1、超聲波(bo)在(zai)介質中傳播時，在(zai)不(bu)同質界面(mian)上具有反射(she)的特性，如遇(yu)到缺(que)(que)陷(xian)(xian)(xian)，缺(que)(que)陷(xian)(xian)(xian)的尺寸等于(yu)(yu)或(huo)大于(yu)(yu)超聲波(bo)波(bo)長時，則超聲波(bo)在(zai)缺(que)(que)陷(xian)(xian)(xian)上反射(she)回來，探傷儀可(ke)將(jiang)反射(she)波(bo)顯(xian)示出(chu)來；如缺(que)(que)陷(xian)(xian)(xian)的尺寸甚至小于(yu)(yu)波(bo)長時，聲波(bo)將(jiang)繞過射(she)線(xian)而不(bu)能反射(she)。
2、波(bo)聲(sheng)的方向(xiang)性好，頻率越(yue)高，方向(xiang)性越(yue)好，以(yi)很窄的波(bo)束(shu)向(xiang)介質(zhi)中輻射，易于確定缺陷的位置。
3、超聲(sheng)波(bo)的傳播(bo)能量大，如(ru)頻(pin)率為1MHZ（1兆赫茲）的超聲(sheng)波(bo)所(suo)傳播(bo)的能量，相當(dang)于振幅相同而(er)頻(pin)率為1000HZ（赫茲）的聲(sheng)波(bo)的100萬倍。
探(tan)傷儀檢測(ce)通常是(shi)對(dui)被(bei)測(ce)物體(ti)（比如工業材(cai)料、人(ren)體(ti)）發射(she)超(chao)聲，然后(hou)利用其反射(she)、多普勒效(xiao)應、透(tou)射(she)等來獲取被(bei)測(ce)物體(ti)內部的(de)信息(xi)并經過處理形成圖像。
探傷儀其(qi)中多普(pu)勒(le)效(xiao)(xiao)應法是利(li)用超聲在遇(yu)到運(yun)動的物體時發生的多普(pu)勒(le)頻移效(xiao)(xiao)應來(lai)得出該物體的運(yun)動方向(xiang)和速度等特性(xing)；透射法則是通過分析超聲穿透過被測物體之后的變(bian)化而得出物體的內(nei)部特性(xing)的，其(qi)應用還(huan)處于研制(zhi)階段；
探傷儀內部缺陷性質(zhi)的(de)估判及(ji)原因和(he)防(fang)止措施
單個氣(qi)孔回波(bo)(bo)高(gao)度(du)低(di)(di)，波(bo)(bo)形為單縫(feng)，較穩(wen)定(ding)。從各個方向探(tan)(tan)測，反(fan)射波(bo)(bo)大體(ti)(ti)相同(tong)，但(dan)稍一動探(tan)(tan)頭就(jiu)消失(shi)，密(mi)集氣(qi)孔會出現一簇反(fan)射波(bo)(bo)，波(bo)(bo)高(gao)隨氣(qi)孔大小而不(bu)(bu)(bu)同(tong)，當探(tan)(tan)頭作定(ding)點轉(zhuan)動時(shi)，會出現此起彼(bi)落(luo)的(de)(de)現象。產生這類(lei)缺(que)陷的(de)(de)原(yuan)因主要(yao)是焊(han)(han)材未(wei)按(an)規定(ding)溫度(du)烘(hong)干，焊(han)(han)條(tiao)藥皮(pi)變質(zhi)脫(tuo)落(luo)、焊(han)(han)芯銹(xiu)(xiu)(xiu)蝕，焊(han)(han)絲(si)清理不(bu)(bu)(bu)干凈，手工焊(han)(han)時(shi)電(dian)(dian)流過大，電(dian)(dian)弧(hu)過長;埋弧(hu)焊(han)(han)時(shi)電(dian)(dian)壓過高(gao)或網(wang)絡電(dian)(dian)壓波(bo)(bo)動太大;氣(qi)體(ti)(ti)保護焊(han)(han)時(shi)保護氣(qi)體(ti)(ti)純度(du)低(di)(di)等(deng)(deng)。如果焊(han)(han)縫(feng)中存在(zai)著(zhu)氣(qi)孔，既(ji)破壞了焊(han)(han)縫(feng)金屬的(de)(de)致密(mi)性，又使得焊(han)(han)縫(feng)有效截面積減少(shao)，降低(di)(di)了機(ji)械性能(neng)，特別是存鏈狀氣(qi)孔時(shi)，對彎曲和(he)沖擊(ji)韌(ren)性會有比較明顯(xian)降低(di)(di)。防止這類(lei)缺(que)陷產生的(de)(de)措施有：不(bu)(bu)(bu)使用(yong)藥皮(pi)開裂(lie)、剝(bo)落(luo)、變質(zhi)及焊(han)(han)芯銹(xiu)(xiu)(xiu)蝕的(de)(de)焊(han)(han)條(tiao)，生銹(xiu)(xiu)(xiu)的(de)(de)焊(han)(han)絲(si)必(bi)須除銹(xiu)(xiu)(xiu)后才(cai)能(neng)使用(yong)。所用(yong)焊(han)(han)接材料(liao)應(ying)按(an)規定(ding)溫度(du)烘(hong)干，坡口及其兩側(ce)清理干凈，并(bing)要(yao)選用(yong)合適的(de)(de)焊(han)(han)接電(dian)(dian)流、電(dian)(dian)弧(hu)電(dian)(dian)壓和(he)焊(han)(han)接速度(du)等(deng)(deng)。
點(dian)(dian)狀(zhuang)夾渣(zha)回波信號與點(dian)(dian)狀(zhuang)氣孔相似，條(tiao)狀(zhuang)夾渣(zha)回波信號多(duo)(duo)呈(cheng)鋸齒狀(zhuang)波幅(fu)不高(gao)，波形多(duo)(duo)呈(cheng)樹(shu)枝狀(zhuang)，主峰邊上有小(xiao)峰，探頭平(ping)移波幅(fu)有變動，從各個方(fang)向探測時反射波幅(fu)不相同。這(zhe)類缺陷產生的原因有：焊(han)接電流過小(xiao)，速(su)度(du)過快，熔(rong)渣(zha)來不及浮起，被焊(han)邊緣和(he)各層焊(han)縫(feng)清理不干凈，其本金屬和(he)焊(han)接材(cai)料化學成分不當，含硫、磷(lin)較(jiao)多(duo)(duo)等(deng)。防(fang)止措(cuo)施有：正(zheng)確(que)選(xuan)用焊(han)接電流，焊(han)接件(jian)的坡(po)口角度(du)不要太小(xiao)，焊(han)前(qian)必須把坡(po)口清理干凈，多(duo)(duo)層焊(han)時必須層層清除焊(han)渣(zha);并合理選(xuan)擇運條(tiao)角度(du)焊(han)接速(su)度(du)等(deng)。
反射(she)率高，波(bo)幅也較(jiao)(jiao)高，探頭平(ping)移(yi)時(shi)，波(bo)形(xing)較(jiao)(jiao)穩定，在(zai)焊縫兩側探傷時(shi)均能得到大(da)致相同的反射(she)波(bo)幅。這(zhe)類缺(que)(que)陷(xian)不(bu)僅降(jiang)低了(le)焊接接頭的機械性能，而且在(zai)未焊透處的缺(que)(que)口和端部形(xing)成(cheng)應力集中點，承載后往往會引起裂紋，是(shi)一種危險性缺(que)(que)陷(xian)。其(qi)產生(sheng)原因(yin)一般是(shi)：坡(po)口純邊(bian)間(jian)隙(xi)太小(xiao)，焊接電流太小(xiao)或(huo)運條速度(du)過快(kuai)，坡(po)口角度(du)小(xiao)，運條角度(du)不(bu)對以及電弧偏吹等。防止(zhi)措施有(you)：合理選用坡(po)口型式、裝配間(jian)隙(xi)和采用正(zheng)確的焊接工(gong)藝等。
探(tan)頭(tou)平移時，波(bo)形較穩定，兩側探(tan)測(ce)時，反射波(bo)幅不(bu)(bu)同，有時只能從一側探(tan)到(dao)。其產生的原因(yin)：坡(po)口(kou)不(bu)(bu)干凈，焊速太快(kuai)，電流過(guo)小或過(guo)大(da)，焊條角度不(bu)(bu)對，電弧偏(pian)吹等。防(fang)止(zhi)(zhi)措施：正確選用(yong)坡(po)口(kou)和電流，坡(po)口(kou)清理干凈，正確操作防(fang)止(zhi)(zhi)焊偏(pian)等。
