著錄信息
- 專利名稱:自動光學檢測系統
- 專利類型:實用新型
- 申請號:CN201020187070.X
- 公開(公告)號:CN201673124U
- 申請日:20100507
- 公開(公告)日:20101215
- 申請人:上海中晶科技有限公司
- 發明人:林君諺,吳金來,金山
- 申請人地址:200233 上海市漕河涇開發區桂平路680號35號樓
- 申請人區域代碼:CN310104
- 專利權人:上海中晶科技有限公司
- 洛迦諾分類:無
- IPC:G01N21/88
- 優先權:無
- 專利代理機構:上海專利商標事務所有限公司 31100
- 代理人:陳亮
- 審查員:無
- 國際申請:無
- 國際公開(公告):無
- 進入國家日期:無
- 分案申請:無
關鍵詞
基準標記,影像,影像擷取裝置,分析單元,影像校正,校正,自動光學檢測,電性連接,缺陷分析,單元電性,影像位移,擷取,分析
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