1、超聲(sheng)波(bo)(bo)在介質(zhi)(zhi)中傳播時，在不同質(zhi)(zhi)界面(mian)上(shang)具有反(fan)射(she)(she)(she)的(de)特性(xing)，如遇到缺陷(xian)(xian)，缺陷(xian)(xian)的(de)尺寸等于或大于超聲(sheng)波(bo)(bo)波(bo)(bo)長時，則超聲(sheng)波(bo)(bo)在缺陷(xian)(xian)上(shang)反(fan)射(she)(she)(she)回來(lai)，探(tan)傷儀可(ke)將反(fan)射(she)(she)(she)波(bo)(bo)顯示出來(lai)；如缺陷(xian)(xian)的(de)尺寸甚(shen)至小(xiao)于波(bo)(bo)長時，聲(sheng)波(bo)(bo)將繞過射(she)(she)(she)線而不能反(fan)射(she)(she)(she)。
2、波(bo)聲的(de)方(fang)向性好，頻率越(yue)高(gao)，方(fang)向性越(yue)好，以很(hen)窄的(de)波(bo)束向介質中輻射，易于確(que)定缺(que)陷的(de)位置(zhi)。
3、超(chao)聲波(bo)(bo)的傳播能量大，如頻率為1MHZ（1兆赫茲）的超(chao)聲波(bo)(bo)所傳播的能量，相當于振幅相同而頻率為1000HZ（赫茲）的聲波(bo)(bo)的100萬倍(bei)。
探傷儀檢測(ce)通常是(shi)對(dui)被測(ce)物(wu)體(ti)(ti)（比如工業材料、人(ren)體(ti)(ti)）發射(she)超聲，然后利(li)用其反(fan)射(she)、多普勒(le)效(xiao)應、透射(she)等來獲取(qu)被測(ce)物(wu)體(ti)(ti)內部的信息并經過處理形成圖像(xiang)。
探傷(shang)儀其中多普勒效應(ying)法是利用超聲(sheng)(sheng)在(zai)遇到運(yun)動(dong)的(de)物(wu)體時發生的(de)多普勒頻移效應(ying)來(lai)得出該物(wu)體的(de)運(yun)動(dong)方向和速度(du)等特(te)性；透射(she)法則是通過分析超聲(sheng)(sheng)穿(chuan)透過被(bei)測(ce)物(wu)體之后的(de)變化而(er)得出物(wu)體的(de)內部特(te)性的(de)，其應(ying)用還處于研制階段；
探傷儀內部缺陷性質的估判(pan)及原因(yin)和防止(zhi)措施
單(dan)個氣(qi)孔(kong)回波(bo)(bo)高(gao)(gao)度(du)(du)(du)低，波(bo)(bo)形為單(dan)縫(feng)(feng)，較穩定(ding)。從各個方向(xiang)探(tan)測(ce)，反射波(bo)(bo)大(da)(da)體(ti)相(xiang)同(tong)(tong)，但稍(shao)一(yi)動(dong)探(tan)頭就消失，密(mi)集氣(qi)孔(kong)會出(chu)現(xian)一(yi)簇反射波(bo)(bo)，波(bo)(bo)高(gao)(gao)隨氣(qi)孔(kong)大(da)(da)小而(er)不同(tong)(tong)，當探(tan)頭作定(ding)點(dian)轉動(dong)時(shi)，會出(chu)現(xian)此起彼(bi)落的(de)(de)現(xian)象。產生這類(lei)缺(que)陷的(de)(de)原因主(zhu)要是(shi)焊(han)(han)(han)(han)(han)材(cai)未按規定(ding)溫度(du)(du)(du)烘干(gan)，焊(han)(han)(han)(han)(han)條藥皮(pi)變(bian)質脫落、焊(han)(han)(han)(han)(han)芯(xin)(xin)銹(xiu)蝕，焊(han)(han)(han)(han)(han)絲清理不干(gan)凈，手工焊(han)(han)(han)(han)(han)時(shi)電(dian)流過(guo)大(da)(da)，電(dian)弧過(guo)長(chang);埋弧焊(han)(han)(han)(han)(han)時(shi)電(dian)壓(ya)過(guo)高(gao)(gao)或網(wang)絡電(dian)壓(ya)波(bo)(bo)動(dong)太大(da)(da);氣(qi)體(ti)保護焊(han)(han)(han)(han)(han)時(shi)保護氣(qi)體(ti)純度(du)(du)(du)低等。如(ru)果(guo)焊(han)(han)(han)(han)(han)縫(feng)(feng)中存(cun)(cun)在著(zhu)氣(qi)孔(kong)，既破(po)壞了(le)焊(han)(han)(han)(han)(han)縫(feng)(feng)金屬(shu)的(de)(de)致密(mi)性，又使得(de)焊(han)(han)(han)(han)(han)縫(feng)(feng)有效截面積減少，降(jiang)低了(le)機械性能(neng)(neng)，特別是(shi)存(cun)(cun)鏈狀(zhuang)氣(qi)孔(kong)時(shi)，對彎曲和沖擊韌性會有比較明顯降(jiang)低。防止這類(lei)缺(que)陷產生的(de)(de)措施有：不使用藥皮(pi)開裂、剝落、變(bian)質及焊(han)(han)(han)(han)(han)芯(xin)(xin)銹(xiu)蝕的(de)(de)焊(han)(han)(han)(han)(han)條，生銹(xiu)的(de)(de)焊(han)(han)(han)(han)(han)絲必須除銹(xiu)后才(cai)能(neng)(neng)使用。所用焊(han)(han)(han)(han)(han)接(jie)材(cai)料(liao)應按規定(ding)溫度(du)(du)(du)烘干(gan)，坡(po)口及其(qi)兩(liang)側(ce)清理干(gan)凈，并要選(xuan)用合適的(de)(de)焊(han)(han)(han)(han)(han)接(jie)電(dian)流、電(dian)弧電(dian)壓(ya)和焊(han)(han)(han)(han)(han)接(jie)速(su)度(du)(du)(du)等。
點(dian)狀(zhuang)(zhuang)夾渣回波(bo)(bo)信號與點(dian)狀(zhuang)(zhuang)氣孔相(xiang)似，條(tiao)狀(zhuang)(zhuang)夾渣回波(bo)(bo)信號多(duo)呈鋸齒狀(zhuang)(zhuang)波(bo)(bo)幅(fu)不高，波(bo)(bo)形(xing)多(duo)呈樹枝狀(zhuang)(zhuang)，主峰邊上(shang)有小峰，探(tan)頭平移波(bo)(bo)幅(fu)有變動，從各個方向探(tan)測時反射波(bo)(bo)幅(fu)不相(xiang)同。這類缺陷產生的(de)原(yuan)因(yin)有：焊(han)(han)(han)(han)(han)(han)接電(dian)流過(guo)小，速(su)度(du)過(guo)快，熔渣來不及浮起，被焊(han)(han)(han)(han)(han)(han)邊緣和各層焊(han)(han)(han)(han)(han)(han)縫清理不干(gan)凈(jing)(jing)，其(qi)本金屬和焊(han)(han)(han)(han)(han)(han)接材料化學成分不當，含硫、磷較多(duo)等。防(fang)止措施有：正確(que)選用焊(han)(han)(han)(han)(han)(han)接電(dian)流，焊(han)(han)(han)(han)(han)(han)接件(jian)的(de)坡口(kou)角度(du)不要太小，焊(han)(han)(han)(han)(han)(han)前(qian)必須把坡口(kou)清理干(gan)凈(jing)(jing)，多(duo)層焊(han)(han)(han)(han)(han)(han)時必須層層清除焊(han)(han)(han)(han)(han)(han)渣;并合理選擇運條(tiao)角度(du)焊(han)(han)(han)(han)(han)(han)接速(su)度(du)等。
反(fan)射率高(gao)(gao)，波(bo)幅也較高(gao)(gao)，探頭平(ping)移時，波(bo)形較穩定，在焊(han)(han)縫兩側探傷時均能(neng)得到大(da)致相同的(de)(de)反(fan)射波(bo)幅。這(zhe)類缺(que)陷(xian)不僅降低了(le)焊(han)(han)接接頭的(de)(de)機械(xie)性能(neng)，而(er)且在未焊(han)(han)透處的(de)(de)缺(que)口(kou)和端部形成應力集(ji)中點(dian)，承載后(hou)往往會引起裂紋，是一種危險(xian)性缺(que)陷(xian)。其(qi)產生原(yuan)因一般是：坡(po)口(kou)純邊間(jian)隙太小，焊(han)(han)接電(dian)流太小或運(yun)條(tiao)速(su)度(du)過快，坡(po)口(kou)角度(du)小，運(yun)條(tiao)角度(du)不對以及電(dian)弧偏吹(chui)等(deng)。防止措(cuo)施(shi)有(you)：合理選用坡(po)口(kou)型式、裝配間(jian)隙和采用正確的(de)(de)焊(han)(han)接工藝等(deng)。