回波(bo)高度(du)較大(da)，波(bo)幅(fu)(fu)寬，會出現多峰，探(tan)頭(tou)(tou)(tou)平移時(shi)反射波(bo)連續出現波(bo)幅(fu)(fu)有變動，探(tan)頭(tou)(tou)(tou)轉時(shi)，波(bo)峰有上下錯(cuo)動現象。裂(lie)紋(wen)(wen)是(shi)一種(zhong)危險性最大(da)的(de)(de)缺陷(xian)，它除降低(di)焊(han)接(jie)接(jie)頭(tou)(tou)(tou)的(de)(de)強度(du)外(wai)，還因裂(lie)紋(wen)(wen)的(de)(de)末(mo)端(duan)呈尖銷的(de)(de)缺口，焊(han)件承載(zai)后，引起(qi)應力集中，成(cheng)(cheng)為結(jie)構(gou)斷裂(lie)的(de)(de)起(qi)源(yuan)。裂(lie)紋(wen)(wen)分為熱(re)裂(lie)紋(wen)(wen)、冷(leng)裂(lie)紋(wen)(wen)和(he)(he)再熱(re)裂(lie)紋(wen)(wen)三種(zhong)。熱(re)裂(lie)紋(wen)(wen)產生的(de)(de)原因是(shi)：焊(han)接(jie)時(shi)熔池(chi)的(de)(de)冷(leng)卻速度(du)很快，造(zao)成(cheng)(cheng)偏(pian)(pian)析(xi);焊(han)縫(feng)受熱(re)不均勻產生拉應力。防止(zhi)措施：限制母材和(he)(he)焊(han)接(jie)材料中易偏(pian)(pian)析(xi)元素和(he)(he)有害雜(za)質(zhi)的(de)(de)含(han)量(liang)，主要限制硫含(han)量(liang)，提(ti)高錳(meng)含(han)量(liang);提(ti)高焊(han)條或焊(han)劑的(de)(de)堿度(du)，以(yi)降低(di)雜(za)質(zhi)含(han)量(liang)，改(gai)善偏(pian)(pian)析(xi)程度(du);改(gai)進焊(han)接(jie)結(jie)構(gou)形式，采用合理(li)的(de)(de)焊(han)接(jie)順序，提(ti)高焊(han)縫(feng)收縮時(shi)的(de)(de)自(zi)由度(du)。
探(tan)傷儀(yi)(yi)(yi)(yi)檢(jian)測(ce)(ce)這里主要介(jie)紹的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)是(shi)應用(yong)(yong)最多(duo)(duo)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)通過(guo)反(fan)(fan)(fan)(fan)射(she)(she)(she)(she)(she)法(fa)(fa)來(lai)獲取物(wu)(wu)體(ti)內(nei)部(bu)(bu)特(te)性信(xin)息(xi)(xi)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)方(fang)(fang)(fang)(fang)法(fa)(fa)。反(fan)(fan)(fan)(fan)射(she)(she)(she)(she)(she)法(fa)(fa)是(shi)基(ji)于(yu)超(chao)(chao)(chao)聲(sheng)在(zai)(zai)(zai)通過(guo)不同聲(sheng)阻抗組(zu)(zu)織(zhi)界(jie)(jie)面時會(hui)(hui)發生(sheng)(sheng)(sheng)較強反(fan)(fan)(fan)(fan)射(she)(she)(she)(she)(she)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)原理(li)(li)工作的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)，正(zheng)如(ru)我(wo)們所(suo)知道(dao)，聲(sheng)波(bo)在(zai)(zai)(zai)從(cong)一種介(jie)質(zhi)(zhi)(zhi)傳(chuan)(chuan)播到另外一種介(jie)質(zhi)(zhi)(zhi)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)時候在(zai)(zai)(zai)兩者之間(jian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)界(jie)(jie)面處(chu)會(hui)(hui)發生(sheng)(sheng)(sheng)反(fan)(fan)(fan)(fan)射(she)(she)(she)(she)(she)，而(er)(er)且介(jie)質(zhi)(zhi)(zhi)之間(jian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)差(cha)(cha)別越(yue)大(da)反(fan)(fan)(fan)(fan)射(she)(she)(she)(she)(she)就(jiu)會(hui)(hui)越(yue)大(da)，所(suo)以(yi)(yi)我(wo)們可以(yi)(yi)對(dui)一個(ge)物(wu)(wu)體(ti)發射(she)(she)(she)(she)(she)出(chu)(chu)穿透力(li)強、能(neng)夠直線傳(chuan)(chuan)播的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)超(chao)(chao)(chao)聲(sheng)波(bo)，探(tan)傷儀(yi)(yi)(yi)(yi)然(ran)后對(dui)反(fan)(fan)(fan)(fan)射(she)(she)(she)(she)(she)回(hui)來(lai)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)超(chao)(chao)(chao)聲(sheng)波(bo)進行接(jie)收并根據這些(xie)反(fan)(fan)(fan)(fan)射(she)(she)(she)(she)(she)回(hui)來(lai)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)超(chao)(chao)(chao)聲(sheng)波(bo)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)先后、幅度(du)(du)等情(qing)況就(jiu)可以(yi)(yi)判斷出(chu)(chu)這個(ge)組(zu)(zu)織(zhi)中含有(you)(you)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)各(ge)種介(jie)質(zhi)(zhi)(zhi)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)大(da)小、分布情(qing)況以(yi)(yi)及各(ge)種介(jie)質(zhi)(zhi)(zhi)之間(jian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)對(dui)比(bi)(bi)差(cha)(cha)別程度(du)(du)等信(xin)息(xi)(xi)（其中反(fan)(fan)(fan)(fan)射(she)(she)(she)(she)(she)回(hui)來(lai)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)超(chao)(chao)(chao)聲(sheng)波(bo)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)先后可以(yi)(yi)反(fan)(fan)(fan)(fan)映出(chu)(chu)反(fan)(fan)(fan)(fan)射(she)(she)(she)(she)(she)界(jie)(jie)面離(li)探(tan)測(ce)(ce)表面的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)距離(li)，幅度(du)(du)則可以(yi)(yi)反(fan)(fan)(fan)(fan)映出(chu)(chu)介(jie)質(zhi)(zhi)(zhi)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)大(da)小、對(dui)比(bi)(bi)差(cha)(cha)別程度(du)(du)等特(te)性），探(tan)傷儀(yi)(yi)(yi)(yi)從(cong)而(er)(er)判斷出(chu)(chu)該(gai)被(bei)(bei)測(ce)(ce)物(wu)(wu)體(ti)是(shi)否有(you)(you)異(yi)常(chang)。在(zai)(zai)(zai)這個(ge)過(guo)程中就(jiu)涉(she)及到很多(duo)(duo)方(fang)(fang)(fang)(fang)面的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)內(nei)容，包(bao)括超(chao)(chao)(chao)聲(sheng)波(bo)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)產(chan)(chan)(chan)生(sheng)(sheng)(sheng)、接(jie)收、信(xin)號(hao)轉(zhuan)換(huan)和處(chu)理(li)(li)等。