1、超(chao)聲(sheng)波(bo)(bo)(bo)在(zai)介質中傳播(bo)時(shi)，在(zai)不(bu)同質界面上(shang)具有反射(she)(she)的(de)特性，如(ru)遇到缺(que)陷(xian)，缺(que)陷(xian)的(de)尺寸等于(yu)或大(da)于(yu)超(chao)聲(sheng)波(bo)(bo)(bo)波(bo)(bo)(bo)長(chang)時(shi)，則超(chao)聲(sheng)波(bo)(bo)(bo)在(zai)缺(que)陷(xian)上(shang)反射(she)(she)回來(lai)，探傷儀可將(jiang)反射(she)(she)波(bo)(bo)(bo)顯示出來(lai)；如(ru)缺(que)陷(xian)的(de)尺寸甚至(zhi)小于(yu)波(bo)(bo)(bo)長(chang)時(shi)，聲(sheng)波(bo)(bo)(bo)將(jiang)繞過射(she)(she)線而不(bu)能反射(she)(she)。
2、波聲(sheng)的(de)(de)方(fang)向(xiang)(xiang)性好，頻(pin)率(lv)越高，方(fang)向(xiang)(xiang)性越好，以很窄(zhai)的(de)(de)波束向(xiang)(xiang)介(jie)質中輻射，易(yi)于確定(ding)缺(que)陷(xian)的(de)(de)位置。
3、超(chao)聲(sheng)波(bo)的傳播能量(liang)(liang)大，如頻率為1MHZ（1兆赫(he)(he)茲）的超(chao)聲(sheng)波(bo)所傳播的能量(liang)(liang)，相當于振(zhen)幅相同而頻率為1000HZ（赫(he)(he)茲）的聲(sheng)波(bo)的100萬倍。
探(tan)傷儀檢測(ce)通常是(shi)對被測(ce)物(wu)體(ti)(ti)（比(bi)如工業材料、人體(ti)(ti)）發射超聲，然后利用(yong)其反射、多普勒效應、透射等來獲取被測(ce)物(wu)體(ti)(ti)內部的(de)信息并經過處理形(xing)成(cheng)圖(tu)像。
探傷儀(yi)其中多(duo)(duo)普(pu)勒效(xiao)應法是利用(yong)超聲(sheng)在(zai)遇到(dao)運動(dong)的(de)(de)物(wu)(wu)(wu)體(ti)時發生(sheng)的(de)(de)多(duo)(duo)普(pu)勒頻移效(xiao)應來得出(chu)(chu)該物(wu)(wu)(wu)體(ti)的(de)(de)運動(dong)方向(xiang)和速度等特性；透射法則(ze)是通過(guo)分(fen)析(xi)超聲(sheng)穿(chuan)透過(guo)被測物(wu)(wu)(wu)體(ti)之后(hou)的(de)(de)變(bian)化而得出(chu)(chu)物(wu)(wu)(wu)體(ti)的(de)(de)內(nei)部特性的(de)(de)，其應用(yong)還處于研制階段；
探(tan)傷儀(yi)內(nei)部缺陷(xian)性質的估(gu)判及(ji)原因和防止措施
單(dan)個氣(qi)(qi)孔(kong)回波高度(du)(du)低(di)，波形為單(dan)縫(feng)，較穩定(ding)。從各(ge)個方向探(tan)測(ce)，反射(she)波大(da)(da)體(ti)相同，但稍一動(dong)探(tan)頭就消失，密(mi)(mi)集(ji)氣(qi)(qi)孔(kong)會(hui)出(chu)現一簇反射(she)波，波高隨(sui)氣(qi)(qi)孔(kong)大(da)(da)小而不(bu)同，當(dang)探(tan)頭作定(ding)點(dian)轉(zhuan)動(dong)時，會(hui)出(chu)現此起彼落(luo)的(de)(de)現象。產生這類缺陷的(de)(de)原因主要是(shi)焊(han)(han)(han)材未(wei)按規(gui)定(ding)溫度(du)(du)烘(hong)干(gan)，焊(han)(han)(han)條藥(yao)皮變質脫(tuo)落(luo)、焊(han)(han)(han)芯銹(xiu)蝕(shi)，焊(han)(han)(han)絲清(qing)理不(bu)干(gan)凈，手(shou)工焊(han)(han)(han)時電(dian)流(liu)過(guo)大(da)(da)，電(dian)弧(hu)過(guo)長;埋弧(hu)焊(han)(han)(han)時電(dian)壓過(guo)高或網絡電(dian)壓波動(dong)太大(da)(da);氣(qi)(qi)體(ti)保(bao)護焊(han)(han)(han)時保(bao)護氣(qi)(qi)體(ti)純度(du)(du)低(di)等(deng)。如果焊(han)(han)(han)縫(feng)中(zhong)存(cun)在著氣(qi)(qi)孔(kong)，既破(po)壞了焊(han)(han)(han)縫(feng)金(jin)屬的(de)(de)致密(mi)(mi)性(xing)，又(you)使得焊(han)(han)(han)縫(feng)有效截面積減少，降低(di)了機械性(xing)能(neng)，特別是(shi)存(cun)鏈(lian)狀氣(qi)(qi)孔(kong)時，對彎(wan)曲(qu)和(he)沖(chong)擊韌性(xing)會(hui)有比較明顯降低(di)。防止這類缺陷產生的(de)(de)措施有：不(bu)使用(yong)藥(yao)皮開裂、剝落(luo)、變質及焊(han)(han)(han)芯銹(xiu)蝕(shi)的(de)(de)焊(han)(han)(han)條，生銹(xiu)的(de)(de)焊(han)(han)(han)絲必(bi)須除(chu)銹(xiu)后才能(neng)使用(yong)。所(suo)用(yong)焊(han)(han)(han)接材料應按規(gui)定(ding)溫度(du)(du)烘(hong)干(gan)，坡口及其(qi)兩側清(qing)理干(gan)凈，并要選用(yong)合適的(de)(de)焊(han)(han)(han)接電(dian)流(liu)、電(dian)弧(hu)電(dian)壓和(he)焊(han)(han)(han)接速度(du)(du)等(deng)。
點狀(zhuang)夾(jia)(jia)渣回波(bo)信號與點狀(zhuang)氣孔(kong)相似，條狀(zhuang)夾(jia)(jia)渣回波(bo)信號多(duo)呈鋸齒(chi)狀(zhuang)波(bo)幅(fu)不(bu)(bu)高，波(bo)形(xing)多(duo)呈樹(shu)枝狀(zhuang)，主峰邊上有(you)小峰，探(tan)頭平移波(bo)幅(fu)有(you)變(bian)動，從各個方向探(tan)測(ce)時(shi)反射波(bo)幅(fu)不(bu)(bu)相同。這類缺(que)陷(xian)產生(sheng)的(de)原因有(you)：焊(han)(han)(han)接電流過小，速度(du)過快，熔渣來(lai)不(bu)(bu)及(ji)浮起，被焊(han)(han)(han)邊緣(yuan)和各層焊(han)(han)(han)縫清理(li)不(bu)(bu)干(gan)凈，其本(ben)金屬(shu)和焊(han)(han)(han)接材料化學(xue)成(cheng)分(fen)不(bu)(bu)當，含硫(liu)、磷較多(duo)等。防(fang)止措施有(you)：正確選(xuan)用焊(han)(han)(han)接電流，焊(han)(han)(han)接件的(de)坡口(kou)(kou)角(jiao)度(du)不(bu)(bu)要(yao)太(tai)小，焊(han)(han)(han)前必須把坡口(kou)(kou)清理(li)干(gan)凈，多(duo)層焊(han)(han)(han)時(shi)必須層層清除焊(han)(han)(han)渣;并合理(li)選(xuan)擇運條角(jiao)度(du)焊(han)(han)(han)接速度(du)等。
反(fan)射率(lv)高，波(bo)(bo)幅也較(jiao)高，探頭平移時，波(bo)(bo)形較(jiao)穩定，在焊(han)(han)縫兩(liang)側探傷(shang)時均能(neng)得到(dao)大(da)致相同的反(fan)射波(bo)(bo)幅。這(zhe)類缺(que)陷不僅降(jiang)低了焊(han)(han)接(jie)接(jie)頭的機械性能(neng)，而且(qie)在未焊(han)(han)透處的缺(que)口(kou)和(he)端(duan)部(bu)形成應力集中點，承(cheng)載后(hou)往(wang)往(wang)會引起裂紋，是一(yi)種危險性缺(que)陷。其(qi)產生(sheng)原因一(yi)般是：坡口(kou)純邊(bian)間隙(xi)太小，焊(han)(han)接(jie)電(dian)流太小或運條速度(du)過快，坡口(kou)角度(du)小，運條角度(du)不對(dui)以及電(dian)弧偏吹等(deng)。防止措(cuo)施有：合理選用坡口(kou)型式、裝(zhuang)配間隙(xi)和(he)采用正確的焊(han)(han)接(jie)工(gong)藝(yi)等(deng)。
探(tan)頭平移時，波形較穩定，兩側探(tan)測時，反射波幅不(bu)同，有(you)時只(zhi)能從(cong)一側探(tan)到(dao)。其產生的(de)原因：坡口(kou)不(bu)干(gan)凈，焊(han)速太快，電(dian)流過(guo)小(xiao)或過(guo)大，焊(han)條角度(du)不(bu)對，電(dian)弧偏吹等。防止措施(shi)：正確(que)選(xuan)用(yong)坡口(kou)和電(dian)流，坡口(kou)清理干(gan)凈，正確(que)操作防止焊(han)偏等。
