一、什么是鍍層測厚儀

鍍層測厚儀又稱涂層測厚儀、涂鍍層測厚儀，是(shi)一(yi)種(zhong)測量(liang)鍍層(ceng)等金屬薄膜的(de)厚度的(de)儀(yi)器，主(zhu)要(yao)用于測量(liang)鋼、鐵等鐵磁質金屬基體上(shang)的(de)非鐵磁性涂層(ceng)、鍍層(ceng)，其具有以(yi)下特點：

1、精(jing)度高：鍍層測厚儀的(de)測量精(jing)度通常在±0.1μm范圍內，可(ke)以滿足大多數表面鍍層或涂層的(de)測量需求(qiu)。

2、快速測(ce)量：鍍層測(ce)厚儀(yi)可(ke)以在短時間內快速測(ce)量大范(fan)圍的表面(mian)，提(ti)高生產效率(lv)。

3、無損檢測：鍍層測厚儀不會(hui)對被測物(wu)體(ti)表面造成損傷，可以用于生(sheng)產過程中的(de)質量控制和(he)檢測。

4、操作(zuo)簡單：鍍層測厚(hou)儀操作(zuo)簡單，易于(yu)掌握，適合于(yu)不同領域的用戶使用。

二、鍍層測厚儀由什么組成

鍍(du)層測(ce)厚儀一(yi)般由三(san)部分組成：

1、傳感器：傳感器部分負責(ze)與物體表(biao)面接(jie)觸(chu)，并采集鍍層或涂層的電(dian)阻值、電(dian)導率(lv)或磁場強度等參數(shu)。

2、測量電路(lu)：測量電路(lu)部分將傳感器采集的(de)信號(hao)進行處(chu)理，計算出(chu)鍍層或涂(tu)層的(de)厚度。

3、顯(xian)示單(dan)元(yuan)：計(ji)算出(chu)的(de)厚度(du)將顯(xian)示在顯(xian)示單(dan)元(yuan)上。

三、鍍層測厚儀原理是什么

鍍層測厚(hou)儀用于測量(liang)鍍層厚(hou)度(du)，主要有三種(zhong)原理：

1、磁吸型

永久磁鐵（測頭）與(yu)導磁鋼材之(zhi)間的(de)吸力大小與(yu)處(chu)于這(zhe)兩(liang)者之(zhi)間的(de)距(ju)離成一(yi)(yi)定比例關(guan)系，這(zhe)個(ge)距(ju)離就是(shi)覆(fu)層的(de)厚度。利用(yong)這(zhe)一(yi)(yi)原理制(zhi)成測厚儀，只要覆(fu)層與(yu)基材的(de)導磁率(lv)之(zhi)差(cha)足夠大，就可進行測量。

這種測(ce)厚儀基本(ben)結構(gou)由磁(ci)鋼，接力(li)簧(huang)，標尺及自停機(ji)構(gou)組成(cheng)。磁(ci)鋼與被測(ce)物吸(xi)合后，將測(ce)量簧(huang)在其后逐(zhu)漸拉(la)長，拉(la)力(li)逐(zhu)漸增(zeng)大。當拉(la)力(li)剛好大于吸(xi)力(li)，磁(ci)鋼脫離的(de)一瞬間(jian)記錄下拉(la)力(li)的(de)大小即可(ke)獲得(de)覆層厚度。

2、磁感應型

采(cai)用磁感應原理時(shi)，利用從測頭(tou)經過非(fei)鐵磁覆(fu)層而流入鐵磁基體的(de)磁通(tong)的(de)大小，來測定覆(fu)層厚度(du)。也可以測定與之對(dui)應的(de)磁阻的(de)大小，來表示(shi)其覆(fu)層厚度(du)。覆(fu)層越(yue)(yue)厚，則磁阻越(yue)(yue)大，磁通(tong)越(yue)(yue)小。

利用磁(ci)(ci)感(gan)應原(yuan)理的(de)測(ce)厚儀(yi)，原(yuan)則(ze)上(shang)可以有導(dao)磁(ci)(ci)基體上(shang)的(de)非導(dao)磁(ci)(ci)覆層(ceng)厚度，一般(ban)要求(qiu)基材(cai)導(dao)磁(ci)(ci)率在(zai)500以上(shang)，如果覆層(ceng)材(cai)料也有磁(ci)(ci)性，則(ze)要求(qiu)與基材(cai)的(de)導(dao)磁(ci)(ci)率之差足夠大（如鋼上(shang)鍍(du)鎳）。

3、電渦流型

高頻交流信號在測頭線圈中產(chan)生(sheng)電(dian)磁場(chang)，測頭靠(kao)近導(dao)體(ti)(ti)時，就(jiu)在其中形(xing)成渦流。測頭離導(dao)電(dian)基(ji)體(ti)(ti)愈近，則渦流愈大(da)，反(fan)(fan)射阻抗(kang)也(ye)愈大(da)。這(zhe)個反(fan)(fan)饋(kui)作用量表征了測頭與(yu)導(dao)電(dian)基(ji)體(ti)(ti)之間距離的大(da)小，也(ye)就(jiu)是導(dao)電(dian)基(ji)體(ti)(ti)上非導(dao)電(dian)覆層厚度的大(da)小。

采用電渦流原理的測厚儀，原則上(shang)對所有(you)導(dao)(dao)(dao)電(dian)(dian)體上(shang)的非導(dao)(dao)(dao)電(dian)(dian)體覆層(ceng)均(jun)可(ke)測量(liang)，如(ru)航(hang)天(tian)航(hang)空器表面、車(che)輛、家電(dian)(dian)、鋁(lv)合(he)金門窗及其它鋁(lv)制品表面的漆，塑料涂層(ceng)及陽(yang)極氧化(hua)膜(mo)。覆層(ceng)材料有(you)一定(ding)的導(dao)(dao)(dao)電(dian)(dian)性(xing)，通(tong)過校準同樣(yang)也可(ke)測量(liang)，但要求兩者的導(dao)(dao)(dao)電(dian)(dian)率(lv)之比至少相差3-5倍（如(ru)銅(tong)上(shang)鍍鉻）。