一、手動探針臺和自動的區別在哪里 ?

自動探(tan)針(zhen)臺(tai)可(ke)分為半自動探(tan)針(zhen)臺(tai)和全(quan)自動探(tan)針(zhen)，它們和手動探(tan)針(zhen)臺(tai)在使用(yong)類型(xing)、功能、操作方式和價格等方面(mian)都有所不同。

1、手動探針臺是一種(zhong)手(shou)動(dong)控制的探(tan)針臺，通常用(yong)于沒有很多待測器件需要測量或數據需要收(shou)集(ji)的情(qing)況下。該類探(tan)針臺的優點(dian)是靈活、可變性高，易于配置(zhi)環境和轉換測試(shi)環境，并(bing)且(qie)不需要涉及(ji)額外(wai)培(pei)訓(xun)(xun)和設(she)置(zhi)時(shi)間的電(dian)子設(she)備、PC或軟件。手(shou)動(dong)探(tan)針臺系統只需要少(shao)量的培(pei)訓(xun)(xun)，因此非常適合研發人員使用(yong)。

2、半(ban)自動(dong)探(tan)針(zhen)(zhen)臺(tai)是一(yi)種半(ban)自動(dong)控制的(de)探(tan)針(zhen)(zhen)臺(tai)，可以(yi)在沒(mei)有很多(duo)待測器件需(xu)(xu)要測量或數(shu)據需(xu)(xu)要收集的(de)情況下使用。與手動(dong)探(tan)針(zhen)(zhen)臺(tai)相比(bi)，半(ban)自動(dong)探(tan)針(zhen)(zhen)臺(tai)的(de)操作相對簡(jian)單，但需(xu)(xu)要使用者進(jin)行一(yi)些簡(jian)單的(de)操作，如(ru)移動(dong)晶圓載物臺(tai)、調(diao)整(zheng)顯微鏡焦距等(deng)。半(ban)自動(dong)探(tan)針(zhen)(zhen)臺(tai)通(tong)常需(xu)(xu)要進(jin)行一(yi)些預設置，以(yi)便能夠適應不同的(de)測試環境。

3、全自(zi)(zi)動(dong)(dong)探(tan)(tan)針(zhen)臺(tai)是(shi)一種全自(zi)(zi)動(dong)(dong)控制(zhi)的(de)探(tan)(tan)針(zhen)臺(tai)，可以(yi)在沒有(you)很多(duo)待測(ce)器件需要測(ce)量(liang)或數據需要收集的(de)情(qing)況下使用。相比于(yu)半自(zi)(zi)動(dong)(dong)探(tan)(tan)針(zhen)臺(tai)，全自(zi)(zi)動(dong)(dong)探(tan)(tan)針(zhen)臺(tai)具有(you)更高的(de)精度和效率(lv)，可以(yi)在短(duan)時間內完(wan)成(cheng)大(da)量(liang)的(de)測(ce)試操(cao)作(zuo)。全自(zi)(zi)動(dong)(dong)探(tan)(tan)針(zhen)臺(tai)通常還(huan)配備(bei)有(you)晶圓(yuan)材(cai)料處理(li)搬運單元(yuan)（MHU）、模式識別(bie)（自(zi)(zi)動(dong)(dong)對準(zhun)）等(deng)功(gong)能，以(yi)確(que)保晶圓(yuan)上的(de)晶粒依(yi)次與探(tan)(tan)針(zhen)接(jie)觸(chu)并逐(zhu)個測(ce)試。全自(zi)(zi)動(dong)(dong)探(tan)(tan)針(zhen)臺(tai)通常用于(yu)芯片(pian)量(liang)產或有(you)一些特(te)殊要求如處理(li)薄晶圓(yuan)、封裝基板等(deng)。

二、手動探針臺和自動的哪個好

半自(zi)動(dong)和(he)全(quan)自(zi)動(dong)探(tan)(tan)針(zhen)平(ping)臺(tai)提(ti)供了更高(gao)程(cheng)度(du)的(de)自(zi)動(dong)化。它們可以根(gen)據預設程(cheng)序(xu)自(zi)動(dong)操作探(tan)(tan)針(zhen)臂和(he)探(tan)(tan)針(zhen)，將其定位(wei)在待(dai)測(ce)物體上。用(yong)戶(hu)只需輸入指令來控制整(zheng)個測(ce)試(shi)過程(cheng)。這些平(ping)臺(tai)還配備了圖(tu)像(xiang)識(shi)別(bie)(bie)技術，能夠(gou)自(zi)動(dong)識(shi)別(bie)(bie)待(dai)測(ce)物體的(de)位(wei)置，提(ti)高(gao)測(ce)試(shi)的(de)準確性和(he)效(xiao)率。與(yu)手動(dong)探(tan)(tan)針(zhen)平(ping)臺(tai)相比，半自(zi)動(dong)和(he)全(quan)自(zi)動(dong)探(tan)(tan)針(zhen)平(ping)臺(tai)系統更加高(gao)效(xiao)、便(bian)捷，能夠(gou)節(jie)省大量(liang)的(de)人力和(he)時間成本，并提(ti)供更可靠(kao)的(de)測(ce)試(shi)結果。

但(dan)實(shi)際選(xuan)擇(ze)時，手動(dong)探(tan)(tan)針臺(tai)(tai)(tai)適(shi)合(he)(he)研發人(ren)員使(shi)(shi)用(yong)，半(ban)自(zi)動(dong)探(tan)(tan)針臺(tai)(tai)(tai)適(shi)合(he)(he)初學(xue)者使(shi)(shi)用(yong)，而全自(zi)動(dong)探(tan)(tan)針臺(tai)(tai)(tai)適(shi)合(he)(he)具有一定經(jing)驗的(de)測(ce)試人(ren)員使(shi)(shi)用(yong)。不(bu)同類型的(de)探(tan)(tan)針臺(tai)(tai)(tai)各有優缺點，選(xuan)擇(ze)何種探(tan)(tan)針臺(tai)(tai)(tai)主要取決于測(ce)試的(de)需求(qiu)和個人(ren)的(de)技能水平。