回波(bo)高(gao)度(du)較大，波(bo)幅寬，會出現(xian)多(duo)峰，探頭平移時(shi)反射波(bo)連續出現(xian)波(bo)幅有(you)變動(dong)，探頭轉時(shi)，波(bo)峰有(you)上(shang)下錯動(dong)現(xian)象。裂紋(wen)(wen)是(shi)一種(zhong)危險(xian)性(xing)最(zui)大的(de)(de)(de)(de)(de)缺陷，它除降(jiang)低焊(han)接(jie)接(jie)頭的(de)(de)(de)(de)(de)強度(du)外，還因裂紋(wen)(wen)的(de)(de)(de)(de)(de)末端呈尖銷(xiao)的(de)(de)(de)(de)(de)缺口，焊(han)件(jian)承載后，引(yin)起應力(li)集中，成為結構斷裂的(de)(de)(de)(de)(de)起源(yuan)。裂紋(wen)(wen)分為熱(re)裂紋(wen)(wen)、冷裂紋(wen)(wen)和(he)再熱(re)裂紋(wen)(wen)三種(zhong)。熱(re)裂紋(wen)(wen)產(chan)生的(de)(de)(de)(de)(de)原因是(shi)：焊(han)接(jie)時(shi)熔池的(de)(de)(de)(de)(de)冷卻(que)速度(du)很快，造成偏析(xi)(xi);焊(han)縫受熱(re)不(bu)均勻產(chan)生拉應力(li)。防止(zhi)措施(shi)：限(xian)制母材(cai)和(he)焊(han)接(jie)材(cai)料中易偏析(xi)(xi)元素和(he)有(you)害雜質(zhi)的(de)(de)(de)(de)(de)含量(liang)(liang)，主要限(xian)制硫(liu)含量(liang)(liang)，提高(gao)錳含量(liang)(liang);提高(gao)焊(han)條或焊(han)劑的(de)(de)(de)(de)(de)堿度(du)，以(yi)降(jiang)低雜質(zhi)含量(liang)(liang)，改(gai)善偏析(xi)(xi)程度(du);改(gai)進(jin)焊(han)接(jie)結構形式，采用合理(li)的(de)(de)(de)(de)(de)焊(han)接(jie)順序，提高(gao)焊(han)縫收縮(suo)時(shi)的(de)(de)(de)(de)(de)自(zi)由(you)度(du)。
探(tan)(tan)傷(shang)儀(yi)(yi)檢(jian)(jian)測這(zhe)里主要(yao)介(jie)(jie)紹的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)是(shi)(shi)應(ying)用最多(duo)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)通(tong)(tong)過(guo)(guo)反(fan)(fan)(fan)(fan)射(she)(she)(she)(she)法來(lai)獲取(qu)物(wu)(wu)(wu)(wu)體(ti)(ti)內(nei)(nei)(nei)部(bu)特(te)(te)性(xing)信(xin)(xin)息的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)方(fang)(fang)法。反(fan)(fan)(fan)(fan)射(she)(she)(she)(she)法是(shi)(shi)基(ji)于(yu)(yu)超(chao)(chao)(chao)聲(sheng)在通(tong)(tong)過(guo)(guo)不(bu)同聲(sheng)阻抗(kang)組(zu)織(zhi)界面(mian)時會(hui)(hui)發生(sheng)(sheng)較強反(fan)(fan)(fan)(fan)射(she)(she)(she)(she)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)原理工作的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)，正如我(wo)們所知道，聲(sheng)波(bo)(bo)在從一(yi)種(zhong)(zhong)介(jie)(jie)質(zhi)(zhi)傳(chuan)播(bo)到(dao)(dao)另(ling)外一(yi)種(zhong)(zhong)介(jie)(jie)質(zhi)(zhi)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)時候在兩者(zhe)之間(jian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)界面(mian)處會(hui)(hui)發生(sheng)(sheng)反(fan)(fan)(fan)(fan)射(she)(she)(she)(she)，而(er)(er)(er)且介(jie)(jie)質(zhi)(zhi)之間(jian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)差別(bie)(bie)越(yue)(yue)大(da)反(fan)(fan)(fan)(fan)射(she)(she)(she)(she)就(jiu)會(hui)(hui)越(yue)(yue)大(da)，所以我(wo)們可(ke)(ke)以對(dui)(dui)一(yi)個物(wu)(wu)(wu)(wu)體(ti)(ti)發射(she)(she)(she)(she)出(chu)(chu)(chu)穿透(tou)力(li)強、能夠(gou)直線傳(chuan)播(bo)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)超(chao)(chao)(chao)聲(sheng)波(bo)(bo)，探(tan)(tan)傷(shang)儀(yi)(yi)然后(hou)(hou)對(dui)(dui)反(fan)(fan)(fan)(fan)射(she)(she)(she)(she)回(hui)(hui)來(lai)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)超(chao)(chao)(chao)聲(sheng)波(bo)(bo)進行接(jie)收(shou)(shou)(shou)并根據這(zhe)些(xie)反(fan)(fan)(fan)(fan)射(she)(she)(she)(she)回(hui)(hui)來(lai)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)超(chao)(chao)(chao)聲(sheng)波(bo)(bo)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)先后(hou)(hou)、幅度等(deng)情(qing)況就(jiu)可(ke)(ke)以判(pan)斷出(chu)(chu)(chu)這(zhe)個組(zu)織(zhi)中含(han)有的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)各種(zhong)(zhong)介(jie)(jie)質(zhi)(zhi)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)大(da)小、分布情(qing)況以及各種(zhong)(zhong)介(jie)(jie)質(zhi)(zhi)之間(jian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)對(dui)(dui)比(bi)(bi)差別(bie)(bie)程度等(deng)信(xin)(xin)息（其(qi)(qi)中反(fan)(fan)(fan)(fan)射(she)(she)(she)(she)回(hui)(hui)來(lai)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)超(chao)(chao)(chao)聲(sheng)波(bo)(bo)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)先后(hou)(hou)可(ke)(ke)以反(fan)(fan)(fan)(fan)映(ying)出(chu)(chu)(chu)反(fan)(fan)(fan)(fan)射(she)(she)(she)(she)界面(mian)離探(tan)(tan)測表(biao)面(mian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)距離，幅度則可(ke)(ke)以反(fan)(fan)(fan)(fan)映(ying)出(chu)(chu)(chu)介(jie)(jie)質(zhi)(zhi)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)大(da)小、對(dui)(dui)比(bi)(bi)差別(bie)(bie)程度等(deng)特(te)(te)性(xing)），探(tan)(tan)傷(shang)儀(yi)(yi)從而(er)(er)(er)判(pan)斷出(chu)(chu)(chu)該被測物(wu)(wu)(wu)(wu)體(ti)(ti)是(shi)(shi)否有異常(chang)。