主板診斷卡代碼大全及處理方法

FF、00、C0、D0、CF、F1或什么也沒(mei)有表(biao)示CPU沒(mei)通過

C1、C6、C3、D3、D4、D6、D8、B0、A7、E1表示(shi)內存不過

24、25、26、01、0A、0B、2A、2B、31表示顯卡不過

某些集成顯卡主板23、24、25表(biao)(biao)示(shi)(shi)可以(yi)(yi)正(zheng)常點(dian)(dian)亮，某(mou)些VIA芯(xin)片組(zu)(zu)顯(xian)示(shi)(shi)13則(ze)表(biao)(biao)示(shi)(shi)可以(yi)(yi)點(dian)(dian)亮，某(mou)些品牌(pai)機(ji)里的主板(ban)顯(xian)示(shi)(shi)0B則(ze)表(biao)(biao)示(shi)(shi)正(zheng)常，某(mou)些主板(ban)顯(xian)示(shi)(shi)4E表(biao)(biao)示(shi)(shi)正(zheng)常點(dian)(dian)亮，某(mou)些INTEL芯(xin)片組(zu)(zu)的主板(ban)顯(xian)示(shi)(shi)26或16則(ze)表(biao)(biao)示(shi)(shi)可以(yi)(yi)正(zheng)常點(dian)(dian)亮。C1、C6、C3、01、02這個組(zu)(zu)合循環(huan)跳變大(da)部(bu)分(fen)是I/0壞或刷(shua)BIOS。

如顯(xian)示05、ED、41則直接刷BIOS 00 。已顯(xian)示系統的配(pei)置(zhi)；即將控制INI19引導裝(zhuang)入。

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1、處理(li)器(qi)測(ce)(ce)試1，處理(li)器(qi)狀態核實(shi)，如果測(ce)(ce)試失敗(bai)，循(xun)環是無限的(de)。 處理(li)器(qi)寄存器(qi)的(de)測(ce)(ce)試即將開始，不可屏(ping)蔽中(zhong)斷(duan)即將停用。 CPU寄存器(qi)測(ce)(ce)試正在進行或者失敗(bai)。

2、確(que)定診斷的類型（正常或者(zhe)制(zhi)造(zao)）。如果鍵盤緩(huan)沖器含有數據就會失(shi)(shi)效。 停(ting)用不可(ke)屏(ping)蔽中(zhong)斷；通過延遲開始。 CMOS寫(xie)入／讀出正在進(jin)行或者(zhe)失(shi)(shi)靈(ling)。

3、清除(chu)8042鍵盤(pan)控制器，發出TESTKBRD命令（AAH） 通電(dian)延遲已完成(cheng)。 ROM BIOS檢查部件(jian)正在進(jin)行或失靈。

4、使8042鍵盤(pan)(pan)控制器(qi)(qi)復(fu)位，核實TESTKBRD。 鍵盤(pan)(pan)控制器(qi)(qi)軟復(fu)位／通電測試。 可(ke)編程間隔計(ji)時器(qi)(qi)的測試正(zheng)在進(jin)行或失靈。

5、如果不斷重復制造(zao)測試1至5，可獲得8042控制狀態。 已(yi)確(que)定軟復位(wei)／通電(dian)；即將啟動(dong)ROM。 DMA初如準備正在進行或者失靈。

6、使電路片(pian)(pian)作初(chu)始(shi)準(zhun)備，停(ting)用視(shi)頻、奇偶性、DMA電路片(pian)(pian)，以及清除DMA電路片(pian)(pian)，所有(you)頁(ye)面(mian)寄存(cun)器(qi)(qi)和(he)CMOS停(ting)機(ji)字(zi)節(jie)。 已啟動(dong)ROM計算ROM BIOS檢查總和(he)，以及檢查鍵(jian)盤緩沖器(qi)(qi)是否清除。 DMA初(chu)始(shi)頁(ye)面(mian)寄存(cun)器(qi)(qi)讀／寫測試正在(zai)進行或失(shi)靈。