其中產(chan)(chan)(chan)生(sheng)(sheng)(sheng)超(chao)(chao)(chao)聲(sheng)波(bo)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)方(fang)(fang)(fang)(fang)法(fa)(fa)是(shi)通過(guo)電(dian)(dian)(dian)路產(chan)(chan)(chan)生(sheng)(sheng)(sheng)激勵電(dian)(dian)(dian)信(xin)號(hao)傳(chuan)(chuan)給(gei)具(ju)有(you)(you)壓(ya)電(dian)(dian)(dian)效應的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)晶體(ti)（比(bi)(bi)如(ru)石英(ying)、硫酸鋰等），使其振動(dong)(dong)從(cong)而(er)(er)產(chan)(chan)(chan)生(sheng)(sheng)(sheng)超(chao)(chao)(chao)聲(sheng)波(bo)；而(er)(er)接(jie)收反(fan)(fan)(fan)(fan)射(she)(she)(she)(she)(she)回(hui)來(lai)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)超(chao)(chao)(chao)聲(sheng)波(bo)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)時候，這個(ge)壓(ya)電(dian)(dian)(dian)晶體(ti)又(you)會(hui)(hui)受到反(fan)(fan)(fan)(fan)射(she)(she)(she)(she)(she)回(hui)來(lai)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)聲(sheng)波(bo)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)壓(ya)力(li)而(er)(er)產(chan)(chan)(chan)生(sheng)(sheng)(sheng)電(dian)(dian)(dian)信(xin)號(hao)并傳(chuan)(chuan)送(song)給(gei)信(xin)號(hao)處(chu)理(li)(li)電(dian)(dian)(dian)路進行一系列的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)處(chu)理(li)(li)，探(tan)傷儀(yi)(yi)(yi)(yi)最后形成圖像(xiang)供人們觀(guan)察判斷。這里根據圖像(xiang)處(chu)理(li)(li)方(fang)(fang)(fang)(fang)法(fa)(fa)（也就(jiu)是(shi)將(jiang)得到的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)信(xin)號(hao)轉(zhuan)換(huan)成什么形式的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)圖像(xiang)）的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)種類又(you)可以(yi)(yi)分為(wei)A型(xing)(xing)顯示(shi)、M型(xing)(xing)顯示(shi)、B型(xing)(xing)顯示(shi)、C型(xing)(xing)顯示(shi)、F型(xing)(xing)顯示(shi)等。其中A型(xing)(xing)顯示(shi)是(shi)將(jiang)接(jie)收到的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)超(chao)(chao)(chao)聲(sheng)信(xin)號(hao)處(chu)理(li)(li)成波(bo)形圖像(xiang)，根據波(bo)形的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)形狀可以(yi)(yi)看出(chu)(chu)被(bei)(bei)測(ce)(ce)物(wu)(wu)體(ti)里面是(shi)否有(you)(you)異(yi)常(chang)和缺(que)陷(xian)在(zai)(zai)(zai)那(nei)里、有(you)(you)多(duo)(duo)大(da)等，探(tan)傷儀(yi)(yi)(yi)(yi)主要用(yong)(yong)于(yu)工業檢(jian)測(ce)(ce)；M型(xing)(xing)顯示(shi)是(shi)將(jiang)一條經(jing)過(guo)輝(hui)度(du)(du)處(chu)理(li)(li)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)探(tan)測(ce)(ce)信(xin)息(xi)(xi)按(an)時間(jian)順(shun)序(xu)展(zhan)開形成一維(wei)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)"空間(jian)多(duo)(duo)點運(yun)動(dong)(dong)時序(xu)圖"，適(shi)于(yu)觀(guan)察內(nei)部(bu)(bu)處(chu)于(yu)運(yun)動(dong)(dong)狀態的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)物(wu)(wu)體(ti)，探(tan)傷儀(yi)(yi)(yi)(yi)如(ru)運(yun)動(dong)(dong)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)臟器、動(dong)(dong)脈血管等；B型(xing)(xing)顯示(shi)是(shi)將(jiang)并排很多(duo)(duo)條經(jing)過(guo)輝(hui)度(du)(du)處(chu)理(li)(li)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)探(tan)測(ce)(ce)信(xin)息(xi)(xi)組(zu)(zu)合成的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)二(er)維(wei)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)、反(fan)(fan)(fan)(fan)映出(chu)(chu)被(bei)(bei)測(ce)(ce)物(wu)(wu)體(ti)內(nei)部(bu)(bu)斷層切面的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)"解剖圖像(xiang)"（醫(yi)院里使用(yong)(yong)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)B超(chao)(chao)(chao)就(jiu)是(shi)用(yong)(yong)這種原理(li)(li)做出(chu)(chu)來(lai)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)），探(tan)傷儀(yi)(yi)(yi)(yi)適(shi)于(yu)觀(guan)察內(nei)部(bu)(bu)處(chu)于(yu)靜態的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)物(wu)(wu)體(ti)；而(er)(er)C型(xing)(xing)顯示(shi)、F型(xing)(xing)顯示(shi)用(yong)(yong)得比(bi)(bi)較少(shao)。探(tan)傷儀(yi)(yi)(yi)(yi)檢(jian)測(ce)(ce)不但可以(yi)(yi)做到非(fei)常(chang)準(zhun)確，而(er)(er)且相對(dui)其他(ta)檢(jian)測(ce)(ce)方(fang)(fang)(fang)(fang)法(fa)(fa)來(lai)說更為(wei)方(fang)(fang)(fang)(fang)便、快捷，也不會(hui)(hui)對(dui)檢(jian)測(ce)(ce)對(dui)象和操作者產(chan)(chan)(chan)生(sheng)(sheng)(sheng)危(wei)害，所(suo)以(yi)(yi)受到了人們越(yue)來(lai)越(yue)普遍(bian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)歡(huan)迎(ying)，有(you)(you)著非(fei)常(chang)廣(guang)闊的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)發展(zhan)前景(jing)。
