物位測量(liang)(liang)(liang)(liang)通常指對(dui)工業生產(chan)過(guo)程中封(feng)閉式或(huo)(huo)敞開容器(qi)中物料(liao)(liao)(liao)（固(gu)體或(huo)(huo)液(ye)位）的(de)(de)高(gao)度(du)進(jin)行(xing)檢(jian)測；如果(guo)(guo)是對(dui)物料(liao)(liao)(liao)高(gao)度(du)進(jin)行(xing)連續(xu)的(de)(de)檢(jian)測，稱(cheng)為(wei)連續(xu)測量(liang)(liang)(liang)(liang)。如果(guo)(guo)只對(dui)物料(liao)(liao)(liao)高(gao)度(du)是否(fou)到達某一(yi)位置進(jin)行(xing)檢(jian)測稱(cheng)為(wei)限位測量(liang)(liang)(liang)(liang)。完成這種測量(liang)(liang)(liang)(liang)任(ren)務的(de)(de)儀(yi)(yi)表叫做(zuo)物位計。物位測量(liang)(liang)(liang)(liang)儀(yi)(yi)表用來監測液(ye)體或(huo)(huo)固(gu)體料(liao)(liao)(liao)位，包括漿料(liao)(liao)(liao)和(he)顆粒狀(zhuang)固(gu)體。
按測(ce)量手段(duan)來區(qu)分主要有直(zhi)讀式(shi)(shi)、浮力式(shi)(shi)（浮球、浮子、磁翻轉、電浮筒、磁致伸縮等(deng)）；回波反射式(shi)(shi)（超聲(sheng)、微波、導波雷達等(deng)）；電容式(shi)(shi)；重錘(chui)探測(ce)式(shi)(shi)；音(yin)叉式(shi)(shi)；阻旋式(shi)(shi)；靜壓式(shi)(shi)等(deng)多種；其它還(huan)有核輻射式(shi)(shi)、激光(guang)式(shi)(shi)等(deng)用(yong)于特殊(shu)場合的測(ce)量方法。
物(wu)位(wei)儀表(biao)的(de)命(ming)名(ming)方式通常由(you)儀表(biao)的(de)測量(liang)手段(duan)、測量(liang)對(dui)象和測量(liang)目的(de)三(san)個部分(fen)組成(cheng)。例(li)如(ru)音(yin)叉物(wu)位(wei)控制器(qi)、電浮筒(tong)液位(wei)計等(deng)。對(dui)于既能測量(liang)液位(wei)又(you)可測量(liang)料位(wei)的(de)儀表(biao)則(ze)稱為物(wu)位(wei)計。例(li)如(ru)超聲物(wu)位(wei)計、微波物(wu)位(wei)計、導(dao)波雷(lei)達物(wu)位(wei)計等(deng)。
物(wu)位測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)儀表是測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)液(ye)(ye)態(tai)和粉粒狀材料(liao)的(de)液(ye)(ye)面(mian)和裝載高度的(de)工業自(zi)動化儀表。測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)塊狀、顆(ke)粒狀和粉料(liao)等(deng)固體(ti)物(wu)料(liao)堆(dui)積(ji)高度，或表面(mian)位置(zhi)的(de)儀表稱(cheng)為料(liao)位計；測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)罐、塔和槽(cao)等(deng)容器內液(ye)(ye)體(ti)高度，或液(ye)(ye)面(mian)位置(zhi)的(de)儀表稱(cheng)為液(ye)(ye)位計，又(you)稱(cheng)液(ye)(ye)面(mian)計；測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)容器中兩(liang)種互不溶解液(ye)(ye)體(ti)或固體(ti)與液(ye)(ye)體(ti)相界(jie)面(mian)位置(zhi)的(de)儀表稱(cheng)為相界(jie)面(mian)計。