探(tan)頭(tou)平移時，波(bo)形較穩定(ding)，兩側探(tan)測(ce)時，反射波(bo)幅不同(tong)，有時只能從一側探(tan)到(dao)。其產(chan)生的原(yuan)因：坡口不干凈，焊速太快，電流過(guo)小或(huo)過(guo)大(da)，焊條(tiao)角度不對(dui)，電弧偏(pian)吹(chui)等(deng)。防止措施(shi)：正確(que)(que)選用坡口和(he)電流，坡口清理干凈，正確(que)(que)操作防止焊偏(pian)等(deng)。
回波(bo)高度(du)(du)較大，波(bo)幅寬，會出(chu)現(xian)多(duo)峰，探頭平移時(shi)(shi)反射波(bo)連續出(chu)現(xian)波(bo)幅有變動，探頭轉時(shi)(shi)，波(bo)峰有上下錯(cuo)動現(xian)象。裂(lie)(lie)(lie)紋(wen)(wen)是(shi)一種(zhong)危(wei)險性(xing)最大的(de)(de)(de)缺陷，它除降(jiang)低(di)焊(han)(han)接(jie)接(jie)頭的(de)(de)(de)強度(du)(du)外，還因裂(lie)(lie)(lie)紋(wen)(wen)的(de)(de)(de)末端呈尖銷的(de)(de)(de)缺口(kou)，焊(han)(han)件承載后，引(yin)起應力集(ji)中(zhong)，成(cheng)為結構斷裂(lie)(lie)(lie)的(de)(de)(de)起源。裂(lie)(lie)(lie)紋(wen)(wen)分為熱裂(lie)(lie)(lie)紋(wen)(wen)、冷(leng)裂(lie)(lie)(lie)紋(wen)(wen)和再熱裂(lie)(lie)(lie)紋(wen)(wen)三種(zhong)。熱裂(lie)(lie)(lie)紋(wen)(wen)產(chan)生的(de)(de)(de)原因是(shi)：焊(han)(han)接(jie)時(shi)(shi)熔池的(de)(de)(de)冷(leng)卻速度(du)(du)很(hen)快，造成(cheng)偏析;焊(han)(han)縫(feng)(feng)受(shou)熱不均勻產(chan)生拉應力。防止措(cuo)施：限制母材和焊(han)(han)接(jie)材料中(zhong)易偏析元(yuan)素(su)和有害雜質(zhi)的(de)(de)(de)含量，主要限制硫含量，提(ti)高錳含量;提(ti)高焊(han)(han)條或焊(han)(han)劑的(de)(de)(de)堿度(du)(du)，以降(jiang)低(di)雜質(zhi)含量，改(gai)善偏析程度(du)(du);改(gai)進焊(han)(han)接(jie)結構形式(shi)，采用合理的(de)(de)(de)焊(han)(han)接(jie)順序(xu)，提(ti)高焊(han)(han)縫(feng)(feng)收(shou)縮時(shi)(shi)的(de)(de)(de)自由度(du)(du)。
探(tan)(tan)傷(shang)儀(yi)檢(jian)測(ce)(ce)這(zhe)里(li)(li)主要介(jie)(jie)紹(shao)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)是(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)應(ying)用(yong)(yong)最多的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)通(tong)(tong)過反(fan)(fan)(fan)(fan)(fan)射(she)(she)(she)法(fa)來獲取物(wu)(wu)(wu)體(ti)內部(bu)(bu)特(te)性(xing)信(xin)(xin)息的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)方法(fa)。反(fan)(fan)(fan)(fan)(fan)射(she)(she)(she)法(fa)是(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)基于超(chao)(chao)聲在通(tong)(tong)過不(bu)同(tong)聲阻抗組織界面(mian)(mian)(mian)時(shi)(shi)會(hui)(hui)發(fa)(fa)生(sheng)較強反(fan)(fan)(fan)(fan)(fan)射(she)(she)(she)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)原理(li)(li)(li)(li)工作(zuo)(zuo)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)，正如我(wo)們(men)所(suo)知道(dao)，聲波(bo)(bo)在從(cong)一(yi)種介(jie)(jie)質(zhi)傳播到另外一(yi)種介(jie)(jie)質(zhi)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)時(shi)(shi)候在兩者之間(jian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)界面(mian)(mian)(mian)處(chu)(chu)會(hui)(hui)發(fa)(fa)生(sheng)反(fan)(fan)(fan)(fan)(fan)射(she)(she)(she)，而(er)(er)且介(jie)(jie)質(zhi)之間(jian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)差(cha)別越(yue)(yue)大(da)(da)反(fan)(fan)(fan)(fan)(fan)射(she)(she)(she)就(jiu)(jiu)會(hui)(hui)越(yue)(yue)大(da)(da)，所(suo)以我(wo)們(men)可(ke)(ke)(ke)以對(dui)一(yi)個(ge)物(wu)(wu)(wu)體(ti)發(fa)(fa)射(she)(she)(she)出(chu)(chu)穿(chuan)透力(li)強、能(neng)夠直線傳播的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)超(chao)(chao)聲波(bo)(bo)，探(tan)(tan)傷(shang)儀(yi)然(ran)后對(dui)反(fan)(fan)(fan)(fan)(fan)射(she)(she)(she)回(hui)來的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)超(chao)(chao)聲波(bo)(bo)進(jin)(jin)行接(jie)收并(bing)(bing)根據這(zhe)些反(fan)(fan)(fan)(fan)(fan)射(she)(she)(she)回(hui)來的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)超(chao)(chao)聲波(bo)(bo)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)先后、幅度(du)等(deng)情況就(jiu)(jiu)可(ke)(ke)(ke)以判(pan)(pan)斷出(chu)(chu)這(zhe)個(ge)組織中(zhong)(zhong)含有(you)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)各種介(jie)(jie)質(zhi)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)大(da)(da)小(xiao)、分布(bu)情況以及(ji)各種介(jie)(jie)質(zhi)之間(jian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)對(dui)比(bi)(bi)差(cha)別程度(du)等(deng)信(xin)(xin)息（其中(zhong)(zhong)反(fan)(fan)(fan)(fan)(fan)射(she)(she)(she)回(hui)來的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)超(chao)(chao)聲波(bo)(bo)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)先后可(ke)(ke)(ke)以反(fan)(fan)(fan)(fan)(fan)映出(chu)(chu)反(fan)(fan)(fan)(fan)(fan)射(she)(she)(she)界面(mian)(mian)(mian)離(li)探(tan)(tan)測(ce)(ce)表面(mian)(mian)(mian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)距(ju)離(li)，幅度(du)則可(ke)(ke)(ke)以反(fan)(fan)(fan)(fan)(fan)映出(chu)(chu)介(jie)(jie)質(zhi)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)大(da)(da)小(xiao)、對(dui)比(bi)(bi)差(cha)別程度(du)等(deng)特(te)性(xing)），探(tan)(tan)傷(shang)儀(yi)從(cong)而(er)(er)判(pan)(pan)斷出(chu)(chu)該被測(ce)(ce)物(wu)(wu)(wu)體(ti)是(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)否(fou)有(you)異常(chang)。