主板診斷卡代碼大全及處理方法

FF、00、C0、D0、CF、F1或什么也沒(mei)有表示CPU沒(mei)通過(guo)

C1、C6、C3、D3、D4、D6、D8、B0、A7、E1表示內存(cun)不過(guo)

24、25、26、01、0A、0B、2A、2B、31表示顯卡不(bu)過

某些集成顯卡主板23、24、25表示(shi)(shi)可以(yi)正常點(dian)(dian)亮，某(mou)些(xie)VIA芯(xin)片組(zu)顯示(shi)(shi)13則表示(shi)(shi)可以(yi)點(dian)(dian)亮，某(mou)些(xie)品牌(pai)機里的(de)主板顯示(shi)(shi)0B則表示(shi)(shi)正常，某(mou)些(xie)主板顯示(shi)(shi)4E表示(shi)(shi)正常點(dian)(dian)亮，某(mou)些(xie)INTEL芯(xin)片組(zu)的(de)主板顯示(shi)(shi)26或16則表示(shi)(shi)可以(yi)正常點(dian)(dian)亮。C1、C6、C3、01、02這(zhe)個組(zu)合(he)循環跳變大部分是I/0壞或刷(shua)BIOS。

如顯示05、ED、41則直接刷BIOS 00 。已顯示系統的(de)配置；即將控制INI19引導裝入(ru)。

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1、處理器測(ce)試1，處理器狀(zhuang)態(tai)核(he)實，如果測(ce)試失(shi)敗，循環(huan)是(shi)無限的。 處理器寄存(cun)器的測(ce)試即將開始，不可(ke)屏(ping)蔽(bi)中(zhong)斷即將停用。 CPU寄存(cun)器測(ce)試正在進行或者失(shi)敗。

2、確(que)定診斷的類型（正常或(huo)者制造）。如果(guo)鍵(jian)盤緩(huan)沖器(qi)含有數據(ju)就會失(shi)效。 停用不可屏蔽中(zhong)斷；通過延遲(chi)開始(shi)。 CMOS寫入(ru)／讀(du)出正在(zai)進行或(huo)者失(shi)靈。

3、清除8042鍵盤控制(zhi)器，發出TESTKBRD命(ming)令（AAH） 通電延遲已完成。 ROM BIOS檢查(cha)部件(jian)正在(zai)進(jin)行或失靈。

4、使8042鍵盤控(kong)(kong)制器復位(wei)，核實TESTKBRD。 鍵盤控(kong)(kong)制器軟復位(wei)／通電測試(shi)。 可編(bian)程間(jian)隔計時(shi)器的測試(shi)正在進行或失靈。

5、如果不斷(duan)重復(fu)制造測試1至5，可獲得8042控制狀態。 已確(que)定軟復(fu)位／通電；即(ji)將(jiang)啟動(dong)ROM。 DMA初如準備正在進行或(huo)者失靈。

6、使電(dian)路(lu)片(pian)(pian)作初始(shi)準(zhun)備，停用視頻(pin)、奇偶性、DMA電(dian)路(lu)片(pian)(pian)，以(yi)及(ji)(ji)清(qing)除DMA電(dian)路(lu)片(pian)(pian)，所有頁(ye)面(mian)寄存器和(he)CMOS停機字節。 已啟動ROM計算ROM BIOS檢查總和(he)，以(yi)及(ji)(ji)檢查鍵盤緩沖器是否清(qing)除。 DMA初始(shi)頁(ye)面(mian)寄存器讀／寫(xie)測試正在進行或(huo)失靈。

7、處理器(qi)測試(shi)2，核實CPU寄存器(qi)的工作。 ROM BIOS檢(jian)查(cha)總和正常(chang)，鍵盤緩沖器(qi)已(yi)清除(chu)，向鍵盤發出BAT（基本保(bao)證測試(shi)）命令。

8、使(shi)CMOS計時器作(zuo)初始(shi)準備，正(zheng)常(chang)的更(geng)新計時器的循環。 已向鍵盤(pan)發出BAT命令，即將寫入BAT命令。 RAM更(geng)新檢驗正(zheng)在進(jin)行或(huo)失靈。

9、EPROM檢(jian)查(cha)總和且(qie)必須等于零才通過。 核(he)實鍵盤的基本(ben)保證測試，接(jie)著(zhu)核(he)實鍵盤命令字節。 第一個64K RAM測試正在進行(xing)。

