采用MIE散射原理的激光粒度儀
采用MIE散(san)射原理(li)的激光(guang)粒度儀由自(zi)主研發(fa)的會聚光(guang)傅立葉變換光(guang)路和無約束自(zi)由擬合是(shi)數據處理(li)軟件組成,可檢測顆粒大小及分布(bu),覆蓋了(le)毫米(mi)(mi)、微米(mi)(mi)、亞微米(mi)(mi)及納米(mi)(mi)多個波段。
其測試顆粒大(da)小及(ji)分(fen)(fen)布時采用(yong)的分(fen)(fen)散(san)(san)系統(tong)根據(ju)不(bu)同的測試要求分(fen)(fen)為濕(shi)法(fa)分(fen)(fen)散(san)(san)系統(tong)、干法(fa)分(fen)(fen)散(san)(san)系統(tong)和干濕(shi)一體分(fen)(fen)散(san)(san)系統(tong)。
當光(guang)(guang)(guang)(guang)線照射(she)(she)到(dao)顆粒上(shang)時會發生(sheng)散(san)(san)射(she)(she)、衍射(she)(she),其衍射(she)(she)、散(san)(san)射(she)(she)光(guang)(guang)(guang)(guang)強度均與粒子的(de)大(da)小有關。觀測其光(guang)(guang)(guang)(guang)強度,可應用Fraunhofer衍射(she)(she)理論和Mie散(san)(san)射(she)(she)理論求(qiu)得粒子徑(jing)分布(激光(guang)(guang)(guang)(guang)衍射(she)(she)/散(san)(san)射(she)(she)法),使用Mie散(san)(san)射(she)(she)理論進行計(ji)算。光(guang)(guang)(guang)(guang)入射(she)(she)到(dao)球形粒子時可產生(sheng)三(san)類(lei)(lei)(lei)光(guang)(guang)(guang)(guang):第(di)一類(lei)(lei)(lei),在粒子表(biao)(biao)面、通(tong)過(guo)粒子內(nei)部、經粒子內(nei)表(biao)(biao)面的(de)反射(she)(she)光(guang)(guang)(guang)(guang);第(di)二(er)類(lei)(lei)(lei),通(tong)過(guo)粒子內(nei)部而折射(she)(she)出的(de)光(guang)(guang)(guang)(guang);第(di)三(san)類(lei)(lei)(lei),在表(biao)(biao)面的(de)衍射(she)(she)光(guang)(guang)(guang)(guang)。這(zhe)些(xie)現象與粒子的(de)大(da)小無關,全都可以作為光(guang)(guang)(guang)(guang)散(san)(san)射(she)(she)處(chu)理。
一般地,光散射現象可以用經Maxwell電磁方程式嚴密解出的Mie散射理論說明。但是,實際使用起來過于復雜,為了求得實際的光強度,可根據入射波長λ和粒子半徑r的關系,即:r<λ時,Rayleigh散射理論;r>λ時(shi),Fraunhofer衍射理論。在使用(yong)上述(shu)理論時(shi),應(ying)考(kao)慮到光的(de)波長和粒(li)徑(jing)的(de)關系(xi),在不同(tong)的(de)領域使用(yong)不同(tong)的(de)理論。
粒(li)(li)(li)(li)徑大于波長的(de)(de)(de)時候(hou),由Fraunhofer衍射(she)(she)理(li)(li)論(lun)求得的(de)(de)(de)衍射(she)(she)光(guang)強(qiang)度(du)和Mie散(san)(san)(san)射(she)(she)理(li)(li)論(lun)求得的(de)(de)(de)散(san)(san)(san)射(she)(she)光(guang)強(qiang)度(du)大體是一致的(de)(de)(de)。因此,可以把Fraunhofer衍射(she)(she)理(li)(li)論(lun)作(zuo)為(wei)Mie散(san)(san)(san)射(she)(she)理(li)(li)論(lun)的(de)(de)(de)近(jin)似處理(li)(li)。