(zhu)色探(tan)(tan)(tan)傷(shang)。若(ruo)滲(shen)透(tou)液(ye)(ye)采用(yong)的(de)(de)(de)(de)是帶熒光(guang)的(de)(de)(de)(de)液(ye)(ye)體，由(you)毛(mao)細(xi)現象(xiang)上(shang)升(sheng)到表(biao)(biao)(biao)面(mian)(mian)的(de)(de)(de)(de)液(ye)(ye)體，則會在(zai)紫外燈照射下發出熒光(guang)，從而更能顯示出裂(lie)紋露于表(biao)(biao)(biao)面(mian)(mian)的(de)(de)(de)(de)形狀，故(gu)常(chang)常(chang)又將(jiang)此(ci)(ci)時(shi)的(de)(de)(de)(de)滲(shen)透(tou)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)直接稱(cheng)為(wei)熒光(guang)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)。此(ci)(ci)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)方法也可用(yong)于金屬和非金屬表(biao)(biao)(biao)面(mian)(mian)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)。其(qi)使用(yong)的(de)(de)(de)(de)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)液(ye)(ye)劑有較大(da)氣味(wei)，常(chang)有一定毒性。
除以上五大常規(gui)方法外(wai)，近年來又(you)有(you)了紅外(wai)、聲發(fa)射等一些(xie)新的探傷方法。