在這(zhe)個過(guo)(guo)程中就(jiu)涉(she)及到(dao)(dao)很多(duo)方(fang)(fang)面(mian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)內(nei)(nei)(nei)容，包(bao)括(kuo)超(chao)(chao)(chao)聲(sheng)波(bo)(bo)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)產生(sheng)(sheng)、接(jie)收(shou)(shou)(shou)、信(xin)(xin)號(hao)(hao)轉換和(he)(he)處理等(deng)。其(qi)(qi)中產生(sheng)(sheng)超(chao)(chao)(chao)聲(sheng)波(bo)(bo)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)方(fang)(fang)法是(shi)(shi)通(tong)(tong)過(guo)(guo)電路產生(sheng)(sheng)激勵電信(xin)(xin)號(hao)(hao)傳(chuan)給具(ju)有壓(ya)電效應(ying)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)晶體(ti)(ti)（比(bi)(bi)如石英、硫酸鋰等(deng)），使其(qi)(qi)振動從而(er)(er)(er)產生(sheng)(sheng)超(chao)(chao)(chao)聲(sheng)波(bo)(bo)；而(er)(er)(er)接(jie)收(shou)(shou)(shou)反(fan)(fan)(fan)(fan)射(she)(she)(she)(she)回(hui)(hui)來(lai)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)超(chao)(chao)(chao)聲(sheng)波(bo)(bo)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)時候，這(zhe)個壓(ya)電晶體(ti)(ti)又會(hui)(hui)受到(dao)(dao)反(fan)(fan)(fan)(fan)射(she)(she)(she)(she)回(hui)(hui)來(lai)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)聲(sheng)波(bo)(bo)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)壓(ya)力(li)而(er)(er)(er)產生(sheng)(sheng)電信(xin)(xin)號(hao)(hao)并傳(chuan)送給信(xin)(xin)號(hao)(hao)處理電路進行一(yi)系(xi)列(lie)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)處理，探(tan)(tan)傷(shang)儀(yi)(yi)最后(hou)(hou)形(xing)成(cheng)(cheng)圖(tu)(tu)(tu)(tu)像(xiang)供(gong)人們觀(guan)(guan)察(cha)判(pan)斷。這(zhe)里根據圖(tu)(tu)(tu)(tu)像(xiang)處理方(fang)(fang)法（也(ye)(ye)就(jiu)是(shi)(shi)將(jiang)(jiang)得到(dao)(dao)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)信(xin)(xin)號(hao)(hao)轉換成(cheng)(cheng)什么形(xing)式的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)圖(tu)(tu)(tu)(tu)像(xiang)）的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)種(zhong)(zhong)類又可(ke)(ke)以分為(wei)A型顯(xian)(xian)(xian)(xian)示(shi)(shi)、M型顯(xian)(xian)(xian)(xian)示(shi)(shi)、B型顯(xian)(xian)(xian)(xian)示(shi)(shi)、C型顯(xian)(xian)(xian)(xian)示(shi)(shi)、F型顯(xian)(xian)(xian)(xian)示(shi)(shi)等(deng)。其(qi)(qi)中A型顯(xian)(xian)(xian)(xian)示(shi)(shi)是(shi)(shi)將(jiang)(jiang)接(jie)收(shou)(shou)(shou)到(dao)(dao)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)超(chao)(chao)(chao)聲(sheng)信(xin)(xin)號(hao)(hao)處理成(cheng)(cheng)波(bo)(bo)形(xing)圖(tu)(tu)(tu)(tu)像(xiang)，根據波(bo)(bo)形(xing)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)形(xing)狀可(ke)(ke)以看出(chu)(chu)(chu)被測物(wu)(wu)(wu)(wu)體(ti)(ti)里面(mian)是(shi)(shi)否有異常(chang)和(he)(he)缺陷在那里、有多(duo)大(da)等(deng)，探(tan)(tan)傷(shang)儀(yi)(yi)主要(yao)用于(yu)(yu)工業檢(jian)(jian)測；M型顯(xian)(xian)(xian)(xian)示(shi)(shi)是(shi)(shi)將(jiang)(jiang)一(yi)條經過(guo)(guo)輝度處理的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)探(tan)(tan)測信(xin)(xin)息按時間(jian)順序展(zhan)開形(xing)成(cheng)(cheng)一(yi)維(wei)(wei)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)"空(kong)間(jian)多(duo)點運(yun)動時序圖(tu)(tu)(tu)(tu)"，適于(yu)(yu)觀(guan)(guan)察(cha)內(nei)(nei)(nei)部(bu)處于(yu)(yu)運(yun)動狀態的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)物(wu)(wu)(wu)(wu)體(ti)(ti)，探(tan)(tan)傷(shang)儀(yi)(yi)如運(yun)動的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)臟器、動脈血管等(deng)；B型顯(xian)(xian)(xian)(xian)示(shi)(shi)是(shi)(shi)將(jiang)(jiang)并排很多(duo)條經過(guo)(guo)輝度處理的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)探(tan)(tan)測信(xin)(xin)息組(zu)合成(cheng)(cheng)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)二維(wei)(wei)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)、反(fan)(fan)(fan)(fan)映(ying)出(chu)(chu)(chu)被測物(wu)(wu)(wu)(wu)體(ti)(ti)內(nei)(nei)(nei)部(bu)斷層切面(mian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)"解(jie)剖圖(tu)(tu)(tu)(tu)像(xiang)"（醫院里使用的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)B超(chao)(chao)(chao)就(jiu)是(shi)(shi)用這(zhe)種(zhong)(zhong)原理做出(chu)(chu)(chu)來(lai)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)），探(tan)(tan)傷(shang)儀(yi)(yi)適于(yu)(yu)觀(guan)(guan)察(cha)內(nei)(nei)(nei)部(bu)處于(yu)(yu)靜(jing)態的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)物(wu)(wu)(wu)(wu)體(ti)(ti)；而(er)(er)(er)C型顯(xian)(xian)(xian)(xian)示(shi)(shi)、F型顯(xian)(xian)(xian)(xian)示(shi)(shi)用得比(bi)(bi)較少。探(tan)(tan)傷(shang)儀(yi)(yi)檢(jian)(jian)測不(bu)但可(ke)(ke)以做到(dao)(dao)非常(chang)準確，而(er)(er)(er)且相對(dui)(dui)其(qi)(qi)他(ta)檢(jian)(jian)測方(fang)(fang)法來(lai)說更(geng)為(wei)方(fang)(fang)便、快捷，也(ye)(ye)不(bu)會(hui)(hui)對(dui)(dui)檢(jian)(jian)測對(dui)(dui)象和(he)(he)操作者(zhe)產生(sheng)(sheng)危害，所以受到(dao)(dao)了(le)人們越(yue)(yue)來(lai)越(yue)(yue)普遍的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)歡迎，有著非常(chang)廣闊的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)發展(zhan)前(qian)景。
