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手動探針臺和自動的區別在哪里 手動探針臺和自動的哪個好

本文章由注冊用戶 時代工業園 上傳提供 2025-01-17 評論 0
摘要:手動探針臺是一種輔助執行機構,主要用于半導體芯片的電參數測試。測試人員將需要量測的芯片放置在探針臺載物臺上,通過X-Y移動,配合顯微鏡,找到需要探測的位置。然后,通過旋轉探針座上的X-Y-Z三向旋鈕,控制前部探針扎到被測點,使信號線與外部測試機導通,通過測試機測試人員可以得到所需要的電性能參數。那么手動探針臺和自動的區別在哪里以及手動探針臺和自動的哪個好呢?一起來看看吧!

一、手動探針臺和自動的區別在哪里 ?

自動(dong)(dong)探(tan)(tan)針(zhen)(zhen)臺(tai)可分為半(ban)自動(dong)(dong)探(tan)(tan)針(zhen)(zhen)臺(tai)和(he)全(quan)自動(dong)(dong)探(tan)(tan)針(zhen)(zhen),它們和(he)手動(dong)(dong)探(tan)(tan)針(zhen)(zhen)臺(tai)在使用類型、功能、操作方式和(he)價(jia)格(ge)等方面都有所不同。

1、手動探針臺是一種(zhong)手(shou)動(dong)控制的探(tan)針(zhen)臺,通常(chang)用于沒有(you)很(hen)多待測器件需要測量(liang)或數據需要收集的情(qing)況下。該類探(tan)針(zhen)臺的優點是靈活(huo)、可變性(xing)高,易于配置環(huan)境(jing)和(he)轉換測試環(huan)境(jing),并且不需要涉及額外培(pei)訓(xun)和(he)設置時間的電子設備、PC或軟件。手(shou)動(dong)探(tan)針(zhen)臺系(xi)統只需要少(shao)量(liang)的培(pei)訓(xun),因(yin)此非常(chang)適(shi)合研發(fa)人員使(shi)用。

2、半(ban)自(zi)(zi)動(dong)探(tan)(tan)針(zhen)臺(tai)(tai)是一(yi)(yi)種半(ban)自(zi)(zi)動(dong)控制的(de)探(tan)(tan)針(zhen)臺(tai)(tai),可以(yi)在沒有很多待測器件需要測量或數據需要收集的(de)情況下使用(yong)。與手動(dong)探(tan)(tan)針(zhen)臺(tai)(tai)相比(bi),半(ban)自(zi)(zi)動(dong)探(tan)(tan)針(zhen)臺(tai)(tai)的(de)操作相對簡單(dan),但需要使用(yong)者進(jin)行一(yi)(yi)些簡單(dan)的(de)操作,如移動(dong)晶(jing)圓載物臺(tai)(tai)、調整顯(xian)微鏡焦距等。半(ban)自(zi)(zi)動(dong)探(tan)(tan)針(zhen)臺(tai)(tai)通常(chang)需要進(jin)行一(yi)(yi)些預(yu)設置,以(yi)便能夠(gou)適應(ying)不(bu)同(tong)的(de)測試(shi)環境。

3、全(quan)(quan)自(zi)動(dong)探(tan)針(zhen)(zhen)臺(tai)是一種(zhong)全(quan)(quan)自(zi)動(dong)控制(zhi)的(de)(de)(de)探(tan)針(zhen)(zhen)臺(tai),可(ke)以(yi)在沒(mei)有(you)很多待(dai)測(ce)器件需(xu)要(yao)測(ce)量(liang)或(huo)數據需(xu)要(yao)收(shou)集的(de)(de)(de)情況下(xia)使用(yong)。相比(bi)于半自(zi)動(dong)探(tan)針(zhen)(zhen)臺(tai),全(quan)(quan)自(zi)動(dong)探(tan)針(zhen)(zhen)臺(tai)具有(you)更高的(de)(de)(de)精度和效率,可(ke)以(yi)在短時間內完成(cheng)大量(liang)的(de)(de)(de)測(ce)試(shi)(shi)操作。全(quan)(quan)自(zi)動(dong)探(tan)針(zhen)(zhen)臺(tai)通(tong)常還配備有(you)晶圓(yuan)材料處(chu)理(li)搬(ban)運單(dan)元(MHU)、模(mo)式識別(bie)(自(zi)動(dong)對準)等功能,以(yi)確保晶圓(yuan)上(shang)的(de)(de)(de)晶粒依次與探(tan)針(zhen)(zhen)接觸(chu)并(bing)逐個測(ce)試(shi)(shi)。全(quan)(quan)自(zi)動(dong)探(tan)針(zhen)(zhen)臺(tai)通(tong)常用(yong)于芯片量(liang)產或(huo)有(you)一些特殊要(yao)求如處(chu)理(li)薄晶圓(yuan)、封裝基板等。

二、手動探針臺和自動的哪個好

半自動(dong)(dong)和(he)全(quan)自動(dong)(dong)探(tan)針(zhen)平(ping)臺提供(gong)了更高程(cheng)度的(de)自動(dong)(dong)化(hua)。它們(men)可(ke)(ke)以根據(ju)預(yu)設程(cheng)序自動(dong)(dong)操(cao)作探(tan)針(zhen)臂和(he)探(tan)針(zhen),將其定位在待測物(wu)體(ti)上。用戶只需輸入指令來控制(zhi)整個(ge)測試過程(cheng)。這些平(ping)臺還配(pei)備了圖(tu)像識別技術,能夠自動(dong)(dong)識別待測物(wu)體(ti)的(de)位置,提高測試的(de)準確(que)性和(he)效(xiao)率。與手動(dong)(dong)探(tan)針(zhen)平(ping)臺相(xiang)比,半自動(dong)(dong)和(he)全(quan)自動(dong)(dong)探(tan)針(zhen)平(ping)臺系統更加高效(xiao)、便捷,能夠節省大量的(de)人力(li)和(he)時(shi)間成本(ben),并提供(gong)更可(ke)(ke)靠的(de)測試結果。

但實(shi)際選擇(ze)時,手動探針(zhen)臺(tai)適合(he)研發人員使用(yong),半(ban)自(zi)動探針(zhen)臺(tai)適合(he)初學者使用(yong),而全(quan)自(zi)動探針(zhen)臺(tai)適合(he)具有一定經(jing)驗的(de)測試人員使用(yong)。不(bu)同類型的(de)探針(zhen)臺(tai)各有優缺點,選擇(ze)何種探針(zhen)臺(tai)主要取決(jue)于測試的(de)需(xu)求和個人的(de)技(ji)能水平。

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