在這(zhe)個(ge)過程中(zhong)(zhong)就(jiu)(jiu)涉及(ji)到很(hen)多方面(mian)(mian)(mian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)內容，包括超(chao)(chao)聲波(bo)(bo)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)產(chan)(chan)(chan)生(sheng)、接(jie)收、信(xin)(xin)號(hao)轉(zhuan)換和處(chu)(chu)理(li)(li)(li)(li)等(deng)。其中(zhong)(zhong)產(chan)(chan)(chan)生(sheng)超(chao)(chao)聲波(bo)(bo)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)方法(fa)是(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)通(tong)(tong)過電(dian)(dian)路產(chan)(chan)(chan)生(sheng)激勵(li)電(dian)(dian)信(xin)(xin)號(hao)傳給具(ju)有(you)壓(ya)電(dian)(dian)效應(ying)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)晶體(ti)（比(bi)(bi)如石英(ying)、硫酸鋰等(deng)），使(shi)其振動(dong)(dong)從(cong)而(er)(er)產(chan)(chan)(chan)生(sheng)超(chao)(chao)聲波(bo)(bo)；而(er)(er)接(jie)收反(fan)(fan)(fan)(fan)(fan)射(she)(she)(she)回(hui)來的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)超(chao)(chao)聲波(bo)(bo)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)時(shi)(shi)候，這(zhe)個(ge)壓(ya)電(dian)(dian)晶體(ti)又會(hui)(hui)受到反(fan)(fan)(fan)(fan)(fan)射(she)(she)(she)回(hui)來的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)聲波(bo)(bo)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)壓(ya)力(li)而(er)(er)產(chan)(chan)(chan)生(sheng)電(dian)(dian)信(xin)(xin)號(hao)并(bing)(bing)傳送給信(xin)(xin)號(hao)處(chu)(chu)理(li)(li)(li)(li)電(dian)(dian)路進(jin)(jin)行一(yi)系列的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)處(chu)(chu)理(li)(li)(li)(li)，探(tan)(tan)傷(shang)儀(yi)最后形(xing)(xing)成圖(tu)像供人們(men)觀察(cha)判(pan)(pan)斷。這(zhe)里(li)(li)根據圖(tu)像處(chu)(chu)理(li)(li)(li)(li)方法(fa)（也就(jiu)(jiu)是(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)將(jiang)得到的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)信(xin)(xin)號(hao)轉(zhuan)換成什么形(xing)(xing)式(shi)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)圖(tu)像）的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)種類又可(ke)(ke)(ke)以分為A型(xing)顯(xian)(xian)(xian)示(shi)(shi)(shi)、M型(xing)顯(xian)(xian)(xian)示(shi)(shi)(shi)、B型(xing)顯(xian)(xian)(xian)示(shi)(shi)(shi)、C型(xing)顯(xian)(xian)(xian)示(shi)(shi)(shi)、F型(xing)顯(xian)(xian)(xian)示(shi)(shi)(shi)等(deng)。其中(zhong)(zhong)A型(xing)顯(xian)(xian)(xian)示(shi)(shi)(shi)是(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)將(jiang)接(jie)收到的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)超(chao)(chao)聲信(xin)(xin)號(hao)處(chu)(chu)理(li)(li)(li)(li)成波(bo)(bo)形(xing)(xing)圖(tu)像，根據波(bo)(bo)形(xing)(xing)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)形(xing)(xing)狀(zhuang)可(ke)(ke)(ke)以看出(chu)(chu)被測(ce)(ce)物(wu)(wu)(wu)體(ti)里(li)(li)面(mian)(mian)(mian)是(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)否(fou)有(you)異常(chang)和缺陷在那里(li)(li)、有(you)多大(da)(da)等(deng)，探(tan)(tan)傷(shang)儀(yi)主要用(yong)(yong)于工業檢(jian)測(ce)(ce)；M型(xing)顯(xian)(xian)(xian)示(shi)(shi)(shi)是(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)將(jiang)一(yi)條(tiao)經過輝(hui)度(du)處(chu)(chu)理(li)(li)(li)(li)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)探(tan)(tan)測(ce)(ce)信(xin)(xin)息按(an)時(shi)(shi)間(jian)順序展開形(xing)(xing)成一(yi)維(wei)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)"空間(jian)多點運(yun)(yun)動(dong)(dong)時(shi)(shi)序圖(tu)"，適于觀察(cha)內部(bu)(bu)處(chu)(chu)于運(yun)(yun)動(dong)(dong)狀(zhuang)態的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)物(wu)(wu)(wu)體(ti)，探(tan)(tan)傷(shang)儀(yi)如運(yun)(yun)動(dong)(dong)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)臟器、動(dong)(dong)脈(mo)血管等(deng)；B型(xing)顯(xian)(xian)(xian)示(shi)(shi)(shi)是(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)將(jiang)并(bing)(bing)排很(hen)多條(tiao)經過輝(hui)度(du)處(chu)(chu)理(li)(li)(li)(li)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)探(tan)(tan)測(ce)(ce)信(xin)(xin)息組合(he)成的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)二維(wei)