探(tan)(tan)(tan)傷儀的(de)(de)(de)應(ying)用(yong)(yong)(yong)有(you)很廣泛，比如用(yong)(yong)(yong)超聲(sheng)的(de)(de)(de)反(fan)射來測(ce)(ce)量距離(li)，利(li)用(yong)(yong)(yong)大功率(lv)超聲(sheng)的(de)(de)(de)振動來清除附著在(zai)鍋爐上(shang)(shang)面的(de)(de)(de)水垢，利(li)用(yong)(yong)(yong)高能超聲(sheng)做成"超聲(sheng)刀"來消滅、擊(ji)碎人體內的(de)(de)(de)癌變、結石(shi)等(deng)，探(tan)(tan)(tan)傷儀而利(li)用(yong)(yong)(yong)超聲(sheng)的(de)(de)(de)反(fan)射等(deng)效應(ying)和(he)(he)穿透(tou)力強、能夠直線傳播等(deng)的(de)(de)(de)特性來進行檢測(ce)(ce)也是其中(zhong)一個很大的(de)(de)(de)應(ying)用(yong)(yong)(yong)領(ling)域(yu)。探(tan)(tan)(tan)傷儀的(de)(de)(de)檢測(ce)(ce)應(ying)用(yong)(yong)(yong)主要(yao)包括(kuo)在(zai)工(gong)業上(shang)(shang)對各種材料的(de)(de)(de)檢測(ce)(ce)和(he)(he)在(zai)醫療上(shang)(shang)對人體的(de)(de)(de)檢測(ce)(ce)診斷，通(tong)過(guo)它(ta)人們可(ke)以(yi)探(tan)(tan)(tan)測(ce)(ce)出(chu)金屬(shu)等(deng)工(gong)業材料中(zhong)有(you)沒有(you)氣泡、傷痕、裂縫(feng)等(deng)缺陷，可(ke)以(yi)檢測(ce)(ce)出(chu)人們身體的(de)(de)(de)軟組織、血流等(deng)是否(fou)正常。
粉探(tan)傷儀適用于零(ling)件(jian)表面的(de)探(tan)傷，主(zhu)要適用于濕(shi)磁粉法檢測(ce)(ce)曲軸(zhou)、凸輪(lun)軸(zhou)、花鍵(jian)軸(zhou)等(deng)各種中小型零(ling)件(jian)的(de)表面及(ji)近(jin)表面因鑄造(zao)、淬火、加(jia)工、疲勞等(deng)原因引(yin)起的(de)裂紋及(ji)細(xi)微缺陷(xian)，是(shi)單件(jian)檢測(ce)(ce)，小批抽(chou)檢，大批量檢測(ce)(ce)的(de)首(shou)選機(ji)型。
輕小，可以到現場(chang)探(tan)(tan)傷(shang)(shang)乃至高(gao)(gao)空進(jin)行探(tan)(tan)傷(shang)(shang)作業。包(bao)括(kuo)對(dui)大(da)型(xing)零(ling)部(bu)件進(jin)行局部(bu)磁化(hua)探(tan)(tan)傷(shang)(shang)。特別適用(yong)于平焊(han)(han)縫、角焊(han)(han)縫、壓(ya)力容器、管道及形狀(zhuang)復雜零(ling)部(bu)件的(de)探(tan)(tan)傷(shang)(shang)。對(dui)不(bu)允許(xu)高(gao)(gao)電壓(ya)進(jin)入(ru)設備(bei)內探(tan)(tan)傷(shang)(shang)的(de)場(chang)合更為適合。
磁粉探(tan)傷(shang)(shang)儀(yi)只能對大型工件(jian)分段探(tan)傷(shang)(shang)，不能一次性(xing)檢測出全方位的裂(lie)紋，所(suo)以其探(tan)傷(shang)(shang)效率較低(di)。
該設(she)備操(cao)作(zuo)(zuo)簡便，工作(zuo)(zuo)效率高，采用工業PLC控制，既可手(shou)動(dong)單步操(cao)作(zuo)(zuo)，亦可自(zi)(zi)動(dong)循環工作(zuo)(zuo)，周(zhou)、縱向電流(liu)分別可調，具(ju)有(you)斷電相位控制功能。可分別進行周(zhou)向、縱向、復(fu)合磁化。工件可以轉動(dong)，檢(jian)測時(shi)機器(qi)可按工藝要(yao)求(qiu)設(she)定的程序(xu)自(zi)(zi)動(dong)完成除上下料(liao)及觀(guan)察外（如(ru)夾緊、噴(pen)液(ye)、磁化、退磁、轉動(dong)等(deng)等(deng)）的自(zi)(zi)動(dong)化工作(zuo)(zuo)。
1、周向磁化電(dian)(dian)流：AC0－4000A連(lian)續可(ke)調駛(shi)帶斷(duan)電(dian)(dian)相位控制；
2、縱向磁化電流：DC0－20000AT連續(xu)可(ke)調帶(dai)斷電相位(wei)控制；
3、退磁(ci)磁(ci)勢：AC20000－0AT連續可調自(zi)動衰減；
4、退(tui)磁效(xiao)果：≤0.2mT；
5、夾緊方式：氣(qi)動(dong)(dong)或電動(dong)(dong)夾緊；
6、電極間距：0－1000mm由夾具確定；
7、夾緊行程：0－50mm；
8、夾頭(tou)轉速：10rpm；
（1）超聲波探傷儀PD-F1儀器特點：
高(gao)分辨(bian)率TFTLCD，獨(du)特的遮陽設計，符合(he)人(ren)體工程(cheng)學(xue)。
采用高(gao)端ARM處理器，系統(tong)響(xiang)應速(su)度快，實時(shi)性好。
采用性能先進的前(qian)置放大(da)器，大(da)大(da)減小檢測盲區(qu)。
簡潔易用的人機交(jiao)互，儀器操控性強。
高達4GB海量存儲(chu)，能夠(gou)進(jin)行長時間的探傷波形動態記錄，存儲(chu)大量波形信(xin)息。
具有(you)豐富的通信(xin)接口，強大的數據(ju)備份和數據(ju)轉儲(chu)能(neng)力。
防水等級IP64。
鍵盤背光功能。
探頭(tou)接口采用(yong)瑞士(shi)原裝進口的(de)LEMO接頭(tou)，美觀(guan)大方，耐用(yong)性好。
增(zeng)加Ethernet網口，可接入以太網。
增加了大量的操作提(ti)示信(xin)息，人機交(jiao)互界面更(geng)加友好。
用戶可根據自己喜好來選(xuan)擇不同的(de)屏幕顏(yan)色。
內置AWS、API5UE等(deng)多種標準(zhun)。
（2）超聲波探傷儀主要性能指標：
探(tan)測(ce)范(fan)圍(wei)：(0~9999)mm
工作頻率：(0.25~20)MHz
各頻段(duan)等效(xiao)輸入噪聲：<15%
發射脈沖(chong)(chong)：負脈沖(chong)(chong)s
能量可選(xuan)擇，適用探頭(tou)范圍廣。
脈沖寬度在(0.1~0.5)μs范圍內連(lian)續調(diao)節，以匹配不同頻率的探頭(tou)。
脈沖幅度(du)：低（300伏(fu)）、中（500伏(fu)）、高（700伏(fu)）分級(ji)選(xuan)擇，適(shi)用(yong)探頭范圍廣。
脈沖寬度：在（0.1~0.5）μs范(fan)圍(wei)內連續調節，以匹配不同(tong)頻率的探頭。
超聲波(bo)探(tan)傷儀探(tan)頭阻(zu)尼：50Ω，150Ω、300Ω、400Ω可選(xuan)，滿足靈敏度(du)及分辨率的不同工作。
動態范圍：≥36dB
數字抑制：(0~80)%，不影(ying)響線(xian)性(xing)與增益。
垂直線性誤差：≤2.6%。
水平線(xian)性誤差：≤0.1%。
分(fen)辨(bian)力：>38dB。
靈敏度余量：60dB。
電(dian)噪聲電(dian)平(ping)：≤10%。
濾波頻帶：（0.25~20）MHz，根(gen)據探(tan)頭(tou)頻率全(quan)自動(dong)匹配(pei)，無需手動(dong)設置。
探傷通道：200組探傷工作通道。
探頭(tou)接(jie)口：LEMO接(jie)口，ERA.1S。
探(tan)頭(tou)(tou)類型(xing)：直探(tan)頭(tou)(tou)、斜探(tan)頭(tou)(tou)、雙晶探(tan)頭(tou)(tou)、穿透探(tan)頭(tou)(tou)。
報警：蜂(feng)鳴器(qi)報警，鍵(jian)盤背光燈(deng)報警。
電源：直流（DC）9V；鋰(li)電池連續工作6~8小時(shi)以上。
外型尺寸：220×156×58(mm)結構待定。
環境溫度：(-10~50)℃。
