一、光時域反射儀測試誤差的原因有哪些

光時域(yu)反射儀是(shi)一(yi)種精(jing)密儀器(qi)，但測試(shi)過程(cheng)中，或多或少(shao)會存在一(yi)些(xie)誤差，一(yi)般導(dao)致測試(shi)誤差的(de)原因(yin)主要有：

1、OTDR光時域反射儀存在的固有偏差

由(you)OTDR的(de)測試原(yuan)理可知，它是按一定的(de)周期向被測光(guang)纖發送光(guang)脈沖，再按一定的(de)速率將來自光(guang)纖的(de)背向散射信號(hao)抽樣(yang)、量化、編碼后，存儲并顯示出來。OTDR光(guang)時(shi)域反射儀本身由(you)于抽樣(yang)間隔(ge)而存在誤差(cha)，這種固有偏差(cha)主要(yao)反映在距(ju)離分辯率上。OTDR的(de)距(ju)離分辯率正比于抽樣(yang)頻(pin)率。

2、測試儀表操作不當產生的誤差

在光纜(lan)故障定(ding)位測(ce)試時，OTDR光時域反射儀(yi)使用(yong)的(de)正確(que)性與障礙測(ce)試的(de)準確(que)性直接相(xiang)關，儀(yi)表(biao)參(can)數(shu)設定(ding)和(he)準確(que)性、儀(yi)表(biao)量程(cheng)范(fan)圍(wei)的(de)選擇不當或光標設置不準等都將導致測(ce)試結果的(de)誤差。

（1）設定儀表的折射率偏差產生的誤差

不(bu)同類型和廠家的(de)(de)(de)光(guang)纖(xian)的(de)(de)(de)折射率是不(bu)同的(de)(de)(de)。使用OTDR測試光(guang)纖(xian)長(chang)度時(shi)，必須先進行儀表參數設定，折射率的(de)(de)(de)設定就是其中之一。當(dang)幾(ji)段光(guang)纜(lan)的(de)(de)(de)折射率不(bu)同時(shi)可采用分(fen)段設置(zhi)的(de)(de)(de)方法，以減少因折射率設置(zhi)誤差而造成的(de)(de)(de)測試誤差。

（2）量程范圍選擇不當

OTDR光(guang)時(shi)域反射(she)儀測試距離分(fen)辯率(lv)為1米時(shi)，它是指圖形放大到水(shui)平刻(ke)度為25米/格(ge)(ge)時(shi)才(cai)能(neng)實現(xian)。儀表(biao)(biao)設(she)計是以光(guang)標(biao)每移動(dong)25步為1滿(man)格(ge)(ge)。在這種情況下，光(guang)標(biao)每移動(dong)一(yi)步，即表(biao)(biao)示(shi)移動(dong)1米的(de)距離，所以讀出分(fen)辯率(lv)為1米。如果水(shui)平刻(ke)度選擇(ze)2公里(li)/每格(ge)(ge)，則光(guang)標(biao)每移動(dong)一(yi)步，距離就(jiu)會偏移80米。由此(ci)可(ke)見，測試時(shi)選擇(ze)的(de)量程范圍(wei)越大，測試結果的(de)偏差就(jiu)越大。

（3）脈沖寬度選擇不當

在脈沖幅度相(xiang)(xiang)同的(de)條件下，脈沖寬度越大(da)，脈沖能量就越大(da)，此(ci)時OTDR的(de)動態范圍也越大(da)，相(xiang)(xiang)應盲區也就大(da)。

（4）平均化處理時間選擇不當

OTDR測(ce)試(shi)曲線(xian)是將每次輸出脈沖后的反(fan)射信(xin)號采樣，并把多次采樣做平均(jun)處理以(yi)消(xiao)除(chu)一些隨機事件，平均(jun)化時間(jian)越(yue)長(chang)，噪聲(sheng)電平越(yue)接近(jin)最小值，動態(tai)范(fan)圍就越(yue)大。平均(jun)化時間(jian)越(yue)長(chang)，測(ce)試(shi)精度(du)越(yue)高(gao)，但達到一定(ding)程度(du)時精度(du)不再提高(gao)。為(wei)了提高(gao)測(ce)試(shi)速度(du)，縮短整體測(ce)試(shi)時間(jian)，一般(ban)測(ce)試(shi)時間(jian)可在0.5~3分鐘(zhong)內選擇。

