采用MIE散射原理的激光粒度儀
采(cai)用MIE散射(she)原理(li)的激光(guang)粒度儀(yi)由(you)自(zi)主研(yan)發的會聚(ju)光(guang)傅立葉(xie)變換(huan)光(guang)路和(he)無約束自(zi)由(you)擬合是數據處理(li)軟件(jian)組(zu)成，可檢測顆粒大(da)小及分(fen)布，覆蓋了毫米(mi)(mi)、微(wei)米(mi)(mi)、亞微(wei)米(mi)(mi)及納(na)米(mi)(mi)多個波(bo)段。
其測試顆粒大小及分(fen)布時(shi)采用的(de)分(fen)散(san)系統根據不同的(de)測試要求分(fen)為濕法(fa)(fa)分(fen)散(san)系統、干法(fa)(fa)分(fen)散(san)系統和干濕一體(ti)分(fen)散(san)系統。
當光(guang)線照射(she)(she)(she)到顆粒(li)(li)上時會發生散(san)(san)射(she)(she)(she)、衍(yan)(yan)(yan)射(she)(she)(she)，其(qi)衍(yan)(yan)(yan)射(she)(she)(she)、散(san)(san)射(she)(she)(she)光(guang)強度(du)均與(yu)粒(li)(li)子(zi)的大小有關。觀測其(qi)光(guang)強度(du)，可(ke)應用(yong)Fraunhofer衍(yan)(yan)(yan)射(she)(she)(she)理論(lun)和Mie散(san)(san)射(she)(she)(she)理論(lun)求得粒(li)(li)子(zi)徑(jing)分布(激光(guang)衍(yan)(yan)(yan)射(she)(she)(she)/散(san)(san)射(she)(she)(she)法(fa))，使用(yong)Mie散(san)(san)射(she)(she)(she)理論(lun)進行(xing)計算。光(guang)入射(she)(she)(she)到球形(xing)粒(li)(li)子(zi)時可(ke)產生三類(lei)光(guang)：第一類(lei)，在粒(li)(li)子(zi)表面(mian)、通過粒(li)(li)子(zi)內部(bu)、經粒(li)(li)子(zi)內表面(mian)的反射(she)(she)(she)光(guang)；第二(er)類(lei)，通過粒(li)(li)子(zi)內部(bu)而折射(she)(she)(she)出的光(guang)；第三類(lei)，在表面(mian)的衍(yan)(yan)(yan)射(she)(she)(she)光(guang)。這些現象與(yu)粒(li)(li)子(zi)的大小無關，全都可(ke)以作為光(guang)散(san)(san)射(she)(she)(she)處(chu)理。
一般地，光散射現象可以用經Maxwell電磁方程式嚴密解出的Mie散射理論說明。但是，實際使用起來過于復雜，為了求得實際的光強度，可根據入射波長λ和粒子半徑r的關系，即：r<λ時，Rayleigh散射理論；r>λ時，Fraunhofer衍射理(li)論(lun)。在(zai)使用上述理(li)論(lun)時，應考慮(lv)到光的(de)(de)波長和粒徑的(de)(de)關系，在(zai)不(bu)同(tong)(tong)的(de)(de)領域使用不(bu)同(tong)(tong)的(de)(de)理(li)論(lun)。
粒(li)(li)(li)(li)徑(jing)大(da)于波(bo)(bo)長的時(shi)候，由(you)Fraunhofer衍(yan)射(she)(she)(she)(she)理(li)(li)論(lun)(lun)求得的衍(yan)射(she)(she)(she)(she)光(guang)強(qiang)度(du)和Mie散(san)(san)射(she)(she)(she)(she)理(li)(li)論(lun)(lun)求得的散(san)(san)射(she)(she)(she)(she)光(guang)強(qiang)度(du)大(da)體是(shi)一致的。因此，可以(yi)把Fraunhofer衍(yan)射(she)(she)(she)(she)理(li)(li)論(lun)(lun)作為(wei)Mie散(san)(san)射(she)(she)(she)(she)理(li)(li)論(lun)(lun)的近(jin)(jin)(jin)似處理(li)(li)。