1、超聲(sheng)波在(zai)介(jie)質中傳(chuan)播時，在(zai)不(bu)同質界面上具有反(fan)(fan)射(she)的特性，如遇到缺(que)陷(xian)，缺(que)陷(xian)的尺(chi)寸等于(yu)或大于(yu)超聲(sheng)波波長時，則(ze)超聲(sheng)波在(zai)缺(que)陷(xian)上反(fan)(fan)射(she)回來，探傷儀(yi)可將反(fan)(fan)射(she)波顯(xian)示出(chu)來；如缺(que)陷(xian)的尺(chi)寸甚至小于(yu)波長時，聲(sheng)波將繞過射(she)線而不(bu)能反(fan)(fan)射(she)。
2、波聲的方向性好(hao)，頻率(lv)越(yue)(yue)高，方向性越(yue)(yue)好(hao)，以(yi)很窄(zhai)的波束(shu)向介質中輻射，易(yi)于(yu)確(que)定缺陷(xian)的位置。
3、超(chao)聲波(bo)的(de)傳(chuan)播能(neng)量大，如頻率為1MHZ（1兆赫茲）的(de)超(chao)聲波(bo)所傳(chuan)播的(de)能(neng)量，相(xiang)當于振幅相(xiang)同而頻率為1000HZ（赫茲）的(de)聲波(bo)的(de)100萬(wan)倍。
探傷儀檢測通常是對被(bei)(bei)測物體(ti)(ti)（比(bi)如工業材料、人體(ti)(ti)）發射(she)超聲(sheng)，然后利用其反射(she)、多(duo)普(pu)勒效應、透射(she)等來獲取被(bei)(bei)測物體(ti)(ti)內部的(de)信息并(bing)經過處理形成(cheng)圖像。
探傷(shang)儀其中多普(pu)勒效應(ying)法(fa)是(shi)利用(yong)超聲在遇到運動(dong)的(de)(de)物(wu)體時發生的(de)(de)多普(pu)勒頻移效應(ying)來得(de)出該物(wu)體的(de)(de)運動(dong)方向和速度等(deng)特性；透(tou)射法(fa)則是(shi)通過分析超聲穿透(tou)過被測物(wu)體之后(hou)的(de)(de)變化而得(de)出物(wu)體的(de)(de)內部特性的(de)(de)，其應(ying)用(yong)還處于研制階段(duan)；
探傷(shang)儀(yi)內部缺陷性質的估(gu)判及(ji)原因和(he)防止(zhi)措施(shi)
單(dan)個(ge)(ge)氣(qi)(qi)孔回波(bo)(bo)高度(du)(du)低，波(bo)(bo)形為(wei)單(dan)縫(feng)(feng)，較穩定(ding)。從各(ge)個(ge)(ge)方向探測，反(fan)射波(bo)(bo)大體相同，但稍一動探頭就消失，密集氣(qi)(qi)孔會出現一簇(cu)反(fan)射波(bo)(bo)，波(bo)(bo)高隨氣(qi)(qi)孔大小而不同，當探頭作定(ding)點轉動時(shi)，會出現此起彼落的(de)(de)現象。產生這(zhe)(zhe)類(lei)(lei)缺陷(xian)的(de)(de)原因主要是焊(han)(han)(han)材未(wei)按(an)規(gui)(gui)定(ding)溫度(du)(du)烘干，焊(han)(han)(han)條藥皮(pi)變質脫(tuo)落、焊(han)(han)(han)芯銹蝕，焊(han)(han)(han)絲(si)清理不干凈，手工焊(han)(han)(han)時(shi)電(dian)流過(guo)大，電(dian)弧(hu)過(guo)長;埋弧(hu)焊(han)(han)(han)時(shi)電(dian)壓過(guo)高或網絡電(dian)壓波(bo)(bo)動太大;氣(qi)(qi)體保(bao)護焊(han)(han)(han)時(shi)保(bao)護氣(qi)(qi)體純度(du)(du)低等。如(ru)果焊(han)(han)(han)縫(feng)(feng)中(zhong)存(cun)在著氣(qi)(qi)孔，既破壞了焊(han)(han)(han)縫(feng)(feng)金屬(shu)的(de)(de)致密性(xing)，又使(shi)得焊(han)(han)(han)縫(feng)(feng)有(you)效截面積(ji)減(jian)少(shao)，降低了機械性(xing)能(neng)，特別是存(cun)鏈狀氣(qi)(qi)孔時(shi)，對彎(wan)曲和沖(chong)擊(ji)韌性(xing)會有(you)比較明(ming)顯降低。防止這(zhe)(zhe)類(lei)(lei)缺陷(xian)產生的(de)(de)措施有(you)：不使(shi)用(yong)藥皮(pi)開裂、剝落、變質及(ji)焊(han)(han)(han)芯銹蝕的(de)(de)焊(han)(han)(han)條，生銹的(de)(de)焊(han)(han)(han)絲(si)必須除銹后才能(neng)使(shi)用(yong)。所(suo)用(yong)焊(han)(han)(han)接材料應按(an)規(gui)(gui)定(ding)溫度(du)(du)烘干，坡(po)口及(ji)其兩側清理干凈，并要選用(yong)合適的(de)(de)焊(han)(han)(han)接電(dian)流、電(dian)弧(hu)電(dian)壓和焊(han)(han)(han)接速度(du)(du)等。
點(dian)狀(zhuang)(zhuang)夾渣回波信號(hao)與點(dian)狀(zhuang)(zhuang)氣(qi)孔相(xiang)似，條(tiao)狀(zhuang)(zhuang)夾渣回波信號(hao)多(duo)(duo)(duo)呈鋸齒狀(zhuang)(zhuang)波幅不(bu)高，波形多(duo)(duo)(duo)呈樹(shu)枝狀(zhuang)(zhuang)，主峰邊上有(you)小峰，探頭(tou)平移波幅有(you)變(bian)動，從各個(ge)方(fang)向探測時(shi)反射波幅不(bu)相(xiang)同。這類缺陷產生的原因有(you)：焊接電流過(guo)小，速度(du)過(guo)快，熔渣來不(bu)及浮起，被焊邊緣(yuan)和(he)各層(ceng)焊縫清(qing)理(li)不(bu)干凈(jing)，其(qi)本金屬和(he)焊接材料化學成分不(bu)當，含硫(liu)、磷較多(duo)(duo)(duo)等。防止措施有(you)：正確選(xuan)用焊接電流，焊接件的坡口(kou)角度(du)不(bu)要(yao)太小，焊前(qian)必(bi)須(xu)把坡口(kou)清(qing)理(li)干凈(jing)，多(duo)(duo)(duo)層(ceng)焊時(shi)必(bi)須(xu)層(ceng)層(ceng)清(qing)除(chu)焊渣;并合理(li)選(xuan)擇運條(tiao)角度(du)焊接速度(du)等。
反(fan)射率高(gao)，波(bo)(bo)幅也(ye)較(jiao)高(gao)，探頭平移時(shi)(shi)，波(bo)(bo)形較(jiao)穩定，在焊縫兩側探傷時(shi)(shi)均能得到大致相同的(de)反(fan)射波(bo)(bo)幅。這類缺(que)陷(xian)不僅(jin)降低了焊接(jie)接(jie)頭的(de)機械性能，而(er)且在未(wei)焊透處(chu)的(de)缺(que)口(kou)和端部形成(cheng)應力集中點(dian)，承載后往(wang)往(wang)會引起裂紋，是(shi)一種(zhong)危(wei)險性缺(que)陷(xian)。其產(chan)生(sheng)原因(yin)一般(ban)是(shi)：坡(po)(po)口(kou)純(chun)邊間隙(xi)太小，焊接(jie)電(dian)流太小或(huo)運條速度過快(kuai)，坡(po)(po)口(kou)角度小，運條角度不對以(yi)及電(dian)弧偏(pian)吹(chui)等。防止措施有：合(he)理選用坡(po)(po)口(kou)型式、裝(zhuang)配(pei)間隙(xi)和采用正確的(de)焊接(jie)工(gong)藝等。
探頭(tou)平移時，波(bo)形較穩定，兩側探測時，反射波(bo)幅不(bu)同，有時只能從一(yi)側探到。其產生的(de)原因：坡(po)(po)口(kou)不(bu)干凈，焊(han)速太快，電(dian)(dian)流過小或過大(da)，焊(han)條角度不(bu)對，電(dian)(dian)弧偏(pian)吹(chui)等(deng)(deng)。防(fang)止措施：正確選用(yong)坡(po)(po)口(kou)和電(dian)(dian)流，坡(po)(po)口(kou)清理干凈，正確操作防(fang)止焊(han)偏(pian)等(deng)(deng)。