相(xiang)對濕度：(20~95)%RH。
注(zhu)：以上指(zhi)標是在探頭頻率為(wei)2.5MHz、檢波方式為(wei)全波的(de)(de)情況下所測得的(de)(de)。
（3）超聲波探傷儀PD-F1主要功能參數：
數據采集：
硬件實時(shi)采樣：10位AD轉換(huan)器，采樣速度125MHz，波形高(gao)度保真。
檢(jian)波方式：正(zheng)半波、負半波、全波、射頻(pin)檢(jian)波。
閘(zha)門(men)(men)(men)讀(du)數：單閘(zha)門(men)(men)(men)和雙閘(zha)門(men)(men)(men)讀(du)數方式可(ke)選(xuan)；閘(zha)門(men)(men)(men)內峰值讀(du)數、邊(bian)緣檢(jian)測可(ke)選(xuan)。
增(zeng)益：0-110dB，最小增(zeng)益調節量0.1dB，獨特的全(quan)自動增(zeng)益調節及掃查增(zeng)益功能(neng)。
超聲波探傷儀探傷功能
波(bo)峰記憶：實時檢索缺陷最高波(bo)，記錄缺陷最大(da)值。
Φ值計(ji)算：直探頭(tou)鍛件探傷找準缺陷最高波后(hou)自動計(ji)算、顯示缺陷當量尺(chi)寸。
缺(que)陷定位：實時顯(xian)示缺(que)陷水平(ping)、深度（垂(chui)直(zhi)）、聲程位置。
缺(que)陷定量(liang)：缺(que)陷當量(liang)dB值(zhi)實時顯(xian)示；
缺(que)陷定性(xing)：通(tong)過(guo)回波(bo)包絡波(bo)形，方(fang)便人工經驗判(pan)斷；
探頭頻率(lv)檢測：通過(guo)抓取回波(bo)，準(zhun)確檢測出探頭的中心頻率(lv)，500mm范圍內(nei)任意(yi)波(bo)幅回波(bo)，一鍵輕松完(wan)成檢測；
曲(qu)面(mian)修(xiu)正：修(xiu)正斜探頭圓管檢測時的深(shen)度和水平距(ju)離；
超聲波探傷儀修正模式：內弧/外弧；
DAC/AVG：曲(qu)線(xian)自動(dong)(dong)(dong)(dong)生成，取(qu)樣(yang)點(dian)不受限制，并可進行(xing)補償與修正(zheng)。曲(qu)線(xian)隨(sui)(sui)增益自動(dong)(dong)(dong)(dong)浮動(dong)(dong)(dong)(dong)、隨(sui)(sui)聲程自動(dong)(dong)(dong)(dong)擴展、隨(sui)(sui)延(yan)時自動(dong)(dong)(dong)(dong)移動(dong)(dong)(dong)(dong)。能顯示任(ren)意孔徑的(de)AVG曲(qu)線(xian)。
裂紋(wen)測高：利用端點(dian)衍射波自動測量、計算裂紋(wen)高度。
B型(xing)掃描：采用(yong)定時(shi)掃描方式(shi)形(xing)成B型(xing)圖(tu)像。
門內展寬：放大(da)回波(bo)細節，便(bian)于回波(bo)分析。
動態記錄：檢測實時動態記錄、存儲、回(hui)放(fang)波形(xing)，每(mei)段記錄可達(da)8分鐘(zhong)。
波(bo)形凍結：凍結屏幕上顯示的波(bo)形，便于缺(que)陷分(fen)析(xi)。
焊(han)縫(feng)圖示(shi)：顯(xian)示(shi)焊(han)縫(feng)坡口形式和聲束走(zou)向，直觀顯(xian)示(shi)缺陷位置。
內置(zhi)標準(zhun)：可自由(you)設置(zhi)各(ge)行業(ye)探傷工(gong)藝標準(zhun)。
回波(bo)編碼：輸入工件厚度，儀器(qi)根據一次(ci)波(bo)、二次(ci)波(bo)及多次(ci)波(bo)的(de)(de)區域能(neng)生成不同的(de)(de)背景(jing)色(se)彩(cai)。
工作方(fang)式：直探頭(tou)、斜(xie)探頭(tou)、雙晶(jing)探頭(tou)、穿透探傷。
閘(zha)門(men)(men)報(bao)警：門(men)(men)位、門(men)(men)寬、門(men)(men)高(gao)任意可調；B閘(zha)門(men)(men)可選擇(ze)設置(zhi)進波報(bao)警或失波報(bao)警；數據存儲：200組探傷(shang)(shang)參(can)數通道(dao)，可預先調校好(hao)各類探頭和(he)儀器的組合(he)參(can)數，自(zi)由設置(zhi)各行業探傷(shang)(shang)標(biao)準；可存儲10000幅探傷(shang)(shang)回(hui)波信號及參(can)數，實現(xian)存儲、讀出及通過USB接口傳(chuan)輸。
實時時鐘：實時探傷日期、時間的(de)跟蹤記(ji)錄，并(bing)記(ji)錄存儲。
通(tong)訊接口(kou)：USB主機接口(kou)和從(cong)機接口(kou)，既能(neng)與PC機通(tong)信，又(you)能(neng)方便(bian)地訪問U盤。藍(lan)牙無線通(tong)信模塊。
電池(chi)模塊(kuai)：高容(rong)量鋰電池(chi)模塊(kuai)，在線充電和脫機充電兩種充電方(fang)式，方(fang)便探(tan)傷。
醫用超聲波探傷儀
超聲(sheng)波(bo)探傷(shang)儀工作原(yuan)理(li)與聲(sheng)納有一定的(de)相(xiang)似性，即將超聲(sheng)波(bo)發射到(dao)人體內(nei)，當它在體內(nei)遇到(dao)界(jie)面時會發生反射及折(zhe)射，并且在人體組織(zhi)(zhi)中可能被吸(xi)收而衰減。因為(wei)人體各種組織(zhi)(zhi)的(de)形態(tai)與結構是不(bu)(bu)相(xiang)同的(de)，因此其反射與折(zhe)射以及吸(xi)收超聲(sheng)波(bo)的(de)程度(du)也就不(bu)(bu)同，醫生們正是通過儀器(qi)所反映出的(de)波(bo)型(xing)(xing)、曲線，或影象的(de)特征來辨(bian)別它們。此外再結合解剖學知識、正常與病理(li)的(de)改變，便可診斷所檢查的(de)器(qi)官是否有病。醫生們應用的(de)超聲(sheng)診斷方法有不(bu)(bu)同的(de)形式，可分(fen)為(wei)A型(xing)(xing)、B型(xing)(xing)、M型(xing)(xing)及D型(xing)(xing)四(si)大類:
A型：是(shi)以波形來顯(xian)示組(zu)織(zhi)特征的(de)方法，主(zhu)要用(yong)于測量器官的(de)徑線，以判定其大(da)小。可用(yong)來鑒別病(bing)變組(zu)織(zhi)的(de)一些物理特性(xing)，如(ru)實(shi)質性(xing)、液體或是(shi)氣(qi)體是(shi)否(fou)存在(zai)等(deng)。
B型(xing)：用(yong)平(ping)面圖形的形式來(lai)顯(xian)示被探查組(zu)織的具體情況。檢查時，將人(ren)體界面的反射信號轉變為強弱(ruo)不同的光點(dian)，這(zhe)(zhe)些光點(dian)可通(tong)過熒光屏顯(xian)現(xian)出(chu)來(lai)，這(zhe)(zhe)種方法直觀性好(hao)，重復性強，可供前后對比(bi)，所以廣泛用(yong)于婦(fu)產科、泌尿、消化及心血管等系統疾病(bing)的診斷(duan)。
M型：是用(yong)(yong)于觀察活(huo)動(dong)(dong)(dong)界面時間變(bian)化(hua)的(de)(de)一種(zhong)方法。最(zui)適用(yong)(yong)于檢查心臟(zang)的(de)(de)活(huo)動(dong)(dong)(dong)情(qing)況，其曲線的(de)(de)動(dong)(dong)(dong)態(tai)改變(bian)稱為超聲心動(dong)(dong)(dong)圖，可以用(yong)(yong)來觀察心臟(zang)各層(ceng)結構的(de)(de)位(wei)置、活(huo)動(dong)(dong)(dong)狀態(tai)、結構的(de)(de)狀況等(deng)，多用(yong)(yong)于輔助心臟(zang)及大血管疫病(bing)的(de)(de)診(zhen)斷。
D型(xing)：是專門用來(lai)檢(jian)測血液(ye)流(liu)動和器官活動的(de)(de)一(yi)種(zhong)超聲(sheng)(sheng)診斷(duan)方法(fa)，又(you)稱為多普(pu)勒超聲(sheng)(sheng)診斷(duan)法(fa)。可(ke)確(que)定血管是否通暢、管腔有(you)否狹窄、閉塞以及(ji)病變部位。新一(yi)代(dai)的(de)(de)D型(xing)超聲(sheng)(sheng)波(bo)還(huan)(huan)能定量(liang)地(di)測定管腔內血液(ye)的(de)(de)流(liu)量(liang)。科(ke)學家又(you)發展了彩色編碼(ma)多普(pu)勒系統，可(ke)在超聲(sheng)(sheng)心動圖解剖標志的(de)(de)指示(shi)下，以不同顏色顯示(shi)血流(liu)的(de)(de)方向，色澤(ze)的(de)(de)深淺(qian)代(dai)表血流(liu)的(de)(de)流(liu)速。還(huan)(huan)有(you)立體超聲(sheng)(sheng)顯象、超聲(sheng)(sheng)CT、超聲(sheng)(sheng)內窺鏡等超聲(sheng)(sheng)技術(shu)不斷(duan)涌現(xian)出來(lai)，并且還(huan)(huan)可(ke)以與其他檢(jian)查儀(yi)器結(jie)合使用，使疾病的(de)(de)診斷(duan)準(zhun)確(que)率大(da)大(da)提高。超聲(sheng)(sheng)波(bo)技術(shu)正在醫(yi)學界發揮著巨大(da)的(de)(de)作(zuo)用，隨(sui)著科(ke)學的(de)(de)進步，它將(jiang)更(geng)加完善，將(jiang)更(geng)好地(di)造(zao)福(fu)于(yu)人(ren)類。
