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粒度儀
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粒度儀分為三類: 納米粒度儀,激光粒度儀和單顆粒光阻法粒度儀粒度儀是用物理的方法測試固體顆粒的大小和分布的一種儀器。根據測試原理的不同分為沉降式粒度儀、沉降天平、激光粒度儀、光學顆粒計數器、電阻式顆粒計數器、顆粒圖像分析儀等。粒度儀廣泛應用于水泥、陶瓷、藥品、乳液、涂料、染料、顏料、填料、化工產品、催化劑等。
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分類介紹

激光粒度儀

采用MIE散射原理的激光粒度儀

采用(yong)MIE散射原理(li)(li)的激(ji)光(guang)(guang)粒度儀(yi)由自主研發(fa)的會聚光(guang)(guang)傅立葉變換光(guang)(guang)路和無(wu)約束自由擬(ni)合是(shi)數(shu)據(ju)處(chu)理(li)(li)軟件組(zu)成,可檢(jian)測顆(ke)粒大小及分布(bu),覆蓋了毫米、微米、亞微米及納米多個波段(duan)。

其測(ce)試顆(ke)粒(li)大小及(ji)分(fen)(fen)(fen)布時采(cai)用的分(fen)(fen)(fen)散(san)系(xi)統根(gen)據(ju)不同的測(ce)試要求(qiu)分(fen)(fen)(fen)為濕(shi)法分(fen)(fen)(fen)散(san)系(xi)統、干(gan)(gan)法分(fen)(fen)(fen)散(san)系(xi)統和干(gan)(gan)濕(shi)一體分(fen)(fen)(fen)散(san)系(xi)統。

當光(guang)(guang)(guang)線照(zhao)射(she)(she)(she)(she)到顆粒(li)(li)(li)上時(shi)會發生(sheng)散(san)(san)射(she)(she)(she)(she)、衍(yan)射(she)(she)(she)(she),其(qi)衍(yan)射(she)(she)(she)(she)、散(san)(san)射(she)(she)(she)(she)光(guang)(guang)(guang)強度均與粒(li)(li)(li)子的(de)(de)(de)大小有關。觀測其(qi)光(guang)(guang)(guang)強度,可應用Fraunhofer衍(yan)射(she)(she)(she)(she)理(li)(li)論(lun)和Mie散(san)(san)射(she)(she)(she)(she)理(li)(li)論(lun)求得粒(li)(li)(li)子徑分布(激(ji)光(guang)(guang)(guang)衍(yan)射(she)(she)(she)(she)/散(san)(san)射(she)(she)(she)(she)法),使用Mie散(san)(san)射(she)(she)(she)(she)理(li)(li)論(lun)進行計算。光(guang)(guang)(guang)入射(she)(she)(she)(she)到球(qiu)形粒(li)(li)(li)子時(shi)可產生(sheng)三類光(guang)(guang)(guang):第(di)(di)一類,在粒(li)(li)(li)子表(biao)面(mian)、通過粒(li)(li)(li)子內(nei)部、經(jing)粒(li)(li)(li)子內(nei)表(biao)面(mian)的(de)(de)(de)反射(she)(she)(she)(she)光(guang)(guang)(guang);第(di)(di)二(er)類,通過粒(li)(li)(li)子內(nei)部而折射(she)(she)(she)(she)出的(de)(de)(de)光(guang)(guang)(guang);第(di)(di)三類,在表(biao)面(mian)的(de)(de)(de)衍(yan)射(she)(she)(she)(she)光(guang)(guang)(guang)。這些現象與粒(li)(li)(li)子的(de)(de)(de)大小無關,全都可以(yi)作為(wei)光(guang)(guang)(guang)散(san)(san)射(she)(she)(she)(she)處理(li)(li)。

一般地,光散射現象可以用經Maxwell電磁方程式嚴密解出的Mie散射理論說明。但是,實際使用起來過于復雜,為了求得實際的光強度,可根據入射波長λ和粒子半徑r的關系,即:r<λ時,Rayleigh散射理論;r>λ時,Fraunhofer衍射理(li)論。在使用(yong)上述理(li)論時,應考(kao)慮到光的波(bo)長和粒徑的關(guan)系(xi),在不同(tong)的領域使用(yong)不同(tong)的理(li)論。