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)、反(fan)(fan)(fan)(fan)(fan)映出(chu)(chu)被測(ce)(ce)物(wu)(wu)(wu)體(ti)內部(bu)(bu)斷層(ceng)切面(mian)(mian)(mian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)"解剖圖(tu)像"（醫(yi)院里(li)(li)使(shi)用(yong)(yong)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)B超(chao)(chao)就(jiu)(jiu)是(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)用(yong)(yong)這(zhe)種原理(li)(li)(li)(li)做出(chu)(chu)來的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)），探(tan)(tan)傷(shang)儀(yi)適于觀察(cha)內部(bu)(bu)處(chu)(chu)于靜態的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)物(wu)(wu)(wu)體(ti)；而(er)(er)C型(xing)顯(xian)(xian)(xian)示(shi)(shi)(shi)、F型(xing)顯(xian)(xian)(xian)示(shi)(shi)(shi)用(yong)(yong)得比(bi)(bi)較少。探(tan)(tan)傷(shang)儀(yi)檢(jian)測(ce)(ce)不(bu)但可(ke)(ke)(ke)以做到非常(chang)準確，而(er)(er)且相對(dui)其他檢(jian)測(ce)(ce)方法(fa)來說更(geng)為方便、快捷，也不(bu)會(hui)(hui)對(dui)檢(jian)測(ce)(ce)對(dui)象和操作(zuo)(zuo)者產(chan)(chan)(chan)生(sheng)危害(hai)，所(suo)以受到了人們(men)越(yue)(yue)來越(yue)(yue)普遍的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)歡迎，有(you)著非常(chang)廣闊的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)發(fa)(fa)展前景。
探傷(shang)(shang)儀的(de)(de)(de)應(ying)(ying)用(yong)有(you)很廣(guang)泛(fan)，比(bi)如用(yong)超(chao)聲(sheng)的(de)(de)(de)反(fan)射(she)來(lai)(lai)測(ce)量(liang)距離，利用(yong)大功率超(chao)聲(sheng)的(de)(de)(de)振(zhen)動(dong)來(lai)(lai)清除附著在鍋爐上(shang)面的(de)(de)(de)水垢(gou)，利用(yong)高能(neng)超(chao)聲(sheng)做成"超(chao)聲(sheng)刀(dao)"來(lai)(lai)消滅、擊碎人(ren)(ren)體內的(de)(de)(de)癌變(bian)、結(jie)石等，探傷(shang)(shang)儀而利用(yong)超(chao)聲(sheng)的(de)(de)(de)反(fan)射(she)等效(xiao)應(ying)(ying)和穿透力強、能(neng)夠直線傳播等的(de)(de)(de)特性來(lai)(lai)進行檢(jian)(jian)測(ce)也是(shi)其中(zhong)一個很大的(de)(de)(de)應(ying)(ying)用(yong)領域(yu)。探傷(shang)(shang)儀的(de)(de)(de)檢(jian)(jian)測(ce)應(ying)(ying)用(yong)主要包括在工業(ye)上(shang)對各種材料(liao)的(de)(de)(de)檢(jian)(jian)測(ce)和在醫療上(shang)對人(ren)(ren)體的(de)(de)(de)檢(jian)(jian)測(ce)診斷，通過它人(ren)(ren)們可(ke)以探測(ce)出金(jin)屬等工業(ye)材料(liao)中(zhong)有(you)沒(mei)有(you)氣(qi)泡、傷(shang)(shang)痕、裂(lie)縫等缺陷，可(ke)以檢(jian)(jian)測(ce)出人(ren)(ren)們身體的(de)(de)(de)軟組織、血流等是(shi)否正(zheng)常。
粉探(tan)傷儀適(shi)用于零件表(biao)面的(de)探(tan)傷，主要適(shi)用于濕(shi)磁粉法檢測曲軸、凸(tu)輪軸、花鍵軸等各(ge)種(zhong)中小型零件的(de)表(biao)面及近表(biao)面因鑄造、淬火、加工、疲勞等原(yuan)因引起的(de)裂紋及細微(wei)缺陷，是單件檢測，小批抽檢，大批量檢測的(de)首選機型。
輕(qing)小，可以(yi)到現(xian)場(chang)探(tan)傷乃(nai)至高(gao)空進行探(tan)傷作業。包括對大型零部件(jian)進行局部磁化探(tan)傷。特別(bie)適用(yong)于平焊(han)縫、角焊(han)縫、壓力容器(qi)、管道及(ji)形狀復雜(za)零部件(jian)的探(tan)傷。對不允(yun)許高(gao)電壓進入設備內探(tan)傷的場(chang)合更為適合。
磁(ci)粉探(tan)傷儀只(zhi)能(neng)對大型(xing)工(gong)件分段(duan)探(tan)傷，不能(neng)一次性(xing)檢測出(chu)全方位的裂紋，所以(yi)其探(tan)傷效率較(jiao)低。
該設備操作簡便，工(gong)(gong)(gong)(gong)作效率高(gao)，采用工(gong)(gong)(gong)(gong)業PLC控制(zhi)，既可手(shou)動單步操作，亦可自(zi)動循(xun)環工(gong)(gong)(gong)(gong)作，周、縱向(xiang)電流(liu)分(fen)別可調(diao)，具有(you)斷電相位控制(zhi)功(gong)能。可分(fen)別進行周向(xiang)、縱向(xiang)、復合(he)磁化(hua)(hua)。工(gong)(gong)(gong)(gong)件可以轉(zhuan)(zhuan)動，檢測時(shi)機器可按工(gong)(gong)(gong)(gong)藝(yi)要求設定(ding)的(de)程序自(zi)動完成除上下料及觀(guan)察外(wai)（如夾緊(jin)、噴液、磁化(hua)(hua)、退磁、轉(zhuan)(zhuan)動等(deng)等(deng)）的(de)自(zi)動化(hua)(hua)工(gong)(gong)(gong)(gong)作。
1、周向(xiang)磁化電(dian)流：AC0－4000A連續可調駛帶(dai)斷電(dian)相位控制；
2、縱向磁化(hua)電(dian)流：DC0－20000AT連續可調帶(dai)斷電(dian)相位控(kong)制(zhi)；
3、退磁(ci)磁(ci)勢：AC20000－0AT連續可調自動衰減；
4、退磁(ci)效(xiao)果：≤0.2mT；
5、夾緊(jin)方(fang)式：氣動(dong)或電動(dong)夾緊(jin)；
6、電極(ji)間距：0－1000mm由夾具確定；
7、夾緊行程：0－50mm；
8、夾頭轉速：10rpm；
（1）超聲波探傷儀PD-F1儀器特點：
高分辨率TFTLCD，獨(du)特的遮陽設計，符合人體工程學。
采用高端ARM處(chu)理器，系統(tong)響應速度快，實時性好。
采用性能先(xian)進的前置放大器(qi)，大大減(jian)小(xiao)檢測盲區(qu)。
簡潔(jie)易用的人機交互，儀(yi)器操控性強(qiang)。
高達4GB海量存儲，能夠進行長(chang)時間(jian)的(de)探傷波形(xing)動態記錄，存儲大量波形(xing)信息。
具有豐富的通信接(jie)口(kou)，強(qiang)大的數(shu)(shu)據備(bei)份和數(shu)(shu)據轉(zhuan)儲能力。
防水等級IP64。
鍵盤背光功能。
探頭接口采用(yong)瑞士原裝進口的(de)LEMO接頭，美(mei)觀大(da)方，耐用(yong)性(xing)好。
增加(jia)Ethernet網(wang)口，可接入(ru)以太網(wang)。
增加(jia)了大(da)量的(de)操作提示信息，人機交(jiao)互界面更加(jia)友好。
用戶可根據自(zi)己(ji)喜好來(lai)選擇不同的屏幕顏色。
內置AWS、API5UE等多種標準。
（2）超聲波探傷儀主要性能指標：
探測范(fan)圍：(0~9999)mm
工(gong)作頻率：(0.25~20)MHz
各頻段等(deng)效輸入噪聲：<15%
發射脈(mo)(mo)沖(chong)：負脈(mo)(mo)沖(chong)s
能量可選擇(ze)，適用探(tan)頭范圍廣。
脈沖寬度在(0.1~0.5)μs范圍內(nei)連(lian)續調節，以匹配不同(tong)頻率的探頭。
