物位(wei)(wei)測量(liang)通常指對工業生產過程中封閉式或(huo)敞開容器中物料（固(gu)體(ti)或(huo)液位(wei)(wei)）的(de)(de)高度(du)進(jin)行(xing)檢(jian)測；如(ru)(ru)果是對物料高度(du)進(jin)行(xing)連續的(de)(de)檢(jian)測，稱(cheng)為連續測量(liang)。如(ru)(ru)果只對物料高度(du)是否到達某一位(wei)(wei)置進(jin)行(xing)檢(jian)測稱(cheng)為限(xian)位(wei)(wei)測量(liang)。完(wan)成(cheng)這種測量(liang)任務的(de)(de)儀(yi)表叫做物位(wei)(wei)計(ji)。物位(wei)(wei)測量(liang)儀(yi)表用來(lai)監測液體(ti)或(huo)固(gu)體(ti)料位(wei)(wei)，包括漿料和顆粒狀(zhuang)固(gu)體(ti)。
按(an)測量手(shou)段來區分主(zhu)要有(you)直讀式(shi)(shi)、浮力式(shi)(shi)（浮球、浮子、磁翻轉、電浮筒(tong)、磁致伸縮等(deng)）；回波(bo)反射式(shi)(shi)（超聲、微波(bo)、導波(bo)雷達等(deng)）；電容(rong)式(shi)(shi)；重錘(chui)探測式(shi)(shi)；音(yin)叉式(shi)(shi)；阻旋式(shi)(shi)；靜壓式(shi)(shi)等(deng)多種(zhong)；其它還有(you)核輻射式(shi)(shi)、激光式(shi)(shi)等(deng)用于特殊場合(he)的測量方法。
物位(wei)(wei)(wei)(wei)(wei)儀(yi)(yi)表的命名(ming)方式通常由(you)儀(yi)(yi)表的測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)手段(duan)、測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)對象和測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)目的三個部分組成。例如音叉(cha)物位(wei)(wei)(wei)(wei)(wei)控制器、電浮(fu)筒液位(wei)(wei)(wei)(wei)(wei)計(ji)等(deng)。對于既能測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)液位(wei)(wei)(wei)(wei)(wei)又可測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)料位(wei)(wei)(wei)(wei)(wei)的儀(yi)(yi)表則稱(cheng)為物位(wei)(wei)(wei)(wei)(wei)計(ji)。例如超聲(sheng)物位(wei)(wei)(wei)(wei)(wei)計(ji)、微波物位(wei)(wei)(wei)(wei)(wei)計(ji)、導波雷達物位(wei)(wei)(wei)(wei)(wei)計(ji)等(deng)。
物位測量(liang)儀(yi)表(biao)是(shi)測量(liang)液(ye)態和(he)粉粒狀材(cai)料的(de)(de)(de)液(ye)面(mian)(mian)(mian)(mian)和(he)裝載高(gao)度的(de)(de)(de)工(gong)業自動化儀(yi)表(biao)。測量(liang)塊狀、顆(ke)粒狀和(he)粉料等(deng)固體物料堆積高(gao)度，或表(biao)面(mian)(mian)(mian)(mian)位置(zhi)的(de)(de)(de)儀(yi)表(biao)稱(cheng)為料位計；測量(liang)罐、塔和(he)槽等(deng)容器(qi)內液(ye)體高(gao)度，或液(ye)面(mian)(mian)(mian)(mian)位置(zhi)的(de)(de)(de)儀(yi)表(biao)稱(cheng)為液(ye)位計，又稱(cheng)液(ye)面(mian)(mian)(mian)(mian)計；測量(liang)容器(qi)中兩種互不溶解液(ye)體或固體與(yu)液(ye)體相界面(mian)(mian)(mian)(mian)位置(zhi)的(de)(de)(de)儀(yi)表(biao)稱(cheng)為相界面(mian)(mian)(mian)(mian)計。
