主板診斷卡代碼大全及處理方法

FF、00、C0、D0、CF、F1或(huo)什么也(ye)沒有表示CPU沒通過

C1、C6、C3、D3、D4、D6、D8、B0、A7、E1表示內存不過

24、25、26、01、0A、0B、2A、2B、31表示顯卡不過

某些集成顯卡主板23、24、25表示(shi)可以正常(chang)點(dian)亮(liang)，某(mou)(mou)些(xie)VIA芯片組顯示(shi)13則表示(shi)可以點(dian)亮(liang)，某(mou)(mou)些(xie)品牌機(ji)里的(de)(de)主(zhu)板顯示(shi)0B則表示(shi)正常(chang)，某(mou)(mou)些(xie)主(zhu)板顯示(shi)4E表示(shi)正常(chang)點(dian)亮(liang)，某(mou)(mou)些(xie)INTEL芯片組的(de)(de)主(zhu)板顯示(shi)26或(huo)16則表示(shi)可以正常(chang)點(dian)亮(liang)。C1、C6、C3、01、02這個組合循環跳(tiao)變大(da)部分是I/0壞或(huo)刷BIOS。

如(ru)顯示05、ED、41則直接刷BIOS 00 。已(yi)顯示系統的配(pei)置；即(ji)將控制INI19引(yin)導裝入(ru)。

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1、處理(li)器測(ce)試1，處理(li)器狀態核實，如果測(ce)試失敗，循環是無(wu)限的。 處理(li)器寄(ji)存器的測(ce)試即將開始，不可屏(ping)蔽中斷即將停用。 CPU寄(ji)存器測(ce)試正在(zai)進行(xing)或者失敗。

2、確定診斷的類(lei)型（正常或者(zhe)制造）。如果鍵盤緩沖器含有數據(ju)就(jiu)會失(shi)效。 停用不可屏蔽(bi)中斷；通(tong)過(guo)延遲開始。 CMOS寫(xie)入(ru)／讀出正在(zai)進行或者(zhe)失(shi)靈(ling)。

3、清除8042鍵盤控(kong)制器，發出TESTKBRD命(ming)令（AAH） 通電延(yan)遲已完成。 ROM BIOS檢查部件正在進行或失(shi)靈。

4、使8042鍵(jian)盤控(kong)制器(qi)復位，核實TESTKBRD。 鍵(jian)盤控(kong)制器(qi)軟復位／通(tong)電測試。 可編程間隔計(ji)時器(qi)的測試正在(zai)進行或失(shi)靈。

5、如果不斷重復(fu)制造測試1至5，可獲得8042控制狀態。 已確(que)定軟復(fu)位／通(tong)電(dian)；即將啟動(dong)ROM。 DMA初(chu)如準備正(zheng)在進行或者失(shi)靈。

6、使電(dian)路片(pian)作初始(shi)準備，停(ting)用視頻、奇偶性、DMA電(dian)路片(pian)，以及清(qing)除DMA電(dian)路片(pian)，所有頁(ye)面寄存器和CMOS停(ting)機字節。 已啟動ROM計算ROM BIOS檢查(cha)總和，以及檢查(cha)鍵盤緩沖器是否清(qing)除。 DMA初始(shi)頁(ye)面寄存器讀(du)／寫測(ce)試正(zheng)在進行(xing)或失靈。

7、處(chu)理器測(ce)(ce)試2，核實CPU寄存器的工作。 ROM BIOS檢查總和正常，鍵盤緩沖器已清除(chu)，向(xiang)鍵盤發出(chu)BAT（基本(ben)保證測(ce)(ce)試）命令。

8、使CMOS計(ji)時器作初始準備，正(zheng)常的更新(xin)(xin)計(ji)時器的循環。 已向(xiang)鍵盤發出BAT命(ming)令(ling)，即將(jiang)寫入(ru)BAT命(ming)令(ling)。 RAM更新(xin)(xin)檢(jian)驗正(zheng)在(zai)進(jin)行或失靈。

9、EPROM檢查總和且必須等(deng)于零才通過。 核實鍵盤的基本(ben)保證測試，接(jie)著核實鍵盤命令字節。 第一個64K RAM測試正在進行。

0A 使(shi)視(shi)頻接口作初始準備(bei)。 發出(chu)鍵盤命令字(zi)節代碼，即將(jiang)寫入命令字(zi)節數據(ju)。 第一個(ge)64K RAM芯(xin)片或數據(ju)線失靈，移位。