探(tan)傷(shang)儀的(de)(de)應(ying)用(yong)有很(hen)廣(guang)泛，比(bi)如(ru)用(yong)超(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)的(de)(de)反射(she)來測量距離，利(li)(li)用(yong)大功率(lv)超(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)的(de)(de)振動來清(qing)除附著在鍋爐上(shang)面的(de)(de)水(shui)垢，利(li)(li)用(yong)高(gao)能超(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)做(zuo)成(cheng)"超(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)刀(dao)"來消滅、擊碎(sui)人(ren)體(ti)(ti)內的(de)(de)癌變、結石等(deng)(deng)(deng)，探(tan)傷(shang)儀而利(li)(li)用(yong)超(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)的(de)(de)反射(she)等(deng)(deng)(deng)效應(ying)和穿透力強、能夠直線傳(chuan)播等(deng)(deng)(deng)的(de)(de)特性來進行檢(jian)(jian)測也是(shi)其中(zhong)一個(ge)很(hen)大的(de)(de)應(ying)用(yong)領(ling)域。探(tan)傷(shang)儀的(de)(de)檢(jian)(jian)測應(ying)用(yong)主要包括在工(gong)業上(shang)對各(ge)種材(cai)料的(de)(de)檢(jian)(jian)測和在醫療上(shang)對人(ren)體(ti)(ti)的(de)(de)檢(jian)(jian)測診斷，通(tong)過它人(ren)們可以(yi)探(tan)測出金屬等(deng)(deng)(deng)工(gong)業材(cai)料中(zhong)有沒(mei)有氣泡、傷(shang)痕、裂縫等(deng)(deng)(deng)缺陷，可以(yi)檢(jian)(jian)測出人(ren)們身體(ti)(ti)的(de)(de)軟組織、血流(liu)等(deng)(deng)(deng)是(shi)否(fou)正常。
粉探傷(shang)儀適(shi)(shi)用(yong)于零件表面(mian)的(de)探傷(shang)，主要適(shi)(shi)用(yong)于濕(shi)磁粉法檢測(ce)曲軸(zhou)、凸輪軸(zhou)、花鍵軸(zhou)等各種中小型零件的(de)表面(mian)及近(jin)表面(mian)因(yin)鑄造、淬火、加工、疲(pi)勞等原(yuan)因(yin)引(yin)起的(de)裂紋及細微缺(que)陷，是單件檢測(ce)，小批(pi)(pi)抽檢，大(da)批(pi)(pi)量檢測(ce)的(de)首選機型。
輕小，可以(yi)到現場(chang)探(tan)(tan)傷(shang)乃至高空進行探(tan)(tan)傷(shang)作業。包(bao)括(kuo)對大型零(ling)部(bu)件進行局部(bu)磁(ci)化探(tan)(tan)傷(shang)。特別適(shi)用于平焊(han)縫(feng)、角焊(han)縫(feng)、壓(ya)力容器、管道(dao)及形狀復雜零(ling)部(bu)件的探(tan)(tan)傷(shang)。對不允許高電(dian)壓(ya)進入設備內探(tan)(tan)傷(shang)的場(chang)合(he)更為適(shi)合(he)。
磁粉探(tan)(tan)傷儀只(zhi)能(neng)對大型(xing)工件分段(duan)探(tan)(tan)傷，不(bu)能(neng)一次性檢測出全方位的裂紋，所以其探(tan)(tan)傷效率較低。
該設(she)備(bei)操作簡便，工(gong)(gong)作效率(lv)高，采用(yong)工(gong)(gong)業PLC控制(zhi)，既可手動單步操作，亦可自(zi)動循環工(gong)(gong)作，周、縱向(xiang)電(dian)流分別可調，具(ju)有(you)斷電(dian)相(xiang)位控制(zhi)功能(neng)。可分別進行周向(xiang)、縱向(xiang)、復合磁化。工(gong)(gong)件可以(yi)轉動，檢(jian)測(ce)時機器可按工(gong)(gong)藝要求設(she)定的(de)程(cheng)序自(zi)動完(wan)成(cheng)除上下料及觀察外（如夾(jia)緊、噴液、磁化、退(tui)磁、轉動等等）的(de)自(zi)動化工(gong)(gong)作。
1、周向磁(ci)化電(dian)流(liu)：AC0－4000A連續可調(diao)駛(shi)帶斷電(dian)相(xiang)位控制；
2、縱向磁化電(dian)流：DC0－20000AT連(lian)續可調帶斷(duan)電(dian)相位(wei)控制；
3、退磁磁勢：AC20000－0AT連續可調自動衰(shuai)減；
4、退磁(ci)效果：≤0.2mT；
5、夾(jia)緊方(fang)式：氣動或電動夾(jia)緊；
6、電極間距：0－1000mm由夾具確定；
7、夾緊行程(cheng)：0－50mm；
8、夾頭(tou)轉速：10rpm；
（1）超聲波探傷儀PD-F1儀器特點：
高分辨率TFTLCD，獨特的遮(zhe)陽設計，符(fu)合人體工程學。
采(cai)用(yong)高端ARM處理器，系統響應(ying)速(su)度(du)快，實時性好。
采(cai)用性(xing)能先進的前置放大器，大大減(jian)小檢測(ce)盲區。
簡(jian)潔易(yi)用的人機(ji)交互(hu)，儀(yi)器操(cao)控(kong)性強。
高達4GB海量存(cun)儲，能夠進(jin)行長時間的探傷波(bo)形動態記錄，存(cun)儲大量波(bo)形信(xin)息。
具有豐富的通信接口(kou)，強大的數據備(bei)份和數據轉儲能力(li)。
防水等(deng)級IP64。
鍵盤背光功能。
探頭接口(kou)采(cai)用(yong)瑞士(shi)原裝進口(kou)的(de)LEMO接頭，美觀(guan)大方，耐用(yong)性好。
增(zeng)加Ethernet網口，可接(jie)入(ru)以太網。
增加(jia)了大量的操作提示信息，人機交互界面更加(jia)友好。
用戶可根據自己喜好來選擇不同的(de)屏(ping)幕顏色(se)。
內置AWS、API5UE等多種(zhong)標(biao)準。
（2）超聲波探傷儀主要性能指標：
探測范圍：(0~9999)mm
工作頻(pin)率：(0.25~20)MHz
各頻段等效輸(shu)入噪聲：<15%
發射脈沖(chong)(chong)：負(fu)脈沖(chong)(chong)s
能量可選擇，適用探頭范(fan)圍廣。
脈沖寬度在(0.1~0.5)μs范圍內(nei)連續調節，以(yi)匹配(pei)不(bu)同頻率(lv)的(de)探(tan)頭。
脈沖幅度：低（300伏(fu)）、中（500伏(fu)）、高（700伏(fu)）分級選擇，適用(yong)探(tan)頭范圍廣。
脈(mo)沖寬度：在（0.1~0.5）μs范圍內連續(xu)調節，以匹配不同頻率的探頭。
超(chao)聲波探傷儀探頭阻尼(ni)：50Ω，150Ω、300Ω、400Ω可(ke)選，滿足靈敏度(du)及分辨率的不同工作(zuo)。
動(dong)態范(fan)圍(wei)：≥36dB
數(shu)字抑制：(0~80)%，不(bu)影響線性與增(zeng)益。
垂直(zhi)線性誤(wu)差：≤2.6%。
水(shui)平線性誤(wu)差：≤0.1%。
分辨力：>38dB。
靈敏度余量：60dB。
電噪聲(sheng)電平：≤10%。
濾波頻(pin)帶：（0.25~20）MHz，根據(ju)探頭頻(pin)率全(quan)自動匹配，無需(xu)手動設置。
探傷通道(dao)：200組(zu)探傷工(gong)作通道(dao)。
探頭接(jie)(jie)口：LEMO接(jie)(jie)口，ERA.1S。
探(tan)(tan)頭(tou)(tou)類型：直探(tan)(tan)頭(tou)(tou)、斜探(tan)(tan)頭(tou)(tou)、雙晶探(tan)(tan)頭(tou)(tou)、穿透探(tan)(tan)頭(tou)(tou)。
報警(jing)：蜂鳴器報警(jing)，鍵盤背(bei)光燈報警(jing)。
電源：直流（DC）9V；鋰電池連續工作(zuo)6~8小時(shi)以上。
外型尺寸：220×156×58(mm)結(jie)構待定。
環境溫度：(-10~50)℃。
相對濕度：(20~95)%RH。
注：以上(shang)指標是在探頭(tou)頻率(lv)為2.5MHz、檢波方式為全波的情況下所(suo)測(ce)得的。
（3）超聲波探傷儀PD-F1主要功能參數：
數據采集：
硬件(jian)實時采樣：10位(wei)AD轉換器，采樣速(su)度125MHz，波形高度保真(zhen)。