粒(li)(li)(li)(li)徑(jing)(jing)大于波長(chang)(chang)的(de)時(shi)(shi)候,由(you)(you)Fraunhofer衍(yan)射(she)(she)(she)(she)(she)理(li)(li)論(lun)求得(de)的(de)衍(yan)射(she)(she)(she)(she)(she)光(guang)(guang)強(qiang)度和(he)Mie散(san)(san)(san)(san)射(she)(she)(she)(she)(she)理(li)(li)論(lun)求得(de)的(de)散(san)(san)(san)(san)射(she)(she)(she)(she)(she)光(guang)(guang)強(qiang)度大體是一(yi)致的(de)。因此(ci),可(ke)以(yi)把(ba)Fraunhofer衍(yan)射(she)(she)(she)(she)(she)理(li)(li)論(lun)作為Mie散(san)(san)(san)(san)射(she)(she)(she)(she)(she)理(li)(li)論(lun)的(de)近似處理(li)(li)。這時(shi)(shi),光(guang)(guang)散(san)(san)(san)(san)射(she)(she)(she)(she)(she)(衍(yan)射(she)(she)(she)(she)(she))的(de)方(fang)向幾乎都集中(zhong)在前(qian)方(fang),其強(qiang)度與粒(li)(li)(li)(li)子(zi)徑(jing)(jing)的(de)大小(xiao)有關(guan),有很(hen)大的(de)變化。即表(biao)示粒(li)(li)(li)(li)子(zi)徑(jing)(jing)固有的(de)光(guang)(guang)強(qiang)度譜,解出粒(li)(li)(li)(li)子(zi)的(de)光(guang)(guang)強(qiang)度分布(散(san)(san)(san)(san)射(she)(she)(she)(she)(she)譜)就可(ke)以(yi)定出粒(li)(li)(li)(li)子(zi)徑(jing)(jing)。當波長(chang)(chang)和(he)粒(li)(li)(li)(li)子(zi)徑(jing)(jing)很(hen)接近的(de)時(shi)(shi)候,不能用(yong)Fraunhofer的(de)近似式來(lai)表(biao)示散(san)(san)(san)(san)射(she)(she)(she)(she)(she)強(qiang)度。這時(shi)(shi)有必要(yao)根(gen)據Mie散(san)(san)(san)(san)射(she)(she)(she)(she)(she)理(li)(li)論(lun)作進一(yi)步討論(lun)。在Mie散(san)(san)(san)(san)射(she)(she)(she)(she)(she)中(zhong)的(de)散(san)(san)(san)(san)射(she)(she)(she)(she)(she)光(guang)(guang)強(qiang)度由(you)(you)入射(she)(she)(she)(she)(she)光(guang)(guang)波長(chang)(chang)、粒(li)(li)(li)(li)子(zi)徑(jing)(jing)、粒(li)(li)(li)(li)子(zi)和(he)介質(zhi)的(de)相對折射(she)(she)(she)(she)(she)率來(lai)確定。

顆粒圖像儀

顆粒圖(tu)像儀擁(yong)有靜態、動態兩種測試方法。

靜態方式使用改裝的顯微鏡(jing)系統,配(pei)合高清晰攝像機,將顆粒樣品的圖像直(zhi)觀的反映(ying)到電(dian)腦屏幕上,配(pei)合相關(guan)的計算機軟件可進行顆粒大小、形狀、整(zheng)體(ti)分布等屬(shu)性的計算,并可以將測試(shi)結果(guo)輸出為報告。

動態(tai)方式(shi)具有形貌(mao)和粒徑分(fen)(fen)布雙重分(fen)(fen)析(xi)能(neng)力。重建(jian)了全新循環分(fen)(fen)散系統和軟件數據處(chu)理模塊,解(jie)決(jue)了靜(jing)態(tai)顆(ke)粒圖像儀(yi)的(de)制(zhi)樣(yang)繁瑣、采樣(yang)代表(biao)性差、顆(ke)粒粘連等缺陷

在線監測粒度儀

在線粒度儀可以在線檢測粉體(ti)與漿體(ti)的粒度。并(bing)提供準確的控制信(xin)號(hao)的實時(shi)在線粒度儀。

粒度儀發展前景

1、國產粒度儀背(bei)靠中國這個最具活(huo)力(li)的需求(qiu)市場,企業可(ke)把握市場發(fa)展(zhan)脈搏,且市場相對穩定(ding),是(shi)企業發(fa)展(zhan)的強(qiang)大后盾。

2、我國有著強大(da)的(de)(de)研發隊伍和創新意識強烈的(de)(de)生(sheng)產(chan)企業,可(ke)不斷(duan)地完善自身的(de)(de)技術等方面(mian)的(de)(de)不足。

3、進口粒(li)(li)度(du)測試儀器在中國建立了眾多的(de)營銷和服務(wu)機構,這(zhe)為(wei)我國與國際先進粒(li)(li)度(du)儀生產廠(chang)商之間的(de)技術等方面的(de)交流提供了便利。

應用領域

廣泛應(ying)用于(yu)水泥、陶(tao)瓷、藥(yao)(yao)品(pin)、乳液(ye)、涂料(liao)、染(ran)料(liao)、顏料(liao)、填料(liao)、化工產品(pin)、催(cui)化劑、鉆井泥漿(jiang)、磨料(liao)、潤滑劑、煤粉(fen)、泥砂、粉(fen)塵、細(xi)胞、細(xi)菌、食(shi)品(pin)、添加劑、農藥(yao)(yao)、炸藥(yao)(yao)、石墨、感光材料(liao)、燃料(liao)、墨汁、金(jin)屬與非金(jin)屬粉(fen)末、碳酸鈣、高(gao)嶺土、水煤漿(jiang)及其他粉(fen)狀(zhuang)物料(liao)。

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