0B 測試(shi)8254通道0。 寫入(ru)鍵盤控制(zhi)器(qi)命令(ling)字節，即將(jiang)發出(chu)引(yin)腳(jiao)23和24的封鎖(suo)／解鎖(suo)命令(ling)。 第一個64K RAM奇／偶邏輯失靈(ling)。

0C 測試8254通(tong)道1。 鍵盤控制器引腳23、24已封鎖(suo)／解鎖(suo)；已發出NOP命令。 第一(yi)個64K RAN的地址(zhi)線故(gu)障。

0D：

1）檢查(cha)CPU速(su)度是否與系統(tong)時鐘相(xiang)匹配。

2）檢查(cha)控(kong)制芯片(pian)已編(bian)程值是否符合初設置。

3）視(shi)頻通道測(ce)試，如果(guo)失(shi)敗，則鳴喇叭。 已處理NOP命令；接著測(ce)試CMOS停(ting)開寄存器。 第一個64K RAM的奇偶(ou)性失(shi)靈(ling)。

0E 測(ce)試CMOS停機(ji)字(zi)節。 CMOS停開寄存器讀(du)／寫測(ce)試；將計算CMOS檢(jian)查總和。 初始化輸入／輸出(chu)端(duan)口地址(zhi)。

0F 測試(shi)擴展的CMOS。 已計算(suan)CMOS檢查總(zong)和寫(xie)入診斷字(zi)節；CMOS開始初始準備(bei)。

10、測試DMA通道0。 CMOS已作(zuo)初始準備(bei)，CMOS狀態(tai)寄存(cun)器(qi)即(ji)將為日期和時間作(zuo)初始準備(bei)。 第(di)(di)一(yi)個64K RAM第(di)(di)0位故(gu)障。

11、測(ce)試(shi)DMA通道1。 CMOS狀態寄存器(qi)已作初(chu)始(shi)準備(bei)，即(ji)將停(ting)用DMA和中斷(duan)控制器(qi)。 第一(yi)個64DK RAM第1位故障。

12、測試DMA頁(ye)面(mian)寄存器。 停用DMA控制器1以及中斷控制器1和(he)2；即將視頻(pin)顯示器并(bing)使端(duan)口B作初始準備。 第一個64DK RAM第2位故障。

13、測試8741鍵盤控制器(qi)(qi)接口。 視頻顯示器(qi)(qi)已停用，端口B已作初始準備；即將開始電路片初始化／存儲(chu)器(qi)(qi)自動檢測。 第(di)一(yi)個64DK RAM第(di)3位故障。

14、測試存儲器(qi)更新觸發電路。 電路片初始化(hua)／存儲器(qi)處自動檢測結束；8254計(ji)時器(qi)測試即將開始。 第一個64DK RAM第4位故障。

15、測(ce)試開(kai)頭64K的系統存儲器。 第(di)2通(tong)道計時(shi)(shi)器測(ce)試了(le)一(yi)半；8254第(di)2通(tong)道計時(shi)(shi)器即將完成測(ce)試。 第(di)一(yi)個64DK RAM第(di)5位故(gu)障。

16、建立(li)8259所用的中斷矢(shi)量表(biao)。 第2通道計時器(qi)測(ce)試結束；8254第1通道計時器(qi)即將完成測(ce)試。 第一個64DK RAM第6位故障。

17、調準視頻(pin)輸(shu)入／輸(shu)出工作(zuo)，若裝有(you)視頻(pin)BIOS則啟用。 第(di)1通道(dao)計時器測試(shi)結束(shu)；8254第(di)0通道(dao)計時器即將完(wan)成測試(shi)。 第(di)一(yi)個64DK RAM第(di)7位故障。

18、測試(shi)視頻(pin)存(cun)儲器，如果安(an)裝選用的視頻(pin)BIOS通過(guo)(guo)，由可(ke)繞過(guo)(guo)。 第(di)(di)0通道計時器測試(shi)結束；即將(jiang)開始更新存(cun)儲器。 第(di)(di)一(yi)個64DK RAM第(di)(di)8位故障(zhang)。

19、測試第1通(tong)道的中(zhong)斷控制器（8259）屏(ping)蔽位。 已開(kai)始更(geng)新存儲器，接著將完成存儲器的更(geng)新。 第一個(ge)64DK RAM第9位故障。

