主板診斷卡代碼大全及處理方法

FF、00、C0、D0、CF、F1或(huo)什么也沒(mei)有表示CPU沒(mei)通過

C1、C6、C3、D3、D4、D6、D8、B0、A7、E1表示內存不過

24、25、26、01、0A、0B、2A、2B、31表示顯(xian)卡不過(guo)

某些集成顯卡主板23、24、25表(biao)示(shi)(shi)(shi)可(ke)以(yi)正(zheng)(zheng)常點(dian)(dian)亮(liang)(liang)，某(mou)(mou)(mou)些(xie)VIA芯片(pian)組(zu)顯示(shi)(shi)(shi)13則表(biao)示(shi)(shi)(shi)可(ke)以(yi)點(dian)(dian)亮(liang)(liang)，某(mou)(mou)(mou)些(xie)品(pin)牌機里(li)的(de)主(zhu)(zhu)(zhu)板(ban)顯示(shi)(shi)(shi)0B則表(biao)示(shi)(shi)(shi)正(zheng)(zheng)常，某(mou)(mou)(mou)些(xie)主(zhu)(zhu)(zhu)板(ban)顯示(shi)(shi)(shi)4E表(biao)示(shi)(shi)(shi)正(zheng)(zheng)常點(dian)(dian)亮(liang)(liang)，某(mou)(mou)(mou)些(xie)INTEL芯片(pian)組(zu)的(de)主(zhu)(zhu)(zhu)板(ban)顯示(shi)(shi)(shi)26或(huo)16則表(biao)示(shi)(shi)(shi)可(ke)以(yi)正(zheng)(zheng)常點(dian)(dian)亮(liang)(liang)。C1、C6、C3、01、02這個組(zu)合循(xun)環(huan)跳(tiao)變大(da)部分是(shi)I/0壞或(huo)刷(shua)BIOS。

如顯示(shi)05、ED、41則直接刷BIOS 00 。已顯示(shi)系統的配(pei)置；即將控制INI19引導裝入。

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1、處(chu)理器(qi)測試(shi)(shi)1，處(chu)理器(qi)狀態核實，如果測試(shi)(shi)失(shi)敗，循環是無限(xian)的。 處(chu)理器(qi)寄存器(qi)的測試(shi)(shi)即將開始，不可屏(ping)蔽中斷即將停用。 CPU寄存器(qi)測試(shi)(shi)正在進行或者(zhe)失(shi)敗。

2、確定診斷的類型（正(zheng)常或(huo)者(zhe)制造）。如果鍵盤(pan)緩沖(chong)器含有數據(ju)就會失(shi)效。 停用不可屏蔽中斷；通過延遲開始。 CMOS寫入／讀出正(zheng)在(zai)進行或(huo)者(zhe)失(shi)靈。

3、清除(chu)8042鍵盤控(kong)制器(qi)，發(fa)出TESTKBRD命(ming)令（AAH） 通(tong)電延遲(chi)已(yi)完成。 ROM BIOS檢查部件正在進行(xing)或失靈。

4、使8042鍵(jian)(jian)盤(pan)控(kong)(kong)制器(qi)(qi)復位，核實TESTKBRD。 鍵(jian)(jian)盤(pan)控(kong)(kong)制器(qi)(qi)軟(ruan)復位／通(tong)電測試(shi)。 可編程間隔計時器(qi)(qi)的(de)測試(shi)正(zheng)在(zai)進(jin)行或失靈(ling)。

5、如果不斷重復制造測(ce)試1至5，可獲得8042控制狀態。 已確定(ding)軟復位／通電；即將(jiang)啟動(dong)ROM。 DMA初如準備(bei)正(zheng)在進行或者失(shi)靈。

6、使電(dian)(dian)路(lu)片作初始準備，停用視頻、奇偶性、DMA電(dian)(dian)路(lu)片，以及清(qing)除DMA電(dian)(dian)路(lu)片，所有頁(ye)面寄(ji)存器和CMOS停機字節(jie)。 已(yi)啟(qi)動ROM計(ji)算ROM BIOS檢查總和，以及檢查鍵盤緩沖器是否(fou)清(qing)除。 DMA初始頁(ye)面寄(ji)存器讀(du)／寫測試(shi)正在進行或失靈。

