著錄信息
- 專利名稱:一種公差檢驗卡尺
- 專利類型:發明
- 申請號:CN201210225847.0
- 公開(公告)號:CN102749014B
- 申請日:20120703
- 公開(公告)日:20140723
- 申請人:蘇州路之遙科技股份有限公司
- 發明人:周榮,征茂德,諶清平,吳魏
- 申請人地址:215011 江蘇省蘇州市高新區向陽路55號
- 申請人區域代碼:CN320505
- 專利權人:蘇州路之遙科技股份有限公司
- 洛迦諾分類:無
- IPC:G01B5/02
- 優先權:無
- 專利代理機構:南京縱橫知識產權代理有限公司 32224
- 代理人:董建林
- 審查員:孫晶晶
- 國際申請:無
- 國際公開(公告):無
- 進入國家日期:無
- 分案申請:無
關鍵詞
直尺,固定套,游標刻度,滑動座,固定,游標,尺寸定位,公差,齒條,表盤,直尺長度方向,調節器,對稱運動,游標卡尺,檢測,桿體,卡尺,內壁,鉗口,對稱,平整,兩側,延伸,檢驗,檢查
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