回波(bo)高(gao)度(du)較大(da)，波(bo)幅寬，會出現多峰，探(tan)頭(tou)平移時反(fan)射波(bo)連續出現波(bo)幅有變動(dong)，探(tan)頭(tou)轉時，波(bo)峰有上下錯動(dong)現象。裂(lie)(lie)紋(wen)是一種(zhong)危(wei)險(xian)性最大(da)的(de)(de)缺陷(xian)，它除降低(di)焊(han)(han)接接頭(tou)的(de)(de)強度(du)外，還因裂(lie)(lie)紋(wen)的(de)(de)末端呈尖銷(xiao)的(de)(de)缺口，焊(han)(han)件承(cheng)載后，引起應力集(ji)中(zhong)，成為結構斷裂(lie)(lie)的(de)(de)起源。裂(lie)(lie)紋(wen)分為熱(re)(re)裂(lie)(lie)紋(wen)、冷裂(lie)(lie)紋(wen)和(he)再熱(re)(re)裂(lie)(lie)紋(wen)三種(zhong)。熱(re)(re)裂(lie)(lie)紋(wen)產生的(de)(de)原因是：焊(han)(han)接時熔池(chi)的(de)(de)冷卻(que)速(su)度(du)很快，造成偏(pian)析;焊(han)(han)縫受熱(re)(re)不均勻(yun)產生拉應力。防止措施：限制母(mu)材和(he)焊(han)(han)接材料中(zhong)易偏(pian)析元素和(he)有害雜(za)質(zhi)的(de)(de)含量(liang)(liang)，主要限制硫含量(liang)(liang)，提(ti)高(gao)錳含量(liang)(liang);提(ti)高(gao)焊(han)(han)條(tiao)或焊(han)(han)劑的(de)(de)堿(jian)度(du)，以(yi)降低(di)雜(za)質(zhi)含量(liang)(liang)，改善偏(pian)析程度(du);改進焊(han)(han)接結構形式，采(cai)用(yong)合(he)理(li)的(de)(de)焊(han)(han)接順序，提(ti)高(gao)焊(han)(han)縫收縮時的(de)(de)自由(you)度(du)。
探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)儀(yi)(yi)(yi)(yi)檢測(ce)這(zhe)里主要介(jie)(jie)(jie)紹的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)是(shi)(shi)應用(yong)最(zui)多的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)通(tong)過反(fan)(fan)射(she)法(fa)來(lai)(lai)獲取物(wu)體(ti)(ti)內(nei)部特性信(xin)(xin)息(xi)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)方(fang)法(fa)。反(fan)(fan)射(she)法(fa)是(shi)(shi)基于(yu)超(chao)聲在(zai)通(tong)過不同聲阻(zu)抗(kang)組(zu)織界(jie)面(mian)(mian)時(shi)會發生(sheng)(sheng)(sheng)較強反(fan)(fan)射(she)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)原(yuan)理(li)(li)(li)工(gong)作的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)，正如我們所知(zhi)道(dao)，聲波(bo)(bo)在(zai)從一(yi)種(zhong)(zhong)(zhong)介(jie)(jie)(jie)質(zhi)(zhi)(zhi)傳(chuan)播到另外(wai)一(yi)種(zhong)(zhong)(zhong)介(jie)(jie)(jie)質(zhi)(zhi)(zhi)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)時(shi)候在(zai)兩者之間(jian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)界(jie)面(mian)(mian)處(chu)(chu)會發生(sheng)(sheng)(sheng)反(fan)(fan)射(she)，而(er)且介(jie)(jie)(jie)質(zhi)(zhi)(zhi)之間(jian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)差(cha)(cha)別(bie)越大(da)(da)反(fan)(fan)射(she)就(jiu)(jiu)(jiu)會越大(da)(da)，所以我們可以對(dui)一(yi)個物(wu)體(ti)(ti)發射(she)出(chu)(chu)(chu)(chu)穿透力強、能夠(gou)直線傳(chuan)播的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)超(chao)聲波(bo)(bo)，探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)儀(yi)(yi)(yi)(yi)然(ran)后(hou)對(dui)反(fan)(fan)射(she)回(hui)來(lai)(lai)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)超(chao)聲波(bo)(bo)進行(xing)接收(shou)(shou)并根據這(zhe)些反(fan)(fan)射(she)回(hui)來(lai)(lai)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)超(chao)聲波(bo)(bo)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)先后(hou)、幅度(du)(du)等情(qing)況(kuang)就(jiu)(jiu)(jiu)可以判(pan)斷出(chu)(chu)(chu)(chu)這(zhe)個組(zu)織中(zhong)含有(you)(you)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)各種(zhong)(zhong)(zhong)介(jie)(jie)(jie)質(zhi)(zhi)(zhi)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)大(da)(da)小、分(fen)布情(qing)況(kuang)以及各種(zhong)(zhong)(zhong)介(jie)(jie)(jie)質(zhi)(zhi)(zhi)之間(jian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)對(dui)比(bi)差(cha)(cha)別(bie)程度(du)(du)等信(xin)(xin)息(xi)（其(qi)(qi)中(zhong)反(fan)(fan)射(she)回(hui)來(lai)(lai)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)超(chao)聲波(bo)(bo)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)先后(hou)可以反(fan)(fan)映出(chu)(chu)(chu)(chu)反(fan)(fan)射(she)界(jie)面(mian)(mian)離探(tan)(tan)(tan)測(ce)表面(mian)(mian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)距離，幅度(du)(du)則可以反(fan)(fan)映出(chu)(chu)(chu)(chu)介(jie)(jie)(jie)質(zhi)(zhi)(zhi)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)大(da)(da)小、對(dui)比(bi)差(cha)(cha)別(bie)程度(du)(du)等特性），探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)儀(yi)(yi)(yi)(yi)從而(er)判(pan)斷出(chu)(chu)(chu)(chu)該被(bei)測(ce)物(wu)體(ti)(ti)是(shi)(shi)否(fou)有(you)(you)異(yi)常(chang)。在(zai)這(zhe)個過程中(zhong)就(jiu)(jiu)(jiu)涉及到很(hen)多方(fang)面(mian)(mian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)內(nei)容，包括超(chao)聲波(bo)(bo)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)產(chan)生(sheng)(sheng)(sheng)、接收(shou)(shou)、信(xin)(xin)號(hao)轉換和(he)處(chu)(chu)理(li)(li)(li)等。