這時,光(guang)散(san)(san)(san)射(she)(she)(衍射(she)(she))的(de)(de)(de)方(fang)(fang)向幾乎都集中在前方(fang)(fang),其強(qiang)度(du)與粒(li)(li)(li)(li)子(zi)徑的(de)(de)(de)大小有關,有很(hen)大的(de)(de)(de)變化。即表(biao)示粒(li)(li)(li)(li)子(zi)徑固有的(de)(de)(de)光(guang)強(qiang)度(du)譜,解出粒(li)(li)(li)(li)子(zi)的(de)(de)(de)光(guang)強(qiang)度(du)分(fen)布(散(san)(san)(san)射(she)(she)譜)就可以定出粒(li)(li)(li)(li)子(zi)徑。當波長和粒(li)(li)(li)(li)子(zi)徑很(hen)接(jie)近(jin)的(de)(de)(de)時候(hou),不能用Fraunhofer的(de)(de)(de)近(jin)似式來表(biao)示散(san)(san)(san)射(she)(she)強(qiang)度(du)。這時有必要根據(ju)Mie散(san)(san)(san)射(she)(she)理(li)(li)論(lun)作(zuo)進(jin)一步討論(lun)。在Mie散(san)(san)(san)射(she)(she)中的(de)(de)(de)散(san)(san)(san)射(she)(she)光(guang)強(qiang)度(du)由入射(she)(she)光(guang)波長、粒(li)(li)(li)(li)子(zi)徑、粒(li)(li)(li)(li)子(zi)和介(jie)質的(de)(de)(de)相對折射(she)(she)率來確定。
顆粒圖像(xiang)儀擁(yong)有靜態、動態兩種測試方法(fa)。
靜態(tai)方式使(shi)用改裝的(de)顯微鏡系統,配(pei)合高清晰攝(she)像機(ji),將顆粒樣(yang)品的(de)圖像直(zhi)觀的(de)反映到電腦屏幕上,配(pei)合相關的(de)計算機(ji)軟件(jian)可(ke)(ke)進行顆粒大小、形狀(zhuang)、整體分布(bu)等屬性的(de)計算,并(bing)可(ke)(ke)以將測試(shi)結果(guo)輸出為報(bao)告。
動態(tai)方式具(ju)有形(xing)貌和粒徑分布雙重分析能力。重建了全新循環(huan)分散系統(tong)和軟件數據處理模(mo)塊,解決了靜態(tai)顆(ke)粒圖像儀(yi)的(de)制樣繁瑣、采樣代表性差(cha)、顆(ke)粒粘連等缺(que)陷
在(zai)線粒(li)度儀(yi)可以在(zai)線檢測粉(fen)體與漿(jiang)體的粒(li)度。并提(ti)供準確的控制信號的實時在(zai)線粒(li)度儀(yi)。
1、國產(chan)粒度儀背靠(kao)中國這(zhe)個最具活(huo)力的需求市場,企(qi)(qi)業(ye)可(ke)把(ba)握市場發(fa)展(zhan)脈搏,且市場相對穩定,是企(qi)(qi)業(ye)發(fa)展(zhan)的強大后盾。
2、我國有著強(qiang)大的研發隊伍和創(chuang)新意識強(qiang)烈的生產企(qi)業,可不斷地完善自身的技術(shu)等方面的不足(zu)。
3、進(jin)口粒度(du)測試儀(yi)器在中國(guo)(guo)(guo)建立了(le)眾多的營銷和(he)服務機構(gou),這為我(wo)國(guo)(guo)(guo)與國(guo)(guo)(guo)際先進(jin)粒度(du)儀(yi)生產(chan)廠(chang)商(shang)之間(jian)的技術等方(fang)面的交流(liu)提供了(le)便(bian)利。
廣泛應用于水泥、陶瓷、藥品、乳液、涂料(liao)、染料(liao)、顏料(liao)、填料(liao)、化工產(chan)品、催化劑、鉆(zhan)井泥漿(jiang)、磨料(liao)、潤滑劑、煤粉(fen)、泥砂、粉(fen)塵、細(xi)胞、細(xi)菌、食品、添加(jia)劑、農藥、炸藥、石墨、感光材料(liao)、燃(ran)料(liao)、墨汁、金(jin)屬(shu)(shu)與非金(jin)屬(shu)(shu)粉(fen)末、碳酸鈣、高嶺土、水煤漿(jiang)及其他粉(fen)狀(zhuang)物(wu)料(liao)。