這時(shi)，光(guang)散(san)(san)射(she)(she)(she)(she)(衍(yan)射(she)(she)(she)(she))的方向幾乎都集中在前(qian)方，其強(qiang)度(du)與粒(li)(li)(li)(li)子(zi)徑(jing)的大(da)小(xiao)有關，有很(hen)大(da)的變化。即表(biao)示粒(li)(li)(li)(li)子(zi)徑(jing)固有的光(guang)強(qiang)度(du)譜，解出粒(li)(li)(li)(li)子(zi)的光(guang)強(qiang)度(du)分布(散(san)(san)射(she)(she)(she)(she)譜)就可以(yi)定(ding)出粒(li)(li)(li)(li)子(zi)徑(jing)。當波(bo)(bo)長和粒(li)(li)(li)(li)子(zi)徑(jing)很(hen)接近(jin)(jin)(jin)的時(shi)候，不能用Fraunhofer的近(jin)(jin)(jin)似式來表(biao)示散(san)(san)射(she)(she)(she)(she)強(qiang)度(du)。這時(shi)有必要根據Mie散(san)(san)射(she)(she)(she)(she)理(li)(li)論(lun)(lun)作進一步(bu)討論(lun)(lun)。在Mie散(san)(san)射(she)(she)(she)(she)中的散(san)(san)射(she)(she)(she)(she)光(guang)強(qiang)度(du)由(you)入射(she)(she)(she)(she)光(guang)波(bo)(bo)長、粒(li)(li)(li)(li)子(zi)徑(jing)、粒(li)(li)(li)(li)子(zi)和介(jie)質的相對折射(she)(she)(she)(she)率(lv)來確定(ding)。
顆粒圖像儀(yi)擁(yong)有(you)靜態(tai)、動態(tai)兩種測試方(fang)法。
靜態方(fang)式(shi)使(shi)用(yong)改裝(zhuang)的顯微鏡系統，配合高清晰攝像(xiang)機，將顆粒(li)樣(yang)品的圖像(xiang)直觀(guan)的反映到電腦屏幕上(shang)，配合相(xiang)關的計算(suan)機軟件可進行顆粒(li)大小(xiao)、形狀、整(zheng)體分布等屬性(xing)的計算(suan)，并可以將測試結(jie)果輸出為報告。
動(dong)態(tai)(tai)方式(shi)具有形貌和(he)粒徑分布雙重分析能力。重建了全(quan)新(xin)循環(huan)分散系統和(he)軟(ruan)件數據處理模(mo)塊，解決了靜態(tai)(tai)顆粒圖(tu)像儀的(de)制樣繁瑣、采樣代(dai)表性差、顆粒粘連等缺(que)陷
在(zai)(zai)線粒(li)度儀可(ke)以在(zai)(zai)線檢測(ce)粉體與漿(jiang)體的(de)粒(li)度。并(bing)提(ti)供準(zhun)確的(de)控制信(xin)號(hao)的(de)實(shi)時在(zai)(zai)線粒(li)度儀。
1、國產粒度(du)儀背靠中(zhong)國這個最具活力的需(xu)求市(shi)場，企業可把握市(shi)場發(fa)展脈搏，且(qie)市(shi)場相對穩(wen)定(ding)，是企業發(fa)展的強大后盾。
2、我國(guo)有(you)著強大的研發隊(dui)伍和創新意識強烈的生產企(qi)業，可不(bu)斷地完(wan)善自身的技術等(deng)方面的不(bu)足。
3、進口粒度測試儀器在中國(guo)建(jian)立了眾多的營(ying)銷和服務機構(gou)，這為(wei)我國(guo)與國(guo)際先進粒度儀生產廠商之間的技術等方面的交流提供了便利。
廣(guang)泛應用于(yu)水泥、陶(tao)瓷(ci)、藥品、乳(ru)液、涂(tu)料(liao)、染料(liao)、顏料(liao)、填(tian)料(liao)、化工產(chan)品、催化劑(ji)(ji)、鉆井泥漿、磨料(liao)、潤滑(hua)劑(ji)(ji)、煤粉(fen)、泥砂(sha)、粉(fen)塵、細胞、細菌、食品、添加(jia)劑(ji)(ji)、農藥、炸藥、石墨(mo)、感光材(cai)料(liao)、燃料(liao)、墨(mo)汁、金屬(shu)與非金屬(shu)粉(fen)末、碳(tan)酸鈣、高嶺土、水煤漿及其(qi)他(ta)粉(fen)狀物料(liao)。