1A 測(ce)試第(di)(di)2通道的(de)中斷控制器（8259）屏蔽位。 正(zheng)在(zai)觸(chu)發存儲器更新線路，即將檢查15微秒通／斷時間。 第(di)(di)一個64DK RAM第(di)(di)10位故障。

1B 測(ce)試(shi)CMOS電池電平。 完成存(cun)(cun)儲(chu)(chu)器更新時間30微(wei)秒測(ce)試(shi)；即將開(kai)始基本(ben)的64K存(cun)(cun)儲(chu)(chu)器測(ce)試(shi)。 第一個64DK RAM第11位故障。

1C 測試CMOS檢查總和(he)。 第(di)一個64DK RAM第(di)12位故障。

1D 調(diao)定CMOS配置 。 第一個64DK RAM第13位故障(zhang)。

1E 測(ce)定系統存儲器的大小，并(bing)且把它和CMOS值比較(jiao)。第(di)一個64DK RAM第(di)14位故障。

1F 測試64K存儲(chu)器至(zhi)最高640K。第一個64DK RAM第15位(wei)故障。

20、測量(liang)固定的8259中斷位。 開始基(ji)本(ben)的64K存儲器測試(shi)(shi)；即將測試(shi)(shi)地址線。 從屬DMA寄存器測試(shi)(shi)正在(zai)進行或(huo)失靈。

21、維持不可屏(ping)蔽中斷(duan)（NMI）位（奇偶性或輸(shu)入／輸(shu)出通道(dao)的檢(jian)查）。 通過地(di)址(zhi)線測試(shi)；即(ji)將觸發奇偶性。 主DMA寄存器(qi)測試(shi)正在進(jin)行或失靈。

22、測試(shi)(shi)8259的中(zhong)斷功能。 結束觸發(fa)奇偶性；將開(kai)始(shi)串行數(shu)據讀／寫測試(shi)(shi)。 主中(zhong)斷屏蔽寄存器測試(shi)(shi)正在進行或失靈(ling)。

23、測(ce)試保護(hu)方式(shi)8086虛擬(ni)方式(shi)和8086頁面方式(shi)。 基(ji)本的64K串(chuan)行(xing)數(shu)據讀／寫測(ce)試正常；即將開始中斷矢量初(chu)始化之前的任何(he)調節。 從屬中斷屏蔽(bi)存(cun)器測(ce)試正在(zai)進行(xing)或失靈。

24、測定1MB以上的擴(kuo)展存(cun)儲(chu)器。 矢量(liang)初始化之(zhi)前的任何調節完成，即將開(kai)始中斷矢量(liang)的初始準備(bei)。 設(she)置ES段地址寄存(cun)器注冊表到內存(cun)高端。

25、測試(shi)除(chu)頭(tou)一(yi)個64K之(zhi)后(hou)的所(suo)有存儲器。 完成中斷(duan)(duan)矢量(liang)初始準備；將為(wei)旋轉式斷(duan)(duan)續開(kai)始讀出(chu)8042的輸入(ru)／輸出(chu)端口。 裝入(ru)中斷(duan)(duan)矢量(liang)正在進行或(huo)失(shi)靈(ling)。

26、測試保(bao)護方(fang)式(shi)的(de)例外情況。 讀(du)出(chu)8042的(de)輸入(ru)／輸出(chu)端口；即將為(wei)旋轉式(shi)斷續開(kai)始使(shi)全(quan)局數據作初(chu)始準備(bei)。 開(kai)啟A20地址(zhi)線(xian)；使(shi)之(zhi)參入(ru)尋址(zhi)。

27、確定超高速緩沖存儲器的控制或(huo)屏(ping)蔽RAM。 全1數據初(chu)始準(zhun)備(bei)結束；接(jie)著(zhu)將進(jin)行中斷矢量之后的任(ren)何初(chu)始準(zhun)備(bei)。 鍵盤控制器測試正在進(jin)行或(huo)失靈(ling)。

28、確定超高速(su)緩沖存(cun)儲(chu)器的(de)控制或者特(te)別的(de)8042鍵盤控制器。 完成中斷矢(shi)量之(zhi)后(hou)的(de)初始準備；即(ji)將(jiang)調定單色方式。 CMOS電源故(gu)障／檢查總和計算正在(zai)進(jin)行(xing)。

29、已調定(ding)單(dan)色(se)(se)方(fang)式，即將(jiang)調定(ding)彩(cai)色(se)(se)方(fang)式。 CMOS配置有(you)效(xiao)性的檢查正在進行。