主要用于探測機加(jia)工件(jian)內部有(you)無缺陷（裂(lie)紋、砂眼(yan)、氣孔(kong)、白點、夾雜等），焊縫是否(fou)合格，查找有(you)無暗傷(shang)，從(cong)而判定工件(jian)合格與(yu)否(fou)。
全數字
真(zhen)彩顯示器(qi)：五(wu)種顏(yan)色(se)可選、亮度可調
高(gao)性能鋰電池，連續工作7小時
與計(ji)算機通訊，可自動生成探傷報(bao)告
實時顯示SL、EL、GL、RL定(ding)量(liang)值(zhi)
自動(dong)校準：自動(dong)測試“探(tan)頭零點”、“K值(zhi)”、“前(qian)沿”及“材料(liao)聲速”；
自動顯(xian)示缺(que)陷回波(bo)(bo)位置（深度d、水平(ping)p、距離s、波(bo)(bo)幅(fu)、當量dB、孔徑(jing)ф值）；
自由(you)切換(huan)三種標(biao)尺(chi)（深(shen)度d、水平p、距離s），滿足不同的(de)探傷標(biao)準要(yao)求和探傷工程師的(de)標(biao)尺(chi)使用習慣(guan)；
自動增(zeng)益：自動將波形調至屏高的80%，大大提(ti)高了探傷效率；
自動錄制探傷過程并可以(yi)進行動態回放；
自(zi)動(dong)φ值(zhi)計算(suan)：直探(tan)頭(tou)鍛件探(tan)傷，找準缺陷(xian)最高波自(zi)動(dong)換算(suan)孔徑ф值(zhi)；
自動DAC、AVG曲線自動生成并可以分段制作，取樣點不受限制，并可進行修正與補償，滿足任意探傷標準；阻尼自動。
硬(ying)件實時采樣(yang)：150MHz，波形高度保真
閘(zha)門信號(hao)：單閘(zha)門、雙閘(zha)門，峰值或邊緣讀數
增益(yi)調(diao)(diao)(diao)節(jie)：手動調(diao)(diao)(diao)節(jie)110dB（0.2dB、0.5dB、1dB、2dB、6dB、12dB步進）或自動調(diao)(diao)(diao)節(jie)至屏高的(de)80%
曲線包絡和(he)波(bo)峰記(ji)憶：實時檢索并記(ji)錄缺陷最高波(bo)
φ值計算(suan)：直探頭鍛件探傷找準缺陷最高波自動換算(suan)
動態錄(lu)制(zhi)：實時動態錄(lu)制(zhi)波形，并(bing)可存儲、回放
缺陷定位：實時顯(xian)示水(shui)平值L、深(shen)度值H、聲程(cheng)值S
缺陷(xian)定量：實時(shi)顯(xian)示SL、EL、GL、RL定量值
實時顯示孔狀缺陷(xian)Φ值(zhi)
缺陷定性(xing)：通過波形，人工(gong)經驗判(pan)斷
曲(qu)面(mian)修(xiu)正(zheng)(zheng)：曲(qu)面(mian)工件探傷，修(xiu)正(zheng)(zheng)曲(qu)率換算
B型掃描(miao)：實時(shi)掃查，描(miao)述缺(que)陷橫(heng)切面
閘門(men)報警：進波報警、失波報警
DAC報警：自由設(she)置SL、EL、GL、RL報警
五大(da)常規(gui)方法(fa)是指射線(xian)探(tan)傷(shang)法(fa)、超聲波探(tan)傷(shang)法(fa)、磁粉探(tan)傷(shang)法(fa)、渦流探(tan)傷(shang)法(fa)和滲(shen)透探(tan)傷(shang)法(fa)。
射(she)(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)探(tan)傷(shang)(shang)(shang)(shang)是(shi)利(li)用(yong)射(she)(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)的(de)(de)(de)(de)穿(chuan)透(tou)(tou)(tou)性和直線(xian)(xian)(xian)(xian)性來探(tan)傷(shang)(shang)(shang)(shang)的(de)(de)(de)(de)方法。這些(xie)射(she)(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)雖然不會像可(ke)見光(guang)那樣憑(ping)肉眼就(jiu)(jiu)能(neng)直接察(cha)知，但它(ta)可(ke)使照(zhao)(zhao)相底(di)(di)片感(gan)(gan)(gan)光(guang)，也可(ke)用(yong)特殊的(de)(de)(de)(de)接收(shou)(shou)器來接收(shou)(shou)。常用(yong)于(yu)探(tan)傷(shang)(shang)(shang)(shang)的(de)(de)(de)(de)射(she)(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)有(you)(you)x光(guang)和同位素發(fa)出(chu)的(de)(de)(de)(de)γ射(she)(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)，分別稱為x光(guang)探(tan)傷(shang)(shang)(shang)(shang)和γ射(she)(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)探(tan)傷(shang)(shang)(shang)(shang)。當這些(xie)射(she)(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)穿(chuan)過(guo)(guo)（照(zhao)(zhao)射(she)(she)(she)(she)(she)(she)(she)）物質(zhi)(zhi)(zhi)(zhi)時，該物質(zhi)(zhi)(zhi)(zhi)的(de)(de)(de)(de)密(mi)度越大(da)(da)，射(she)(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)強(qiang)度減弱得(de)越多，即射(she)(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)能(neng)穿(chuan)透(tou)(tou)(tou)過(guo)(guo)該物質(zhi)(zhi)(zhi)(zhi)的(de)(de)(de)(de)強(qiang)度就(jiu)(jiu)越小。此時，若(ruo)用(yong)照(zhao)(zhao)相底(di)(di)片接收(shou)(shou)，則(ze)底(di)(di)片的(de)(de)(de)(de)感(gan)(gan)(gan)光(guang)量就(jiu)(jiu)小；若(ruo)用(yong)儀器來接收(shou)(shou)，獲得(de)的(de)(de)(de)(de)信號就(jiu)(jiu)弱。因此，用(yong)射(she)(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)來照(zhao)(zhao)射(she)(she)(she)(she)(she)(she)(she)待探(tan)傷(shang)(shang)(shang)(shang)的(de)(de)(de)(de)零部件時，若(ruo)其(qi)內部有(you)(you)氣(qi)孔(kong)、夾渣(zha)(zha)等缺(que)(que)(que)陷(xian)，射(she)(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)穿(chuan)過(guo)(guo)有(you)(you)缺(que)(que)(que)陷(xian)的(de)(de)(de)(de)路徑比沒有(you)(you)缺(que)(que)(que)陷(xian)的(de)(de)(de)(de)路徑所透(tou)(tou)(tou)過(guo)(guo)的(de)(de)(de)(de)物質(zhi)(zhi)(zhi)(zhi)密(mi)度要小得(de)多，其(qi)強(qiang)度就(jiu)(jiu)減弱得(de)少些(xie)，即透(tou)(tou)(tou)過(guo)(guo)的(de)(de)(de)(de)強(qiang)度就(jiu)(jiu)大(da)(da)些(xie)，若(ruo)用(yong)底(di)(di)片接收(shou)(shou)，則(ze)感(gan)(gan)(gan)光(guang)量就(jiu)(jiu)大(da)(da)些(xie)，就(jiu)(jiu)可(ke)以(yi)從底(di)(di)片上反(fan)映(ying)(ying)出(chu)缺(que)(que)(que)陷(xian)垂直于(yu)射(she)(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)方向的(de)(de)(de)(de)平面投影(ying)；若(ruo)用(yong)其(qi)它(ta)接收(shou)(shou)器也同樣可(ke)以(yi)用(yong)儀表來反(fan)映(ying)(ying)缺(que)(que)(que)陷(xian)垂直于(yu)射(she)(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)方向的(de)(de)(de)(de)平面投影(ying)和射(she)(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)的(de)(de)(de)(de)透(tou)(tou)(tou)過(guo)(guo)量。