0A 使(shi)視頻接(jie)口作(zuo)初始準備(bei)。 發出(chu)鍵盤命(ming)令字節(jie)代碼，即(ji)將寫入命(ming)令字節(jie)數據(ju)。 第一個(ge)64K RAM芯片或數據(ju)線(xian)失靈，移位。

0B 測試(shi)8254通道0。 寫(xie)入鍵(jian)盤控制器(qi)命令字節，即將發出引腳23和24的封(feng)鎖／解鎖命令。 第一個64K RAM奇／偶邏輯失靈。

0C 測試8254通道1。 鍵(jian)盤控制器引腳23、24已封鎖／解鎖；已發出(chu)NOP命令。 第(di)一個64K RAN的(de)地址線故障(zhang)。

0D：

1）檢查CPU速(su)度是否與系統時(shi)鐘(zhong)相匹配。

2）檢查控制(zhi)芯片已(yi)編程值是否符(fu)合初設(she)置。

3）視頻通道測試，如果失敗，則鳴喇(la)叭。 已處理NOP命令；接(jie)著測試CMOS停開寄(ji)存器。 第一個(ge)64K RAM的(de)奇偶性失靈。

0E 測試CMOS停機字節(jie)。 CMOS停開寄存器(qi)讀(du)／寫(xie)測試；將(jiang)計(ji)算CMOS檢查總和。 初始化輸入／輸出端口(kou)地址。

0F 測試擴(kuo)展的CMOS。 已(yi)計算CMOS檢查總和寫入診斷字(zi)節(jie)；CMOS開(kai)始初始準備。

10、測試DMA通道0。 CMOS已作初始(shi)準備，CMOS狀態寄存器即將為日(ri)期和時間(jian)作初始(shi)準備。 第(di)一個64K RAM第(di)0位故障。

11、測試DMA通道1。 CMOS狀(zhuang)態寄存器已作初始準備，即將停用(yong)DMA和中斷控(kong)制器。 第一個(ge)64DK RAM第1位故障。

12、測試DMA頁面寄存(cun)器。 停用DMA控制器1以(yi)及中斷控制器1和2；即將視頻顯示(shi)器并使端(duan)口B作初始(shi)準備。 第一個(ge)64DK RAM第2位故障。

13、測試8741鍵盤控(kong)制器接口(kou)。 視頻顯示器已停用，端口(kou)B已作初(chu)(chu)始(shi)準(zhun)備(bei)；即(ji)將(jiang)開(kai)始(shi)電路片初(chu)(chu)始(shi)化／存儲器自動(dong)檢(jian)測。 第(di)一(yi)個64DK RAM第(di)3位故(gu)障。

14、測(ce)試存儲器(qi)更新觸發電(dian)路(lu)。 電(dian)路(lu)片初始化／存儲器(qi)處自動檢(jian)測(ce)結束(shu)；8254計時器(qi)測(ce)試即(ji)將開始。 第一個(ge)64DK RAM第4位故障(zhang)。

15、測(ce)試開(kai)頭64K的系統存儲(chu)器(qi)。 第2通道(dao)計(ji)時器(qi)測(ce)試了一(yi)半(ban)；8254第2通道(dao)計(ji)時器(qi)即(ji)將完成測(ce)試。 第一(yi)個64DK RAM第5位(wei)故障(zhang)。

16、建立8259所用的中斷矢量表(biao)。 第(di)2通道(dao)計(ji)時器測試結束；8254第(di)1通道(dao)計(ji)時器即將完成測試。 第(di)一個64DK RAM第(di)6位(wei)故障。

17、調準視頻輸入／輸出工作，若裝(zhuang)有視頻BIOS則啟(qi)用。 第1通道計時器測試結(jie)束；8254第0通道計時器即(ji)將完成(cheng)測試。 第一個64DK RAM第7位故障。

18、測試視(shi)頻存儲(chu)器，如果安(an)裝(zhuang)選(xuan)用的視(shi)頻BIOS通過，由可繞(rao)過。 第0通道計時器測試結(jie)束；即將開始更新存儲(chu)器。 第一個(ge)64DK RAM第8位(wei)故障。

19、測試第(di)1通(tong)道的(de)中斷控制器(qi)（8259）屏蔽位(wei)。 已(yi)開始(shi)更新(xin)存儲器(qi)，接著將完成存儲器(qi)的(de)更新(xin)。 第(di)一個64DK RAM第(di)9位(wei)故障。