檢(jian)(jian)波(bo)方式：正半(ban)波(bo)、負半(ban)波(bo)、全(quan)波(bo)、射頻檢(jian)(jian)波(bo)。
閘(zha)門讀數(shu)：單閘(zha)門和雙閘(zha)門讀數(shu)方(fang)式可選；閘(zha)門內峰值(zhi)讀數(shu)、邊緣檢測可選。
增益：0-110dB，最(zui)小增益調節量0.1dB，獨特的(de)全自(zi)動增益調節及掃查增益功能。
超聲波探傷儀探傷功能
波峰記憶：實時檢索(suo)缺(que)陷(xian)最(zui)高波，記錄缺(que)陷(xian)最(zui)大值。
Φ值計算：直(zhi)探頭鍛件探傷找(zhao)準缺陷(xian)最(zui)高波后自(zi)動計算、顯示缺陷(xian)當量尺寸。
缺陷定位(wei)(wei)：實(shi)時顯示(shi)缺陷水(shui)平、深度（垂直）、聲(sheng)程位(wei)(wei)置。
缺(que)陷定量(liang)：缺(que)陷當量(liang)dB值實(shi)時顯示；
缺陷定性：通(tong)過回波包(bao)絡波形，方(fang)便人工經驗判(pan)斷(duan)；
探頭頻率檢測(ce)(ce)：通過抓取回波，準確檢測(ce)(ce)出探頭的中心頻率，500mm范(fan)圍(wei)內(nei)任(ren)意波幅回波，一鍵輕松完成檢測(ce)(ce)；
曲面(mian)修(xiu)正：修(xiu)正斜(xie)探(tan)頭圓管檢測(ce)時的深度和水(shui)平距離；
超聲波(bo)探傷儀(yi)修正(zheng)模式：內弧/外弧；
DAC/AVG：曲(qu)線自動(dong)(dong)生成，取(qu)樣點不受限制，并(bing)可(ke)進行(xing)補償與修(xiu)正。曲(qu)線隨(sui)增(zeng)益自動(dong)(dong)浮動(dong)(dong)、隨(sui)聲程自動(dong)(dong)擴展、隨(sui)延時自動(dong)(dong)移動(dong)(dong)。能顯(xian)示任意孔徑的AVG曲(qu)線。
裂紋測高：利用端點衍(yan)射波自動測量、計算裂紋高度。
B型掃(sao)描(miao)：采用定時掃(sao)描(miao)方式(shi)形(xing)成B型圖像。
門內(nei)展寬：放(fang)大回(hui)波細節，便(bian)于回(hui)波分析。
動態記(ji)錄(lu)：檢測實時動態記(ji)錄(lu)、存儲、回放(fang)波形，每段記(ji)錄(lu)可達(da)8分鐘(zhong)。
波形凍結(jie)(jie)：凍結(jie)(jie)屏(ping)幕上顯示的波形，便(bian)于缺陷分析。
焊縫圖示(shi)(shi)：顯示(shi)(shi)焊縫坡(po)口(kou)形式(shi)和聲束走向(xiang)，直觀顯示(shi)(shi)缺陷位置。
內置標準：可自由設置各行(xing)業探傷工藝標準。
回波(bo)編碼：輸入工件厚度，儀器(qi)根(gen)據一次(ci)波(bo)、二次(ci)波(bo)及多次(ci)波(bo)的區域能(neng)生成(cheng)不(bu)同的背景色彩(cai)。
工作(zuo)方式：直探(tan)頭(tou)、斜(xie)探(tan)頭(tou)、雙晶探(tan)頭(tou)、穿透探(tan)傷。
閘門報(bao)警：門位、門寬、門高任意可調；B閘門可選擇設(she)置(zhi)進波報(bao)警或失(shi)波報(bao)警；數(shu)據存儲(chu)：200組探傷(shang)參(can)(can)數(shu)通道，可預(yu)先調校好各類探頭和(he)儀器的組合(he)參(can)(can)數(shu)，自由設(she)置(zhi)各行業探傷(shang)標準；可存儲(chu)10000幅(fu)探傷(shang)回波信號及(ji)參(can)(can)數(shu)，實現(xian)存儲(chu)、讀出及(ji)通過USB接口(kou)傳輸。
實時(shi)(shi)時(shi)(shi)鐘：實時(shi)(shi)探傷(shang)日期、時(shi)(shi)間(jian)的跟蹤記錄(lu)，并記錄(lu)存儲。
通(tong)訊接口(kou)：USB主機(ji)接口(kou)和從機(ji)接口(kou)，既(ji)能與PC機(ji)通(tong)信，又能方便地(di)訪(fang)問U盤(pan)。藍(lan)牙無線通(tong)信模塊。
電(dian)(dian)池(chi)模塊：高容量鋰電(dian)(dian)池(chi)模塊，在線充電(dian)(dian)和脫(tuo)機充電(dian)(dian)兩種充電(dian)(dian)方式，方便(bian)探傷(shang)。
醫用超聲波探傷儀
超(chao)聲(sheng)波探(tan)傷(shang)儀工(gong)作(zuo)原理與(yu)聲(sheng)納(na)有(you)一定的相似性(xing)，即將超(chao)聲(sheng)波發射(she)到人體(ti)內(nei)，當它(ta)在體(ti)內(nei)遇到界面時(shi)會發生反射(she)及折(zhe)射(she)，并且在人體(ti)組(zu)織中(zhong)可能被吸收而衰(shuai)減(jian)。因(yin)為人體(ti)各種組(zu)織的形(xing)態(tai)與(yu)結構(gou)是(shi)(shi)不(bu)相同的，因(yin)此其(qi)反射(she)與(yu)折(zhe)射(she)以及吸收超(chao)聲(sheng)波的程度也就不(bu)同，醫生們正(zheng)是(shi)(shi)通(tong)過儀器(qi)所反映出的波型(xing)(xing)(xing)、曲線，或影象的特征來辨別它(ta)們。此外再(zai)結合解剖學知識、正(zheng)常與(yu)病理的改變，便可診斷(duan)所檢(jian)查的器(qi)官是(shi)(shi)否有(you)病。醫生們應(ying)用(yong)的超(chao)聲(sheng)診斷(duan)方法有(you)不(bu)同的形(xing)式，可分為A型(xing)(xing)(xing)、B型(xing)(xing)(xing)、M型(xing)(xing)(xing)及D型(xing)(xing)(xing)四大(da)類:
A型(xing)：是以波形來(lai)顯(xian)示組織(zhi)特(te)(te)征(zheng)的方法，主要(yao)用于測量器官的徑線，以判定其大(da)小。可用來(lai)鑒別(bie)病變組織(zhi)的一些物理特(te)(te)性(xing)，如實質性(xing)、液體(ti)或是氣體(ti)是否存在等。
B型：用(yong)平面圖形(xing)的(de)形(xing)式來顯示被(bei)探查組織的(de)具體情況。檢查時(shi)，將人體界(jie)面的(de)反射信號轉(zhuan)變為強弱不同的(de)光(guang)點，這些光(guang)點可通過(guo)熒(ying)光(guang)屏顯現出來，這種方法直觀性好(hao)，重(zhong)復性強，可供前后對比(bi)，所以廣泛用(yong)于婦產科、泌(mi)尿、消化及(ji)心血管等系統疾病的(de)診斷。
M型：是用(yong)于觀察活(huo)動界面時(shi)間(jian)變化(hua)的一種方(fang)法。最適用(yong)于檢查心臟的活(huo)動情(qing)況(kuang)，其(qi)曲線的動態(tai)改變稱(cheng)為超聲心動圖，可以用(yong)來觀察心臟各(ge)層結構(gou)的位置、活(huo)動狀(zhuang)態(tai)、結構(gou)的狀(zhuang)況(kuang)等，多用(yong)于輔助(zhu)心臟及大血(xue)管疫病(bing)的診斷。
D型：是(shi)專門用(yong)(yong)來(lai)(lai)檢(jian)測血液流(liu)(liu)動(dong)和器官活動(dong)的(de)(de)一種超聲診(zhen)斷(duan)方法(fa)，又稱為多(duo)普勒超聲診(zhen)斷(duan)法(fa)。可確(que)定(ding)血管(guan)是(shi)否通暢、管(guan)腔有(you)否狹(xia)窄、閉塞以及病變部位。新(xin)一代的(de)(de)D型超聲波還(huan)能定(ding)量(liang)地測定(ding)管(guan)腔內血液的(de)(de)流(liu)(liu)量(liang)。科(ke)學家又發展了彩(cai)色編碼(ma)多(duo)普勒系統，可在超聲心動(dong)圖(tu)解剖標志的(de)(de)指示(shi)(shi)下(xia)，以不同(tong)顏色顯示(shi)(shi)血流(liu)(liu)的(de)(de)方向，色澤的(de)(de)深淺代表血流(liu)(liu)的(de)(de)流(liu)(liu)速。還(huan)有(you)立體(ti)超聲顯象、超聲CT、超聲內窺鏡等超聲技(ji)術不斷(duan)涌現出來(lai)(lai)，并且還(huan)可以與其他(ta)檢(jian)查儀器結(jie)合使(shi)用(yong)(yong)，使(shi)疾病的(de)(de)診(zhen)斷(duan)準確(que)率大大提(ti)高。超聲波技(ji)術正在醫(yi)學界發揮著巨大的(de)(de)作用(yong)(yong)，隨著科(ke)學的(de)(de)進步，它將更加完善(shan)，將更好地造福于人類。