7、處(chu)理(li)器(qi)測試(shi)2，核實CPU寄存(cun)器(qi)的工作。 ROM BIOS檢查總和正常，鍵盤緩(huan)沖(chong)器(qi)已清除，向(xiang)鍵盤發(fa)出BAT（基本保證測試(shi)）命令。

8、使CMOS計時(shi)器(qi)作初始準備，正常的更新(xin)計時(shi)器(qi)的循環。 已向(xiang)鍵盤發出BAT命(ming)令，即(ji)將寫入(ru)BAT命(ming)令。 RAM更新(xin)檢(jian)驗正在(zai)進(jin)行或失靈。

9、EPROM檢查總和且必須(xu)等于(yu)零才(cai)通過。 核實鍵盤的基本保證測試，接著核實鍵盤命令字節(jie)。 第一個64K RAM測試正(zheng)在進行。

0A 使視頻接口作初始(shi)準備。 發出鍵盤命令字節(jie)代碼，即將寫入(ru)命令字節(jie)數(shu)據。 第一個64K RAM芯片(pian)或數(shu)據線失靈(ling)，移位(wei)。

0B 測(ce)試8254通道(dao)0。 寫(xie)入鍵盤(pan)控制(zhi)器(qi)命令(ling)字節，即(ji)將發出引腳23和24的(de)封鎖／解鎖命令(ling)。 第一(yi)個64K RAM奇(qi)／偶邏輯失靈。

0C 測試8254通(tong)道1。 鍵盤(pan)控制(zhi)器引腳23、24已封鎖／解鎖；已發出NOP命令。 第一個64K RAN的(de)地(di)址線故障(zhang)。

0D：

1）檢(jian)查CPU速度(du)是否與系(xi)統時鐘(zhong)相匹(pi)配。

2）檢查控制芯片(pian)已(yi)編程值是否(fou)符合初設置(zhi)。

3）視頻通道測試，如果失(shi)敗，則(ze)鳴(ming)喇叭。 已處理NOP命令；接著(zhu)測試CMOS停開寄(ji)存器。 第一(yi)個(ge)64K RAM的奇偶性(xing)失(shi)靈。

0E 測試(shi)(shi)CMOS停(ting)機(ji)字(zi)節。 CMOS停(ting)開寄存(cun)器讀／寫測試(shi)(shi)；將計(ji)算(suan)CMOS檢查總和(he)。 初始化輸入(ru)／輸出端(duan)口地(di)址(zhi)。

0F 測試擴(kuo)展的CMOS。 已(yi)計算CMOS檢查總和(he)寫入診斷(duan)字節；CMOS開始初始準備。

10、測(ce)試DMA通道(dao)0。 CMOS已作(zuo)初始準備，CMOS狀態寄存器即將(jiang)為日期和時間作(zuo)初始準備。 第一個64K RAM第0位故障。

11、測試DMA通(tong)道1。 CMOS狀態寄存器已作初(chu)始(shi)準(zhun)備，即將停用DMA和中斷控制器。 第一個64DK RAM第1位故障。

12、測試DMA頁面寄(ji)存器(qi)(qi)。 停用DMA控制(zhi)(zhi)器(qi)(qi)1以(yi)及中斷控制(zhi)(zhi)器(qi)(qi)1和2；即將視頻(pin)顯示器(qi)(qi)并使端口B作初始準備。 第(di)一個64DK RAM第(di)2位故障(zhang)。

13、測試8741鍵盤控制器接口。 視頻顯示器已停用，端(duan)口B已作初(chu)始準備(bei)；即將開始電路片(pian)初(chu)始化／存儲(chu)器自動檢測。 第一個64DK RAM第3位故障。

14、測(ce)試(shi)存儲器(qi)更新觸發電路。 電路片(pian)初(chu)始化／存儲器(qi)處自動(dong)檢測(ce)結束(shu)；8254計時器(qi)測(ce)試(shi)即將開始。 第一個64DK RAM第4位故障。