1A 測試第2通(tong)道(dao)的(de)中斷控制(zhi)器(qi)（8259）屏蔽位。 正在觸(chu)發(fa)存儲(chu)器(qi)更新線路，即將檢(jian)查15微秒(miao)通(tong)／斷時間。 第一(yi)個64DK RAM第10位故障。

1B 測(ce)試CMOS電(dian)池電(dian)平。 完成(cheng)存儲(chu)器更新時間30微(wei)秒測(ce)試；即將(jiang)開始基(ji)本的64K存儲(chu)器測(ce)試。 第(di)一個64DK RAM第(di)11位故障。

1C 測試CMOS檢查總和。 第一個64DK RAM第12位故(gu)障(zhang)。

1D 調(diao)定CMOS配(pei)置 。 第一個(ge)64DK RAM第13位故障。

1E 測定(ding)系統存(cun)儲器的(de)大小(xiao)，并且把它和(he)CMOS值(zhi)比較。第一(yi)個(ge)64DK RAM第14位故障(zhang)。

1F 測試(shi)64K存儲(chu)器至最高640K。第一個64DK RAM第15位故障。

20、測量固定的(de)8259中斷位。 開(kai)始基本的(de)64K存(cun)儲器測試(shi)；即將測試(shi)地址線。 從屬DMA寄存(cun)器測試(shi)正在(zai)進(jin)行或失靈(ling)。

21、維持不可屏蔽中斷（NMI）位（奇偶(ou)性(xing)或(huo)輸(shu)(shu)入(ru)／輸(shu)(shu)出(chu)通道的(de)檢查(cha)）。 通過地址線(xian)測試(shi)；即將(jiang)觸發奇偶(ou)性(xing)。 主DMA寄存(cun)器測試(shi)正在進行或(huo)失(shi)靈。

22、測試(shi)8259的中(zhong)(zhong)斷功能。 結束觸發奇偶性；將開(kai)始(shi)串行數據讀／寫測試(shi)。 主中(zhong)(zhong)斷屏蔽寄存器(qi)測試(shi)正在進行或失靈。

23、測試保護方(fang)式(shi)8086虛(xu)擬方(fang)式(shi)和8086頁(ye)面方(fang)式(shi)。 基本的(de)64K串行數(shu)據讀／寫測試正常；即將開(kai)始中(zhong)斷矢量初始化(hua)之前的(de)任何調節。 從屬中(zhong)斷屏蔽存器(qi)測試正在進行或失靈(ling)。

24、測(ce)定1MB以(yi)上的擴展(zhan)存(cun)(cun)儲器。 矢(shi)量初(chu)始化之(zhi)前的任何調節(jie)完成，即(ji)將開始中斷(duan)矢(shi)量的初(chu)始準備。 設(she)置ES段地址寄(ji)存(cun)(cun)器注冊表(biao)到內存(cun)(cun)高端。

25、測(ce)試除頭(tou)一(yi)個64K之后的所有存儲器。 完(wan)成中斷矢(shi)量初始(shi)準備(bei)；將為旋轉式斷續開(kai)始(shi)讀出(chu)8042的輸(shu)入／輸(shu)出(chu)端口(kou)。 裝(zhuang)入中斷矢(shi)量正在(zai)進(jin)行(xing)或失靈。

26、測試保護方式的例外情況。 讀出8042的輸入／輸出端口(kou)；即將(jiang)為旋轉式斷續開始使全局(ju)數(shu)據作(zuo)初始準備。 開啟A20地址線(xian)；使之參入尋址。

27、確定超高(gao)速緩沖存儲器的控制或(huo)屏蔽RAM。 全1數據初(chu)始(shi)準備結束(shu)；接著將進行(xing)中斷(duan)矢量(liang)之后(hou)的任(ren)何初(chu)始(shi)準備。 鍵盤控制器測試正在進行(xing)或(huo)失靈。

28、確定超高(gao)速(su)緩(huan)沖存(cun)儲(chu)器的(de)控制或者(zhe)特(te)別的(de)8042鍵盤控制器。 完成中斷矢量之后的(de)初始準(zhun)備；即將(jiang)調(diao)定單色(se)方式。 CMOS電(dian)源故障／檢查總和計(ji)算正(zheng)在進行。

