一、手動探針臺和自動的區別在哪里 ?

自(zi)(zi)動探(tan)針(zhen)(zhen)臺可分(fen)為半自(zi)(zi)動探(tan)針(zhen)(zhen)臺和(he)全(quan)自(zi)(zi)動探(tan)針(zhen)(zhen)，它們和(he)手動探(tan)針(zhen)(zhen)臺在使用類型、功能、操作方式和(he)價格等方面都有所不同。

1、手動探針臺是一種手動(dong)控制的探針臺，通(tong)常用(yong)于(yu)沒有很多待測(ce)器件需要測(ce)量或(huo)數(shu)據需要收(shou)集的情況(kuang)下。該類(lei)探針臺的優點是靈活、可(ke)變性高，易(yi)于(yu)配(pei)置環境和轉換測(ce)試環境，并且不(bu)需要涉及額外(wai)培訓(xun)和設(she)置時間(jian)的電子設(she)備、PC或(huo)軟件。手動(dong)探針臺系統只需要少量的培訓(xun)，因此非常適合研發人(ren)員使用(yong)。

2、半自動探針(zhen)(zhen)臺是一(yi)種(zhong)半自動控制(zhi)的(de)探針(zhen)(zhen)臺，可以在沒有很多待測(ce)器件需(xu)要(yao)(yao)測(ce)量或數(shu)據(ju)需(xu)要(yao)(yao)收集的(de)情況(kuang)下使用。與手(shou)動探針(zhen)(zhen)臺相比(bi)，半自動探針(zhen)(zhen)臺的(de)操(cao)作相對簡單，但需(xu)要(yao)(yao)使用者進行一(yi)些簡單的(de)操(cao)作，如(ru)移動晶圓載物臺、調(diao)整(zheng)顯微鏡焦距等。半自動探針(zhen)(zhen)臺通常需(xu)要(yao)(yao)進行一(yi)些預設(she)置，以便能(neng)夠(gou)適(shi)應不同的(de)測(ce)試環境(jing)。

3、全自動探針臺(tai)(tai)(tai)是一種(zhong)全自動控制的(de)(de)探針臺(tai)(tai)(tai)，可以在(zai)沒有(you)很多(duo)待(dai)測器件需(xu)要(yao)測量(liang)或(huo)數據需(xu)要(yao)收集的(de)(de)情(qing)況下(xia)使用(yong)。相比(bi)于半自動探針臺(tai)(tai)(tai)，全自動探針臺(tai)(tai)(tai)具有(you)更高的(de)(de)精(jing)度和效率，可以在(zai)短時間(jian)內完成大量(liang)的(de)(de)測試(shi)操作。全自動探針臺(tai)(tai)(tai)通常還配備(bei)有(you)晶(jing)(jing)圓(yuan)材料處理(li)搬運(yun)單元（MHU）、模(mo)式識別（自動對準）等(deng)功能(neng)，以確保晶(jing)(jing)圓(yuan)上的(de)(de)晶(jing)(jing)粒(li)依(yi)次與(yu)探針接觸并逐(zhu)個測試(shi)。全自動探針臺(tai)(tai)(tai)通常用(yong)于芯(xin)片量(liang)產或(huo)有(you)一些特殊要(yao)求如處理(li)薄(bo)晶(jing)(jing)圓(yuan)、封裝基(ji)板等(deng)。

二、手動探針臺和自動的哪個好

半自(zi)(zi)動(dong)(dong)和(he)全自(zi)(zi)動(dong)(dong)探針平臺(tai)提(ti)(ti)供了(le)更(geng)高(gao)(gao)程度的(de)自(zi)(zi)動(dong)(dong)化。它們可(ke)以(yi)根據(ju)預設程序自(zi)(zi)動(dong)(dong)操作探針臂和(he)探針，將其定位在待測(ce)物(wu)體上。用戶只需輸入(ru)指令來(lai)控(kong)制整個測(ce)試(shi)過(guo)程。這些平臺(tai)還(huan)配備了(le)圖像識別(bie)(bie)技術，能夠自(zi)(zi)動(dong)(dong)識別(bie)(bie)待測(ce)物(wu)體的(de)位置，提(ti)(ti)高(gao)(gao)測(ce)試(shi)的(de)準確性和(he)效(xiao)(xiao)率。與(yu)手動(dong)(dong)探針平臺(tai)相比，半自(zi)(zi)動(dong)(dong)和(he)全自(zi)(zi)動(dong)(dong)探針平臺(tai)系統更(geng)加高(gao)(gao)效(xiao)(xiao)、便捷，能夠節(jie)省(sheng)大量的(de)人(ren)力和(he)時間成本(ben)，并提(ti)(ti)供更(geng)可(ke)靠的(de)測(ce)試(shi)結果(guo)。

但實(shi)際選擇時，手動(dong)探針(zhen)臺(tai)適(shi)(shi)合研發人員使(shi)用(yong)，半自(zi)動(dong)探針(zhen)臺(tai)適(shi)(shi)合初學者(zhe)使(shi)用(yong)，而全自(zi)動(dong)探針(zhen)臺(tai)適(shi)(shi)合具有一定經(jing)驗的測(ce)試人員使(shi)用(yong)。不(bu)同類型的探針(zhen)臺(tai)各有優缺(que)點，選擇何種探針(zhen)臺(tai)主要取決于測(ce)試的需求(qiu)和個人的技能水平。