物(wu)(wu)位測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)通常指對工業生(sheng)產過程(cheng)中封閉式或敞開容(rong)器中物(wu)(wu)料(liao)（固(gu)體(ti)(ti)或液(ye)位）的(de)高度(du)進行(xing)檢(jian)測(ce)(ce)(ce)；如(ru)果是對物(wu)(wu)料(liao)高度(du)進行(xing)連續的(de)檢(jian)測(ce)(ce)(ce)，稱為連續測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)。如(ru)果只對物(wu)(wu)料(liao)高度(du)是否到(dao)達某一位置(zhi)進行(xing)檢(jian)測(ce)(ce)(ce)稱為限位測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)。完成這種測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)任務的(de)儀表叫(jiao)做物(wu)(wu)位計。物(wu)(wu)位測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)儀表用來監測(ce)(ce)(ce)液(ye)體(ti)(ti)或固(gu)體(ti)(ti)料(liao)位，包括漿料(liao)和顆(ke)粒(li)狀固(gu)體(ti)(ti)。
按測量手段來區(qu)分(fen)主(zhu)要有直讀式(shi)(shi)(shi)、浮(fu)力式(shi)(shi)(shi)（浮(fu)球、浮(fu)子、磁翻轉、電浮(fu)筒、磁致伸縮等(deng)）；回(hui)波(bo)反射(she)式(shi)(shi)(shi)（超(chao)聲(sheng)、微波(bo)、導(dao)波(bo)雷達(da)等(deng)）；電容(rong)式(shi)(shi)(shi)；重錘探測式(shi)(shi)(shi)；音叉式(shi)(shi)(shi)；阻旋(xuan)式(shi)(shi)(shi)；靜壓式(shi)(shi)(shi)等(deng)多種；其它(ta)還有核輻(fu)射(she)式(shi)(shi)(shi)、激光式(shi)(shi)(shi)等(deng)用于特殊場合的測量方法。
物(wu)(wu)(wu)位(wei)儀表(biao)(biao)的(de)命名(ming)方式通(tong)常(chang)由儀表(biao)(biao)的(de)測量(liang)手段、測量(liang)對象和測量(liang)目的(de)三個部分組成。例(li)如音叉(cha)物(wu)(wu)(wu)位(wei)控制器、電浮筒液(ye)(ye)位(wei)計等。對于既(ji)能測量(liang)液(ye)(ye)位(wei)又可測量(liang)料位(wei)的(de)儀表(biao)(biao)則稱為(wei)物(wu)(wu)(wu)位(wei)計。例(li)如超聲物(wu)(wu)(wu)位(wei)計、微波物(wu)(wu)(wu)位(wei)計、導波雷(lei)達物(wu)(wu)(wu)位(wei)計等。
物位(wei)(wei)(wei)測量(liang)儀(yi)表是測量(liang)液(ye)態和粉(fen)粒(li)狀材(cai)料的液(ye)面(mian)(mian)和裝載高(gao)(gao)度(du)的工業自動化儀(yi)表。測量(liang)塊狀、顆(ke)粒(li)狀和粉(fen)料等固(gu)體(ti)物料堆積高(gao)(gao)度(du)，或表面(mian)(mian)位(wei)(wei)(wei)置的儀(yi)表稱為料位(wei)(wei)(wei)計；測量(liang)罐、塔(ta)和槽等容(rong)器內液(ye)體(ti)高(gao)(gao)度(du)，或液(ye)面(mian)(mian)位(wei)(wei)(wei)置的儀(yi)表稱為液(ye)位(wei)(wei)(wei)計，又稱液(ye)面(mian)(mian)計；測量(liang)容(rong)器中(zhong)兩種(zhong)互(hu)不溶解液(ye)體(ti)或固(gu)體(ti)與液(ye)體(ti)相(xiang)界面(mian)(mian)位(wei)(wei)(wei)置的儀(yi)表稱為相(xiang)界面(mian)(mian)計。