2A 使鍵盤控制器作初始(shi)準備。 已調定彩色方式，即將(jiang)進行ROM測(ce)試前的觸發奇(qi)偶(ou)性。 置空64K基本內存。

2B 使磁碟驅動(dong)器和控制器作初始準備。 觸發奇偶性結束；即將控制任選(xuan)的視(shi)頻(pin)ROM檢查前所需的任何調節。 屏幕存儲器測試正在進行或失靈。

2C 檢查串(chuan)行端口，并使之作初始準(zhun)備。 完(wan)成(cheng)視頻(pin)ROM控制(zhi)之前的處理；即(ji)將查看(kan)任選的視頻(pin)ROM并加以控制(zhi)。 屏(ping)幕初始準(zhun)備正(zheng)在進(jin)行或失靈。

2D 檢測并(bing)行(xing)端口，并(bing)使之作初始準備(bei)。 已(yi)完成(cheng)任選的視頻ROM控制，即將進(jin)行(xing)視頻ROM回(hui)復控制之后任何(he)其他(ta)處(chu)理的控制。 屏幕回(hui)掃(sao)測試(shi)正在進(jin)行(xing)或(huo)失靈。

2E 使硬磁盤(pan)驅動器(qi)和控制器(qi)作(zuo)初始準(zhun)備。 從視(shi)(shi)頻ROM控制之(zhi)后的處(chu)理復原；如(ru)果(guo)沒有(you)發現(xian)EGA／VGA就要進行(xing)顯示器(qi)存儲器(qi)讀／寫測試(shi)。 檢測視(shi)(shi)頻ROM正在進行(xing)。

2F 檢測數(shu)學協處理器，并使之作初始準備。 沒發(fa)現(xian)EGA／VGA；即(ji)將(jiang)開始顯(xian)示器存儲(chu)器讀／寫測試。

30、建立基本(ben)內存(cun)和擴展內存(cun)。 通過顯示器存(cun)儲器讀／寫測試；即(ji)將進(jin)行掃(sao)描檢查。 認(ren)為屏幕(mu)是可以(yi)工(gong)作的。

31、檢(jian)(jian)測(ce)從C800：0至(zhi)EFFF：0的選用ROM，并使之(zhi)作初始準備(bei)。 顯示器(qi)(qi)存儲器(qi)(qi)讀／寫(xie)測(ce)試或掃描檢(jian)(jian)查失敗，即將進(jin)行(xing)另(ling)一種顯示器(qi)(qi)存儲器(qi)(qi)讀／寫(xie)測(ce)試。 單色(se)監(jian)視器(qi)(qi)是可以工作的。

32、對主板上COM／LTP／FDD／聲音設備等I／O芯(xin)片編程使之適合設置值。 通(tong)過另一(yi)種(zhong)顯示器存儲器讀／寫測試(shi)；卻將進行(xing)另一(yi)種(zhong)顯示器掃描(miao)檢查。 彩色監視器（40列）是(shi)可以(yi)工作的。

33、視(shi)頻顯(xian)示器(qi)檢查結束；將開始利(li)用(yong)調節開關和實際插卡檢驗顯(xian)示器(qi)的關型。 彩(cai)色監視(shi)器(qi)（80列）是可以工作(zuo)的。

34、已(yi)檢驗顯示(shi)器適配器；接著(zhu)將(jiang)調定顯示(shi)方式。 計時器滴答聲中斷(duan)測(ce)試正在進(jin)行或失(shi)靈。

35、完成調定顯示方式；即將(jiang)檢查(cha)BIOS ROM的(de)數據區(qu)。 停機測試正在進(jin)行或失靈。

36、已(yi)檢查BIOS ROM數據區；即將(jiang)調定通電(dian)信息的游(you)標。 門電(dian)路中A－20失(shi)靈(ling)。

37、識別通(tong)電信息的游(you)標調定已完成；即將(jiang)顯示通(tong)電信息。 保(bao)護方式(shi)中的意外中斷。

38、完成(cheng)顯(xian)示(shi)通電(dian)信息；即將讀出新(xin)的游標位置。 RAM測試(shi)正在(zai)進行(xing)或者(zhe)地(di)址故(gu)障＞FFFFH。

39、已讀出保存游標位置(zhi)，即(ji)將顯(xian)示引用信息串。

3A 引(yin)用信息串顯(xian)示(shi)(shi)結束；即將顯(xian)示(shi)(shi)發現《ESC》信息。 間隔計時器通道2測(ce)試或失靈。