15、測(ce)(ce)試開頭64K的系統存儲器(qi)。 第2通道計(ji)(ji)時器(qi)測(ce)(ce)試了一(yi)半；8254第2通道計(ji)(ji)時器(qi)即將完成測(ce)(ce)試。 第一(yi)個64DK RAM第5位(wei)故障。

16、建(jian)立8259所用的(de)中斷矢量表。 第(di)2通道計(ji)時(shi)器測試結束；8254第(di)1通道計(ji)時(shi)器即(ji)將完成測試。 第(di)一(yi)個64DK RAM第(di)6位故障。

17、調準視頻輸(shu)入／輸(shu)出工作，若裝(zhuang)有視頻BIOS則啟用。 第(di)(di)1通(tong)道(dao)(dao)計時(shi)器測(ce)試結(jie)束；8254第(di)(di)0通(tong)道(dao)(dao)計時(shi)器即(ji)將(jiang)完成測(ce)試。 第(di)(di)一(yi)個(ge)64DK RAM第(di)(di)7位故障(zhang)。

18、測試視(shi)頻存儲(chu)(chu)器(qi)，如果安裝(zhuang)選用的視(shi)頻BIOS通過，由可繞過。 第0通道計時器(qi)測試結(jie)束；即將(jiang)開始更(geng)新存儲(chu)(chu)器(qi)。 第一個64DK RAM第8位故(gu)障。

19、測試第(di)1通道的(de)中斷控制器(qi)(qi)（8259）屏蔽位。 已開始更新存儲器(qi)(qi)，接著(zhu)將完成(cheng)存儲器(qi)(qi)的(de)更新。 第(di)一個64DK RAM第(di)9位故障。

1A 測試(shi)第(di)2通道(dao)的(de)中斷(duan)控制器（8259）屏蔽位。 正(zheng)在觸發存儲器更(geng)新線(xian)路，即將檢查15微秒通／斷(duan)時間。 第(di)一個(ge)64DK RAM第(di)10位故障。

1B 測(ce)試CMOS電(dian)池電(dian)平。 完成存儲器更(geng)新時間(jian)30微(wei)秒測(ce)試；即將開始(shi)基本的64K存儲器測(ce)試。 第一個(ge)64DK RAM第11位(wei)故障。

1C 測試CMOS檢查總和。 第(di)一(yi)個64DK RAM第(di)12位(wei)故障。

1D 調定CMOS配(pei)置(zhi) 。 第(di)(di)一個64DK RAM第(di)(di)13位故(gu)障(zhang)。

1E 測(ce)定系統存儲器的(de)大(da)小，并(bing)且把它和CMOS值比較。第一個64DK RAM第14位故障。

1F 測試64K存儲器(qi)至最高640K。第一個64DK RAM第15位故障(zhang)。

20、測量固定的8259中斷(duan)位。 開始基本的64K存儲器測試；即將測試地址線(xian)。 從屬DMA寄(ji)存器測試正在進行或失靈。

21、維持不(bu)可(ke)屏蔽中(zhong)斷（NMI）位（奇偶性或輸(shu)入／輸(shu)出通道的檢查）。 通過地址線測試；即將觸(chu)發奇偶性。 主DMA寄存器測試正在進行(xing)或失靈。

22、測(ce)試(shi)8259的中斷(duan)(duan)功能。 結束觸發(fa)奇偶性；將(jiang)開始串(chuan)行(xing)數據讀／寫測(ce)試(shi)。 主中斷(duan)(duan)屏蔽寄存器(qi)測(ce)試(shi)正在進行(xing)或失(shi)靈。

23、測試保(bao)護方式8086虛擬(ni)方式和8086頁面方式。 基本(ben)的(de)64K串行數據讀(du)／寫測試正常(chang)；即將開始(shi)中斷矢(shi)量初始(shi)化之(zhi)前的(de)任何調節。 從屬(shu)中斷屏(ping)蔽存器測試正在進行或失靈。