7、處(chu)理(li)器(qi)測試(shi)2，核實CPU寄(ji)存器(qi)的工作。 ROM BIOS檢查總(zong)和(he)正常(chang)，鍵盤(pan)緩沖器(qi)已(yi)清除，向(xiang)鍵盤(pan)發出BAT（基本(ben)保證測試(shi)）命令(ling)。

8、使CMOS計時器(qi)作初始(shi)準備，正常的更新計時器(qi)的循環。 已(yi)向(xiang)鍵盤發出BAT命令，即將寫入BAT命令。 RAM更新檢驗正在進(jin)行或失靈(ling)。

9、EPROM檢(jian)查總(zong)和且(qie)必(bi)須等于零才通過。 核實(shi)鍵(jian)(jian)盤的基本保證測(ce)試，接著核實(shi)鍵(jian)(jian)盤命令字節。 第一個(ge)64K RAM測(ce)試正在進行。

0A 使(shi)視(shi)頻(pin)接口作初始準備(bei)。 發出鍵盤命令字節代碼，即將(jiang)寫入命令字節數據(ju)(ju)。 第一個(ge)64K RAM芯片或數據(ju)(ju)線失(shi)靈，移位。

0B 測試(shi)8254通道(dao)0。 寫(xie)入鍵盤控制器命令(ling)字節，即將發(fa)出引腳23和24的封鎖(suo)／解(jie)鎖(suo)命令(ling)。 第一個64K RAM奇／偶(ou)邏輯失靈。

0C 測試8254通道1。 鍵盤控制器引腳23、24已封鎖(suo)／解鎖(suo)；已發出NOP命(ming)令(ling)。 第(di)一個64K RAN的地(di)址線故障(zhang)。

0D：

1）檢查CPU速度是否與系(xi)統時鐘相匹配。

2）檢查控制芯片已編程(cheng)值是否符合初設置。

3）視(shi)頻通道(dao)測(ce)(ce)試，如果失敗，則(ze)鳴(ming)喇(la)叭。 已處理(li)NOP命令；接著(zhu)測(ce)(ce)試CMOS停(ting)開寄存器。 第一個64K RAM的奇偶性失靈。

0E 測試CMOS停(ting)機字節。 CMOS停(ting)開寄存(cun)器讀／寫測試；將計算CMOS檢查總(zong)和。 初始(shi)化輸入／輸出端口地址。

0F 測試擴展的CMOS。 已計算CMOS檢查總和寫(xie)入診(zhen)斷字(zi)節；CMOS開始初始準(zhun)備。

10、測(ce)試DMA通道(dao)0。 CMOS已作(zuo)初始準(zhun)備，CMOS狀(zhuang)態寄存器(qi)即(ji)將(jiang)為(wei)日期和(he)時間作(zuo)初始準(zhun)備。 第一個64K RAM第0位故障。

11、測試DMA通道(dao)1。 CMOS狀態寄(ji)存器已(yi)作(zuo)初(chu)始(shi)準備，即將停用DMA和(he)中斷控制器。 第(di)一個64DK RAM第(di)1位(wei)故障(zhang)。

12、測(ce)試DMA頁面寄存器(qi)。 停用DMA控制器(qi)1以及中斷控制器(qi)1和(he)2；即將視頻顯示(shi)器(qi)并使端口B作初始(shi)準(zhun)備。 第一個(ge)64DK RAM第2位故障(zhang)。

13、測(ce)試8741鍵盤控制器(qi)接(jie)口。 視頻顯示器(qi)已停(ting)用，端口B已作(zuo)初(chu)始準(zhun)備(bei)；即將開始電路(lu)片初(chu)始化／存儲器(qi)自動(dong)檢測(ce)。 第一個64DK RAM第3位故障。

