一、什么是鍍層測厚儀

鍍層測厚儀又稱涂層測厚儀、涂鍍層測厚儀，是一種(zhong)測(ce)量鍍(du)層等金屬(shu)(shu)薄膜(mo)的(de)(de)厚(hou)度的(de)(de)儀器(qi)，主要用(yong)于測(ce)量鋼(gang)、鐵等鐵磁(ci)質(zhi)金屬(shu)(shu)基(ji)體(ti)上的(de)(de)非鐵磁(ci)性(xing)涂層、鍍(du)層，其具(ju)有以下特點(dian)：

1、精(jing)度高(gao)：鍍層測厚儀的測量(liang)精(jing)度通(tong)常在±0.1μm范圍(wei)內(nei)，可以滿足大多數(shu)表面鍍層或涂層的測量(liang)需求。

2、快(kuai)速(su)測量(liang)：鍍層測厚(hou)儀可以在短時間(jian)內快(kuai)速(su)測量(liang)大范圍的表(biao)面，提高(gao)生產效率。

3、無損檢測：鍍(du)層測厚(hou)儀不會對被測物(wu)體表面造成損傷，可(ke)以用(yong)于生產過程中的質量(liang)控制和檢測。

4、操作簡單(dan)：鍍層測厚儀(yi)操作簡單(dan)，易于掌握，適合于不(bu)同領域的(de)用戶(hu)使用。

二、鍍層測厚儀由什么組成

鍍層測厚儀一般由(you)三部分組成：

1、傳(chuan)感(gan)器(qi)：傳(chuan)感(gan)器(qi)部分負(fu)責(ze)與物體(ti)表面接(jie)觸，并(bing)采集(ji)鍍層(ceng)或(huo)涂層(ceng)的電阻值、電導(dao)率或(huo)磁場(chang)強度(du)等(deng)參數。

2、測(ce)量(liang)電(dian)路：測(ce)量(liang)電(dian)路部(bu)分(fen)將傳感器采集的(de)信(xin)號進行處(chu)理，計(ji)算出鍍層或涂(tu)層的(de)厚度。

3、顯(xian)示單元(yuan)：計算出的厚度將顯(xian)示在顯(xian)示單元(yuan)上(shang)。

三、鍍層測厚儀原理是什么

鍍層(ceng)測厚(hou)儀用于測量鍍層(ceng)厚(hou)度，主(zhu)要有三(san)種原理：

1、磁吸型

永久磁(ci)(ci)鐵（測(ce)(ce)頭）與導磁(ci)(ci)鋼材之間(jian)的吸力大小與處于這(zhe)兩者之間(jian)的距離(li)(li)成(cheng)一定比(bi)例關(guan)系(xi)，這(zhe)個(ge)距離(li)(li)就(jiu)(jiu)是(shi)覆層的厚度(du)。利用這(zhe)一原理(li)制(zhi)成(cheng)測(ce)(ce)厚儀，只(zhi)要(yao)覆層與基材的導磁(ci)(ci)率之差(cha)足夠(gou)大，就(jiu)(jiu)可進行(xing)測(ce)(ce)量。

這種測(ce)(ce)厚儀基本結(jie)構(gou)由磁(ci)(ci)鋼，接力簧，標尺及自停機構(gou)組成。磁(ci)(ci)鋼與被測(ce)(ce)物吸(xi)合后，將測(ce)(ce)量簧在其后逐漸拉長，拉力逐漸增(zeng)大(da)。當拉力剛(gang)好大(da)于吸(xi)力，磁(ci)(ci)鋼脫(tuo)離(li)的一瞬(shun)間(jian)記錄下拉力的大(da)小即(ji)可(ke)獲得(de)覆層厚度。

2、磁感應型

采用磁(ci)感應原理(li)時，利用從測(ce)頭經過非鐵磁(ci)覆層而流入鐵磁(ci)基體的(de)磁(ci)通(tong)的(de)大小(xiao)，來測(ce)定覆層厚度(du)。也(ye)可以測(ce)定與(yu)之對應的(de)磁(ci)阻(zu)的(de)大小(xiao)，來表示其覆層厚度(du)。覆層越厚，則磁(ci)阻(zu)越大，磁(ci)通(tong)越小(xiao)。

利用磁(ci)(ci)(ci)感應原理的測厚(hou)儀，原則上(shang)可以(yi)有(you)導(dao)磁(ci)(ci)(ci)基體上(shang)的非導(dao)磁(ci)(ci)(ci)覆層厚(hou)度(du)，一般要求基材(cai)導(dao)磁(ci)(ci)(ci)率(lv)在(zai)500以(yi)上(shang)，如(ru)果(guo)覆層材(cai)料也有(you)磁(ci)(ci)(ci)性，則要求與基材(cai)的導(dao)磁(ci)(ci)(ci)率(lv)之差足夠大（如(ru)鋼上(shang)鍍鎳(nie)）。

3、電渦流型

高頻交流信號在測(ce)頭(tou)(tou)(tou)線(xian)圈(quan)中產生電(dian)(dian)(dian)磁場，測(ce)頭(tou)(tou)(tou)靠近導(dao)體(ti)(ti)(ti)時(shi)，就(jiu)在其中形成渦流。測(ce)頭(tou)(tou)(tou)離導(dao)電(dian)(dian)(dian)基(ji)體(ti)(ti)(ti)愈(yu)近，則渦流愈(yu)大(da)，反射阻抗(kang)也(ye)(ye)愈(yu)大(da)。這個反饋作用量表征(zheng)了測(ce)頭(tou)(tou)(tou)與導(dao)電(dian)(dian)(dian)基(ji)體(ti)(ti)(ti)之(zhi)間距離的大(da)小(xiao)，也(ye)(ye)就(jiu)是導(dao)電(dian)(dian)(dian)基(ji)體(ti)(ti)(ti)上非(fei)導(dao)電(dian)(dian)(dian)覆(fu)層(ceng)厚度的大(da)小(xiao)。

采用電渦流原理的測厚儀，原則(ze)上(shang)對所有(you)導電體(ti)上(shang)的(de)非導電體(ti)覆層(ceng)(ceng)均(jun)可測(ce)量(liang)(liang)，如(ru)航(hang)天航(hang)空器表面、車輛(liang)、家電、鋁合(he)金門窗及其它(ta)鋁制品表面的(de)漆，塑(su)料涂層(ceng)(ceng)及陽(yang)極氧(yang)化膜。覆層(ceng)(ceng)材料有(you)一定(ding)的(de)導電性，通過校準同樣(yang)也可測(ce)量(liang)(liang)，但要求兩者的(de)導電率之比至(zhi)少(shao)相差3-5倍（如(ru)銅上(shang)鍍鉻）。