主要(yao)用于探測(ce)機(ji)加工(gong)件內(nei)部有(you)(you)無缺陷（裂紋、砂眼(yan)、氣孔、白點、夾雜等），焊縫是否合格，查找有(you)(you)無暗傷(shang)，從而判(pan)定工(gong)件合格與否。
全數字
真(zhen)彩(cai)顯示器：五種顏色可(ke)選、亮度可(ke)調
高性能鋰電池，連續(xu)工作7小時
與計算機(ji)通訊，可自動生成探傷報告
實時顯示SL、EL、GL、RL定量(liang)值
自動(dong)(dong)校準：自動(dong)(dong)測試(shi)“探(tan)頭零點”、“K值(zhi)”、“前沿”及“材(cai)料聲速”；
自動顯示缺陷回波(bo)位(wei)置(zhi)（深度d、水平p、距離s、波(bo)幅、當量dB、孔徑ф值）；
自由切換三種標(biao)(biao)尺(chi)（深(shen)度d、水平p、距(ju)離(li)s），滿足(zu)不同的探(tan)(tan)傷(shang)標(biao)(biao)準要求和探(tan)(tan)傷(shang)工程師的標(biao)(biao)尺(chi)使用習慣；
自動(dong)增(zeng)益：自動(dong)將波形調至屏高的80%，大大提高了探傷效率(lv)；
自動(dong)錄制探傷過(guo)程并(bing)可以進行動(dong)態回放；
自動(dong)φ值(zhi)計算(suan)：直探頭鍛件探傷，找準缺陷(xian)最高波自動(dong)換算(suan)孔徑ф值(zhi)；
自動DAC、AVG曲線自動生成并可以分段制作，取樣點不受限制，并可進行修正與補償，滿足任意探傷標準；阻尼自動。
硬件實時采樣(yang)：150MHz，波(bo)形高度保真(zhen)
閘門(men)信(xin)號：單閘門(men)、雙(shuang)閘門(men)，峰值或邊緣讀數(shu)
增益調節：手動調節110dB（0.2dB、0.5dB、1dB、2dB、6dB、12dB步進）或自動調節至屏(ping)高(gao)的80%
曲線包絡和波峰記憶(yi)：實時檢索并記錄(lu)缺陷最高波
φ值計算：直探頭鍛(duan)件探傷(shang)找準缺陷(xian)最高波(bo)自動換算
動態錄(lu)制：實時動態錄(lu)制波形(xing)，并可(ke)存儲、回放
缺(que)陷定位：實時(shi)顯示水平值(zhi)L、深度值(zhi)H、聲程值(zhi)S
缺陷定量：實時(shi)顯示SL、EL、GL、RL定量值
實時顯示(shi)孔(kong)狀缺陷Φ值
缺陷定性(xing)：通過(guo)波(bo)形，人工(gong)經驗判斷(duan)
曲面修(xiu)正(zheng)(zheng)：曲面工件探傷，修(xiu)正(zheng)(zheng)曲率(lv)換算
B型掃(sao)(sao)描(miao)：實(shi)時掃(sao)(sao)查，描(miao)述缺陷(xian)橫(heng)切(qie)面
閘門報警：進波(bo)報警、失波(bo)報警
DAC報警(jing)：自由設置SL、EL、GL、RL報警(jing)
五大常規(gui)方法(fa)(fa)是(shi)指射(she)線探傷法(fa)(fa)、超聲波探傷法(fa)(fa)、磁粉(fen)探傷法(fa)(fa)、渦流探傷法(fa)(fa)和滲透(tou)探傷法(fa)(fa)。
射(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)探(tan)(tan)傷(shang)(shang)是(shi)利(li)用(yong)(yong)射(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)穿透(tou)性(xing)和直(zhi)線(xian)(xian)(xian)(xian)性(xing)來探(tan)(tan)傷(shang)(shang)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)方(fang)法。這些(xie)(xie)射(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)雖然不會像可(ke)(ke)(ke)見(jian)光那樣憑肉(rou)眼就(jiu)(jiu)能(neng)(neng)直(zhi)接察知，但(dan)它(ta)可(ke)(ke)(ke)使照相底(di)(di)片感(gan)光，也可(ke)(ke)(ke)用(yong)(yong)特(te)殊的(de)(de)(de)(de)(de)(de)接收(shou)器來接收(shou)。常用(yong)(yong)于探(tan)(tan)傷(shang)(shang)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)射(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)有x光和同位素發出(chu)(chu)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)γ射(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)，分(fen)別稱為x光探(tan)(tan)傷(shang)(shang)和γ射(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)探(tan)(tan)傷(shang)(shang)。當這些(xie)(xie)射(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)穿過(guo)(guo)（照射(she)(she)）物質(zhi)時，該(gai)物質(zhi)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)密度(du)(du)越大(da)(da)，射(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)強(qiang)度(du)(du)減弱(ruo)得(de)(de)越多，即射(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)能(neng)(neng)穿透(tou)過(guo)(guo)該(gai)物質(zhi)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)強(qiang)度(du)(du)就(jiu)(jiu)越小。此時，若用(yong)(yong)照相底(di)(di)片接收(shou)，則(ze)底(di)(di)片的(de)(de)(de)(de)(de)(de)感(gan)光量就(jiu)(jiu)小；若用(yong)(yong)儀器來接收(shou)，獲得(de)(de)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)信(xin)號就(jiu)(jiu)弱(ruo)。因(yin)(yin)此，用(yong)(yong)射(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)來照射(she)(she)待探(tan)(tan)傷(shang)(shang)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)零部(bu)件時，若其內部(bu)有氣孔、夾渣(zha)等(deng)缺(que)陷(xian)，射(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)穿過(guo)(guo)有缺(que)陷(xian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)路徑比沒有缺(que)陷(xian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)路徑所透(tou)過(guo)(guo)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)物質(zhi)密度(du)(du)要小得(de)(de)多，其強(qiang)度(du)(du)就(jiu)(jiu)減弱(ruo)得(de)(de)少些(xie)(xie)，即透(tou)過(guo)(guo)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)強(qiang)度(du)(du)就(jiu)(jiu)大(da)(da)些(xie)(xie)，若用(yong)(yong)底(di)(di)片接收(shou)，則(ze)感(gan)光量就(jiu)(jiu)大(da)(da)些(xie)(xie)，就(jiu)(jiu)可(ke)(ke)(ke)以(yi)從底(di)(di)片上反映出(chu)(chu)缺(que)陷(xian)垂(chui)直(zhi)于射(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)方(fang)向(xiang)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)平(ping)面投影(ying)；若用(yong)(yong)其它(ta)接收(shou)器也同樣可(ke)(ke)(ke)以(yi)用(yong)(yong)儀表來反映缺(que)陷(xian)垂(chui)直(zhi)于射(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)方(fang)向(xiang)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)平(ping)面投影(ying)和射(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)透(tou)過(guo)(guo)量。