14、測試存儲(chu)器更(geng)新觸發電(dian)路(lu)(lu)。 電(dian)路(lu)(lu)片初始化／存儲(chu)器處自動檢測結(jie)束；8254計時器測試即將開始。 第一個(ge)64DK RAM第4位故障(zhang)。

15、測(ce)試開(kai)頭(tou)64K的系統(tong)存儲器(qi)。 第(di)2通道(dao)計(ji)時器(qi)測(ce)試了一半；8254第(di)2通道(dao)計(ji)時器(qi)即將完成測(ce)試。 第(di)一個64DK RAM第(di)5位故障(zhang)。

16、建立(li)8259所用的中(zhong)斷矢量(liang)表。 第(di)(di)2通道計時器測試(shi)結束；8254第(di)(di)1通道計時器即將完成測試(shi)。 第(di)(di)一個(ge)64DK RAM第(di)(di)6位故障(zhang)。

17、調(diao)準視(shi)頻(pin)輸入／輸出工作，若裝(zhuang)有視(shi)頻(pin)BIOS則啟用。 第(di)1通(tong)道計時器測試(shi)結(jie)束；8254第(di)0通(tong)道計時器即將(jiang)完成測試(shi)。 第(di)一個(ge)64DK RAM第(di)7位故障(zhang)。

18、測試視頻(pin)存(cun)儲器(qi)(qi)，如果安(an)裝選用的視頻(pin)BIOS通(tong)過，由(you)可繞過。 第(di)0通(tong)道計(ji)時器(qi)(qi)測試結(jie)束；即(ji)將開(kai)始更新存(cun)儲器(qi)(qi)。 第(di)一(yi)個64DK RAM第(di)8位故障。

19、測試(shi)第1通道的中斷控制器(qi)(qi)（8259）屏(ping)蔽位。 已(yi)開始(shi)更新存(cun)儲器(qi)(qi)，接著將完成存(cun)儲器(qi)(qi)的更新。 第一個(ge)64DK RAM第9位故障(zhang)。

1A 測試第(di)2通道的中(zhong)斷(duan)控(kong)制器（8259）屏(ping)蔽位。 正(zheng)在觸發存儲器更新線路，即將檢查(cha)15微(wei)秒通／斷(duan)時間。 第(di)一個64DK RAM第(di)10位故障。

1B 測(ce)試CMOS電(dian)池電(dian)平。 完成(cheng)存儲(chu)器更新時間(jian)30微秒測(ce)試；即將開(kai)始基本(ben)的(de)64K存儲(chu)器測(ce)試。 第一個64DK RAM第11位故障。

1C 測試CMOS檢查總和。 第一個64DK RAM第12位故障。

1D 調定(ding)CMOS配置 。 第一個64DK RAM第13位故障。

1E 測定(ding)系統存儲(chu)器(qi)的大小，并(bing)且把它和CMOS值比較。第一個(ge)64DK RAM第14位故障。

1F 測試64K存(cun)儲器至最高640K。第一(yi)個64DK RAM第15位故障。

20、測(ce)(ce)量固定的(de)8259中斷位(wei)。 開始(shi)基本(ben)的(de)64K存儲器測(ce)(ce)試(shi)；即將測(ce)(ce)試(shi)地址線。 從屬DMA寄存器測(ce)(ce)試(shi)正在進行或失(shi)靈。

21、維持不可(ke)屏蔽中斷（NMI）位(wei)（奇(qi)偶性(xing)或輸入(ru)／輸出通道的檢查）。 通過地址線(xian)測試；即將觸發奇(qi)偶性(xing)。 主DMA寄存器測試正在進行或失靈。

22、測(ce)試8259的中斷功能(neng)。 結束觸發奇偶(ou)性(xing)；將開始串行(xing)數據讀(du)／寫測(ce)試。 主中斷屏蔽寄存(cun)器測(ce)試正(zheng)在進行(xing)或失靈(ling)。

