一、手動探針臺和自動的區別在哪里 ?

自動(dong)探針(zhen)臺(tai)可分為半自動(dong)探針(zhen)臺(tai)和(he)全自動(dong)探針(zhen)，它(ta)們和(he)手動(dong)探針(zhen)臺(tai)在使用(yong)類型、功能(neng)、操(cao)作(zuo)方式和(he)價格(ge)等方面都有所不同。

1、手動探針臺是一種手(shou)動(dong)控(kong)制的(de)(de)探(tan)針臺，通常用于沒有很多(duo)待測(ce)器件需(xu)要(yao)(yao)測(ce)量(liang)或(huo)數據需(xu)要(yao)(yao)收集的(de)(de)情況下(xia)。該類(lei)探(tan)針臺的(de)(de)優點是靈活(huo)、可變性高，易于配(pei)置環境(jing)和轉(zhuan)換(huan)測(ce)試環境(jing)，并(bing)且不需(xu)要(yao)(yao)涉及額(e)外培訓和設置時間的(de)(de)電子設備(bei)、PC或(huo)軟件。手(shou)動(dong)探(tan)針臺系(xi)統只需(xu)要(yao)(yao)少量(liang)的(de)(de)培訓，因(yin)此非常適合研發人員使用。

2、半自(zi)(zi)動(dong)(dong)探針(zhen)(zhen)臺(tai)(tai)是(shi)一(yi)種(zhong)半自(zi)(zi)動(dong)(dong)控制的(de)(de)探針(zhen)(zhen)臺(tai)(tai)，可以在(zai)沒(mei)有很(hen)多待測器(qi)件需要測量(liang)或數據(ju)需要收集的(de)(de)情(qing)況下使(shi)用。與手動(dong)(dong)探針(zhen)(zhen)臺(tai)(tai)相比，半自(zi)(zi)動(dong)(dong)探針(zhen)(zhen)臺(tai)(tai)的(de)(de)操(cao)(cao)作相對簡(jian)單(dan)，但(dan)需要使(shi)用者進行一(yi)些簡(jian)單(dan)的(de)(de)操(cao)(cao)作，如移動(dong)(dong)晶(jing)圓載物(wu)臺(tai)(tai)、調整顯微鏡焦距等(deng)。半自(zi)(zi)動(dong)(dong)探針(zhen)(zhen)臺(tai)(tai)通常需要進行一(yi)些預設置(zhi)，以便能夠適應不同(tong)的(de)(de)測試環境。

3、全(quan)(quan)自(zi)(zi)動(dong)(dong)探針(zhen)臺(tai)是一種全(quan)(quan)自(zi)(zi)動(dong)(dong)控制的(de)(de)探針(zhen)臺(tai)，可以在沒有(you)很多待(dai)測(ce)器件需要測(ce)量(liang)或數據需要收集(ji)的(de)(de)情況下使用(yong)。相比于半自(zi)(zi)動(dong)(dong)探針(zhen)臺(tai)，全(quan)(quan)自(zi)(zi)動(dong)(dong)探針(zhen)臺(tai)具有(you)更高的(de)(de)精度和(he)效(xiao)率，可以在短時(shi)間內完成大量(liang)的(de)(de)測(ce)試(shi)操作。全(quan)(quan)自(zi)(zi)動(dong)(dong)探針(zhen)臺(tai)通常(chang)還配(pei)備有(you)晶圓(yuan)材料處理搬(ban)運單元（MHU）、模式識(shi)別（自(zi)(zi)動(dong)(dong)對準）等功能，以確保晶圓(yuan)上的(de)(de)晶粒依次與(yu)探針(zhen)接(jie)觸(chu)并逐個測(ce)試(shi)。全(quan)(quan)自(zi)(zi)動(dong)(dong)探針(zhen)臺(tai)通常(chang)用(yong)于芯片量(liang)產或有(you)一些特(te)殊要求如處理薄晶圓(yuan)、封裝基板(ban)等。

二、手動探針臺和自動的哪個好

半(ban)自(zi)(zi)動(dong)(dong)(dong)和(he)(he)全(quan)自(zi)(zi)動(dong)(dong)(dong)探(tan)(tan)針(zhen)平(ping)臺(tai)提(ti)供了更(geng)(geng)高(gao)程度的(de)(de)(de)自(zi)(zi)動(dong)(dong)(dong)化。它們可(ke)(ke)以根據預設程序自(zi)(zi)動(dong)(dong)(dong)操作(zuo)探(tan)(tan)針(zhen)臂和(he)(he)探(tan)(tan)針(zhen)，將其(qi)定位在(zai)待測(ce)(ce)物(wu)體上。用戶只需輸入指令來控(kong)制整個(ge)測(ce)(ce)試(shi)過程。這些(xie)平(ping)臺(tai)還配(pei)備了圖像識別技術，能夠自(zi)(zi)動(dong)(dong)(dong)識別待測(ce)(ce)物(wu)體的(de)(de)(de)位置(zhi)，提(ti)高(gao)測(ce)(ce)試(shi)的(de)(de)(de)準(zhun)確性和(he)(he)效(xiao)率。與手動(dong)(dong)(dong)探(tan)(tan)針(zhen)平(ping)臺(tai)相比，半(ban)自(zi)(zi)動(dong)(dong)(dong)和(he)(he)全(quan)自(zi)(zi)動(dong)(dong)(dong)探(tan)(tan)針(zhen)平(ping)臺(tai)系(xi)統(tong)更(geng)(geng)加(jia)高(gao)效(xiao)、便捷，能夠節省大量的(de)(de)(de)人力和(he)(he)時間成本，并(bing)提(ti)供更(geng)(geng)可(ke)(ke)靠(kao)的(de)(de)(de)測(ce)(ce)試(shi)結果。

但實(shi)際(ji)選擇時，手動探(tan)(tan)(tan)針(zhen)(zhen)臺(tai)適(shi)合(he)研發人(ren)員(yuan)使用(yong)，半自(zi)動探(tan)(tan)(tan)針(zhen)(zhen)臺(tai)適(shi)合(he)初(chu)學(xue)者使用(yong)，而全自(zi)動探(tan)(tan)(tan)針(zhen)(zhen)臺(tai)適(shi)合(he)具有一定經(jing)驗的測(ce)試(shi)(shi)人(ren)員(yuan)使用(yong)。不同類型(xing)的探(tan)(tan)(tan)針(zhen)(zhen)臺(tai)各有優缺點，選擇何種探(tan)(tan)(tan)針(zhen)(zhen)臺(tai)主(zhu)要取決于測(ce)試(shi)(shi)的需求和個人(ren)的技(ji)能水(shui)平。