脈沖幅度：低（300伏(fu)(fu)）、中(zhong)（500伏(fu)(fu)）、高(gao)（700伏(fu)(fu)）分級選擇，適(shi)用探頭范圍(wei)廣。
脈(mo)沖寬度：在（0.1~0.5）μs范(fan)圍內連續(xu)調節，以匹配不同頻率的探頭(tou)。
超聲波(bo)探(tan)傷儀探(tan)頭阻(zu)尼(ni)：50Ω，150Ω、300Ω、400Ω可選(xuan)，滿足靈敏(min)度及分辨率的不同工作。
動態范(fan)圍(wei)：≥36dB
數字(zi)抑(yi)制：(0~80)%，不影響線性與增益。
垂直線性誤差：≤2.6%。
水平線性誤(wu)差：≤0.1%。
分辨力：>38dB。
靈敏度余量：60dB。
電噪(zao)聲電平：≤10%。
濾波頻帶：（0.25~20）MHz，根(gen)據探頭(tou)頻率全自動匹配，無需手動設(she)置。
探傷通道(dao)(dao)：200組(zu)探傷工作通道(dao)(dao)。
探(tan)頭接口：LEMO接口，ERA.1S。
探頭(tou)(tou)類型：直探頭(tou)(tou)、斜探頭(tou)(tou)、雙晶(jing)探頭(tou)(tou)、穿透探頭(tou)(tou)。
報警(jing)(jing)：蜂鳴(ming)器報警(jing)(jing)，鍵盤(pan)背(bei)光燈(deng)報警(jing)(jing)。
電(dian)源：直流(liu)（DC）9V；鋰(li)電(dian)池連續工作(zuo)6~8小時以上。
外型尺寸：220×156×58(mm)結構待定。
環境(jing)溫度：(-10~50)℃。
相對濕度：(20~95)%RH。
注：以上指標(biao)是(shi)在探頭(tou)頻(pin)率(lv)為(wei)2.5MHz、檢波(bo)方式為(wei)全波(bo)的(de)情況下(xia)所測得的(de)。
（3）超聲波探傷儀PD-F1主要功能參數：
數據采集：
硬(ying)件實時(shi)采樣：10位AD轉(zhuan)換器(qi)，采樣速度125MHz，波(bo)形高度保真。
檢波(bo)(bo)方式：正半波(bo)(bo)、負半波(bo)(bo)、全波(bo)(bo)、射頻(pin)檢波(bo)(bo)。
閘門(men)讀(du)數(shu)：單閘門(men)和雙閘門(men)讀(du)數(shu)方式可選(xuan)；閘門(men)內峰值讀(du)數(shu)、邊緣(yuan)檢測可選(xuan)。
增(zeng)益(yi)：0-110dB，最(zui)小增(zeng)益(yi)調節(jie)量0.1dB，獨特的全自動增(zeng)益(yi)調節(jie)及掃查增(zeng)益(yi)功能(neng)。
超聲波探傷儀探傷功能
波峰記(ji)憶(yi)：實時檢索缺陷(xian)最高波，記(ji)錄缺陷(xian)最大值。
Φ值計算(suan)：直探頭鍛件(jian)探傷找準缺(que)(que)陷(xian)最高波后自動(dong)計算(suan)、顯(xian)示缺(que)(que)陷(xian)當(dang)量(liang)尺寸。
缺(que)(que)陷定位：實時顯示缺(que)(que)陷水平、深度（垂(chui)直）、聲程位置(zhi)。
缺陷定量：缺陷當量dB值實時顯示；
缺(que)陷定性：通(tong)過回波包(bao)絡(luo)波形，方便人工(gong)經驗判斷；
探(tan)頭頻率(lv)檢測：通過(guo)抓取回波，準確檢測出探(tan)頭的(de)中心頻率(lv)，500mm范(fan)圍(wei)內任(ren)意(yi)波幅回波，一鍵輕(qing)松完(wan)成檢測；
曲面(mian)修正(zheng)：修正(zheng)斜探頭圓(yuan)管檢(jian)測時的深(shen)度和(he)水平距離(li)；
超聲波探傷儀修正模式：內弧(hu)/外弧(hu)；
DAC/AVG：曲線自(zi)動(dong)生成，取樣點不受限(xian)制，并(bing)可進行補償與(yu)修正。曲線隨增益(yi)自(zi)動(dong)浮(fu)動(dong)、隨聲(sheng)程自(zi)動(dong)擴展、隨延時自(zi)動(dong)移(yi)動(dong)。能顯示任意孔徑的AVG曲線。
裂紋測高：利用端點(dian)衍射波自(zi)動(dong)測量(liang)、計算裂紋高度。
B型(xing)掃描：采用定時掃描方式形成B型(xing)圖像。
門內展寬：放(fang)大回波細節，便(bian)于回波分(fen)析。
動(dong)態記(ji)(ji)錄：檢(jian)測實時動(dong)態記(ji)(ji)錄、存儲、回(hui)放波(bo)形，每段記(ji)(ji)錄可達8分鐘。
波形凍結：凍結屏幕上顯示(shi)的波形，便于(yu)缺陷分析。
焊縫圖示：顯示焊縫坡口形式和聲束走(zou)向(xiang)，直觀(guan)顯示缺陷位(wei)置(zhi)。
內置標準：可自(zi)由設置各(ge)行業探傷工藝標準。
回波編碼：輸(shu)入工件(jian)厚(hou)度，儀(yi)器(qi)根據一次(ci)波、二次(ci)波及多次(ci)波的(de)區(qu)域能生成不同的(de)背景(jing)色彩。
工作方式：直探頭、斜探頭、雙晶(jing)探頭、穿(chuan)透(tou)探傷(shang)。
閘門(men)報(bao)警(jing)：門(men)位、門(men)寬、門(men)高任意可調(diao)；B閘門(men)可選擇設(she)置(zhi)進波報(bao)警(jing)或失波報(bao)警(jing)；數(shu)據存(cun)儲：200組(zu)(zu)探(tan)(tan)傷參(can)數(shu)通(tong)道(dao)，可預(yu)先(xian)調(diao)校好(hao)各類探(tan)(tan)頭和儀器的組(zu)(zu)合參(can)數(shu)，自由設(she)置(zhi)各行業探(tan)(tan)傷標準；可存(cun)儲10000幅(fu)探(tan)(tan)傷回波信號(hao)及(ji)參(can)數(shu)，實現存(cun)儲、讀出及(ji)通(tong)過USB接口傳輸。
實(shi)時時鐘：實(shi)時探(tan)傷日(ri)期、時間的跟蹤記(ji)(ji)錄，并記(ji)(ji)錄存儲。
通(tong)訊接(jie)口(kou)(kou)：USB主機接(jie)口(kou)(kou)和從機接(jie)口(kou)(kou)，既能與PC機通(tong)信(xin)，又能方(fang)便地訪問U盤。藍牙無線通(tong)信(xin)模塊。
電池模(mo)塊：高容量鋰電池模(mo)塊，在線充(chong)(chong)電和(he)脫機(ji)充(chong)(chong)電兩(liang)種充(chong)(chong)電方式，方便(bian)探(tan)傷。
醫用超聲波探傷儀
超聲(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)探(tan)傷儀工作原理與(yu)聲(sheng)(sheng)(sheng)納有一定(ding)的(de)相似性，即將超聲(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)發射到(dao)人體(ti)內，當它在體(ti)內遇到(dao)界(jie)面時會發生反射及(ji)折(zhe)射，并且在人體(ti)組織中(zhong)可(ke)能被(bei)吸(xi)收而(er)衰減。因為人體(ti)各(ge)種組織的(de)形態與(yu)結構是不相同(tong)的(de)，因此其反射與(yu)折(zhe)射以及(ji)吸(xi)收超聲(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)的(de)程度也(ye)就不同(tong)，醫生們(men)正是通過儀器(qi)(qi)所(suo)反映出(chu)的(de)波(bo)型(xing)(xing)、曲線，或(huo)影(ying)象(xiang)的(de)特(te)征(zheng)來辨別它們(men)。此外再結合解剖學知識、正常與(yu)病理的(de)改變(bian)，便可(ke)診斷所(suo)檢查(cha)的(de)器(qi)(qi)官是否有病。醫生們(men)應用的(de)超聲(sheng)(sheng)(sheng)診斷方法有不同(tong)的(de)形式，可(ke)分為A型(xing)(xing)、B型(xing)(xing)、M型(xing)(xing)及(ji)D型(xing)(xing)四大類:
A型：是以波形來(lai)顯示組織(zhi)特征的方法，主(zhu)要用(yong)(yong)于測量器官(guan)的徑線，以判(pan)定其(qi)大小。可用(yong)(yong)來(lai)鑒別病(bing)變組織(zhi)的一些物理特性，如實(shi)質性、液體或(huo)是氣體是否存在等。
B型：用平面圖(tu)形(xing)的形(xing)式來顯(xian)示(shi)被探查組織的具(ju)體(ti)情況。檢查時，將(jiang)人體(ti)界(jie)面的反射信號(hao)轉變為強弱不同的光點(dian)，這(zhe)些光點(dian)可通(tong)過熒光屏顯(xian)現(xian)出來，這(zhe)種方(fang)法(fa)直(zhi)觀(guan)性(xing)(xing)好，重(zhong)復性(xing)(xing)強，可供前后對比(bi)，所以廣泛用于婦產科、泌尿(niao)、消(xiao)化及心血(xue)管等系(xi)統疾病的診斷。