（5）光標位置放置不當

光(guang)(guang)纖活動連(lian)接器、機械接頭和光(guang)(guang)纖中的(de)斷裂都會(hui)引起損耗和反(fan)射(she)，光(guang)(guang)纖末端的(de)破裂端面(mian)由于末端端面(mian)的(de)不規則性會(hui)產(chan)生各種菲涅爾(er)反(fan)射(she)峰或者(zhe)不產(chan)生菲涅爾(er)反(fan)射(she)。如果光(guang)(guang)標設置(zhi)不夠準確(que)，也會(hui)產(chan)生一定(ding)誤差。

二、如何減少OTDR測試誤差

為(wei)了減少測試誤(wu)差，在使用OTDR光時域反射儀的時候(hou)，可(ke)以采取以下幾個(ge)方(fang)法(fa)：

1、設定儀表的折射率偏差

不(bu)同(tong)類型和廠家的光(guang)(guang)纖(xian)的折(zhe)射(she)(she)率(lv)是(shi)不(bu)同(tong)的，使用(yong)OTDR測(ce)試(shi)光(guang)(guang)纖(xian)長度時，必(bi)須先(xian)進行儀(yi)表參數設(she)定，折(zhe)射(she)(she)率(lv)的設(she)定就是(shi)其(qi)中之一。當幾段光(guang)(guang)纜的折(zhe)射(she)(she)率(lv)不(bu)同(tong)時可采(cai)用(yong)分段設(she)置的方法，以減少(shao)因折(zhe)射(she)(she)率(lv)設(she)置誤(wu)差而造(zao)成的測(ce)試(shi)誤(wu)差。

2、選擇正確的量程范圍

OTDR測試距(ju)(ju)離(li)分(fen)辯(bian)(bian)率為(wei)1米(mi)時(shi)，它是(shi)指圖形放大到水平(ping)刻度為(wei)25米(mi)/格時(shi)才能(neng)實現(xian)。儀(yi)表設計是(shi)以(yi)光(guang)標每移動(dong)25步為(wei)1滿格，在這種情況下(xia)，光(guang)標每移動(dong)一(yi)步，即表示移動(dong)1米(mi)的距(ju)(ju)離(li)，所以(yi)讀出分(fen)辯(bian)(bian)率為(wei)1米(mi)；如果水平(ping)刻度選擇2公里/每格，則光(guang)標每移動(dong)一(yi)步，距(ju)(ju)離(li)就(jiu)會偏(pian)移80米(mi)。

3、保持測試參數的一致性

在光纖線路的測試中，應盡量保持使用同一塊光時域反射儀進行(xing)某(mou)條線路(lu)的(de)(de)測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)，各次(ci)(ci)測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)時主要參數值的(de)(de)設置也應保持一(yi)致，這樣可以(yi)減少測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)誤差，便于和上(shang)次(ci)(ci)的(de)(de)測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)結果(guo)比較。即使使用(yong)不同型號的(de)(de)儀表進行(xing)測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)，只(zhi)要其動態范圍能達到要求，折射率、波長、脈寬、距(ju)離、均化時間(jian)等參數的(de)(de)設置亦和上(shang)一(yi)次(ci)(ci)的(de)(de)相同，這樣測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)數據(ju)一(yi)般不會有大的(de)(de)差別。

4、選擇合適的測試方式

通過OTDR來對(dui)光纖線路進(jin)行(xing)測(ce)試(shi)，就(jiu)會考慮到實(shi)時、自(zi)(zi)動與(yu)手(shou)動三種相(xiang)應的(de)處理(li)方式。在進(jin)行(xing)實(shi)時處理(li)中，要求對(dui)于刷新曲(qu)線進(jin)行(xing)不斷地掃描，但是(shi)因為(wei)曲(qu)線反復跳動和變化的(de)緣故(gu)，因此使用頻率相(xiang)對(dui)偏少(shao)。自(zi)(zi)動方式多用于對(dui)整條線路狀(zhuang)況的(de)概覽，僅(jin)需完成折射(she)率及波長等基本參數(shu)的(de)設置即可(ke)，儀(yi)表(biao)在測(ce)試(shi)中能自(zi)(zi)動完成剩余參數(shu)的(de)設定。