24、測定1MB以(yi)上(shang)的擴展(zhan)存儲(chu)器(qi)(qi)。 矢(shi)量初(chu)始(shi)(shi)化之(zhi)前的任何調節(jie)完(wan)成(cheng)，即將開始(shi)(shi)中(zhong)斷(duan)矢(shi)量的初(chu)始(shi)(shi)準(zhun)備(bei)。 設置ES段(duan)地址(zhi)寄存器(qi)(qi)注冊表到(dao)內存高(gao)端。

25、測試除頭一(yi)個(ge)64K之后的所有(you)存儲(chu)器。 完成(cheng)中斷(duan)矢量(liang)初始(shi)準備(bei)；將為(wei)旋轉式斷(duan)續開始(shi)讀出8042的輸(shu)入／輸(shu)出端(duan)口。 裝入中斷(duan)矢量(liang)正在進行或失靈。

26、測(ce)試(shi)保護方式(shi)(shi)的(de)例(li)外情(qing)況(kuang)。 讀出8042的(de)輸入／輸出端口(kou)；即(ji)將為(wei)旋轉式(shi)(shi)斷(duan)續開始(shi)(shi)使(shi)全局數據作初始(shi)(shi)準(zhun)備。 開啟A20地址線；使(shi)之(zhi)參入尋址。

27、確定超高速(su)緩沖(chong)存(cun)儲器(qi)的控(kong)制或(huo)(huo)屏蔽RAM。 全1數據初始準(zhun)備結束；接著將進行中斷矢量之后的任何初始準(zhun)備。 鍵盤(pan)控(kong)制器(qi)測試正在進行或(huo)(huo)失靈(ling)。

28、確定超高速緩沖存儲(chu)器的控制或者(zhe)特(te)別的8042鍵盤控制器。 完成中斷(duan)矢量之后(hou)的初始準備(bei)；即將調定單色方(fang)式。 CMOS電源故障(zhang)／檢查(cha)總和計算正在進行。

29、已(yi)調(diao)定(ding)單色方(fang)式，即(ji)將調(diao)定(ding)彩色方(fang)式。 CMOS配置(zhi)有效(xiao)性的檢查正(zheng)在進行。

2A 使鍵盤控制器作初始準備(bei)。 已調定彩色方(fang)式，即將進行(xing)ROM測試前(qian)的觸發奇偶性。 置空(kong)64K基本內(nei)存。

2B 使磁碟(die)驅動器(qi)(qi)和控(kong)(kong)制器(qi)(qi)作初始準備(bei)。 觸發奇偶性結束(shu)；即將控(kong)(kong)制任選的(de)視頻ROM檢查前所需(xu)的(de)任何調節。 屏(ping)幕(mu)存儲器(qi)(qi)測試正(zheng)在進行或(huo)失靈。

2C 檢查串行(xing)端(duan)口，并使之作(zuo)初始準備(bei)。 完(wan)成視頻ROM控制之前(qian)的處理(li)；即將查看(kan)任選的視頻ROM并加以控制。 屏(ping)幕(mu)初始準備(bei)正在進(jin)行(xing)或失靈(ling)。

2D 檢測(ce)并行(xing)端口，并使(shi)之作初始(shi)準備。 已完成任選的(de)視(shi)頻ROM控制，即將進行(xing)視(shi)頻ROM回復控制之后任何其他處理的(de)控制。 屏(ping)幕(mu)回掃測(ce)試(shi)正在進行(xing)或失靈(ling)。

2E 使硬磁(ci)盤(pan)驅動器(qi)(qi)和控(kong)制器(qi)(qi)作初始(shi)準備。 從視頻ROM控(kong)制之后的處理復原；如果沒有(you)發現EGA／VGA就要進(jin)(jin)行(xing)顯示(shi)器(qi)(qi)存儲器(qi)(qi)讀／寫測(ce)試(shi)。 檢(jian)測(ce)視頻ROM正在進(jin)(jin)行(xing)。