23、測(ce)試保護方式(shi)8086虛擬方式(shi)和8086頁面方式(shi)。 基本的64K串行數(shu)據讀／寫測(ce)試正常；即(ji)將開始(shi)中(zhong)斷矢量初始(shi)化(hua)之前的任何調節(jie)。 從屬中(zhong)斷屏蔽存器(qi)測(ce)試正在進行或失靈。

24、測定1MB以上(shang)的(de)擴展存儲器(qi)。 矢(shi)量(liang)初始(shi)化(hua)之(zhi)前的(de)任何調(diao)節完(wan)成，即將開始(shi)中(zhong)斷矢(shi)量(liang)的(de)初始(shi)準備(bei)。 設(she)置ES段地址寄存器(qi)注(zhu)冊表到內存高端。

25、測(ce)試除頭一個64K之后的(de)所有存儲器。 完成中(zhong)斷(duan)矢量(liang)(liang)初始準備；將為(wei)旋轉式(shi)斷(duan)續開(kai)始讀(du)出8042的(de)輸入(ru)／輸出端(duan)口。 裝入(ru)中(zhong)斷(duan)矢量(liang)(liang)正在(zai)進行或失(shi)靈。

26、測試保護方(fang)式的(de)(de)例外情況。 讀出8042的(de)(de)輸(shu)入(ru)(ru)／輸(shu)出端(duan)口(kou)；即(ji)將(jiang)為旋(xuan)轉式斷續(xu)開始(shi)使全(quan)局數據作初始(shi)準備。 開啟A20地(di)址線；使之參(can)入(ru)(ru)尋址。

27、確定超高速(su)緩沖存儲器(qi)的控制(zhi)或(huo)屏蔽RAM。 全1數據初始準備結束；接(jie)著(zhu)將進行中斷矢量之后的任何初始準備。 鍵盤控制(zhi)器(qi)測試正(zheng)在進行或(huo)失靈。

28、確定超(chao)高速緩沖存(cun)儲(chu)器(qi)的控(kong)制或者(zhe)特別的8042鍵盤控(kong)制器(qi)。 完(wan)成中(zhong)斷矢量之后(hou)的初始準(zhun)備；即將調定單色方式。 CMOS電(dian)源故障／檢(jian)查總和計算正在進行(xing)。

29、已調(diao)定單色(se)方式，即(ji)將調(diao)定彩色(se)方式。 CMOS配置有效性(xing)的檢查(cha)正在進行。

2A 使鍵盤控制器(qi)作初始(shi)準備。 已(yi)調(diao)定彩色方式，即將(jiang)進(jin)行ROM測試前的觸發(fa)奇偶性(xing)。 置空64K基(ji)本內存。

2B 使(shi)磁(ci)碟驅動(dong)器和(he)控(kong)(kong)制(zhi)器作初始準備。 觸發奇偶性(xing)結(jie)束；即將控(kong)(kong)制(zhi)任(ren)選的視(shi)頻(pin)ROM檢(jian)查前(qian)所(suo)需的任(ren)何調節。 屏幕存儲器測試(shi)正在進行或失靈。

2C 檢(jian)查(cha)串行(xing)端(duan)口，并使之作初始(shi)準備。 完成視頻ROM控(kong)制之前的處理；即(ji)將(jiang)查(cha)看任選的視頻ROM并加以控(kong)制。 屏幕初始(shi)準備正在進行(xing)或(huo)失靈。

2D 檢測并行(xing)端口，并使(shi)之作(zuo)初(chu)始(shi)準備。 已完成任選的視頻ROM控制，即將進行(xing)視頻ROM回(hui)復控制之后任何(he)其(qi)他處理的控制。 屏幕回(hui)掃測試正在進行(xing)或失靈(ling)。

2E 使硬磁(ci)盤驅動器和控制器作初始準(zhun)備。 從視頻ROM控制之后的(de)處理復原；如果沒有發現EGA／VGA就要(yao)進(jin)行(xing)(xing)顯(xian)示(shi)器存儲(chu)器讀／寫測(ce)試。 檢測(ce)視頻ROM正在進(jin)行(xing)(xing)。