其(qi)(qi)中(zhong)產(chan)生(sheng)(sheng)(sheng)超(chao)聲波(bo)(bo)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)方(fang)法(fa)是(shi)(shi)通(tong)過電(dian)(dian)(dian)路產(chan)生(sheng)(sheng)(sheng)激勵(li)電(dian)(dian)(dian)信(xin)(xin)號(hao)傳(chuan)給(gei)具(ju)有(you)(you)壓電(dian)(dian)(dian)效應的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)晶(jing)體(ti)(ti)（比(bi)如石英、硫酸鋰等），使(shi)(shi)其(qi)(qi)振動(dong)從而(er)產(chan)生(sheng)(sheng)(sheng)超(chao)聲波(bo)(bo)；而(er)接收(shou)(shou)反(fan)(fan)射(she)回(hui)來(lai)(lai)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)超(chao)聲波(bo)(bo)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)時(shi)候，這(zhe)個壓電(dian)(dian)(dian)晶(jing)體(ti)(ti)又會受到反(fan)(fan)射(she)回(hui)來(lai)(lai)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)聲波(bo)(bo)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)壓力而(er)產(chan)生(sheng)(sheng)(sheng)電(dian)(dian)(dian)信(xin)(xin)號(hao)并傳(chuan)送(song)給(gei)信(xin)(xin)號(hao)處(chu)(chu)理(li)(li)(li)電(dian)(dian)(dian)路進行(xing)一(yi)系(xi)列的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)處(chu)(chu)理(li)(li)(li)，探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)儀(yi)(yi)(yi)(yi)最(zui)后(hou)形(xing)成圖像(xiang)供人們觀察判(pan)斷。這(zhe)里根據圖像(xiang)處(chu)(chu)理(li)(li)(li)方(fang)法(fa)（也就(jiu)(jiu)(jiu)是(shi)(shi)將(jiang)得到的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)信(xin)(xin)號(hao)轉換成什(shen)么形(xing)式的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)圖像(xiang)）的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)種(zhong)(zhong)(zhong)類又可以分(fen)為A型(xing)(xing)顯(xian)(xian)示(shi)、M型(xing)(xing)顯(xian)(xian)示(shi)、B型(xing)(xing)顯(xian)(xian)示(shi)、C型(xing)(xing)顯(xian)(xian)示(shi)、F型(xing)(xing)顯(xian)(xian)示(shi)等。其(qi)(qi)中(zhong)A型(xing)(xing)顯(xian)(xian)示(shi)是(shi)(shi)將(jiang)接收(shou)(shou)到的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)超(chao)聲信(xin)(xin)號(hao)處(chu)(chu)理(li)(li)(li)成波(bo)(bo)形(xing)圖像(xiang)，根據波(bo)(bo)形(xing)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)形(xing)狀(zhuang)可以看出(chu)(chu)(chu)(chu)被(bei)測(ce)物(wu)體(ti)(ti)里面(mian)(mian)是(shi)(shi)否(fou)有(you)(you)異(yi)常(chang)和(he)缺(que)陷(xian)在(zai)那里、有(you)(you)多大(da)(da)等，探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)儀(yi)(yi)(yi)(yi)主要用(yong)于(yu)工(gong)業(ye)檢測(ce)；M型(xing)(xing)顯(xian)(xian)示(shi)是(shi)(shi)將(jiang)一(yi)條經(jing)過輝度(du)(du)處(chu)(chu)理(li)(li)(li)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)探(tan)(tan)(tan)測(ce)信(xin)(xin)息(xi)按時(shi)間(jian)順序展(zhan)開形(xing)成一(yi)維的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)"空間(jian)多點運動(dong)時(shi)序圖"，適于(yu)觀察內(nei)部處(chu)(chu)于(yu)運動(dong)狀(zhuang)態(tai)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)物(wu)體(ti)(ti)，探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)儀(yi)(yi)(yi)(yi)如運動(dong)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)臟器、動(dong)脈(mo)血管等；B型(xing)(xing)顯(xian)(xian)示(shi)是(shi)(shi)將(jiang)并排很(hen)多條經(jing)過輝度(du)(du)處(chu)(chu)理(li)(li)(li)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)探(tan)(tan)(tan)測(ce)信(xin)(xin)息(xi)組(zu)合(he)成的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)二(er)維的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)、反(fan)(fan)映出(chu)(chu)(chu)(chu)被(bei)測(ce)物(wu)體(ti)(ti)內(nei)部斷層切面(mian)(mian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)"解剖圖像(xiang)"（醫院(yuan)里使(shi)(shi)用(yong)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)B超(chao)就(jiu)(jiu)(jiu)是(shi)(shi)用(yong)這(zhe)種(zhong)(zhong)(zhong)原(yuan)理(li)(li)(li)做(zuo)出(chu)(chu)(chu)(chu)來(lai)(lai)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)），探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)儀(yi)(yi)(yi)(yi)適于(yu)觀察內(nei)部處(chu)(chu)于(yu)靜態(tai)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)物(wu)體(ti)(ti)；而(er)C型(xing)(xing)顯(xian)(xian)示(shi)、F型(xing)(xing)顯(xian)(xian)示(shi)用(yong)得比(bi)較少(shao)。探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)儀(yi)(yi)(yi)(yi)檢測(ce)不但(dan)可以做(zuo)到非常(chang)準(zhun)確，而(er)且相對(dui)其(qi)(qi)他檢測(ce)方(fang)法(fa)來(lai)(lai)說更為方(fang)便(bian)、快(kuai)捷，也不會對(dui)檢測(ce)對(dui)象和(he)操(cao)作者產(chan)生(sheng)(sheng)(sheng)危(wei)害，所以受到了人們越來(lai)(lai)越普遍的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)歡迎(ying)，有(you)(you)著非常(chang)廣闊的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)發展(zhan)前景。