29、已調定單色方式，即將調定彩色方式。 CMOS配置有效性的檢查正在進行。

2A 使鍵盤控制器作初始準備(bei)。 已調定彩色(se)方式，即將進行ROM測試前的觸發(fa)奇(qi)偶性。 置空(kong)64K基本內存。

2B 使磁碟驅(qu)動器(qi)和控制器(qi)作初始準備(bei)。 觸發奇偶性結束；即將控制任(ren)選的(de)視頻(pin)ROM檢(jian)查(cha)前所需(xu)的(de)任(ren)何調節。 屏(ping)幕存(cun)儲器(qi)測試(shi)正在(zai)進行或失靈(ling)。

2C 檢(jian)查串行端(duan)口，并使之作初(chu)始準(zhun)備。 完成視(shi)頻(pin)ROM控(kong)制之前(qian)的處理(li)；即將(jiang)查看(kan)任(ren)選的視(shi)頻(pin)ROM并加以控(kong)制。 屏幕初(chu)始準(zhun)備正在進(jin)行或失靈。

2D 檢測并行(xing)端口，并使之作初始準備。 已完成任選(xuan)的視頻ROM控制(zhi)，即將(jiang)進行(xing)視頻ROM回(hui)復控制(zhi)之后任何(he)其他處理的控制(zhi)。 屏(ping)幕回(hui)掃測試正在進行(xing)或失(shi)靈。

2E 使硬磁盤驅動(dong)器(qi)和控制器(qi)作初始準備(bei)。 從視頻ROM控制之后的處(chu)理復原；如果沒有發現EGA／VGA就(jiu)要進行顯示器(qi)存儲器(qi)讀／寫測試(shi)。 檢測視頻ROM正在進行。

2F 檢(jian)測數學協處理器，并(bing)使之(zhi)作初始(shi)準備。 沒發(fa)現EGA／VGA；即將開始(shi)顯示器存(cun)儲器讀／寫測試。

30、建立基本內(nei)存和擴展內(nei)存。 通過顯示器存儲器讀／寫(xie)測(ce)試；即將進行掃描檢查。 認(ren)為屏(ping)幕是可以工作的。

31、檢測從C800：0至EFFF：0的(de)選用ROM，并使之作(zuo)初始準備。 顯示器(qi)(qi)存儲(chu)器(qi)(qi)讀／寫測試或掃描檢查失敗(bai)，即將進行另一種顯示器(qi)(qi)存儲(chu)器(qi)(qi)讀／寫測試。 單(dan)色監視(shi)器(qi)(qi)是可以工作(zuo)的(de)。

32、對主板上COM／LTP／FDD／聲音設備等I／O芯(xin)片編程使之適合(he)設置值。 通過(guo)另一種顯(xian)示器存儲器讀／寫測(ce)試；卻將進行另一種顯(xian)示器掃(sao)描檢查。 彩色監(jian)視器（40列）是可以工作的。

33、視頻顯示器檢(jian)查結(jie)束；將開始(shi)利用調節(jie)開關(guan)和實際插(cha)卡檢(jian)驗顯示器的關(guan)型(xing)。 彩色監視器（80列(lie)）是可以工作(zuo)的。

34、已(yi)檢驗(yan)顯示(shi)器(qi)適配器(qi)；接(jie)著將調(diao)定顯示(shi)方式。 計時器(qi)滴答聲中斷測試正在進行或失靈。

35、完成調(diao)定顯示方式；即將檢查BIOS ROM的(de)數據(ju)區。 停(ting)機(ji)測試正在進行(xing)或失靈。

36、已檢(jian)查BIOS ROM數據區；即(ji)將(jiang)調定通電(dian)信息(xi)的游標。 門電(dian)路中A－20失靈。

37、識別(bie)通電信(xin)息的游標調定已完成；即將顯示(shi)通電信(xin)息。 保(bao)護方式(shi)中(zhong)的意外中(zhong)斷。

38、完成顯(xian)示通電(dian)信(xin)息；即將讀出(chu)新的游標位置。 RAM測(ce)試正在進行或(huo)者(zhe)地址(zhi)故障＞FFFFH。

39、已讀出保存游(you)標(biao)位(wei)置，即將(jiang)顯(xian)示引用信(xin)息串。

3A 引用信息串顯(xian)示結束；即將顯(xian)示發現《ESC》信息。 間隔計時(shi)器通道2測試或失靈。

3B 用OPTI電路片(pian)（只是486）使輔(fu)助超高速緩沖存儲器(qi)作初(chu)始(shi)準備(bei)。 已(yi)顯示發現＜ESC＞信息；虛擬方式，存儲器(qi)測試(shi)(shi)即將開始(shi)。 按(an)日計算的日歷時(shi)鐘測試(shi)(shi)正(zheng)在進行(xing)或失靈(ling)。