M型：是用(yong)于觀察活動(dong)(dong)界面時間(jian)變化的一種方法。最(zui)適(shi)用(yong)于檢查心(xin)臟(zang)(zang)的活動(dong)(dong)情(qing)況，其(qi)曲線的動(dong)(dong)態(tai)改變稱為超(chao)聲心(xin)動(dong)(dong)圖，可以(yi)用(yong)來(lai)觀察心(xin)臟(zang)(zang)各層(ceng)結(jie)構(gou)的位置(zhi)、活動(dong)(dong)狀(zhuang)態(tai)、結(jie)構(gou)的狀(zhuang)況等(deng)，多(duo)用(yong)于輔(fu)助(zhu)心(xin)臟(zang)(zang)及大血管疫病的診斷。
D型(xing)：是專門用來(lai)檢(jian)測(ce)血(xue)液(ye)流(liu)動(dong)和器官活動(dong)的(de)(de)(de)一種(zhong)超(chao)(chao)(chao)(chao)聲(sheng)診斷方法，又(you)稱為多(duo)普勒(le)超(chao)(chao)(chao)(chao)聲(sheng)診斷法。可確定血(xue)管是否通暢、管腔有否狹窄、閉(bi)塞以(yi)及病(bing)變部位。新(xin)一代(dai)的(de)(de)(de)D型(xing)超(chao)(chao)(chao)(chao)聲(sheng)波還(huan)能定量地(di)測(ce)定管腔內血(xue)液(ye)的(de)(de)(de)流(liu)量。科學家又(you)發(fa)(fa)展(zhan)了彩(cai)色編碼多(duo)普勒(le)系(xi)統，可在(zai)(zai)超(chao)(chao)(chao)(chao)聲(sheng)心動(dong)圖解剖標志的(de)(de)(de)指示下(xia)，以(yi)不同顏(yan)色顯(xian)示血(xue)流(liu)的(de)(de)(de)方向，色澤的(de)(de)(de)深淺代(dai)表血(xue)流(liu)的(de)(de)(de)流(liu)速。還(huan)有立(li)體超(chao)(chao)(chao)(chao)聲(sheng)顯(xian)象、超(chao)(chao)(chao)(chao)聲(sheng)CT、超(chao)(chao)(chao)(chao)聲(sheng)內窺鏡等(deng)超(chao)(chao)(chao)(chao)聲(sheng)技術不斷涌現出(chu)來(lai)，并且(qie)還(huan)可以(yi)與其(qi)他檢(jian)查儀器結合使用，使疾病(bing)的(de)(de)(de)診斷準確率大(da)大(da)提高。超(chao)(chao)(chao)(chao)聲(sheng)波技術正在(zai)(zai)醫學界(jie)發(fa)(fa)揮著巨大(da)的(de)(de)(de)作用，隨(sui)著科學的(de)(de)(de)進步，它將更加完善，將更好(hao)地(di)造福于人類。
主要用(yong)于探測機加工件(jian)內部有(you)無缺陷（裂紋(wen)、砂眼、氣孔、白點、夾雜等），焊縫是否合格，查找有(you)無暗傷，從而判定工件(jian)合格與否。
全數字
真彩顯示器：五種顏色可選(xuan)、亮度可調
高性(xing)能鋰電池(chi)，連續工作7小時
與計算(suan)機通(tong)訊，可自動(dong)生成(cheng)探傷(shang)報告
實時顯示SL、EL、GL、RL定(ding)量值
自動(dong)校準：自動(dong)測(ce)試“探頭(tou)零點”、“K值”、“前沿”及“材料聲速”；
自動顯(xian)示缺陷回波位置（深度d、水(shui)平p、距離(li)s、波幅(fu)、當量(liang)dB、孔徑ф值）；
自(zi)由切換三種(zhong)標(biao)尺(chi)（深(shen)度d、水平(ping)p、距離s），滿足不同(tong)的探傷標(biao)準要求和探傷工程師的標(biao)尺(chi)使用(yong)習慣(guan)；
自動增(zeng)益：自動將(jiang)波形調(diao)至屏高(gao)(gao)的80%，大(da)(da)大(da)(da)提(ti)高(gao)(gao)了探傷效率；
自動錄制探傷過程(cheng)并可以進行動態回放；
自動(dong)φ值計算：直探(tan)頭鍛(duan)件探(tan)傷，找準(zhun)缺陷最高(gao)波自動(dong)換算孔(kong)徑(jing)ф值；
自動DAC、AVG曲線自動生成并可以分段制作，取樣點不受限制，并可進行修正與補償，滿足任意探傷標準；阻尼(ni)自動。
硬(ying)件實時采樣(yang)：150MHz，波形高度保真
閘門信號：單閘門、雙(shuang)閘門，峰(feng)值或邊緣讀數(shu)
增益調(diao)節(jie)：手動調(diao)節(jie)110dB（0.2dB、0.5dB、1dB、2dB、6dB、12dB步進）或(huo)自(zi)動調(diao)節(jie)至屏高的80%
曲線包絡(luo)和波峰(feng)記(ji)憶：實時檢索并記(ji)錄缺(que)陷最高波
φ值計算：直探頭(tou)鍛件探傷找準缺陷最(zui)高波自(zi)動換算
動態錄制(zhi)：實(shi)時(shi)動態錄制(zhi)波(bo)形，并可存儲、回(hui)放(fang)
缺陷定位：實時顯示水平值L、深度值H、聲程值S
缺陷定(ding)量：實(shi)時顯示SL、EL、GL、RL定(ding)量值
實時顯示孔狀缺陷Φ值
缺陷定(ding)性(xing)：通過波形，人工經(jing)驗判斷
曲面(mian)(mian)修正(zheng)：曲面(mian)(mian)工件(jian)探傷，修正(zheng)曲率換算
B型掃(sao)描(miao)：實時掃(sao)查，描(miao)述缺陷橫切面
閘門(men)報(bao)警(jing)(jing)：進(jin)波(bo)報(bao)警(jing)(jing)、失波(bo)報(bao)警(jing)(jing)
DAC報警：自由設(she)置SL、EL、GL、RL報警
五大(da)常規方法(fa)(fa)是指射線探(tan)傷(shang)法(fa)(fa)、超聲波探(tan)傷(shang)法(fa)(fa)、磁粉探(tan)傷(shang)法(fa)(fa)、渦流(liu)探(tan)傷(shang)法(fa)(fa)和滲透探(tan)傷(shang)法(fa)(fa)。
射(she)線(xian)(xian)(xian)探(tan)傷(shang)是(shi)利用(yong)(yong)射(she)線(xian)(xian)(xian)的(de)(de)穿(chuan)(chuan)透(tou)性(xing)和直(zhi)(zhi)線(xian)(xian)(xian)性(xing)來(lai)(lai)(lai)探(tan)傷(shang)的(de)(de)方法。這些(xie)射(she)線(xian)(xian)(xian)雖然不(bu)(bu)會像可(ke)(ke)見光(guang)那樣(yang)憑(ping)肉眼就(jiu)能直(zhi)(zhi)接(jie)察知，但(dan)它可(ke)(ke)使照相(xiang)底(di)片感(gan)(gan)光(guang)，也(ye)可(ke)(ke)用(yong)(yong)特殊(shu)的(de)(de)接(jie)收(shou)器(qi)(qi)來(lai)(lai)(lai)接(jie)收(shou)。常(chang)用(yong)(yong)于(yu)(yu)(yu)探(tan)傷(shang)的(de)(de)射(she)線(xian)(xian)(xian)有(you)x光(guang)和同位素發出(chu)的(de)(de)γ射(she)線(xian)(xian)(xian)，分別稱為x光(guang)探(tan)傷(shang)和γ射(she)線(xian)(xian)(xian)探(tan)傷(shang)。當(dang)這些(xie)射(she)線(xian)(xian)(xian)穿(chuan)(chuan)過(guo)(guo)(guo)(guo)（照射(she)）物(wu)質(zhi)時，該(gai)物(wu)質(zhi)的(de)(de)密度(du)越(yue)大(da)，射(she)線(xian)(xian)(xian)強(qiang)(qiang)度(du)減弱(ruo)得(de)越(yue)多，即(ji)射(she)線(xian)(xian)(xian)能穿(chuan)(chuan)透(tou)過(guo)(guo)(guo)(guo)該(gai)物(wu)質(zhi)的(de)(de)強(qiang)(qiang)度(du)就(jiu)越(yue)小(xiao)(xiao)。此時，若(ruo)(ruo)用(yong)(yong)照相(xiang)底(di)片接(jie)收(shou)，則底(di)片的(de)(de)感(gan)(gan)光(guang)量(liang)就(jiu)小(xiao)(xiao)；若(ruo)(ruo)用(yong)(yong)儀(yi)器(qi)(qi)來(lai)(lai)(lai)接(jie)收(shou)，獲得(de)的(de)(de)信(xin)號(hao)就(jiu)弱(ruo)。