2F 檢測(ce)(ce)數學(xue)協處理器(qi)，并使之作初(chu)始(shi)準備。 沒發現EGA／VGA；即(ji)將開(kai)始(shi)顯示器(qi)存儲器(qi)讀／寫測(ce)(ce)試。

30、建立基本內(nei)存和(he)擴展(zhan)內(nei)存。 通過顯示(shi)器(qi)(qi)存儲(chu)器(qi)(qi)讀／寫測試；即將進行掃描檢查。 認為屏幕是可以工作的。

31、檢測(ce)從C800：0至EFFF：0的選用ROM，并使之作初始準備。 顯(xian)示器(qi)存(cun)儲(chu)器(qi)讀／寫測(ce)試或掃描檢查失敗，即(ji)將(jiang)進行另一種顯(xian)示器(qi)存(cun)儲(chu)器(qi)讀／寫測(ce)試。 單色監視(shi)器(qi)是可以工作的。

32、對主(zhu)板上COM／LTP／FDD／聲音設備等I／O芯(xin)片編(bian)程使(shi)之(zhi)適合設置值。 通(tong)過另一種(zhong)顯示器(qi)存儲器(qi)讀／寫測(ce)試；卻將進行另一種(zhong)顯示器(qi)掃描(miao)檢查。 彩色(se)監視(shi)器(qi)（40列）是可(ke)以工(gong)作的(de)。

33、視頻(pin)顯示器檢查結束；將開(kai)(kai)始利用調(diao)節開(kai)(kai)關和實際插卡檢驗顯示器的關型。 彩色監視器（80列(lie)）是可以工作的。

34、已檢驗顯示(shi)器適配器；接著將調定顯示(shi)方式。 計時器滴答聲中斷測(ce)試正在進行(xing)或失靈(ling)。

35、完成調定顯(xian)示方式；即將檢查BIOS ROM的數據區。 停機(ji)測(ce)試正在(zai)進行或失靈。

36、已檢查BIOS ROM數據區；即(ji)將(jiang)調定通電信息的游(you)標。 門電路中A－20失靈。

37、識(shi)別(bie)通電信息的游標調定已(yi)完(wan)成；即將顯示通電信息。 保護(hu)方式中(zhong)(zhong)的意外中(zhong)(zhong)斷(duan)。

38、完(wan)成(cheng)顯(xian)示通電信息；即(ji)將讀(du)出(chu)新的游標位置。 RAM測試正在進行(xing)或者地址(zhi)故障＞FFFFH。

39、已(yi)讀出保存(cun)游(you)標(biao)位(wei)置，即將(jiang)顯示引用信息串。

3A 引用信(xin)息串顯(xian)示(shi)結束；即將顯(xian)示(shi)發現《ESC》信(xin)息。 間(jian)隔計時器通道(dao)2測(ce)試或失靈。

3B 用OPTI電路片（只(zhi)是486）使輔(fu)助超高速緩沖存儲器作初始(shi)(shi)準備(bei)。 已顯示發(fa)現＜ESC＞信息；虛(xu)擬方式(shi)，存儲器測(ce)試(shi)即(ji)將(jiang)開始(shi)(shi)。 按日計(ji)算的日歷時鐘測(ce)試(shi)正(zheng)在進行或失靈。

3C 建立(li)允許進入CMOS設(she)置的標志。 。 串行端口測試正(zheng)在進行或失靈。

3D 初始化鍵盤(pan)／PS2鼠(shu)標／PNP設備及(ji)總內存(cun)節點。并(bing)行端(duan)口(kou)測試(shi)正在進行或(huo)失靈(ling)。3E 嘗試(shi)打開L2高速緩(huan)存(cun)。數學(xue)協處理器測試(shi)正在進行或(huo)失靈(ling)。