探傷儀(yi)的(de)應(ying)(ying)用(yong)有(you)很(hen)廣泛，比(bi)如用(yong)超聲的(de)反射(she)來(lai)測(ce)量距(ju)離(li)，利用(yong)大功率超聲的(de)振(zhen)動來(lai)清除附著在(zai)(zai)鍋爐上(shang)面(mian)的(de)水垢，利用(yong)高(gao)能超聲做成"超聲刀"來(lai)消滅、擊碎人體內的(de)癌變、結(jie)石等(deng)，探傷儀(yi)而利用(yong)超聲的(de)反射(she)等(deng)效應(ying)(ying)和穿透力(li)強、能夠(gou)直線傳播等(deng)的(de)特性來(lai)進行(xing)檢(jian)測(ce)也是(shi)其中一(yi)個很(hen)大的(de)應(ying)(ying)用(yong)領(ling)域。探傷儀(yi)的(de)檢(jian)測(ce)應(ying)(ying)用(yong)主要包括在(zai)(zai)工業(ye)上(shang)對各種材(cai)料(liao)的(de)檢(jian)測(ce)和在(zai)(zai)醫療(liao)上(shang)對人體的(de)檢(jian)測(ce)診斷，通過它人們可(ke)(ke)以(yi)探測(ce)出金(jin)屬等(deng)工業(ye)材(cai)料(liao)中有(you)沒有(you)氣泡、傷痕、裂縫(feng)等(deng)缺陷，可(ke)(ke)以(yi)檢(jian)測(ce)出人們身體的(de)軟組織、血流等(deng)是(shi)否正常(chang)。
粉探傷儀適用于零件表(biao)面(mian)(mian)的(de)探傷，主要適用于濕磁粉法檢測(ce)曲軸(zhou)、凸輪軸(zhou)、花(hua)鍵(jian)軸(zhou)等各種中小型零件的(de)表(biao)面(mian)(mian)及近表(biao)面(mian)(mian)因鑄造、淬(cui)火、加工、疲勞(lao)等原因引起(qi)的(de)裂紋及細微缺陷，是單件檢測(ce)，小批抽檢，大(da)批量檢測(ce)的(de)首(shou)選機(ji)型。
輕(qing)小，可以到(dao)現場(chang)(chang)探(tan)傷(shang)乃至高(gao)(gao)空(kong)進(jin)行(xing)探(tan)傷(shang)作業。包(bao)括對(dui)大型(xing)零(ling)部件進(jin)行(xing)局(ju)部磁化探(tan)傷(shang)。特(te)別適用于平焊縫(feng)、角焊縫(feng)、壓(ya)力容器、管道及形狀復(fu)雜零(ling)部件的(de)探(tan)傷(shang)。對(dui)不允許高(gao)(gao)電壓(ya)進(jin)入設備內(nei)探(tan)傷(shang)的(de)場(chang)(chang)合(he)更(geng)為適合(he)。
磁粉探傷儀只能(neng)對大型工件(jian)分段探傷，不能(neng)一次性檢測(ce)出全方位(wei)的裂紋，所以其探傷效率(lv)較(jiao)低。
該設備操作(zuo)簡便(bian)，工(gong)(gong)(gong)(gong)作(zuo)效率高，采用工(gong)(gong)(gong)(gong)業PLC控制，既可(ke)手動(dong)(dong)單步操作(zuo)，亦可(ke)自(zi)動(dong)(dong)循環工(gong)(gong)(gong)(gong)作(zuo)，周、縱向(xiang)電流分別(bie)可(ke)調(diao)，具有斷(duan)電相位控制功能。可(ke)分別(bie)進行周向(xiang)、縱向(xiang)、復合磁(ci)化(hua)。工(gong)(gong)(gong)(gong)件可(ke)以(yi)轉動(dong)(dong)，檢測時(shi)機(ji)器(qi)可(ke)按(an)工(gong)(gong)(gong)(gong)藝要求設定的程序自(zi)動(dong)(dong)完成除上下料及觀察外（如(ru)夾緊、噴液(ye)、磁(ci)化(hua)、退磁(ci)、轉動(dong)(dong)等(deng)等(deng)）的自(zi)動(dong)(dong)化(hua)工(gong)(gong)(gong)(gong)作(zuo)。
1、周向磁化電(dian)流：AC0－4000A連續可調(diao)駛帶斷電(dian)相(xiang)位控制；
2、縱向磁化電(dian)流(liu)：DC0－20000AT連續可調帶斷(duan)電(dian)相位控制(zhi)；
3、退磁(ci)磁(ci)勢：AC20000－0AT連續可調自動衰減(jian)；
4、退磁(ci)效果：≤0.2mT；
5、夾緊方式：氣動或電動夾緊；
6、電極間(jian)距：0－1000mm由夾(jia)具確定；
7、夾緊(jin)行程(cheng)：0－50mm；
8、夾頭轉(zhuan)速：10rpm；
（1）超聲波探傷儀PD-F1儀器特點：
高分(fen)辨(bian)率TFTLCD，獨特的遮陽設計，符合人(ren)體工程學。
采用高(gao)端ARM處(chu)理器(qi)，系(xi)統響應速(su)度快，實時性好。
采用(yong)性能先進的前置(zhi)放大器，大大減(jian)小檢測盲區。
簡潔易用的人機交互，儀(yi)器操控性強。
高達(da)4GB海量存儲，能夠進行長(chang)時(shi)間的(de)探傷波形動態記錄，存儲大(da)量波形信(xin)息。
具有豐富的通信接(jie)口，強大的數(shu)據備份和數(shu)據轉儲能力(li)。
防水等級IP64。
鍵盤背光功能。
探(tan)頭接口采用瑞士原裝進口的LEMO接頭，美(mei)觀大(da)方，耐用性好。
增加(jia)Ethernet網口，可接(jie)入(ru)以太(tai)網。
增加了大量(liang)的操(cao)作提示信(xin)息，人機交互界(jie)面更加友好。
用戶可(ke)根據(ju)自己喜好來選擇不(bu)同的屏幕顏色(se)。
內(nei)置AWS、API5UE等多種標準。
（2）超聲波探傷儀主要性能指標：
探測范圍：(0~9999)mm
工(gong)作頻率：(0.25~20)MHz
各(ge)頻(pin)段等效輸入噪聲：<15%
發射脈沖(chong)：負(fu)脈沖(chong)s
能量可選擇，適用探頭范圍廣。
脈(mo)沖寬度在(0.1~0.5)μs范圍內連續調節，以匹(pi)配不同頻率(lv)的探(tan)頭。
脈(mo)沖幅度(du)：低（300伏(fu)）、中(zhong)（500伏(fu)）、高(gao)（700伏(fu)）分級選擇，適用(yong)探頭范圍廣。
脈沖寬度：在（0.1~0.5）μs范圍內連續調(diao)節，以匹配不(bu)同頻(pin)率的探頭。
超聲波探傷(shang)儀探頭阻尼：50Ω，150Ω、300Ω、400Ω可選，滿足(zu)靈敏度(du)及分辨(bian)率的不同工作(zuo)。
動(dong)態(tai)范圍：≥36dB
數字抑制(zhi)：(0~80)%，不影響線性與(yu)增益。
垂(chui)直線性(xing)誤(wu)差：≤2.6%。
水平線(xian)性誤(wu)差：≤0.1%。
分辨力(li)：>38dB。
靈敏(min)度余量：60dB。
電噪聲電平：≤10%。
濾波頻帶：（0.25~20）MHz，根據探頭頻率(lv)全自(zi)動匹(pi)配(pei)，無需(xu)手動設置。
探傷(shang)通道：200組探傷(shang)工作通道。
探頭接口：LEMO接口，ERA.1S。
探頭類型：直探頭、斜探頭、雙晶探頭、穿(chuan)透探頭。
報(bao)警(jing)(jing)：蜂鳴器報(bao)警(jing)(jing)，鍵盤背光燈報(bao)警(jing)(jing)。
電(dian)源：直流（DC）9V；鋰電(dian)池連續工(gong)作6~8小時以(yi)上。
外型尺寸：220×156×58(mm)結構待定。
環(huan)境(jing)溫(wen)度：(-10~50)℃。
相(xiang)對濕度：(20~95)%RH。
注：以上指標是在探頭頻率為(wei)2.5MHz、檢波方式為(wei)全波的(de)情況下所(suo)測得的(de)。
（3）超聲波探傷儀PD-F1主要功能參數：
數據采集：
硬件實時采樣(yang)：10位AD轉換器，采樣(yang)速(su)度(du)125MHz，波形高(gao)度(du)保真(zhen)。
檢波(bo)方(fang)式：正半(ban)波(bo)、負半(ban)波(bo)、全波(bo)、射頻檢波(bo)。
閘(zha)門(men)讀數(shu)：單(dan)閘(zha)門(men)和(he)雙閘(zha)門(men)讀數(shu)方(fang)式可選(xuan)；閘(zha)門(men)內峰(feng)值讀數(shu)、邊緣(yuan)檢測可選(xuan)。
增(zeng)益(yi)(yi)：0-110dB，最小增(zeng)益(yi)(yi)調節(jie)量(liang)0.1dB，獨特(te)的(de)全(quan)自動增(zeng)益(yi)(yi)調節(jie)及掃查增(zeng)益(yi)(yi)功能。
超聲波探傷儀探傷功能
波峰記憶(yi)：實時(shi)檢索缺陷(xian)最高(gao)波，記錄缺陷(xian)最大(da)值(zhi)。
Φ值計算：直探頭鍛件探傷找準缺陷最高波后(hou)自(zi)動(dong)計算、顯示(shi)缺陷當量尺寸。
缺(que)陷定(ding)位(wei)：實時(shi)顯示缺(que)陷水平(ping)、深度（垂直）、聲程(cheng)位(wei)置。