3C 建立允許進(jin)入CMOS設置的標志。 。 串行端口測試(shi)正在進(jin)行或失(shi)靈。

3D 初始(shi)化鍵盤／PS2鼠標／PNP設(she)備及總內存(cun)節點。并(bing)行端口測(ce)試正在(zai)進(jin)行或失靈。3E 嘗試打開(kai)L2高速(su)緩存(cun)。數(shu)學(xue)協處理器測(ce)試正在(zai)進(jin)行或失靈。

40、已開始準備虛擬(ni)方式(shi)的測試；即(ji)將從視(shi)頻存儲(chu)器來(lai)檢驗。 調整CPU速度，使之與外圍時鐘精確(que)匹配。

41、中斷已打開，將(jiang)初始化(hua)數據以便于(yu)0：0檢(jian)測內存(cun)(cun)變(bian)換(huan)（中斷控(kong)制(zhi)器或內存(cun)(cun)不良） 從(cong)視頻存(cun)(cun)儲(chu)器檢(jian)驗之后復原；即將(jiang)準(zhun)備描(miao)述符(fu)表。 系統(tong)插(cha)件板選擇失靈(ling)。

42、顯示(shi)窗口(kou)進入SETUP。 描(miao)述符表已準備(bei)好；即將(jiang)進行(xing)虛(xu)擬方式作存(cun)儲器(qi)測試。 擴展CMOS RAM故障。

43、若(ruo)是即插即用BIOS，則串口(kou)、并口(kou)初始化。 進(jin)入虛擬方式(shi)；即將為診(zhen)斷(duan)方式(shi)實現中斷(duan)。

44、已實現中斷（如已接通診斷開關；即將(jiang)使(shi)數據作初始(shi)準備以檢(jian)查存儲器在0：0返轉。） BIOS中斷進行(xing)初始(shi)化。

45、初始化數(shu)(shu)學協處(chu)理器(qi)。 數(shu)(shu)據(ju)已作初始準(zhun)備；即(ji)將檢查存儲器(qi)在0：0返轉以及找出系統存儲器(qi)的規模(mo)。

46、測試(shi)(shi)存(cun)儲器已(yi)返(fan)回；存(cun)儲器大(da)小(xiao)計算完畢，即將寫入頁面來測試(shi)(shi)存(cun)儲器。 檢查只讀(du)存(cun)儲器ROM版(ban)本(ben)。

47、即將在擴(kuo)展(zhan)的存儲器(qi)試(shi)寫(xie)頁面；即將基本640K存儲器(qi)寫(xie)入頁面。

48、已將基本存儲(chu)器寫(xie)入頁面；即將確定(ding)1MB以(yi)上(shang)的存儲(chu)器。 視頻(pin)檢查(cha)，CMOS重新配(pei)置。

49、找出1BM以下(xia)的存儲器并檢驗；即將確定(ding)1MB以上的存儲器。 。

4A 找(zhao)出1MB以(yi)上的存儲器并檢驗；即(ji)將檢查(cha)BIOS ROM數據區。進行視頻的初始化。

4B BIOS ROM數據(ju)區(qu)的檢驗(yan)結束，即將檢查＜ESC＞和為軟復(fu)位清(qing)除1MB以上的存儲器。

4C 清除1MB以(yi)上的(de)存(cun)儲(chu)器（軟復位）即將(jiang)清除1MB以(yi)上的(de)存(cun)儲(chu)器。 屏蔽(bi)視頻BIOS ROM。

4D 已清除1MB以上的存(cun)儲(chu)器（軟復位(wei)）；將保存(cun)存(cun)儲(chu)器的大(da)小。

4E 若檢測(ce)到有錯誤；在顯(xian)(xian)(xian)示(shi)器(qi)上顯(xian)(xian)(xian)示(shi)錯誤信(xin)息(xi)，并等(deng)待客戶按＜F1＞鍵(jian)繼(ji)續。 開始存儲器(qi)的(de)測(ce)試：（無軟復位(wei)）；即將顯(xian)(xian)(xian)示(shi)第(di)一個64K存儲器(qi)的(de)測(ce)試。 顯(xian)(xian)(xian)示(shi)版權信(xin)息(xi)。