40、已開始準備虛擬方式的測試(shi)；即(ji)將從(cong)視頻(pin)存儲器來檢驗。 調整CPU速度，使之(zhi)與外圍時鐘精確(que)匹配。

41、中斷已打開，將(jiang)初始化數據以便(bian)于0：0檢(jian)測內存(cun)變換（中斷控制器(qi)或(huo)內存(cun)不良） 從(cong)視(shi)頻存(cun)儲器(qi)檢(jian)驗之后(hou)復原；即(ji)將(jiang)準備(bei)描述(shu)符表。 系統插件板(ban)選擇失靈(ling)。

42、顯示窗口進入SETUP。 描述(shu)符表已準備好(hao)；即將進行虛擬方式作存儲器(qi)測試。 擴展(zhan)CMOS RAM故(gu)障。

43、若(ruo)是即(ji)(ji)(ji)插即(ji)(ji)(ji)用BIOS，則串口、并口初始化(hua)。 進入虛擬方式(shi)；即(ji)(ji)(ji)將為診(zhen)斷方式(shi)實現中斷。

44、已實現中(zhong)(zhong)斷(duan)（如(ru)已接通診斷(duan)開關；即將(jiang)使數據作初(chu)始(shi)準備以檢查存(cun)儲器在0：0返轉。） BIOS中(zhong)(zhong)斷(duan)進行初(chu)始(shi)化。

45、初始化數學協(xie)處理器。 數據已作初始準備；即將檢查存(cun)儲(chu)器在0：0返轉以及找(zhao)出系統存(cun)儲(chu)器的規模。

46、測試存(cun)(cun)儲器已返(fan)回(hui)；存(cun)(cun)儲器大小(xiao)計算完畢，即將寫(xie)入(ru)頁面來測試存(cun)(cun)儲器。 檢查只讀存(cun)(cun)儲器ROM版本。

47、即將在擴展的(de)存儲(chu)器試寫(xie)頁(ye)面；即將基本640K存儲(chu)器寫(xie)入(ru)頁(ye)面。

48、已將基本存儲器(qi)寫入(ru)頁面；即(ji)將確定1MB以上的存儲器(qi)。 視(shi)頻檢(jian)查，CMOS重新配置。

49、找出1BM以下(xia)的存儲(chu)器并檢驗；即(ji)將確定1MB以上的存儲(chu)器。 。

4A 找出1MB以上的存儲(chu)器(qi)并檢驗；即將檢查BIOS ROM數據區。進行(xing)視頻的初始(shi)化(hua)。

4B BIOS ROM數據區的(de)(de)檢驗結束(shu)，即將檢查＜ESC＞和為軟復位清(qing)除1MB以上的(de)(de)存儲器。

4C 清除(chu)1MB以(yi)上(shang)的存儲器（軟(ruan)復位）即將清除(chu)1MB以(yi)上(shang)的存儲器。 屏蔽(bi)視頻(pin)BIOS ROM。

4D 已清除(chu)1MB以上的存(cun)儲器(qi)（軟復(fu)位）；將保(bao)存(cun)存(cun)儲器(qi)的大小。

4E 若(ruo)檢測(ce)(ce)(ce)到有錯誤(wu)；在(zai)顯示(shi)(shi)(shi)器(qi)上顯示(shi)(shi)(shi)錯誤(wu)信息，并等待客戶按＜F1＞鍵繼續。 開始存儲(chu)器(qi)的測(ce)(ce)(ce)試：（無(wu)軟(ruan)復位）；即將(jiang)顯示(shi)(shi)(shi)第一(yi)個64K存儲(chu)器(qi)的測(ce)(ce)(ce)試。 顯示(shi)(shi)(shi)版權信息。

4F 讀寫軟(ruan)、硬盤數據，進行(xing)DOS引導(dao)。 開始顯示存(cun)儲(chu)器(qi)(qi)(qi)的大小，正在(zai)測試(shi)存(cun)儲(chu)器(qi)(qi)(qi)將使之更新；將進行(xing)串行(xing)和隨機(ji)的存(cun)儲(chu)器(qi)(qi)(qi)測試(shi)。