缺陷定量(liang)：缺陷當量(liang)dB值實(shi)時顯示；
缺陷定性：通過回(hui)波(bo)包(bao)絡(luo)波(bo)形，方(fang)便人工經驗(yan)判斷(duan)；
探(tan)(tan)頭頻率(lv)檢測(ce)：通(tong)過抓取回(hui)波(bo)，準(zhun)確檢測(ce)出探(tan)(tan)頭的中(zhong)心頻率(lv)，500mm范圍內任(ren)意波(bo)幅(fu)回(hui)波(bo)，一鍵輕松完成檢測(ce)；
曲面修(xiu)正(zheng)：修(xiu)正(zheng)斜探頭圓管檢(jian)測(ce)時的(de)深度和水平距離；
超聲波探傷儀修(xiu)正模式(shi)：內弧/外弧；
DAC/AVG：曲線(xian)自動(dong)(dong)生成，取樣點不受(shou)限制，并(bing)可進(jin)行補(bu)償與修(xiu)正。曲線(xian)隨增(zeng)益自動(dong)(dong)浮動(dong)(dong)、隨聲程自動(dong)(dong)擴展、隨延時自動(dong)(dong)移動(dong)(dong)。能顯(xian)示(shi)任意孔徑的AVG曲線(xian)。
裂(lie)紋測(ce)高(gao)：利用端點衍(yan)射(she)波自動測(ce)量、計算(suan)裂(lie)紋高(gao)度(du)。
B型掃描：采用定時掃描方式形成(cheng)B型圖像。
門(men)內展寬(kuan)：放(fang)大(da)回波細節(jie)，便于回波分析。
動態(tai)記(ji)錄：檢測實(shi)時動態(tai)記(ji)錄、存儲、回放(fang)波形，每段(duan)記(ji)錄可達8分鐘。
波(bo)形凍結(jie)：凍結(jie)屏幕上(shang)顯示的波(bo)形，便于缺陷(xian)分析(xi)。
焊縫(feng)圖示：顯(xian)示焊縫(feng)坡口形式和聲束走向，直觀顯(xian)示缺陷位置。
內置(zhi)標準：可自由設(she)置(zhi)各(ge)行(xing)業探傷工藝標準。
回波(bo)(bo)編(bian)碼：輸入工件(jian)厚度，儀器(qi)根據一次波(bo)(bo)、二次波(bo)(bo)及多次波(bo)(bo)的區域能生成(cheng)不同的背景色彩。
工作方式：直(zhi)探頭、斜探頭、雙晶探頭、穿透(tou)探傷(shang)。
閘門報警：門位、門寬(kuan)、門高任意可(ke)(ke)調；B閘門可(ke)(ke)選擇設置進波(bo)(bo)報警或(huo)失波(bo)(bo)報警；數(shu)據存儲(chu)：200組(zu)(zu)探傷(shang)參數(shu)通(tong)(tong)道(dao)，可(ke)(ke)預先調校好各類探頭和儀器的組(zu)(zu)合參數(shu)，自由設置各行業探傷(shang)標準(zhun)；可(ke)(ke)存儲(chu)10000幅探傷(shang)回波(bo)(bo)信(xin)號(hao)及(ji)參數(shu)，實現存儲(chu)、讀出(chu)及(ji)通(tong)(tong)過USB接(jie)口傳輸。
實時(shi)時(shi)鐘(zhong)：實時(shi)探傷日期(qi)、時(shi)間的(de)跟蹤記錄，并記錄存儲。
通(tong)訊接(jie)口(kou)：USB主機(ji)接(jie)口(kou)和從機(ji)接(jie)口(kou)，既能與PC機(ji)通(tong)信，又能方便地訪問U盤。藍牙無線(xian)通(tong)信模塊。
電(dian)(dian)(dian)池模(mo)塊：高(gao)容量鋰電(dian)(dian)(dian)池模(mo)塊，在線充電(dian)(dian)(dian)和脫機充電(dian)(dian)(dian)兩種充電(dian)(dian)(dian)方(fang)(fang)式，方(fang)(fang)便探傷(shang)。
醫用超聲波探傷儀
超(chao)聲波(bo)探(tan)傷儀(yi)工(gong)作原理與聲納(na)有(you)一(yi)定的(de)(de)(de)(de)相(xiang)似性(xing)，即(ji)將超(chao)聲波(bo)發射到人(ren)體(ti)(ti)內(nei)，當(dang)它在(zai)體(ti)(ti)內(nei)遇到界(jie)面(mian)時會發生反射及(ji)折射，并(bing)且在(zai)人(ren)體(ti)(ti)組織(zhi)中可能被吸(xi)收而衰減(jian)。因為人(ren)體(ti)(ti)各種組織(zhi)的(de)(de)(de)(de)形態與結構是不(bu)相(xiang)同的(de)(de)(de)(de)，因此(ci)(ci)其反射與折射以及(ji)吸(xi)收超(chao)聲波(bo)的(de)(de)(de)(de)程度也(ye)就不(bu)同，醫生們(men)正是通(tong)過儀(yi)器(qi)所反映出(chu)的(de)(de)(de)(de)波(bo)型、曲(qu)線，或(huo)影象的(de)(de)(de)(de)特征來辨別它們(men)。此(ci)(ci)外再(zai)結合(he)解剖學知(zhi)識、正常(chang)與病理的(de)(de)(de)(de)改(gai)變，便可診斷(duan)所檢(jian)查的(de)(de)(de)(de)器(qi)官(guan)是否(fou)有(you)病。醫生們(men)應用的(de)(de)(de)(de)超(chao)聲診斷(duan)方法有(you)不(bu)同的(de)(de)(de)(de)形式(shi)，可分(fen)為A型、B型、M型及(ji)D型四大類:
A型：是(shi)(shi)以波形來(lai)顯示組織特(te)征的方(fang)法，主要用于測量器官的徑線(xian)，以判(pan)定其大小。可用來(lai)鑒(jian)別病變組織的一些物理特(te)性，如實質性、液體(ti)或是(shi)(shi)氣體(ti)是(shi)(shi)否存在等。
B型：用(yong)平面(mian)圖形的(de)(de)(de)形式來顯(xian)示被探查組織(zhi)的(de)(de)(de)具(ju)體情況。檢查時，將人(ren)體界面(mian)的(de)(de)(de)反射(she)信(xin)號轉變為強弱不同(tong)的(de)(de)(de)光點(dian)，這些光點(dian)可通過熒光屏顯(xian)現出來，這種方(fang)法(fa)直觀性(xing)好(hao)，重(zhong)復(fu)性(xing)強，可供前后對比，所以廣泛(fan)用(yong)于婦產(chan)科(ke)、泌尿(niao)、消化(hua)及心(xin)血管(guan)等系統(tong)疾病的(de)(de)(de)診斷。
M型：是用(yong)(yong)于(yu)觀察(cha)活(huo)動(dong)界面時(shi)間變化的一(yi)種方法。最適用(yong)(yong)于(yu)檢查(cha)心(xin)臟的活(huo)動(dong)情況，其曲線的動(dong)態(tai)改(gai)變稱為超聲(sheng)心(xin)動(dong)圖，可以用(yong)(yong)來觀察(cha)心(xin)臟各層結構的位置、活(huo)動(dong)狀態(tai)、結構的狀況等，多用(yong)(yong)于(yu)輔助心(xin)臟及大血管疫病的診斷。
D型：是(shi)專門用(yong)來檢測(ce)(ce)血(xue)液流(liu)動(dong)和器(qi)官活動(dong)的(de)一種超(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)診(zhen)斷方法，又稱為多普勒超(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)診(zhen)斷法。可(ke)(ke)(ke)確定血(xue)管是(shi)否通暢(chang)、管腔有否狹(xia)窄(zhai)、閉塞以及病(bing)變部位。新一代的(de)D型超(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)波還(huan)能定量地測(ce)(ce)定管腔內(nei)(nei)血(xue)液的(de)流(liu)量。科學家又發展了彩色編碼(ma)多普勒系(xi)統(tong)，可(ke)(ke)(ke)在超(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)心動(dong)圖解剖標志(zhi)的(de)指示下，以不(bu)同顏(yan)色顯(xian)示血(xue)流(liu)的(de)方向，色澤(ze)的(de)深淺(qian)代表(biao)血(xue)流(liu)的(de)流(liu)速。還(huan)有立(li)體超(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)顯(xian)象、超(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)CT、超(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)內(nei)(nei)窺鏡(jing)等超(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)技術不(bu)斷涌現出來，并(bing)且還(huan)可(ke)(ke)(ke)以與其他檢查(cha)儀器(qi)結(jie)合使用(yong)，使疾病(bing)的(de)診(zhen)斷準確率大(da)(da)大(da)(da)提(ti)高。超(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)波技術正在醫學界發揮著巨大(da)(da)的(de)作用(yong)，隨(sui)著科學的(de)進步(bu)，它(ta)將更加(jia)完善，將更好(hao)地造福(fu)于人類。