4F 讀寫軟、硬盤數據，進行DOS引導。 開始顯示(shi)存(cun)儲器(qi)的(de)大小，正在測(ce)試存(cun)儲器(qi)將(jiang)使(shi)之更新；將(jiang)進行串行和隨機的(de)存(cun)儲器(qi)測(ce)試。

50、將當前BIOS監時區(qu)內的(de)(de)CMOS值存(cun)到CMOS中。 完成1MB以下(xia)的(de)(de)存(cun)儲器(qi)測試；即將高速(su)存(cun)儲器(qi)的(de)(de)大小以便再定位和掩蔽(bi)。 將CPU類型和速(su)度送到屏幕。

51、測(ce)試1MB以(yi)上的存(cun)儲器(qi)。

52、所(suo)有ISA只(zhi)讀存儲器ROM進(jin)行初始化，最終給PCI分配IRQ號等初始化工作。 已完(wan)成1MB以上(shang)的存儲器測(ce)試；即(ji)將(jiang)準備(bei)回到實址方式(shi)。 進(jin)入鍵盤檢測(ce)。

53、如果不是即插即用(yong)BIOS，則初始化串口(kou)、并(bing)口(kou)和設置時(shi)種(zhong)值。 保(bao)存(cun)CPU寄存(cun)器和存(cun)儲器的大小，將(jiang)進入實址方式。

54、成(cheng)功地(di)開啟實址方(fang)式；即(ji)將復(fu)原準備停機時保存的寄存器。 掃(sao)描“打(da)擊(ji)鍵”。

55、寄存器已復原(yuan)，將(jiang)停用門電路A－20的地址線(xian)。

56、成功地停用A－20的地址(zhi)線；即(ji)將檢查BIOS ROM數據(ju)區。 鍵盤測試結(jie)束。

57、BIOS ROM數據區(qu)檢查了(le)一(yi)半；繼(ji)續(xu)進行。

58、BIOS ROM的數據區檢查結束；將(jiang)清(qing)除發現(xian)＜ESC＞信息(xi)。 非設置中斷(duan)測試。

59、已清除＜ESC＞信息；信息已顯(xian)示；即將開始DMA和中斷控制(zhi)器的(de)測試。

5A 顯示按“F2”鍵進行設置(zhi)。

5B 測(ce)試基本內存地(di)址。

5C 測(ce)試640K基本(ben)內存。

60、設置硬盤引導扇區病毒保護(hu)功(gong)能。 通(tong)過DMA頁面寄存(cun)器(qi)(qi)的(de)測(ce)試(shi)；即將檢驗視(shi)頻存(cun)儲器(qi)(qi)。 測(ce)試(shi)擴展內(nei)存(cun)。

61、顯示系(xi)統(tong)配(pei)置表。 視頻存(cun)儲器檢驗結束；即將進行DMA＃1基(ji)本寄存(cun)器的測試。

62、開(kai)始用中(zhong)斷19H進行系(xi)統(tong)引導。 通過(guo)DMA＃1基本(ben)寄存器的測(ce)試(shi)；即將進行DMA＃2寄存器的測(ce)試(shi)。 測(ce)試(shi)擴展內存地址線。

63、通過DMA＃2基(ji)本寄存器的測試；即將(jiang)檢查BIOS ROM數據區。

64、BIOS ROM數據區檢(jian)查(cha)了一半(ban)，繼續進行。

65、BIOS ROM數據區檢查結束；將把DMA裝(zhuang)置1和2編程(cheng)。

66、DMA裝置1和2編(bian)程(cheng)結(jie)束；即(ji)將使用59號中斷控(kong)制器作(zuo)初(chu)始準備。 Cache注冊表進行優化配置。

67、8259初始準(zhun)備已結束；即將開始鍵盤測試(shi)。

68、使外部Cache和CPU內部Cache都工作(zuo)。

6A 測試并(bing)顯示外部Cache值。

6C 顯示被屏蔽內容。

6E 顯(xian)示附屬配置信息。

69、檢測到(dao)的錯(cuo)誤代碼(ma)送到(dao)屏幕顯示。

70、檢測(ce)配置有否錯(cuo)誤。

71、測試(shi)實(shi)時時鐘。

72、掃查(cha)鍵(jian)盤錯誤。

7A 鎖鍵盤。

7C 設置硬件(jian)中斷矢量。

7E 測試有否安裝數學處(chu)理器。