2F 檢測(ce)數學協處理器，并(bing)使之作初始準備。 沒(mei)發現EGA／VGA；即將開始顯示器存儲器讀(du)／寫(xie)測(ce)試。

30、建立基本內存和擴(kuo)展(zhan)內存。 通過顯示器存儲器讀／寫測試；即(ji)將(jiang)進行(xing)掃描(miao)檢(jian)查。 認為屏幕是可以工作的。

31、檢測從C800：0至EFFF：0的選用ROM，并使之(zhi)作初始準(zhun)備。 顯示器(qi)存儲(chu)器(qi)讀／寫測試或掃描檢查失敗，即將進行(xing)另一種顯示器(qi)存儲(chu)器(qi)讀／寫測試。 單色監視器(qi)是可以工作的。

32、對主板上COM／LTP／FDD／聲音設(she)備(bei)等I／O芯片編程(cheng)使之適(shi)合設(she)置值。 通(tong)過另一種顯(xian)示器(qi)(qi)存儲器(qi)(qi)讀(du)／寫測試；卻將進行另一種顯(xian)示器(qi)(qi)掃(sao)描檢查。 彩色監視器(qi)(qi)（40列）是(shi)可(ke)以工作(zuo)的。

33、視(shi)(shi)頻顯(xian)(xian)示(shi)器檢查(cha)結束；將開始利用調節開關(guan)和實際插(cha)卡檢驗顯(xian)(xian)示(shi)器的關(guan)型。 彩色監視(shi)(shi)器（80列(lie)）是可以工作的。

34、已檢驗顯(xian)示器(qi)適配器(qi)；接(jie)著將調定顯(xian)示方式。 計時器(qi)滴答聲(sheng)中斷測試正在進(jin)行(xing)或失靈。

35、完成調(diao)定(ding)顯示(shi)方式；即(ji)將(jiang)檢查(cha)BIOS ROM的數據(ju)區。 停(ting)機(ji)測試正在進(jin)行或失靈。

36、已(yi)檢查(cha)BIOS ROM數(shu)據(ju)區；即(ji)將調(diao)定通電(dian)信息的(de)游標(biao)。 門電(dian)路中A－20失(shi)靈(ling)。

37、識別通(tong)電信(xin)息的(de)(de)游標調定已完成(cheng)；即將顯示通(tong)電信(xin)息。 保護(hu)方式中的(de)(de)意外中斷。

38、完成顯(xian)示通(tong)電信(xin)息；即將讀出新的游標(biao)位(wei)置。 RAM測試正在(zai)進(jin)行或者(zhe)地(di)址故(gu)障(zhang)＞FFFFH。

39、已讀出(chu)保存游(you)標(biao)位置，即(ji)將(jiang)顯示引(yin)用信息(xi)串(chuan)。

3A 引用(yong)信息串顯示結束；即將顯示發現《ESC》信息。 間(jian)隔計時器通(tong)道2測(ce)試或失(shi)靈。

3B 用(yong)OPTI電路片（只(zhi)是(shi)486）使輔助超(chao)高(gao)速(su)緩沖存儲器作初始(shi)準(zhun)備。 已顯示發現(xian)＜ESC＞信(xin)息；虛擬方式，存儲器測試(shi)(shi)即(ji)將開始(shi)。 按日(ri)計算的(de)日(ri)歷時鐘測試(shi)(shi)正在(zai)進行或失靈。

3C 建立允許進(jin)入CMOS設置(zhi)的標志。 。 串行(xing)端口測試正在進(jin)行(xing)或失靈。

3D 初(chu)始化鍵盤／PS2鼠標／PNP設備及總內存(cun)節點。并行(xing)端(duan)口測試正在(zai)(zai)進行(xing)或失靈。3E 嘗(chang)試打開L2高速緩存(cun)。數(shu)學協處(chu)理器測試正在(zai)(zai)進行(xing)或失靈。