主要用(yong)于探(tan)測(ce)機加工件內部有無缺陷（裂(lie)紋、砂眼(yan)、氣孔、白點(dian)、夾雜等），焊縫是否合格(ge)，查找有無暗傷(shang)，從而判定工件合格(ge)與(yu)否。
全數字
真彩顯示器：五種顏色可選(xuan)、亮度可調(diao)
高(gao)性能鋰電池，連續工(gong)作7小時
與計算機通訊，可自動生(sheng)成(cheng)探(tan)傷報告
實時顯示SL、EL、GL、RL定量值
自(zi)(zi)動校準(zhun)：自(zi)(zi)動測試“探頭(tou)零點”、“K值”、“前沿”及“材料聲速”；
自動(dong)顯示缺陷回(hui)波(bo)位置（深度d、水平(ping)p、距(ju)離s、波(bo)幅、當(dang)量(liang)dB、孔徑(jing)ф值）；
自由(you)切(qie)換三種標尺（深(shen)度d、水平(ping)p、距(ju)離s），滿足(zu)不同的探(tan)傷標準要求和探(tan)傷工程(cheng)師的標尺使用(yong)習慣；
自動(dong)增益：自動(dong)將波(bo)形(xing)調至屏高(gao)的80%，大(da)大(da)提(ti)高(gao)了探傷(shang)效(xiao)率；
自(zi)動錄制(zhi)探傷過程(cheng)并可(ke)以(yi)進(jin)行動態回放；
自動φ值(zhi)計算：直探頭(tou)鍛件(jian)探傷，找準缺陷最高波自動換算孔徑ф值(zhi)；
自動DAC、AVG曲線自動生成并可以分段制作，取樣點不受限制，并可進行修正與補償，滿足任意探傷標準；阻(zu)尼自動(dong)。
硬件實時(shi)采樣：150MHz，波形高(gao)度保(bao)真(zhen)
閘門信號：單(dan)閘門、雙閘門，峰值或邊緣讀(du)數
增益調節：手動(dong)調節110dB（0.2dB、0.5dB、1dB、2dB、6dB、12dB步進）或自動(dong)調節至屏(ping)高的80%
曲(qu)線包絡(luo)和波峰(feng)記憶：實時檢索并記錄缺陷最高波
φ值(zhi)計(ji)算：直(zhi)探頭鍛件(jian)探傷(shang)找準缺陷最高波自動換算
動態(tai)(tai)錄(lu)制：實時動態(tai)(tai)錄(lu)制波(bo)形，并可(ke)存儲、回(hui)放
缺陷定位(wei)：實時顯示水平值L、深度值H、聲程值S
缺陷(xian)定量：實時顯示SL、EL、GL、RL定量值
實時顯(xian)示(shi)孔狀缺陷Φ值
缺陷定性：通過波形，人工(gong)經驗判斷
曲(qu)面修正：曲(qu)面工件探傷，修正曲(qu)率換算
B型掃描(miao)：實時掃查(cha)，描(miao)述(shu)缺陷橫(heng)切面
閘(zha)門(men)報(bao)(bao)警：進波(bo)報(bao)(bao)警、失波(bo)報(bao)(bao)警
DAC報警：自由設置SL、EL、GL、RL報警
五大常規方法(fa)(fa)是指射線(xian)探(tan)傷法(fa)(fa)、超聲(sheng)波探(tan)傷法(fa)(fa)、磁(ci)粉探(tan)傷法(fa)(fa)、渦流探(tan)傷法(fa)(fa)和滲透探(tan)傷法(fa)(fa)。
射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)探(tan)(tan)傷(shang)是利用(yong)射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)的(de)(de)(de)(de)(de)穿(chuan)透性(xing)(xing)和(he)(he)直(zhi)線(xian)(xian)(xian)性(xing)(xing)來(lai)探(tan)(tan)傷(shang)的(de)(de)(de)(de)(de)方(fang)(fang)法。這些(xie)射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)雖然不(bu)會像可(ke)(ke)見光那樣憑肉(rou)眼就(jiu)(jiu)(jiu)(jiu)能(neng)直(zhi)接(jie)(jie)察知(zhi)，但它(ta)可(ke)(ke)使照相底(di)片(pian)感(gan)光，也可(ke)(ke)用(yong)特殊的(de)(de)(de)(de)(de)接(jie)(jie)收(shou)(shou)器(qi)來(lai)接(jie)(jie)收(shou)(shou)。常用(yong)于(yu)探(tan)(tan)傷(shang)的(de)(de)(de)(de)(de)射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)有(you)x光和(he)(he)同(tong)位素發出的(de)(de)(de)(de)(de)γ射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)，分(fen)別稱為x光探(tan)(tan)傷(shang)和(he)(he)γ射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)探(tan)(tan)傷(shang)。當(dang)這些(xie)射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)穿(chuan)過(guo)(guo)（照射(she)(she)(she)(she)(she)）物質時，該物質的(de)(de)(de)(de)(de)密度越大，射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)強(qiang)度減(jian)弱得越多(duo)，即射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)能(neng)穿(chuan)透過(guo)(guo)該物質的(de)(de)(de)(de)(de)強(qiang)度就(jiu)(jiu)(jiu)(jiu)越小。此(ci)(ci)時，若用(yong)照相底(di)片(pian)接(jie)(jie)收(shou)(shou)，則底(di)片(pian)的(de)(de)(de)(de)(de)感(gan)光量就(jiu)(jiu)(jiu)(jiu)小；若用(yong)儀器(qi)來(lai)接(jie)(jie)收(shou)(shou)，獲得的(de)(de)(de)(de)(de)信號就(jiu)(jiu)(jiu)(jiu)弱。因(yin)(yin)此(ci)(ci)，用(yong)射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)來(lai)照射(she)(she)(she)(she)(she)待探(tan)(tan)傷(shang)的(de)(de)(de)(de)(de)零部(bu)件時，若其(qi)內部(bu)有(you)氣孔、夾渣(zha)等缺(que)陷(xian)，射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)穿(chuan)過(guo)(guo)有(you)缺(que)陷(xian)的(de)(de)(de)(de)(de)路徑比沒有(you)缺(que)陷(xian)的(de)(de)(de)(de)(de)路徑所透過(guo)(guo)的(de)(de)(de)(de)(de)物質密度要小得多(duo)，其(qi)強(qiang)度就(jiu)(jiu)(jiu)(jiu)減(jian)弱得少些(xie)，即透過(guo)(guo)的(de)(de)(de)(de)(de)強(qiang)度就(jiu)(jiu)(jiu)(jiu)大些(xie)，若用(yong)底(di)片(pian)接(jie)(jie)收(shou)(shou)，則感(gan)光量就(jiu)(jiu)(jiu)(jiu)大些(xie)，就(jiu)(jiu)(jiu)(jiu)可(ke)(ke)以從底(di)片(pian)上反映出缺(que)陷(xian)垂直(zhi)于(yu)射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)方(fang)(fang)向的(de)(de)(de)(de)(de)平面投(tou)影(ying)(ying)；若用(yong)其(qi)它(ta)接(jie)(jie)收(shou)(shou)器(qi)也同(tong)樣可(ke)(ke)以用(yong)儀表(biao)來(lai)反映缺(que)陷(xian)垂直(zhi)于(yu)射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)方(fang)(fang)向的(de)(de)(de)(de)(de)平面投(tou)影(ying)(ying)和(he)(he)射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)的(de)(de)(de)(de)(de)透過(guo)(guo)量。