一、覆層測厚儀和涂層測厚儀的區別在哪

覆層測厚儀是對材料覆蓋層厚度進行測量的儀器，它和涂層測厚儀實際上是(shi)(shi)一樣的，是(shi)(shi)兩種不(bu)同的稱呼而(er)已(yi)，如果(guo)非要說有什么區別(bie)的話，那(nei)就是(shi)(shi)覆層測厚儀(yi)是(shi)(shi)新(xin)研(yan)發(fa)的新(xin)產(chan)品，與之前涂(tu)層測厚儀(yi)相比有以下主要優點：

1、測量速(su)度(du)快：測量速(su)度(du)比普(pu)通涂層測厚儀(yi)快6倍。

2、精度(du)高：產品校準后精度(du)即可達到1-2%，比普通(tong)的(de)涂層測厚儀(yi)精度(du)更高。

3、穩(wen)定(ding)(ding)性：測(ce)量值的穩(wen)定(ding)(ding)性和使用(yong)穩(wen)定(ding)(ding)性優于涂層測(ce)厚儀。

4、功能、數據、操作、顯(xian)示全部是中(zhong)文。

二、涂層測厚儀和超聲波測厚儀有什么區別

涂層(ceng)測(ce)厚儀和超聲波測(ce)厚儀相比(bi)，雖然都是(shi)測(ce)厚儀，但在以(yi)下幾(ji)個方(fang)面都存在區別：

1、測量范圍不同

作為無損檢測(ce)(ce)(ce)儀(yi)(yi)(yi)器(qi)，超聲(sheng)波測(ce)(ce)(ce)厚(hou)(hou)儀(yi)(yi)(yi)和涂(tu)(tu)層測(ce)(ce)(ce)厚(hou)(hou)儀(yi)(yi)(yi)都有(you)卡尺(chi)和千分尺(chi)等測(ce)(ce)(ce)量(liang)儀(yi)(yi)(yi)器(qi)達不到的(de)(de)優勢，但是兩者在測(ce)(ce)(ce)量(liang)范圍上還是有(you)區別的(de)(de)，涂(tu)(tu)層測(ce)(ce)(ce)厚(hou)(hou)儀(yi)(yi)(yi)主(zhu)要用來(lai)表面覆層，而超聲(sheng)波測(ce)(ce)(ce)厚(hou)(hou)儀(yi)(yi)(yi)側重(zhong)于(yu)壁(bi)厚(hou)(hou)和板厚(hou)(hou)的(de)(de)基(ji)材測(ce)(ce)(ce)量(liang)。

超(chao)聲波(bo)測厚(hou)(hou)儀的(de)具體測量范圍：超(chao)聲波(bo)測厚(hou)(hou)儀可以測量金屬(shu)材質、管道、壓力容器(qi)、板材（鋼板、鋁板）、塑料、鐵(tie)管、PVC管、玻(bo)璃等其他(ta)特殊材料的(de)厚(hou)(hou)度；也可以測量工件表面油(you)漆(qi)層(ceng)(ceng)等帶涂層(ceng)(ceng)的(de)材料。

涂層測(ce)厚儀的具(ju)體測(ce)量范圍(wei)：主要用(yong)于測(ce)量金(jin)屬(shu)上(shang)的涂層，防(fang)腐層，電鍍層，塑料，油漆，塑膠，陶瓷，琺瑯等覆蓋層的厚度，也可(ke)以(yi)擴展應用(yong)到對紙張，薄膜，板(ban)材等的厚度進行間接測(ce)量。

2、測量方法不同

（1）超聲波測厚儀的測量方法

①單點測(ce)量(liang)法：在被(bei)測(ce)體(ti)上任一點，利用探頭進行測(ce)量(liang)，顯示值即為(wei)厚(hou)度值。

②兩點測(ce)量(liang)法：在被測(ce)體的同一點用探(tan)頭(tou)進行(xing)兩次測(ce)量(liang)，在第二次測(ce)量(liang)中，探(tan)頭(tou)的分割面成 90°，取兩次測(ce)量(liang)中的較小(xiao)值為厚度值。

③多(duo)點測量(liang)(liang)法：當測量(liang)(liang)值不穩定時(shi)，以一個測定點為(wei)中心(xin)，在(zai)直(zhi)徑約為(wei) 30mm 的圓內進(jin)行多(duo)次測量(liang)(liang)，取最小值為(wei)厚度值。

④連續測(ce)量法(fa)：用單點測(ce)量法(fa)，沿指定線路連續測(ce)量，其間隔(ge)不小(xiao)于 5mm，取其中最小(xiao)值為厚度值。

（2）涂層測厚儀的測量方法

①磁(ci)性法：主要用于(yu)鐵基涂層(ceng)(ceng)，當測量(liang)頭(tou)與覆蓋(gai)層(ceng)(ceng)接觸時，測量(liang)頭(tou)和磁(ci)性金(jin)屬基體(ti)構成一(yi)閉合磁(ci)路，由(you)于(yu)非磁(ci)性覆蓋(gai)層(ceng)(ceng)的存在，使(shi)磁(ci)路磁(ci)阻變(bian)(bian)化，通過(guo)測量(liang)其變(bian)(bian)化可導出覆蓋(gai)層(ceng)(ceng)的厚度(du)。

②渦流(liu)(liu)法：主(zhu)要用于(yu)非(fei)鐵(tie)基涂層(ceng)，用利用高頻交變電(dian)流(liu)(liu)在線圈(quan)中產生一個電(dian)磁場，當測(ce)(ce)量(liang)頭與覆蓋(gai)層(ceng)接(jie)觸(chu)時，金屬基體上產生電(dian)渦流(liu)(liu)，并對(dui)測(ce)(ce)量(liang)頭中的(de)(de)線圈(quan)產生反饋作用，通過(guo)測(ce)(ce)量(liang)反饋作用的(de)(de)大(da)小可導出覆蓋(gai)層(ceng)的(de)(de)厚度。

3、測量精度不同

超聲波測厚儀的測量精度是0.5-600mm；涂層測厚儀的(de)測量精度是(shi)：0-1250um（標配(pei)F1/N1探頭(tou)）00-10000um（選配(pei)F10/N10探頭(tou)）。