因(yin)此，用(yong)(yong)射(she)線(xian)(xian)(xian)來(lai)(lai)(lai)照射(she)待探(tan)傷(shang)的(de)(de)零部(bu)件(jian)時，若(ruo)(ruo)其(qi)內部(bu)有(you)氣孔(kong)、夾(jia)渣(zha)等缺陷(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)，射(she)線(xian)(xian)(xian)穿(chuan)(chuan)過(guo)(guo)(guo)(guo)有(you)缺陷(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)的(de)(de)路徑(jing)比沒有(you)缺陷(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)的(de)(de)路徑(jing)所(suo)透(tou)過(guo)(guo)(guo)(guo)的(de)(de)物(wu)質(zhi)密度(du)要小(xiao)(xiao)得(de)多，其(qi)強(qiang)(qiang)度(du)就(jiu)減弱(ruo)得(de)少些(xie)，即(ji)透(tou)過(guo)(guo)(guo)(guo)的(de)(de)強(qiang)(qiang)度(du)就(jiu)大(da)些(xie)，若(ruo)(ruo)用(yong)(yong)底(di)片接(jie)收(shou)，則感(gan)(gan)光(guang)量(liang)就(jiu)大(da)些(xie)，就(jiu)可(ke)(ke)以從(cong)底(di)片上反映(ying)出(chu)缺陷(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)垂(chui)直(zhi)(zhi)于(yu)(yu)(yu)射(she)線(xian)(xian)(xian)方向的(de)(de)平(ping)面(mian)投(tou)影(ying)；若(ruo)(ruo)用(yong)(yong)其(qi)它接(jie)收(shou)器(qi)(qi)也(ye)同樣(yang)可(ke)(ke)以用(yong)(yong)儀(yi)表來(lai)(lai)(lai)反映(ying)缺陷(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)垂(chui)直(zhi)(zhi)于(yu)(yu)(yu)射(she)線(xian)(xian)(xian)方向的(de)(de)平(ping)面(mian)投(tou)影(ying)和射(she)線(xian)(xian)(xian)的(de)(de)透(tou)過(guo)(guo)(guo)(guo)量(liang)。由(you)此可(ke)(ke)見，一般情況下，射(she)線(xian)(xian)(xian)探(tan)傷(shang)是(shi)不(bu)(bu)易發現裂(lie)紋的(de)(de)，或(huo)者說(shuo)，射(she)線(xian)(xian)(xian)探(tan)傷(shang)對(dui)(dui)裂(lie)紋是(shi)不(bu)(bu)敏感(gan)(gan)的(de)(de)。因(yin)此，射(she)線(xian)(xian)(xian)探(tan)傷(shang)對(dui)(dui)氣孔(kong)、夾(jia)渣(zha)、未焊透(tou)等體積型(xing)(xing)缺陷(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)最敏感(gan)(gan)。即(ji)射(she)線(xian)(xian)(xian)探(tan)傷(shang)適宜用(yong)(yong)于(yu)(yu)(yu)體積型(xing)(xing)缺陷(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)探(tan)傷(shang)，而不(bu)(bu)適宜面(mian)積型(xing)(xing)缺陷(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)探(tan)傷(shang)。
人們的(de)(de)耳朵能直(zhi)接接收到(dao)的(de)(de)聲(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)(bo)的(de)(de)頻率范圍通(tong)常(chang)是20Hz到(dao)20kHz，即音(yin)（聲(sheng)(sheng)）頻。頻率低(di)于(yu)20Hz的(de)(de)稱為次聲(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)(bo)，高于(yu)20kHz的(de)(de)稱為超(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)(bo)。工業上常(chang)用數兆赫(he)茲超(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)(bo)來(lai)探(tan)傷。超(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)(bo)頻率高，則傳(chuan)播(bo)的(de)(de)直(zhi)線性(xing)強，又易(yi)于(yu)在(zai)固(gu)體中傳(chuan)播(bo)，并且遇到(dao)兩種不(bu)同介質形(xing)成(cheng)的(de)(de)界面(mian)時易(yi)于(yu)反(fan)(fan)射，這樣就(jiu)可以用它(ta)來(lai)探(tan)傷。通(tong)常(chang)用超(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)(bo)探(tan)頭(tou)與待探(tan)工件(jian)表(biao)面(mian)良好的(de)(de)接觸，探(tan)頭(tou)則可有效地向工件(jian)發射超(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)(bo)，并能接收（缺陷(xian)）界面(mian)反(fan)(fan)射來(lai)的(de)(de)超(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)(bo)，同時轉換(huan)成(cheng)電信號(hao)，再傳(chuan)輸給儀器進行處理。根據(ju)超(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)(bo)在(zai)介質中傳(chuan)播(bo)的(de)(de)速度（常(chang)稱聲(sheng)(sheng)速）和傳(chuan)播(bo)的(de)(de)時間，就(jiu)可知(zhi)(zhi)道缺陷(xian)的(de)(de)位置。當缺陷(xian)越大(da)，反(fan)(fan)射面(mian)則越大(da)，其反(fan)(fan)射的(de)(de)能量(liang)也(ye)就(jiu)越大(da)，故可根據(ju)反(fan)(fan)射能量(liang)的(de)(de)大(da)小來(lai)查(cha)知(zhi)(zhi)各(ge)缺陷(xian)（當量(liang)）的(de)(de)大(da)小。常(chang)用的(de)(de)探(tan)傷波(bo)(bo)(bo)(bo)形(xing)有縱波(bo)(bo)(bo)(bo)、橫波(bo)(bo)(bo)(bo)、表(biao)面(mian)波(bo)(bo)(bo)(bo)等，前二(er)者(zhe)適(shi)用于(yu)探(tan)測內部缺陷(xian)，后者(zhe)適(shi)宜于(yu)探(tan)測表(biao)面(mian)缺陷(xian)，但對表(biao)面(mian)的(de)(de)條件(jian)要求高。
磁(ci)粉(fen)(fen)探傷是建立在(zai)漏磁(ci)原(yuan)理基礎上的(de)一種磁(ci)力(li)探傷方法(fa)。當(dang)磁(ci)力(li)線穿過鐵(tie)磁(ci)材料(liao)及(ji)其制品時，在(zai)其（磁(ci)性）不連續處(chu)將產生漏磁(ci)場(chang)，形成(cheng)磁(ci)極。此時撒(sa)上干磁(ci)粉(fen)(fen)或(huo)澆上磁(ci)懸液(ye)，磁(ci)極就會吸附磁(ci)粉(fen)(fen)，產生用肉眼(yan)能直接(jie)觀(guan)察的(de)明(ming)顯磁(ci)痕。因(yin)此，可借(jie)助(zhu)于該(gai)磁(ci)痕來顯示鐵(tie)磁(ci)材料(liao)及(ji)其制品的(de)缺(que)陷(xian)情況(kuang)。磁(ci)粉(fen)(fen)探傷法(fa)可探測露(lu)出表(biao)面，用肉眼(yan)或(huo)借(jie)助(zhu)于放大(da)鏡也(ye)不能直接(jie)觀(guan)察到的(de)微小缺(que)陷(xian)，也(ye)可探測未露(lu)出表(biao)面，而是埋藏在(zai)表(biao)面下幾毫米的(de)近表(biao)面缺(que)陷(xian)。用這種方法(fa)雖然也(ye)能探查(cha)氣孔、夾雜、未焊透等體積型(xing)缺(que)陷(xian)，但對面積型(xing)缺(que)陷(xian)更靈敏，更適于檢(jian)查(cha)因(yin)淬(cui)火、軋制、鍛造、鑄造、焊接(jie)、電(dian)鍍、磨削(xue)、疲(pi)勞等引起(qi)的(de)裂紋。