由此(ci)(ci)可(ke)(ke)見，一般(ban)情況下，射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)探(tan)(tan)傷(shang)是不(bu)易發現(xian)裂紋的(de)(de)(de)(de)(de)，或(huo)者說，射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)探(tan)(tan)傷(shang)對裂紋是不(bu)敏感(gan)的(de)(de)(de)(de)(de)。因(yin)(yin)此(ci)(ci)，射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)探(tan)(tan)傷(shang)對氣孔、夾渣(zha)、未焊(han)透等體(ti)積(ji)型(xing)缺(que)陷(xian)最敏感(gan)。即射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)探(tan)(tan)傷(shang)適宜(yi)用(yong)于(yu)體(ti)積(ji)型(xing)缺(que)陷(xian)探(tan)(tan)傷(shang)，而不(bu)適宜(yi)面積(ji)型(xing)缺(que)陷(xian)探(tan)(tan)傷(shang)。
人們的(de)(de)(de)(de)(de)耳朵(duo)能直接(jie)(jie)接(jie)(jie)收到(dao)的(de)(de)(de)(de)(de)聲(sheng)波(bo)的(de)(de)(de)(de)(de)頻(pin)率范圍(wei)通常(chang)是(shi)20Hz到(dao)20kHz，即音(yin)（聲(sheng)）頻(pin)。頻(pin)率低于20Hz的(de)(de)(de)(de)(de)稱為(wei)次(ci)聲(sheng)波(bo)，高于20kHz的(de)(de)(de)(de)(de)稱為(wei)超聲(sheng)波(bo)。工(gong)(gong)業上常(chang)用(yong)數兆赫茲(zi)超聲(sheng)波(bo)來(lai)(lai)探(tan)傷(shang)。超聲(sheng)波(bo)頻(pin)率高，則傳播(bo)的(de)(de)(de)(de)(de)直線(xian)性強，又易(yi)于在固體中(zhong)(zhong)傳播(bo)，并且遇到(dao)兩種(zhong)不同(tong)介質(zhi)形成的(de)(de)(de)(de)(de)界(jie)面(mian)(mian)時易(yi)于反(fan)射(she)(she)，這樣就可(ke)(ke)以用(yong)它來(lai)(lai)探(tan)傷(shang)。通常(chang)用(yong)超聲(sheng)波(bo)探(tan)頭與待探(tan)工(gong)(gong)件(jian)表面(mian)(mian)良好的(de)(de)(de)(de)(de)接(jie)(jie)觸，探(tan)頭則可(ke)(ke)有效地向工(gong)(gong)件(jian)發射(she)(she)超聲(sheng)波(bo)，并能接(jie)(jie)收（缺(que)陷(xian)(xian)）界(jie)面(mian)(mian)反(fan)射(she)(she)來(lai)(lai)的(de)(de)(de)(de)(de)超聲(sheng)波(bo)，同(tong)時轉換成電信號(hao)，再(zai)傳輸(shu)給儀器進(jin)行處理。根據(ju)超聲(sheng)波(bo)在介質(zhi)中(zhong)(zhong)傳播(bo)的(de)(de)(de)(de)(de)速(su)度(du)（常(chang)稱聲(sheng)速(su)）和傳播(bo)的(de)(de)(de)(de)(de)時間，就可(ke)(ke)知道缺(que)陷(xian)(xian)的(de)(de)(de)(de)(de)位(wei)置。當缺(que)陷(xian)(xian)越大(da)，反(fan)射(she)(she)面(mian)(mian)則越大(da)，其反(fan)射(she)(she)的(de)(de)(de)(de)(de)能量也就越大(da)，故可(ke)(ke)根據(ju)反(fan)射(she)(she)能量的(de)(de)(de)(de)(de)大(da)小來(lai)(lai)查知各缺(que)陷(xian)(xian)（當量）的(de)(de)(de)(de)(de)大(da)小。常(chang)用(yong)的(de)(de)(de)(de)(de)探(tan)傷(shang)波(bo)形有縱波(bo)、橫波(bo)、表面(mian)(mian)波(bo)等，前二者適(shi)(shi)用(yong)于探(tan)測(ce)內部缺(que)陷(xian)(xian)，后者適(shi)(shi)宜于探(tan)測(ce)表面(mian)(mian)缺(que)陷(xian)(xian)，但對表面(mian)(mian)的(de)(de)(de)(de)(de)條件(jian)要求高。
磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)探(tan)傷是(shi)建立在漏磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)原理基礎上(shang)(shang)的(de)一種磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)力探(tan)傷方法(fa)(fa)。當(dang)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)力線穿過(guo)鐵磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)材(cai)料(liao)(liao)及其(qi)制品(pin)時，在其(qi)（磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)性）不連續(xu)處(chu)將(jiang)產(chan)(chan)生漏磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)場，形成磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)極。此時撒(sa)上(shang)(shang)干磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)或澆上(shang)(shang)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)懸液(ye)，磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)極就會吸附磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)，產(chan)(chan)生用肉眼能(neng)直(zhi)接(jie)觀(guan)察(cha)的(de)明顯(xian)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)痕。因此，可借(jie)助于(yu)(yu)該磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)痕來顯(xian)示鐵磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)材(cai)料(liao)(liao)及其(qi)制品(pin)的(de)缺陷情況。磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)探(tan)傷法(fa)(fa)可探(tan)測露出(chu)表(biao)(biao)(biao)面(mian)，用肉眼或借(jie)助于(yu)(yu)放大鏡也(ye)不能(neng)直(zhi)接(jie)觀(guan)察(cha)到的(de)微小缺陷，也(ye)可探(tan)測未露出(chu)表(biao)(biao)(biao)面(mian)，而(er)是(shi)埋藏在表(biao)(biao)(biao)面(mian)下(xia)幾毫米的(de)近表(biao)(biao)(biao)面(mian)缺陷。用這(zhe)種方法(fa)(fa)雖然也(ye)能(neng)探(tan)查(cha)氣孔、夾(jia)雜、未焊透等(deng)體積型缺陷，但對面(mian)積型缺陷更(geng)靈敏，更(geng)適于(yu)(yu)檢查(cha)因淬火、軋制、鍛造、鑄(zhu)造、焊接(jie)、電鍍、磨(mo)削、疲勞等(deng)引起的(de)裂紋。
