一、鋼板測厚儀測量誤差范圍是多少

鋼板測厚儀是測量鋼板厚度的儀器，一般是超聲波測厚儀，基于超聲(sheng)(sheng)波測量(liang)原理，可以(yi)(yi)測量(liang)金(jin)屬(shu)及(ji)其(qi)它多(duo)種材料(liao)的厚(hou)度，并可以(yi)(yi)對材料(liao)的聲(sheng)(sheng)速進行(xing)測量(liang)。

使(shi)用鋼板測(ce)厚儀(yi)測(ce)量厚度時，可能會有一定的(de)誤差，不(bu)過標準的(de)鋼板測(ce)厚儀(yi)誤差要求在一定范圍(wei)內，一般正規廠家生產(chan)的(de)鋼板測(ce)厚儀(yi)，在測(ce)量方法正確，不(bu)超(chao)過測(ce)量范圍(wei)的(de)情況下，測(ce)量誤差為：

1、1mm～10mm范圍內：±0.05mm。

2、10mm～200mm范圍內(nei)：（±0.5%H+0.1）mm。

二、導致鋼板測厚儀測不準的原因有哪些

鋼板測厚儀測量過程中(zhong)，出現測不準、有誤差的情況(kuang)，可能原因(yin)有很多，具體包括：

1、檢測面與底(di)面不平行，聲波遇到(dao)底(di)面產生散(san)射，探頭無法接受到(dao)底(di)波信(xin)號(hao)。被測工件的(de)另一表面必須與被測面平行，否(fou)則得不到(dao)滿意的(de)超(chao)聲數(shu)據，將引起測量誤差(cha)或根本無讀數(shu)顯示(shi)。

2、鑄(zhu)件(jian)、奧氏(shi)體(ti)鋼組織(zhi)內部不均勻或晶粒粗(cu)大，超聲波(bo)在其(qi)中穿過時產生嚴(yan)重的(de)散射衰(shuai)減，被散射的(de)超聲波(bo)沿著復雜的(de)路徑傳播，有可能使回波(bo)湮(yin)沒(mei)，造(zao)成不顯(xian)示。對(dui)于晶粒粗(cu)大的(de)鑄(zhu)件(jian)和(he)奧氏(shi)體(ti)不銹鋼等，應(ying)選用(yong)相(xiang)對(dui)應(ying)的(de)專(zhuan)用(yong)測厚儀及頻率較低的(de)粗(cu)晶專(zhuan)用(yong)探頭（215MHz）模具硬度(du)計。

3、被(bei)測(ce)(ce)物(wu)背面(mian)有(you)大(da)量(liang)腐蝕坑(keng)。由于被(bei)測(ce)(ce)物(wu)另一面(mian)有(you)銹斑、腐蝕凹(ao)坑(keng)，造(zao)成聲(sheng)波衰減，導致讀數(shu)無規(gui)則(ze)變化，測(ce)(ce)厚(hou)儀在極(ji)端情況下甚至無讀數(shu)；此外，用(yong)鋼(gang)板測(ce)(ce)厚(hou)儀測(ce)(ce)鋼(gang)管之(zhi)類(lei)的，如果(guo)內有(you)沉(chen)積(ji)物(wu)，當(dang)沉(chen)積(ji)物(wu)與工件聲(sheng)阻抗(kang)相差(cha)不大(da)時，測(ce)(ce)厚(hou)儀顯示值(zhi)為壁厚(hou)加(jia)沉(chen)積(ji)物(wu)厚(hou)度。當(dang)發現(xian)背面(mian)有(you)腐蝕凹(ao)坑(keng)時，這個區域測(ce)(ce)量(liang)就(jiu)得十分(fen)小心(xin)，可選(xuan)擇變換分(fen)割面(mian)角度作多次測(ce)(ce)量(liang)；此時檢驗人員(yuan)要根據(ju)事先(xian)查(cha)閱的資料及被(bei)測(ce)(ce)物(wu)體（如管道）內沉(chen)積(ji)物(wu)的厚(hou)度、被(bei)測(ce)(ce)物(wu)體表面(mian)腐蝕和磨損狀(zhuang)況綜合判斷檢測(ce)(ce)數(shu)據(ju)。

4、測量超限，普通測厚儀采用雙晶探頭(tou)(tou)，測量(liang)下(xia)(xia)限一般在平(ping)面(mian)碳鋼0.8mm，曲面(mian)碳鋼1.2mm，曲面(mian)下(xia)(xia)限會大于平(ping)面(mian)，超(chao)限會造成示值偏大許多，這時候(hou)已經不是誤差，而(er)是不能測量(liang)，需要更(geng)換合適探頭(tou)(tou)的(de)鋼板(ban)測厚儀。

5、材料表面(mian)粗糙度(du)，平面(mian)度(du)影響(xiang)(xiang)，表面(mian)涂層影響(xiang)(xiang)等，因為鋼板測(ce)(ce)厚儀測(ce)(ce)量是探頭下(xia)方的平均值，所以(yi)這些因素都(dou)會影響(xiang)(xiang)到(dao)測(ce)(ce)量的精準度(du)。