由此可(ke)見，一般情(qing)況下，射(she)(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)探(tan)傷(shang)(shang)(shang)(shang)是(shi)不易發(fa)現裂紋(wen)的(de)(de)(de)(de)，或者說，射(she)(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)探(tan)傷(shang)(shang)(shang)(shang)對裂紋(wen)是(shi)不敏感(gan)(gan)(gan)的(de)(de)(de)(de)。因此，射(she)(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)探(tan)傷(shang)(shang)(shang)(shang)對氣(qi)孔(kong)、夾渣(zha)(zha)、未(wei)焊透(tou)(tou)(tou)等體積型缺(que)(que)(que)陷(xian)最敏感(gan)(gan)(gan)。即射(she)(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)探(tan)傷(shang)(shang)(shang)(shang)適宜用(yong)于(yu)體積型缺(que)(que)(que)陷(xian)探(tan)傷(shang)(shang)(shang)(shang)，而不適宜面積型缺(que)(que)(que)陷(xian)探(tan)傷(shang)(shang)(shang)(shang)。
人們的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)耳朵能(neng)直接(jie)接(jie)收(shou)到的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)聲(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)頻率范(fan)圍通常(chang)是(shi)20Hz到20kHz，即音（聲(sheng)(sheng)(sheng)）頻。頻率低于(yu)20Hz的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)稱(cheng)為次聲(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)，高(gao)于(yu)20kHz的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)稱(cheng)為超(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)。工業上常(chang)用(yong)(yong)數兆赫茲超(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)來探(tan)(tan)傷(shang)。超(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)頻率高(gao)，則傳(chuan)(chuan)播的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)直線性強，又易于(yu)在固體中傳(chuan)(chuan)播，并且遇到兩種不同(tong)介質(zhi)形成的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)界面(mian)(mian)(mian)(mian)時易于(yu)反(fan)(fan)射(she)(she)(she)，這樣就(jiu)(jiu)可以用(yong)(yong)它來探(tan)(tan)傷(shang)。通常(chang)用(yong)(yong)超(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)探(tan)(tan)頭與待(dai)探(tan)(tan)工件表面(mian)(mian)(mian)(mian)良好的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)接(jie)觸，探(tan)(tan)頭則可有效(xiao)地(di)向工件發射(she)(she)(she)超(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)，并能(neng)接(jie)收(shou)（缺(que)(que)陷）界面(mian)(mian)(mian)(mian)反(fan)(fan)射(she)(she)(she)來的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)超(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)，同(tong)時轉換成電(dian)信號，再(zai)傳(chuan)(chuan)輸給儀器(qi)進行處理(li)。根(gen)據超(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)在介質(zhi)中傳(chuan)(chuan)播的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)速度（常(chang)稱(cheng)聲(sheng)(sheng)(sheng)速）和傳(chuan)(chuan)播的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)時間，就(jiu)(jiu)可知道缺(que)(que)陷的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)位置。當(dang)缺(que)(que)陷越(yue)(yue)大(da)，反(fan)(fan)射(she)(she)(she)面(mian)(mian)(mian)(mian)則越(yue)(yue)大(da)，其(qi)反(fan)(fan)射(she)(she)(she)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)能(neng)量(liang)也就(jiu)(jiu)越(yue)(yue)大(da)，故可根(gen)據反(fan)(fan)射(she)(she)(she)能(neng)量(liang)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)大(da)小來查知各缺(que)(que)陷（當(dang)量(liang)）的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)大(da)小。常(chang)用(yong)(yong)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)探(tan)(tan)傷(shang)波(bo)(bo)形有縱波(bo)(bo)、橫波(bo)(bo)、表面(mian)(mian)(mian)(mian)波(bo)(bo)等，前二者適用(yong)(yong)于(yu)探(tan)(tan)測內部缺(que)(que)陷，后者適宜于(yu)探(tan)(tan)測表面(mian)(mian)(mian)(mian)缺(que)(que)陷，但對(dui)表面(mian)(mian)(mian)(mian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)條(tiao)件要求高(gao)。
磁(ci)(ci)粉探(tan)傷是建立在漏磁(ci)(ci)原理基礎(chu)上(shang)的(de)一(yi)種(zhong)磁(ci)(ci)力探(tan)傷方(fang)法。當磁(ci)(ci)力線穿過(guo)鐵(tie)磁(ci)(ci)材料(liao)及其制(zhi)品(pin)時，在其（磁(ci)(ci)性(xing)）不連續處將產生(sheng)漏磁(ci)(ci)場，形成(cheng)磁(ci)(ci)極(ji)。此(ci)時撒上(shang)干磁(ci)(ci)粉或澆上(shang)磁(ci)(ci)懸液，磁(ci)(ci)極(ji)就會吸附磁(ci)(ci)粉，產生(sheng)用(yong)(yong)肉眼能(neng)直接觀(guan)察的(de)明顯磁(ci)(ci)痕(hen)。因此(ci)，可(ke)(ke)借助于該磁(ci)(ci)痕(hen)來(lai)顯示(shi)鐵(tie)磁(ci)(ci)材料(liao)及其制(zhi)品(pin)的(de)缺(que)陷情(qing)況。磁(ci)(ci)粉探(tan)傷法可(ke)(ke)探(tan)測露(lu)出表(biao)(biao)面(mian)，用(yong)(yong)肉眼或借助于放大鏡也(ye)不能(neng)直接觀(guan)察到(dao)的(de)微小缺(que)陷，也(ye)可(ke)(ke)探(tan)測未露(lu)出表(biao)(biao)面(mian)，而是埋(mai)藏在表(biao)(biao)面(mian)下幾毫米的(de)近表(biao)(biao)面(mian)缺(que)陷。用(yong)(yong)這種(zhong)方(fang)法雖然也(ye)能(neng)探(tan)查氣孔、夾雜(za)、未焊透等體積型缺(que)陷，但對面(mian)積型缺(que)陷更靈(ling)敏，更適于檢查因淬火(huo)、軋制(zhi)、鍛造、鑄造、焊接、電鍍、磨削、疲勞(lao)等引(yin)起的(de)裂(lie)紋。