40、已開始(shi)準備虛擬方(fang)式的(de)測試；即(ji)將從(cong)視(shi)頻存儲器(qi)來(lai)檢驗。 調整CPU速度，使之與(yu)外圍時鐘精確(que)匹配。

41、中(zhong)斷已打開，將初始化數(shu)據以便于0：0檢(jian)測內存變換（中(zhong)斷控制(zhi)器或內存不良） 從視(shi)頻存儲器檢(jian)驗之后復原；即(ji)將準(zhun)備描述(shu)符表(biao)。 系統插件板選擇(ze)失(shi)靈。

42、顯(xian)示窗口進入SETUP。 描述符表已準備(bei)好；即(ji)將進行(xing)虛擬(ni)方式作存儲器測試。 擴展CMOS RAM故障。

43、若是即插即用BIOS，則串口、并(bing)口初始化。 進入虛(xu)擬方(fang)式；即將為診斷方(fang)式實現(xian)中斷。

44、已實(shi)現中斷（如已接通(tong)診(zhen)斷開關；即將使數據作初始準(zhun)備以檢查存(cun)儲(chu)器在0：0返(fan)轉。） BIOS中斷進行初始化。

45、初(chu)始化數學(xue)協處理器。 數據已作(zuo)初(chu)始準備；即將檢查存儲器在0：0返轉(zhuan)以及找出系統(tong)存儲器的規模(mo)。

46、測試(shi)存儲(chu)器已返回(hui)；存儲(chu)器大(da)小計(ji)算(suan)完畢(bi)，即將寫(xie)入(ru)頁面來測試(shi)存儲(chu)器。 檢查只(zhi)讀(du)存儲(chu)器ROM版本。

47、即將在擴展的存(cun)(cun)儲器試寫頁面(mian)；即將基本(ben)640K存(cun)(cun)儲器寫入頁面(mian)。

48、已(yi)將基本存(cun)儲器(qi)寫入頁面；即將確(que)定1MB以上的(de)存(cun)儲器(qi)。 視頻檢(jian)查，CMOS重新配置(zhi)。

49、找出1BM以下的存儲器并檢驗；即(ji)將(jiang)確定1MB以上的存儲器。 。

4A 找出1MB以上的存儲器并檢驗；即將檢查BIOS ROM數據區。進行視頻(pin)的初始化。

4B BIOS ROM數據區的檢驗結束，即將(jiang)檢查(cha)＜ESC＞和(he)為軟復位(wei)清除1MB以上的存儲器。

4C 清除(chu)1MB以上(shang)的(de)存儲器（軟復位）即將清除(chu)1MB以上(shang)的(de)存儲器。 屏蔽視頻BIOS ROM。

4D 已清除1MB以上的存(cun)儲(chu)器（軟復位）；將(jiang)保(bao)存(cun)存(cun)儲(chu)器的大小。

4E 若(ruo)檢測(ce)到(dao)有錯誤(wu)；在顯示器(qi)上顯示錯誤(wu)信(xin)息(xi)，并等待(dai)客戶(hu)按＜F1＞鍵繼續(xu)。 開始(shi)存儲(chu)器(qi)的測(ce)試：（無軟(ruan)復位(wei)）；即將(jiang)顯示第(di)一個(ge)64K存儲(chu)器(qi)的測(ce)試。 顯示版權信(xin)息(xi)。

4F 讀(du)寫(xie)軟、硬盤數據，進行(xing)(xing)(xing)DOS引導。 開(kai)始顯示存儲器(qi)(qi)的大小，正在測試存儲器(qi)(qi)將使之更新；將進行(xing)(xing)(xing)串行(xing)(xing)(xing)和(he)隨機的存儲器(qi)(qi)測試。