3B 用OPTI電路(lu)片（只是486）使輔(fu)助(zhu)超高速緩沖存儲器(qi)作(zuo)初始準(zhun)備。 已顯示發現＜ESC＞信(xin)息；虛擬方式，存儲器(qi)測試(shi)即將開始。 按日計(ji)算(suan)的日歷(li)時(shi)鐘測試(shi)正(zheng)在進行(xing)或失靈。

3C 建立(li)允許進(jin)入(ru)CMOS設置的標志(zhi)。 。 串行端口(kou)測試正在進(jin)行或失靈(ling)。

3D 初始化鍵盤／PS2鼠標(biao)／PNP設(she)備及總內存節(jie)點。并行(xing)端口測試(shi)正在進行(xing)或失(shi)靈。3E 嘗試(shi)打開(kai)L2高速緩存。數學協處理器(qi)測試(shi)正在進行(xing)或失(shi)靈。

40、已開始(shi)準備(bei)虛擬方式的測試；即將從視(shi)頻存儲器來檢驗(yan)。 調整CPU速度，使之與外圍時(shi)鐘精確匹(pi)配。

41、中斷(duan)已打開，將初始化數據以便于0：0檢測內(nei)存變換（中斷(duan)控制器(qi)或內(nei)存不良） 從(cong)視頻存儲器(qi)檢驗(yan)之后復原(yuan)；即將準備描述符表(biao)。 系統插(cha)件板選擇失靈。

42、顯示窗口進入SETUP。 描述符(fu)表已準備(bei)好；即將進行(xing)虛擬方式(shi)作存儲器測試(shi)。 擴展CMOS RAM故障。

43、若是即(ji)插即(ji)用BIOS，則串口、并口初始化。 進入(ru)虛(xu)擬方式；即(ji)將為診斷方式實(shi)現中斷。

44、已(yi)實(shi)現中斷(duan)（如(ru)已(yi)接通(tong)診斷(duan)開關；即將使數據作初始(shi)準(zhun)備以檢查(cha)存儲器(qi)在0：0返轉(zhuan)。） BIOS中斷(duan)進行(xing)初始(shi)化(hua)。

45、初始(shi)化(hua)數(shu)學協處理器。 數(shu)據已作(zuo)初始(shi)準備；即將(jiang)檢查(cha)存儲器在0：0返轉以及(ji)找(zhao)出系統存儲器的規模(mo)。

46、測試存儲(chu)器(qi)已返(fan)回；存儲(chu)器(qi)大小計算完畢，即將寫(xie)入頁面(mian)來測試存儲(chu)器(qi)。 檢查只讀存儲(chu)器(qi)ROM版本。

47、即將在(zai)擴展的存(cun)儲器(qi)(qi)試(shi)寫頁面(mian)(mian)；即將基本640K存(cun)儲器(qi)(qi)寫入頁面(mian)(mian)。

48、已將基本存儲器寫入頁面；即將確(que)定1MB以(yi)上的存儲器。 視頻檢查，CMOS重(zhong)新配置。

49、找出1BM以下的(de)存(cun)儲器并檢(jian)驗；即(ji)將確定1MB以上的(de)存(cun)儲器。 。

4A 找出1MB以上的(de)存(cun)儲(chu)器(qi)并檢驗；即(ji)將(jiang)檢查(cha)BIOS ROM數據區。進行視頻的(de)初始化。

4B BIOS ROM數據(ju)區的檢驗結(jie)束，即將檢查(cha)＜ESC＞和為軟復位清除1MB以(yi)上的存儲(chu)器。

4C 清除1MB以上(shang)的存儲器（軟復(fu)位(wei)）即(ji)將清除1MB以上(shang)的存儲器。 屏蔽視(shi)頻BIOS ROM。

4D 已(yi)清除1MB以上的存儲器（軟復位）；將保存存儲器的大小(xiao)。

4E 若檢測到(dao)有錯(cuo)誤(wu)；在(zai)顯(xian)示(shi)器(qi)(qi)上顯(xian)示(shi)錯(cuo)誤(wu)信息(xi)，并等待(dai)客戶(hu)按＜F1＞鍵繼(ji)續。 開(kai)始存(cun)儲器(qi)(qi)的測試：（無軟復位）；即將(jiang)顯(xian)示(shi)第一個64K存(cun)儲器(qi)(qi)的測試。 顯(xian)示(shi)版權信息(xi)。