由此可(ke)(ke)(ke)見(jian)，一(yi)般(ban)情(qing)況下，射(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)探(tan)(tan)傷(shang)(shang)是(shi)不易發現裂(lie)紋(wen)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)，或者(zhe)說，射(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)探(tan)(tan)傷(shang)(shang)對裂(lie)紋(wen)是(shi)不敏感(gan)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)。因(yin)(yin)此，射(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)探(tan)(tan)傷(shang)(shang)對氣孔、夾渣(zha)、未焊透(tou)等(deng)體(ti)積(ji)型(xing)缺(que)陷(xian)最(zui)敏感(gan)。即射(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)探(tan)(tan)傷(shang)(shang)適(shi)宜(yi)用(yong)(yong)于體(ti)積(ji)型(xing)缺(que)陷(xian)探(tan)(tan)傷(shang)(shang)，而不適(shi)宜(yi)面積(ji)型(xing)缺(que)陷(xian)探(tan)(tan)傷(shang)(shang)。
人們的(de)(de)(de)耳朵能(neng)(neng)直接接收到(dao)(dao)的(de)(de)(de)聲波(bo)(bo)的(de)(de)(de)頻率范圍通常(chang)是20Hz到(dao)(dao)20kHz，即音（聲）頻。頻率低于20Hz的(de)(de)(de)稱為(wei)次聲波(bo)(bo)，高于20kHz的(de)(de)(de)稱為(wei)超(chao)聲波(bo)(bo)。工(gong)(gong)業上(shang)常(chang)用(yong)(yong)數兆赫茲超(chao)聲波(bo)(bo)來探(tan)傷(shang)。超(chao)聲波(bo)(bo)頻率高，則(ze)傳(chuan)播的(de)(de)(de)直線(xian)性強，又易于在固體中傳(chuan)播，并且(qie)遇到(dao)(dao)兩種不(bu)同介質形成的(de)(de)(de)界(jie)面(mian)時(shi)易于反(fan)射，這(zhe)樣(yang)就(jiu)可以(yi)用(yong)(yong)它(ta)來探(tan)傷(shang)。通常(chang)用(yong)(yong)超(chao)聲波(bo)(bo)探(tan)頭(tou)與待探(tan)工(gong)(gong)件表面(mian)良好的(de)(de)(de)接觸，探(tan)頭(tou)則(ze)可有效地向(xiang)工(gong)(gong)件發射超(chao)聲波(bo)(bo)，并能(neng)(neng)接收（缺陷(xian)(xian)）界(jie)面(mian)反(fan)射來的(de)(de)(de)超(chao)聲波(bo)(bo)，同時(shi)轉換(huan)成電(dian)信號，再傳(chuan)輸給(gei)儀(yi)器進行處理。根據(ju)超(chao)聲波(bo)(bo)在介質中傳(chuan)播的(de)(de)(de)速度（常(chang)稱聲速）和傳(chuan)播的(de)(de)(de)時(shi)間，就(jiu)可知道缺陷(xian)(xian)的(de)(de)(de)位置。當缺陷(xian)(xian)越大，反(fan)射面(mian)則(ze)越大，其反(fan)射的(de)(de)(de)能(neng)(neng)量也就(jiu)越大，故可根據(ju)反(fan)射能(neng)(neng)量的(de)(de)(de)大小(xiao)來查知各缺陷(xian)(xian)（當量）的(de)(de)(de)大小(xiao)。常(chang)用(yong)(yong)的(de)(de)(de)探(tan)傷(shang)波(bo)(bo)形有縱波(bo)(bo)、橫波(bo)(bo)、表面(mian)波(bo)(bo)等，前二者(zhe)適(shi)用(yong)(yong)于探(tan)測內(nei)部缺陷(xian)(xian)，后者(zhe)適(shi)宜于探(tan)測表面(mian)缺陷(xian)(xian)，但(dan)對表面(mian)的(de)(de)(de)條件要求高。
磁(ci)(ci)(ci)粉(fen)探(tan)(tan)傷(shang)是建立在漏磁(ci)(ci)(ci)原(yuan)理基礎上(shang)的(de)(de)一種磁(ci)(ci)(ci)力(li)探(tan)(tan)傷(shang)方(fang)法(fa)。當磁(ci)(ci)(ci)力(li)線穿(chuan)過(guo)鐵磁(ci)(ci)(ci)材料及(ji)其制品(pin)時(shi)(shi)，在其（磁(ci)(ci)(ci)性(xing)）不連續處(chu)將產生(sheng)漏磁(ci)(ci)(ci)場，形成磁(ci)(ci)(ci)極。此(ci)時(shi)(shi)撒(sa)上(shang)干磁(ci)(ci)(ci)粉(fen)或澆上(shang)磁(ci)(ci)(ci)懸液，磁(ci)(ci)(ci)極就會吸附磁(ci)(ci)(ci)粉(fen)，產生(sheng)用(yong)肉眼(yan)能直接(jie)(jie)觀察的(de)(de)明顯(xian)磁(ci)(ci)(ci)痕。因此(ci)，可(ke)借助于(yu)(yu)該磁(ci)(ci)(ci)痕來(lai)顯(xian)示鐵磁(ci)(ci)(ci)材料及(ji)其制品(pin)的(de)(de)缺陷(xian)情況。磁(ci)(ci)(ci)粉(fen)探(tan)(tan)傷(shang)法(fa)可(ke)探(tan)(tan)測露出表(biao)(biao)面(mian)(mian)，用(yong)肉眼(yan)或借助于(yu)(yu)放大鏡也(ye)不能直接(jie)(jie)觀察到的(de)(de)微小缺陷(xian)，也(ye)可(ke)探(tan)(tan)測未露出表(biao)(biao)面(mian)(mian)，而是埋藏在表(biao)(biao)面(mian)(mian)下幾毫米的(de)(de)近(jin)表(biao)(biao)面(mian)(mian)缺陷(xian)。用(yong)這種方(fang)法(fa)雖然(ran)也(ye)能探(tan)(tan)查氣孔、夾雜、未焊(han)透等體積(ji)型缺陷(xian)，但對面(mian)(mian)積(ji)型缺陷(xian)更靈敏，更適于(yu)(yu)檢查因淬火、軋制、鍛造(zao)、鑄造(zao)、焊(han)接(jie)(jie)、電鍍、磨削、疲(pi)勞等引起的(de)(de)裂紋(wen)。
磁(ci)(ci)(ci)力探(tan)(tan)(tan)傷(shang)中(zhong)對缺陷的(de)(de)顯(xian)示方法有多種(zhong)，有用磁(ci)(ci)(ci)粉(fen)顯(xian)示的(de)(de)，也有不(bu)用磁(ci)(ci)(ci)粉(fen)顯(xian)示的(de)(de)。用磁(ci)(ci)(ci)粉(fen)顯(xian)示的(de)(de)稱為磁(ci)(ci)(ci)粉(fen)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)，因(yin)(yin)它顯(xian)示直(zhi)觀、操(cao)作(zuo)簡單、人(ren)們(men)樂于(yu)使用，故(gu)它是(shi)最常用的(de)(de)方法之一。不(bu)用磁(ci)(ci)(ci)粉(fen)顯(xian)示的(de)(de)，習慣上稱為漏磁(ci)(ci)(ci)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)，它常借助于(yu)感應(ying)線圈、磁(ci)(ci)(ci)敏管、霍(huo)爾元件(jian)等來反映缺陷，它比(bi)磁(ci)(ci)(ci)粉(fen)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)更衛生(sheng)，但不(bu)如前者直(zhi)觀。由于(yu)磁(ci)(ci)(ci)力探(tan)(tan)(tan)傷(shang)主(zhu)要用磁(ci)(ci)(ci)粉(fen)來顯(xian)示缺陷，因(yin)(yin)此，人(ren)們(men)有時(shi)把磁(ci)(ci)(ci)粉(fen)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)直(zhi)接稱為磁(ci)(ci)(ci)力探(tan)(tan)(tan)傷(shang)，其設備稱為磁(ci)(ci)(ci)力探(tan)(tan)(tan)傷(shang)設備。