50、將(jiang)當前(qian)BIOS監時區內的(de)CMOS值存到CMOS中。 完成1MB以(yi)下的(de)存儲器(qi)測試；即將(jiang)高速(su)(su)存儲器(qi)的(de)大小以(yi)便再定位和(he)掩蔽。 將(jiang)CPU類型和(he)速(su)(su)度送(song)到屏幕。

51、測(ce)試1MB以上的存儲器(qi)。

52、所有ISA只讀存儲(chu)器ROM進行初始化，最(zui)終給PCI分配IRQ號(hao)等初始化工(gong)作。 已完成1MB以(yi)上的(de)存儲(chu)器測(ce)試；即(ji)將準(zhun)備回到實址方式。 進入鍵盤檢測(ce)。

53、如果不(bu)是即(ji)插即(ji)用(yong)BIOS，則初始化串口(kou)、并口(kou)和設(she)置時種值。 保存(cun)(cun)CPU寄存(cun)(cun)器(qi)和存(cun)(cun)儲器(qi)的大小(xiao)，將(jiang)進入實(shi)址方式(shi)。

54、成功地開啟實址方式；即將復原(yuan)準備停機時保存的寄(ji)存器(qi)。 掃(sao)描“打擊鍵”。

55、寄存器已復原，將(jiang)停用門電路A－20的(de)地址線。

56、成(cheng)功地停用A－20的地址線；即將檢查BIOS ROM數據區(qu)。 鍵(jian)盤(pan)測試結(jie)束。

57、BIOS ROM數據區檢查了(le)一半；繼續進(jin)行。

58、BIOS ROM的數據區檢查結束；將清除發現(xian)＜ESC＞信息。 非設置中斷測(ce)試(shi)。

59、已清(qing)除＜ESC＞信息(xi)；信息(xi)已顯示；即將開始DMA和中斷控制器的測試。

5A 顯示按“F2”鍵進行設置。

5B 測試基本內存(cun)地址。

5C 測(ce)試(shi)640K基(ji)本內存。

60、設置硬(ying)盤引導扇區病毒保護功(gong)能。 通過DMA頁面寄(ji)存(cun)器的(de)測試；即將檢驗視頻存(cun)儲器。 測試擴展內存(cun)。

61、顯(xian)示系統配(pei)置表(biao)。 視頻存儲器(qi)檢驗結(jie)束；即(ji)將進行DMA＃1基本(ben)寄存器(qi)的測(ce)試。

62、開(kai)始用中(zhong)斷19H進(jin)行系統引導。 通過DMA＃1基本寄(ji)存(cun)器(qi)(qi)的測試；即(ji)將(jiang)進(jin)行DMA＃2寄(ji)存(cun)器(qi)(qi)的測試。 測試擴展內存(cun)地址(zhi)線。

63、通(tong)過DMA＃2基本寄存(cun)器的(de)測(ce)試；即將(jiang)檢查BIOS ROM數據區。

64、BIOS ROM數據區檢查了一半，繼續(xu)進行。

65、BIOS ROM數(shu)據區檢查(cha)結束；將把DMA裝置1和2編程(cheng)。

66、DMA裝(zhuang)置(zhi)1和(he)2編程(cheng)結束；即將使用59號中斷控制器作(zuo)初(chu)始準備。 Cache注冊(ce)表進行優化配(pei)置(zhi)。

67、8259初始準備已(yi)結束；即將開始鍵盤測(ce)試。

68、使外部Cache和CPU內部Cache都工作(zuo)。

6A 測試并顯示外部Cache值。

6C 顯示被屏蔽內容。

6E 顯示附(fu)屬(shu)配置信息。

69、檢(jian)測到(dao)的錯誤代碼送到(dao)屏幕顯示。

70、檢測配(pei)置有(you)否錯(cuo)誤(wu)。

71、測(ce)試實時時鐘。

72、掃查(cha)鍵盤錯誤。

7A 鎖鍵盤。

7C 設置硬(ying)件中斷(duan)矢量(liang)。

7E 測試有否安(an)裝數學處(chu)理器(qi)。