50、將當前BIOS監時區內(nei)的CMOS值存到(dao)CMOS中。 完成1MB以下(xia)的存儲器測(ce)試；即將高速(su)存儲器的大(da)小以便(bian)再定位和掩蔽。 將CPU類型和速(su)度送到(dao)屏幕。

51、測試1MB以上的(de)存(cun)儲器(qi)。

52、所有ISA只(zhi)讀存儲器(qi)ROM進(jin)行初(chu)(chu)始化，最終給PCI分配IRQ號等初(chu)(chu)始化工(gong)作。 已完成1MB以上(shang)的存儲器(qi)測(ce)試；即(ji)將準(zhun)備回到實(shi)址方式(shi)。 進(jin)入鍵盤檢(jian)測(ce)。

53、如果不是即插(cha)即用BIOS，則初(chu)始化串口(kou)、并口(kou)和設置時種值。 保存CPU寄存器和存儲器的(de)大(da)小，將進入(ru)實(shi)址方(fang)式(shi)。

54、成功地開啟實址方式；即將復原(yuan)準備停(ting)機(ji)時保存的寄(ji)存器。 掃描“打擊鍵”。

55、寄存器已復原，將停用(yong)門電路A－20的地址線。

56、成功地(di)停用A－20的地(di)址(zhi)線；即將(jiang)檢查BIOS ROM數據區。 鍵盤測試結束。

57、BIOS ROM數據區檢(jian)查了一半；繼續進行(xing)。

58、BIOS ROM的(de)數據區檢(jian)查結束(shu)；將清(qing)除發(fa)現(xian)＜ESC＞信息。 非設置中斷測試。

59、已清除(chu)＜ESC＞信息(xi)；信息(xi)已顯示(shi)；即將開始(shi)DMA和中斷控制器(qi)的測(ce)試(shi)。

5A 顯示(shi)按“F2”鍵進行設(she)置。

5B 測(ce)試基本(ben)內存地址。

5C 測(ce)試640K基本內存。

60、設(she)置硬盤引導扇區病毒保護(hu)功能。 通過DMA頁面寄存器的(de)測試；即將檢驗視頻(pin)存儲器。 測試擴展內存。

61、顯示系統配置表(biao)。 視頻(pin)存(cun)儲器(qi)檢驗結束；即將進(jin)行DMA＃1基本寄存(cun)器(qi)的測試。

62、開始用中斷19H進(jin)(jin)行系(xi)統引導。 通(tong)過DMA＃1基(ji)本寄(ji)存器的測(ce)試；即將進(jin)(jin)行DMA＃2寄(ji)存器的測(ce)試。 測(ce)試擴展內存地(di)址線。

63、通(tong)過DMA＃2基本(ben)寄(ji)存器的測試；即將(jiang)檢查(cha)BIOS ROM數據區。

64、BIOS ROM數據區檢查了一(yi)半，繼續(xu)進行。

65、BIOS ROM數(shu)據區檢查結束(shu)；將把DMA裝(zhuang)置1和2編程。

66、DMA裝置1和(he)2編程結束(shu)；即將使(shi)用59號中斷控制器作初始準備。 Cache注冊表進行優化配置。

67、8259初(chu)始準(zhun)備(bei)已結束(shu)；即將(jiang)開始鍵盤測(ce)試。

68、使(shi)外部(bu)Cache和(he)CPU內部(bu)Cache都工作。

6A 測試(shi)并顯示外部Cache值。

6C 顯(xian)示被屏蔽內容(rong)。

6E 顯示附屬(shu)配置信息(xi)。

69、檢測(ce)到(dao)的錯誤代碼送到(dao)屏幕顯示。

70、檢測配置有否錯誤。

71、測試實時(shi)時(shi)鐘。

72、掃(sao)查鍵(jian)盤錯誤。

7A 鎖鍵盤。

7C 設(she)置硬件中斷矢量。

7E 測試有否(fou)安裝數學處理器。