渦(wo)流(liu)(liu)探傷(shang)是由交流(liu)(liu)電流(liu)(liu)產生的交變磁場作用于(yu)待探傷(shang)的導電材(cai)料，感(gan)應出電渦(wo)流(liu)(liu)。如果材(cai)料中(zhong)有(you)缺陷，它將干擾(rao)所產生的電渦(wo)流(liu)(liu)，即形成(cheng)干擾(rao)信號(hao)(hao)。用渦(wo)流(liu)(liu)探傷(shang)儀檢測出其干擾(rao)信號(hao)(hao)，就可(ke)知道(dao)缺陷的狀況(kuang)。影響渦(wo)流(liu)(liu)的因素很(hen)多，即是說(shuo)渦(wo)流(liu)(liu)中(zhong)載有(you)豐富的信號(hao)(hao)，這(zhe)些信號(hao)(hao)與材(cai)料的很(hen)多因素有(you)關(guan)，如何(he)將其中(zhong)有(you)用的信號(hao)(hao)從諸多的信號(hao)(hao)中(zhong)一(yi)(yi)一(yi)(yi)分離出來(lai)，是渦(wo)流(liu)(liu)研究工作者的難題，多年來(lai)已經取(qu)得了一(yi)(yi)些進(jin)展(zhan)，在一(yi)(yi)定(ding)條(tiao)件下可(ke)解決一(yi)(yi)些問題，但還(huan)遠不能滿足現場的要求，有(you)待于(yu)大力發展(zhan)。
渦(wo)流(liu)探傷(shang)的(de)顯(xian)著特點是對(dui)(dui)導電(dian)材(cai)料(liao)(liao)就能起作用，而不一(yi)定是鐵磁材(cai)料(liao)(liao)，但對(dui)(dui)鐵磁材(cai)料(liao)(liao)的(de)效果較(jiao)差(cha)。其次，待探工(gong)件表(biao)面的(de)光潔(jie)度、平整度、邊介(jie)等對(dui)(dui)渦(wo)流(liu)探傷(shang)都(dou)有較(jiao)大(da)影(ying)響，因此(ci)常將渦(wo)流(liu)探傷(shang)用于(yu)形狀較(jiao)規則、表(biao)面較(jiao)光潔(jie)的(de)銅管等非鐵磁性工(gong)件探傷(shang)。
滲(shen)透(tou)(tou)(tou)探(tan)傷(shang)(shang)是利用(yong)(yong)毛細現象(xiang)來進行探(tan)傷(shang)(shang)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)方法(fa)。對(dui)于(yu)表(biao)(biao)面(mian)(mian)光(guang)滑而(er)清(qing)潔的(de)(de)(de)(de)(de)(de)零(ling)部(bu)件，用(yong)(yong)一種帶(dai)(dai)(dai)色（常(chang)(chang)(chang)為紅色）或帶(dai)(dai)(dai)有(you)熒(ying)(ying)光(guang)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)、滲(shen)透(tou)(tou)(tou)性(xing)(xing)很強的(de)(de)(de)(de)(de)(de)液(ye)體(ti)，涂(tu)覆(fu)于(yu)待(dai)探(tan)零(ling)部(bu)件的(de)(de)(de)(de)(de)(de)表(biao)(biao)面(mian)(mian)。若表(biao)(biao)面(mian)(mian)有(you)肉(rou)眼不能直接察知的(de)(de)(de)(de)(de)(de)微裂(lie)紋(wen)(wen)(wen)，由于(yu)該液(ye)體(ti)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)滲(shen)透(tou)(tou)(tou)性(xing)(xing)很強，它(ta)將沿著(zhu)裂(lie)紋(wen)(wen)(wen)滲(shen)透(tou)(tou)(tou)到(dao)其根部(bu)。然后將表(biao)(biao)面(mian)(mian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)滲(shen)透(tou)(tou)(tou)液(ye)洗去，再涂(tu)上(shang)(shang)對(dui)比度(du)較(jiao)大的(de)(de)(de)(de)(de)(de)顯(xian)示液(ye)（常(chang)(chang)(chang)為白(bai)(bai)色）。放置片刻后，由于(yu)裂(lie)紋(wen)(wen)(wen)很窄，毛細現象(xiang)作用(yong)(yong)顯(xian)著(zhu)，原滲(shen)透(tou)(tou)(tou)到(dao)裂(lie)紋(wen)(wen)(wen)內(nei)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)滲(shen)透(tou)(tou)(tou)液(ye)將上(shang)(shang)升到(dao)表(biao)(biao)面(mian)(mian)并擴散，在白(bai)(bai)色的(de)(de)(de)(de)(de)(de)襯底上(shang)(shang)顯(xian)出(chu)較(jiao)粗的(de)(de)(de)(de)(de)(de)紅線，從而(er)顯(xian)示出(chu)裂(lie)紋(wen)(wen)(wen)露于(yu)表(biao)(biao)面(mian)(mian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)形狀(zhuang)(zhuang)，因此，常(chang)(chang)(chang)稱為著(zhu)色探(tan)傷(shang)(shang)。若滲(shen)透(tou)(tou)(tou)液(ye)采用(yong)(yong)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)是帶(dai)(dai)(dai)熒(ying)(ying)光(guang)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)液(ye)體(ti)，由毛細現象(xiang)上(shang)(shang)升到(dao)表(biao)(biao)面(mian)(mian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)液(ye)體(ti)，則會在紫外燈照射下發(fa)出(chu)熒(ying)(ying)光(guang)，從而(er)更能顯(xian)示出(chu)裂(lie)紋(wen)(wen)(wen)露于(yu)表(biao)(biao)面(mian)(mian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)形狀(zhuang)(zhuang)，故常(chang)(chang)(chang)常(chang)(chang)(chang)又將此時的(de)(de)(de)(de)(de)(de)滲(shen)透(tou)(tou)(tou)探(tan)傷(shang)(shang)直接稱為熒(ying)(ying)光(guang)探(tan)傷(shang)(shang)。此探(tan)傷(shang)(shang)方法(fa)也可用(yong)(yong)于(yu)金屬和(he)非(fei)金屬表(biao)(biao)面(mian)(mian)探(tan)傷(shang)(shang)。其使用(yong)(yong)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)探(tan)傷(shang)(shang)液(ye)劑(ji)有(you)較(jiao)大氣味(wei)，常(chang)(chang)(chang)有(you)一定毒性(xing)(xing)。
除以上(shang)五(wu)大常(chang)規方法(fa)外(wai)，近年來又有了紅(hong)外(wai)、聲發射(she)等一些新的探傷方法(fa)。