磁(ci)力(li)探(tan)傷(shang)(shang)中對缺(que)(que)陷的顯示(shi)方法有(you)(you)多種，有(you)(you)用磁(ci)粉(fen)顯示(shi)的，也有(you)(you)不用磁(ci)粉(fen)顯示(shi)的。用磁(ci)粉(fen)顯示(shi)的稱(cheng)(cheng)為(wei)磁(ci)粉(fen)探(tan)傷(shang)(shang)，因它(ta)顯示(shi)直(zhi)觀、操作簡單、人們(men)(men)樂于使用，故它(ta)是最常用的方法之一。不用磁(ci)粉(fen)顯示(shi)的，習慣(guan)上(shang)稱(cheng)(cheng)為(wei)漏磁(ci)探(tan)傷(shang)(shang)，它(ta)常借助(zhu)于感應線圈、磁(ci)敏(min)管、霍爾元件等來反映缺(que)(que)陷，它(ta)比磁(ci)粉(fen)探(tan)傷(shang)(shang)更衛生(sheng)，但不如前者直(zhi)觀。由(you)于磁(ci)力(li)探(tan)傷(shang)(shang)主要用磁(ci)粉(fen)來顯示(shi)缺(que)(que)陷，因此(ci)，人們(men)(men)有(you)(you)時把磁(ci)粉(fen)探(tan)傷(shang)(shang)直(zhi)接稱(cheng)(cheng)為(wei)磁(ci)力(li)探(tan)傷(shang)(shang)，其設備稱(cheng)(cheng)為(wei)磁(ci)力(li)探(tan)傷(shang)(shang)設備。
渦(wo)(wo)(wo)流(liu)(liu)(liu)探傷(shang)是由交流(liu)(liu)(liu)電(dian)流(liu)(liu)(liu)產生的(de)(de)交變磁場(chang)作(zuo)用于待探傷(shang)的(de)(de)導電(dian)材(cai)料(liao)，感應出電(dian)渦(wo)(wo)(wo)流(liu)(liu)(liu)。如果材(cai)料(liao)中有缺陷，它將(jiang)干(gan)(gan)擾(rao)(rao)(rao)所產生的(de)(de)電(dian)渦(wo)(wo)(wo)流(liu)(liu)(liu)，即形成干(gan)(gan)擾(rao)(rao)(rao)信(xin)號(hao)。用渦(wo)(wo)(wo)流(liu)(liu)(liu)探傷(shang)儀檢測出其干(gan)(gan)擾(rao)(rao)(rao)信(xin)號(hao)，就可(ke)知道(dao)缺陷的(de)(de)狀況。影響渦(wo)(wo)(wo)流(liu)(liu)(liu)的(de)(de)因素(su)很多(duo)，即是說渦(wo)(wo)(wo)流(liu)(liu)(liu)中載有豐富的(de)(de)信(xin)號(hao)，這(zhe)些(xie)信(xin)號(hao)與材(cai)料(liao)的(de)(de)很多(duo)因素(su)有關(guan)，如何將(jiang)其中有用的(de)(de)信(xin)號(hao)從諸多(duo)的(de)(de)信(xin)號(hao)中一(yi)一(yi)分離出來(lai)，是渦(wo)(wo)(wo)流(liu)(liu)(liu)研究(jiu)工作(zuo)者的(de)(de)難題，多(duo)年來(lai)已經取(qu)得了一(yi)些(xie)進展(zhan)，在一(yi)定(ding)條件下可(ke)解決一(yi)些(xie)問題，但還(huan)遠不能滿足(zu)現場(chang)的(de)(de)要求，有待于大力發展(zhan)。
渦(wo)(wo)流探(tan)(tan)傷的(de)顯著特點是對導電材料(liao)(liao)就能(neng)起作用，而不一定是鐵磁(ci)材料(liao)(liao)，但對鐵磁(ci)材料(liao)(liao)的(de)效(xiao)果較差。其次，待(dai)探(tan)(tan)工件表(biao)面的(de)光潔(jie)度、平整度、邊介等對渦(wo)(wo)流探(tan)(tan)傷都有較大影響，因此常將渦(wo)(wo)流探(tan)(tan)傷用于形(xing)狀較規則、表(biao)面較光潔(jie)的(de)銅管等非鐵磁(ci)性工件探(tan)(tan)傷。
滲(shen)(shen)(shen)透(tou)(tou)(tou)(tou)探(tan)傷是(shi)利用毛細(xi)現(xian)象(xiang)來進行探(tan)傷的(de)(de)方(fang)法。對于(yu)(yu)(yu)表(biao)(biao)面(mian)(mian)(mian)(mian)光(guang)滑(hua)而清潔(jie)的(de)(de)零部(bu)件，用一(yi)種帶色（常(chang)(chang)為紅色）或帶有(you)熒光(guang)的(de)(de)、滲(shen)(shen)(shen)透(tou)(tou)(tou)(tou)性很強的(de)(de)液(ye)體，涂(tu)(tu)覆于(yu)(yu)(yu)待探(tan)零部(bu)件的(de)(de)表(biao)(biao)面(mian)(mian)(mian)(mian)。若(ruo)表(biao)(biao)面(mian)(mian)(mian)(mian)有(you)肉眼(yan)不能直接察知的(de)(de)微裂紋(wen)，由于(yu)(yu)(yu)該液(ye)體的(de)(de)滲(shen)(shen)(shen)透(tou)(tou)(tou)(tou)性很強，它將沿著裂紋(wen)滲(shen)(shen)(shen)透(tou)(tou)(tou)(tou)到(dao)其(qi)根部(bu)。然后將表(biao)(biao)面(mian)(mian)(mian)(mian)的(de)(de)滲(shen)(shen)(shen)透(tou)(tou)(tou)(tou)液(ye)洗去(qu)，再涂(tu)(tu)上對比(bi)度較(jiao)(jiao)大的(de)(de)顯(xian)(xian)示液(ye)（常(chang)(chang)為白色）。放置(zhi)片刻后，由于(yu)(yu)(yu)裂紋(wen)很窄，毛細(xi)現(xian)象(xiang)作用顯(xian)(xian)著，原滲(shen)(shen)(shen)透(tou)(tou)(tou)(tou)到(dao)裂紋(wen)內的(de)(de)滲(shen)(shen)(shen)透(tou)(tou)(tou)(tou)液(ye)將上升(sheng)到(dao)表(biao)(biao)面(mian)(mian)(mian)(mian)并擴(kuo)散，在(zai)白色的(de)(de)襯底上顯(xian)(xian)出(chu)較(jiao)(jiao)粗的(de)(de)紅線，從而顯(xian)(xian)示出(chu)裂紋(wen)露于(yu)(yu)(yu)表(biao)(biao)面(mian)(mian)(mian)(mian)的(de)(de)形(xing)狀，因(yin)此，常(chang)(chang)稱為著色探(tan)傷。若(ruo)滲(shen)(shen)(shen)透(tou)(tou)(tou)(tou)液(ye)采用的(de)(de)是(shi)帶熒光(guang)的(de)(de)液(ye)體，由毛細(xi)現(xian)象(xiang)上升(sheng)到(dao)表(biao)(biao)面(mian)(mian)(mian)(mian)的(de)(de)液(ye)體，則會(hui)在(zai)紫外燈照射下發出(chu)熒光(guang)，從而更能顯(xian)(xian)示出(chu)裂紋(wen)露于(yu)(yu)(yu)表(biao)(biao)面(mian)(mian)(mian)(mian)的(de)(de)形(xing)狀，故常(chang)(chang)常(chang)(chang)又將此時(shi)的(de)(de)滲(shen)(shen)(shen)透(tou)(tou)(tou)(tou)探(tan)傷直接稱為熒光(guang)探(tan)傷。此探(tan)傷方(fang)法也可用于(yu)(yu)(yu)金屬和(he)非(fei)金屬表(biao)(biao)面(mian)(mian)(mian)(mian)探(tan)傷。其(qi)使用的(de)(de)探(tan)傷液(ye)劑(ji)有(you)較(jiao)(jiao)大氣味，常(chang)(chang)有(you)一(yi)定毒性。
除以上五大常規方(fang)法外(wai)，近年來又有了紅(hong)外(wai)、聲發射等一些新的探傷(shang)方(fang)法。