磁(ci)(ci)(ci)力(li)探傷(shang)中(zhong)對(dui)缺(que)陷的顯(xian)示(shi)(shi)(shi)方法(fa)有(you)多種，有(you)用(yong)磁(ci)(ci)(ci)粉(fen)顯(xian)示(shi)(shi)(shi)的，也有(you)不用(yong)磁(ci)(ci)(ci)粉(fen)顯(xian)示(shi)(shi)(shi)的。用(yong)磁(ci)(ci)(ci)粉(fen)顯(xian)示(shi)(shi)(shi)的稱為磁(ci)(ci)(ci)粉(fen)探傷(shang)，因它顯(xian)示(shi)(shi)(shi)直觀、操作簡單、人(ren)們樂于使(shi)用(yong)，故它是最常用(yong)的方法(fa)之(zhi)一(yi)。不用(yong)磁(ci)(ci)(ci)粉(fen)顯(xian)示(shi)(shi)(shi)的，習慣(guan)上稱為漏磁(ci)(ci)(ci)探傷(shang)，它常借助于感應線(xian)圈(quan)、磁(ci)(ci)(ci)敏管、霍爾元(yuan)件等來反映缺(que)陷，它比(bi)磁(ci)(ci)(ci)粉(fen)探傷(shang)更衛(wei)生，但不如前(qian)者直觀。由(you)于磁(ci)(ci)(ci)力(li)探傷(shang)主要用(yong)磁(ci)(ci)(ci)粉(fen)來顯(xian)示(shi)(shi)(shi)缺(que)陷，因此，人(ren)們有(you)時把磁(ci)(ci)(ci)粉(fen)探傷(shang)直接稱為磁(ci)(ci)(ci)力(li)探傷(shang)，其(qi)設(she)備稱為磁(ci)(ci)(ci)力(li)探傷(shang)設(she)備。
渦流(liu)探傷是(shi)由交流(liu)電流(liu)產(chan)生的(de)(de)交變磁場作用于待探傷的(de)(de)導電材料(liao)，感(gan)應(ying)出(chu)電渦流(liu)。如果材料(liao)中(zhong)(zhong)有(you)缺陷，它將(jiang)干(gan)(gan)擾所(suo)產(chan)生的(de)(de)電渦流(liu)，即形成干(gan)(gan)擾信號(hao)(hao)(hao)。用渦流(liu)探傷儀檢測出(chu)其干(gan)(gan)擾信號(hao)(hao)(hao)，就(jiu)可知(zhi)道(dao)缺陷的(de)(de)狀(zhuang)況(kuang)。影響渦流(liu)的(de)(de)因素很(hen)(hen)多，即是(shi)說渦流(liu)中(zhong)(zhong)載有(you)豐富的(de)(de)信號(hao)(hao)(hao)，這些信號(hao)(hao)(hao)與材料(liao)的(de)(de)很(hen)(hen)多因素有(you)關，如何將(jiang)其中(zhong)(zhong)有(you)用的(de)(de)信號(hao)(hao)(hao)從諸(zhu)多的(de)(de)信號(hao)(hao)(hao)中(zhong)(zhong)一(yi)一(yi)分離(li)出(chu)來，是(shi)渦流(liu)研究工作者的(de)(de)難題，多年(nian)來已經取得了一(yi)些進展，在一(yi)定(ding)條件下可解(jie)決一(yi)些問題，但還遠不能(neng)滿足現場的(de)(de)要求，有(you)待于大力發(fa)展。
渦流(liu)探(tan)傷(shang)的(de)顯著(zhu)特點是對導電材料就(jiu)能起作用(yong)，而(er)不一定(ding)是鐵磁材料，但對鐵磁材料的(de)效果較(jiao)差。其次，待探(tan)工(gong)件(jian)表面的(de)光(guang)(guang)潔(jie)度、平整度、邊介等(deng)對渦流(liu)探(tan)傷(shang)都有較(jiao)大影響，因此常將渦流(liu)探(tan)傷(shang)用(yong)于(yu)形狀較(jiao)規則、表面較(jiao)光(guang)(guang)潔(jie)的(de)銅管(guan)等(deng)非鐵磁性工(gong)件(jian)探(tan)傷(shang)。
滲(shen)(shen)透(tou)(tou)探(tan)傷(shang)是利用(yong)毛細現(xian)象來進行探(tan)傷(shang)的(de)(de)(de)(de)(de)方(fang)法。對于(yu)(yu)(yu)表(biao)面光(guang)(guang)滑而(er)清(qing)潔的(de)(de)(de)(de)(de)零部件，用(yong)一種帶色(se)(se)(se)（常(chang)(chang)為(wei)(wei)紅(hong)色(se)(se)(se)）或帶有(you)熒光(guang)(guang)的(de)(de)(de)(de)(de)、滲(shen)(shen)透(tou)(tou)性很(hen)強的(de)(de)(de)(de)(de)液體，涂覆于(yu)(yu)(yu)待探(tan)零部件的(de)(de)(de)(de)(de)表(biao)面。若表(biao)面有(you)肉眼不能(neng)直(zhi)接察(cha)知的(de)(de)(de)(de)(de)微裂(lie)紋(wen)(wen)，由于(yu)(yu)(yu)該液體的(de)(de)(de)(de)(de)滲(shen)(shen)透(tou)(tou)性很(hen)強，它將(jiang)沿著(zhu)裂(lie)紋(wen)(wen)滲(shen)(shen)透(tou)(tou)到其(qi)根部。然(ran)后(hou)將(jiang)表(biao)面的(de)(de)(de)(de)(de)滲(shen)(shen)透(tou)(tou)液洗去(qu)，再涂上對比(bi)度較(jiao)大(da)的(de)(de)(de)(de)(de)顯(xian)(xian)示(shi)液（常(chang)(chang)為(wei)(wei)白色(se)(se)(se)）。放置片(pian)刻后(hou)，由于(yu)(yu)(yu)裂(lie)紋(wen)(wen)很(hen)窄(zhai)，毛細現(xian)象作(zuo)用(yong)顯(xian)(xian)著(zhu)，原滲(shen)(shen)透(tou)(tou)到裂(lie)紋(wen)(wen)內的(de)(de)(de)(de)(de)滲(shen)(shen)透(tou)(tou)液將(jiang)上升到表(biao)面并(bing)擴散(san)，在(zai)白色(se)(se)(se)的(de)(de)(de)(de)(de)襯底(di)上顯(xian)(xian)出(chu)(chu)較(jiao)粗(cu)的(de)(de)(de)(de)(de)紅(hong)線，從(cong)而(er)顯(xian)(xian)示(shi)出(chu)(chu)裂(lie)紋(wen)(wen)露于(yu)(yu)(yu)表(biao)面的(de)(de)(de)(de)(de)形狀(zhuang)(zhuang)，因此(ci)，常(chang)(chang)稱為(wei)(wei)著(zhu)色(se)(se)(se)探(tan)傷(shang)。若滲(shen)(shen)透(tou)(tou)液采(cai)用(yong)的(de)(de)(de)(de)(de)是帶熒光(guang)(guang)的(de)(de)(de)(de)(de)液體，由毛細現(xian)象上升到表(biao)面的(de)(de)(de)(de)(de)液體，則會在(zai)紫外(wai)燈照射下發出(chu)(chu)熒光(guang)(guang)，從(cong)而(er)更能(neng)顯(xian)(xian)示(shi)出(chu)(chu)裂(lie)紋(wen)(wen)露于(yu)(yu)(yu)表(biao)面的(de)(de)(de)(de)(de)形狀(zhuang)(zhuang)，故常(chang)(chang)常(chang)(chang)又將(jiang)此(ci)時的(de)(de)(de)(de)(de)滲(shen)(shen)透(tou)(tou)探(tan)傷(shang)直(zhi)接稱為(wei)(wei)熒光(guang)(guang)探(tan)傷(shang)。此(ci)探(tan)傷(shang)方(fang)法也(ye)可用(yong)于(yu)(yu)(yu)金屬和非(fei)金屬表(biao)面探(tan)傷(shang)。其(qi)使用(yong)的(de)(de)(de)(de)(de)探(tan)傷(shang)液劑(ji)有(you)較(jiao)大(da)氣味，常(chang)(chang)有(you)一定(ding)毒(du)性。
除以(yi)上五大常規方(fang)法(fa)外，近(jin)年來又有了(le)紅外、聲發射等一些新的探傷方(fang)法(fa)。