磁(ci)力(li)探傷(shang)(shang)中對缺(que)陷的(de)(de)顯(xian)示(shi)(shi)(shi)方法(fa)有(you)多種(zhong)，有(you)用磁(ci)粉(fen)顯(xian)示(shi)(shi)(shi)的(de)(de)，也有(you)不用磁(ci)粉(fen)顯(xian)示(shi)(shi)(shi)的(de)(de)。用磁(ci)粉(fen)顯(xian)示(shi)(shi)(shi)的(de)(de)稱(cheng)為磁(ci)粉(fen)探傷(shang)(shang)，因它顯(xian)示(shi)(shi)(shi)直(zhi)觀(guan)、操(cao)作簡單、人(ren)們(men)樂于使(shi)用，故它是最常用的(de)(de)方法(fa)之一(yi)。不用磁(ci)粉(fen)顯(xian)示(shi)(shi)(shi)的(de)(de)，習(xi)慣上稱(cheng)為漏磁(ci)探傷(shang)(shang)，它常借助于感應線圈(quan)、磁(ci)敏管、霍(huo)爾(er)元件(jian)等來反映缺(que)陷，它比磁(ci)粉(fen)探傷(shang)(shang)更衛生，但不如前者直(zhi)觀(guan)。由于磁(ci)力(li)探傷(shang)(shang)主要(yao)用磁(ci)粉(fen)來顯(xian)示(shi)(shi)(shi)缺(que)陷，因此，人(ren)們(men)有(you)時把磁(ci)粉(fen)探傷(shang)(shang)直(zhi)接稱(cheng)為磁(ci)力(li)探傷(shang)(shang)，其設備(bei)稱(cheng)為磁(ci)力(li)探傷(shang)(shang)設備(bei)。
渦(wo)(wo)流(liu)(liu)(liu)(liu)(liu)探(tan)傷(shang)(shang)是由交流(liu)(liu)(liu)(liu)(liu)電(dian)流(liu)(liu)(liu)(liu)(liu)產生的(de)(de)交變磁場作用(yong)(yong)(yong)于(yu)待(dai)探(tan)傷(shang)(shang)的(de)(de)導(dao)電(dian)材(cai)料(liao)，感應出電(dian)渦(wo)(wo)流(liu)(liu)(liu)(liu)(liu)。如果材(cai)料(liao)中(zhong)有(you)(you)缺陷，它將(jiang)干擾(rao)所(suo)產生的(de)(de)電(dian)渦(wo)(wo)流(liu)(liu)(liu)(liu)(liu)，即形成干擾(rao)信(xin)(xin)號。用(yong)(yong)(yong)渦(wo)(wo)流(liu)(liu)(liu)(liu)(liu)探(tan)傷(shang)(shang)儀檢測出其(qi)(qi)干擾(rao)信(xin)(xin)號，就(jiu)可知道(dao)缺陷的(de)(de)狀況。影響(xiang)渦(wo)(wo)流(liu)(liu)(liu)(liu)(liu)的(de)(de)因(yin)素很多，即是說渦(wo)(wo)流(liu)(liu)(liu)(liu)(liu)中(zhong)載有(you)(you)豐富的(de)(de)信(xin)(xin)號，這些信(xin)(xin)號與材(cai)料(liao)的(de)(de)很多因(yin)素有(you)(you)關(guan)，如何將(jiang)其(qi)(qi)中(zhong)有(you)(you)用(yong)(yong)(yong)的(de)(de)信(xin)(xin)號從諸多的(de)(de)信(xin)(xin)號中(zhong)一(yi)一(yi)分離出來(lai)，是渦(wo)(wo)流(liu)(liu)(liu)(liu)(liu)研究工作者的(de)(de)難(nan)題，多年來(lai)已經(jing)取(qu)得了一(yi)些進展，在(zai)一(yi)定條件下可解決一(yi)些問題，但還遠不能滿(man)足現場的(de)(de)要求(qiu)，有(you)(you)待(dai)于(yu)大力發展。
渦流(liu)探(tan)傷(shang)的顯著特點是對(dui)導電材(cai)料(liao)就能起作用(yong)(yong)，而不(bu)一(yi)定是鐵磁材(cai)料(liao)，但對(dui)鐵磁材(cai)料(liao)的效果較(jiao)差。其次，待探(tan)工(gong)件表面(mian)的光(guang)潔度(du)、平整度(du)、邊介(jie)等對(dui)渦流(liu)探(tan)傷(shang)都有較(jiao)大影響，因此常將(jiang)渦流(liu)探(tan)傷(shang)用(yong)(yong)于(yu)形狀較(jiao)規則、表面(mian)較(jiao)光(guang)潔的銅管(guan)等非(fei)鐵磁性工(gong)件探(tan)傷(shang)。
滲(shen)透(tou)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)是(shi)利用(yong)毛(mao)細(xi)現象(xiang)(xiang)來進行探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)的(de)(de)(de)方法(fa)。對于(yu)表(biao)面光滑而(er)清潔(jie)的(de)(de)(de)零(ling)(ling)部件(jian)，用(yong)一種(zhong)帶色（常(chang)為(wei)紅(hong)色）或帶有(you)熒光的(de)(de)(de)、滲(shen)透(tou)性(xing)(xing)很(hen)強的(de)(de)(de)液(ye)體，涂(tu)覆于(yu)待探(tan)(tan)(tan)零(ling)(ling)部件(jian)的(de)(de)(de)表(biao)面。若表(biao)面有(you)肉眼不(bu)能(neng)直接察知的(de)(de)(de)微裂(lie)(lie)(lie)紋，由于(yu)該液(ye)體的(de)(de)(de)滲(shen)透(tou)性(xing)(xing)很(hen)強，它將(jiang)沿著裂(lie)(lie)(lie)紋滲(shen)透(tou)到其(qi)根部。然后將(jiang)表(biao)面的(de)(de)(de)滲(shen)透(tou)液(ye)洗去，再涂(tu)上(shang)對比度較大的(de)(de)(de)顯示液(ye)（常(chang)為(wei)白(bai)色）。放置片(pian)刻后，由于(yu)裂(lie)(lie)(lie)紋很(hen)窄，毛(mao)細(xi)現象(xiang)(xiang)作用(yong)顯著，原(yuan)滲(shen)透(tou)到裂(lie)(lie)(lie)紋內的(de)(de)(de)滲(shen)透(tou)液(ye)將(jiang)上(shang)升到表(biao)面并擴散，在(zai)白(bai)色的(de)(de)(de)襯底(di)上(shang)顯出(chu)(chu)較粗的(de)(de)(de)紅(hong)線，從(cong)而(er)顯示出(chu)(chu)裂(lie)(lie)(lie)紋露于(yu)表(biao)面的(de)(de)(de)形(xing)狀，因此，常(chang)稱(cheng)為(wei)著色探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)。若滲(shen)透(tou)液(ye)采用(yong)的(de)(de)(de)是(shi)帶熒光的(de)(de)(de)液(ye)體，由毛(mao)細(xi)現象(xiang)(xiang)上(shang)升到表(biao)面的(de)(de)(de)液(ye)體，則會在(zai)紫外燈照射(she)下發出(chu)(chu)熒光，從(cong)而(er)更能(neng)顯示出(chu)(chu)裂(lie)(lie)(lie)紋露于(yu)表(biao)面的(de)(de)(de)形(xing)狀，故常(chang)常(chang)又將(jiang)此時的(de)(de)(de)滲(shen)透(tou)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)直接稱(cheng)為(wei)熒光探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)。此探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)方法(fa)也可用(yong)于(yu)金(jin)(jin)屬和非金(jin)(jin)屬表(biao)面探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)。其(qi)使用(yong)的(de)(de)(de)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)液(ye)劑(ji)有(you)較大氣(qi)味(wei)，常(chang)有(you)一定毒性(xing)(xing)。
除以(yi)上(shang)五(wu)大常(chang)規方(fang)法外，近年來又有(you)了(le)紅(hong)外、聲發射等一些新的探(tan)傷方(fang)法。
