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手動探針臺和自動的區別在哪里 手動探針臺和自動的哪個好

本文章由注冊用戶 時代工業園 上傳提供 2025-01-17 評論 0
摘要:手動探針臺是一種輔助執行機構,主要用于半導體芯片的電參數測試。測試人員將需要量測的芯片放置在探針臺載物臺上,通過X-Y移動,配合顯微鏡,找到需要探測的位置。然后,通過旋轉探針座上的X-Y-Z三向旋鈕,控制前部探針扎到被測點,使信號線與外部測試機導通,通過測試機測試人員可以得到所需要的電性能參數。那么手動探針臺和自動的區別在哪里以及手動探針臺和自動的哪個好呢?一起來看看吧!

一、手動探針臺和自動的區別在哪里 ?

自動(dong)(dong)探(tan)針(zhen)(zhen)臺(tai)可分為半自動(dong)(dong)探(tan)針(zhen)(zhen)臺(tai)和全自動(dong)(dong)探(tan)針(zhen)(zhen),它們和手(shou)動(dong)(dong)探(tan)針(zhen)(zhen)臺(tai)在使用類(lei)型、功能、操作方式(shi)和價格(ge)等方面都(dou)有(you)所不同。

1、手動探針臺是一(yi)種(zhong)手動控制的探針(zhen)臺,通常(chang)用于(yu)沒有很多待(dai)測器件需要(yao)(yao)(yao)測量或數據需要(yao)(yao)(yao)收集的情況(kuang)下(xia)。該類探針(zhen)臺的優(you)點是靈活、可變性高,易于(yu)配(pei)置(zhi)環境(jing)和轉換測試(shi)環境(jing),并且不需要(yao)(yao)(yao)涉及額外培(pei)訓(xun)和設(she)置(zhi)時間的電(dian)子設(she)備、PC或軟件。手動探針(zhen)臺系統只需要(yao)(yao)(yao)少量的培(pei)訓(xun),因(yin)此非常(chang)適合(he)研發人員(yuan)使(shi)用。

2、半自動(dong)探(tan)(tan)(tan)針臺是一(yi)種半自動(dong)控制的探(tan)(tan)(tan)針臺,可(ke)以在沒有很多待測器件需要測量或數據需要收(shou)集的情況下使(shi)用(yong)。與手(shou)動(dong)探(tan)(tan)(tan)針臺相(xiang)比(bi),半自動(dong)探(tan)(tan)(tan)針臺的操(cao)(cao)作相(xiang)對(dui)簡(jian)單,但需要使(shi)用(yong)者進行一(yi)些簡(jian)單的操(cao)(cao)作,如移動(dong)晶圓(yuan)載物臺、調整顯(xian)微鏡(jing)焦距等(deng)。半自動(dong)探(tan)(tan)(tan)針臺通常需要進行一(yi)些預設置,以便能夠適應(ying)不同的測試環(huan)境。

3、全自(zi)(zi)(zi)動(dong)探(tan)針(zhen)臺是一(yi)(yi)種全自(zi)(zi)(zi)動(dong)控制的探(tan)針(zhen)臺,可以(yi)(yi)在沒有(you)(you)很多待測器件需要測量或數據需要收集的情況下使用。相(xiang)比于半(ban)自(zi)(zi)(zi)動(dong)探(tan)針(zhen)臺,全自(zi)(zi)(zi)動(dong)探(tan)針(zhen)臺具(ju)有(you)(you)更高的精度和效率,可以(yi)(yi)在短時間內完成大量的測試操作。全自(zi)(zi)(zi)動(dong)探(tan)針(zhen)臺通(tong)(tong)常(chang)(chang)還(huan)配(pei)備(bei)有(you)(you)晶(jing)(jing)圓材料處理(li)搬運單元(MHU)、模式識別(bie)(自(zi)(zi)(zi)動(dong)對準(zhun))等功能,以(yi)(yi)確保晶(jing)(jing)圓上的晶(jing)(jing)粒依次與探(tan)針(zhen)接觸并逐個(ge)測試。全自(zi)(zi)(zi)動(dong)探(tan)針(zhen)臺通(tong)(tong)常(chang)(chang)用于芯片量產或有(you)(you)一(yi)(yi)些(xie)特殊要求(qiu)如處理(li)薄晶(jing)(jing)圓、封裝(zhuang)基板等。

二、手動探針臺和自動的哪個好

半自(zi)動(dong)(dong)和全自(zi)動(dong)(dong)探(tan)(tan)針(zhen)(zhen)平臺提(ti)供了更高(gao)程(cheng)度的自(zi)動(dong)(dong)化。它們可以(yi)根據預設程(cheng)序(xu)自(zi)動(dong)(dong)操作(zuo)探(tan)(tan)針(zhen)(zhen)臂和探(tan)(tan)針(zhen)(zhen),將其(qi)定位(wei)在待(dai)測(ce)物(wu)體上。用戶只需輸入(ru)指令來控制整個測(ce)試過(guo)程(cheng)。這些平臺還配備了圖像(xiang)識別技術(shu),能(neng)夠(gou)自(zi)動(dong)(dong)識別待(dai)測(ce)物(wu)體的位(wei)置,提(ti)高(gao)測(ce)試的準確性(xing)和效率(lv)。與(yu)手(shou)動(dong)(dong)探(tan)(tan)針(zhen)(zhen)平臺相比,半自(zi)動(dong)(dong)和全自(zi)動(dong)(dong)探(tan)(tan)針(zhen)(zhen)平臺系統(tong)更加高(gao)效、便捷,能(neng)夠(gou)節省大量的人力(li)和時間(jian)成本,并提(ti)供更可靠的測(ce)試結果(guo)。

但(dan)實(shi)際選(xuan)擇時,手動探(tan)針臺(tai)適合研發(fa)人員(yuan)使用,半(ban)自動探(tan)針臺(tai)適合初(chu)學者使用,而全自動探(tan)針臺(tai)適合具有一定經(jing)驗的測試人員(yuan)使用。不同類(lei)型的探(tan)針臺(tai)各(ge)有優(you)缺點,選(xuan)擇何種探(tan)針臺(tai)主要(yao)取(qu)決于測試的需求和個(ge)人的技能水平。

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