4F 讀寫軟、硬盤數據，進(jin)行(xing)DOS引導。 開(kai)始顯示存(cun)儲器(qi)的大小，正在測(ce)(ce)試存(cun)儲器(qi)將(jiang)使之更新；將(jiang)進(jin)行(xing)串行(xing)和隨機的存(cun)儲器(qi)測(ce)(ce)試。

50、將當前BIOS監時區(qu)內的(de)CMOS值存(cun)到CMOS中。 完成(cheng)1MB以下的(de)存(cun)儲(chu)器測試；即將高速存(cun)儲(chu)器的(de)大(da)小以便再定位和掩蔽。 將CPU類型和速度送到屏幕。

51、測(ce)試(shi)1MB以(yi)上的存儲器。

52、所有ISA只(zhi)讀存儲器ROM進(jin)行初始化，最終給PCI分配IRQ號等初始化工作。 已完成1MB以上的存儲器測(ce)試(shi)；即將準備回到實(shi)址方(fang)式。 進(jin)入鍵盤檢測(ce)。

53、如果不是即插(cha)即用BIOS，則(ze)初始化串(chuan)口、并(bing)口和設置時種值。 保存(cun)CPU寄存(cun)器和存(cun)儲器的大小，將進入實址方式。

54、成功地開(kai)啟(qi)實址(zhi)方式；即將復原(yuan)準備停機時保存的寄存器。 掃(sao)描“打擊鍵”。

55、寄(ji)存器(qi)已復原，將(jiang)停用門電路A－20的地址(zhi)線。

56、成功(gong)地(di)停(ting)用A－20的地(di)址(zhi)線；即將檢查BIOS ROM數(shu)據區(qu)。 鍵盤(pan)測(ce)試結束(shu)。

57、BIOS ROM數據區檢查了(le)一半；繼續進(jin)行。

58、BIOS ROM的數據區(qu)檢查(cha)結束(shu)；將清(qing)除(chu)發現＜ESC＞信息(xi)。 非設置中斷測(ce)試。

59、已清除＜ESC＞信息；信息已顯示；即將開始DMA和中斷控(kong)制(zhi)器的測試。

5A 顯示(shi)按“F2”鍵進行設(she)置。

5B 測試基本內(nei)存地址。

5C 測試640K基本(ben)內存。

60、設置硬盤引(yin)導(dao)扇區病毒保護功能。 通過(guo)DMA頁(ye)面(mian)寄存器的(de)測試；即將(jiang)檢驗視頻存儲器。 測試擴展內存。

61、顯示系統配置表。 視頻存(cun)儲器檢驗結束；即將進行(xing)DMA＃1基(ji)本寄存(cun)器的測試(shi)。

62、開始用中斷19H進行(xing)系統(tong)引導(dao)。 通過(guo)DMA＃1基本寄存器的測(ce)試；即將(jiang)進行(xing)DMA＃2寄存器的測(ce)試。 測(ce)試擴展內存地(di)址線(xian)。

63、通過DMA＃2基本(ben)寄存器的測試(shi)；即將檢查BIOS ROM數據(ju)區。

64、BIOS ROM數據區(qu)檢(jian)查了一半，繼續進行(xing)。

65、BIOS ROM數據區檢查結束；將把DMA裝置1和2編程。

66、DMA裝置1和2編(bian)程結束；即(ji)將(jiang)使用59號中斷控(kong)制器作初始準備(bei)。 Cache注冊表進行優化配置。

67、8259初始準備已結束；即將開始鍵盤測試。

68、使(shi)外部(bu)Cache和CPU內(nei)部(bu)Cache都(dou)工(gong)作。

6A 測試并顯示外部Cache值。

6C 顯(xian)示(shi)被屏蔽(bi)內容(rong)。

6E 顯示(shi)附屬配(pei)置(zhi)信(xin)息。

69、檢(jian)測到(dao)的錯誤(wu)代碼送到(dao)屏(ping)幕顯示(shi)。

70、檢測配置有否錯誤。

71、測(ce)試(shi)實時時鐘(zhong)。

72、掃查鍵(jian)盤錯(cuo)誤。

7A 鎖鍵盤。

7C 設置(zhi)硬件中斷矢量。

7E 測試有(you)否(fou)安裝數學(xue)處(chu)理(li)器。