一、電芯k值如何計算

電芯的(de)(de)(de)K值是一個重要的(de)(de)(de)性能指標，它反映(ying)了(le)電池(chi)的(de)(de)(de)老(lao)化(hua)速度和(he)容量(liang)。具體(ti)來說，K值是通過測量(liang)電池(chi)充滿后(hou)達到的(de)(de)(de)飽和(he)電量(liang)與其實(shi)際放電電流的(de)(de)(de)比值計算(suan)得出的(de)(de)(de)，也被稱(cheng)為(wei)額(e)定充放電倍率。具體(ti)計算(suan)方式如下：

K=電(dian)(dian)池充(chong)(chong)放電(dian)(dian)電(dian)(dian)壓或電(dian)(dian)流上、下限值(zhi)的(de)(de)最大正弦波幅值(zhi)差與(yu)標(biao)稱值(zhi)的(de)(de)百分比，即K=（Umax-Umin）%÷UN×100%。其(qi)中(zhong)，K代表偏差系(xi)數；UN為標(biao)準規(gui)定輸(shu)入(ru)/輸(shu)出直流母線額定電(dian)(dian)壓（V）；Umax為在(zai)(zai)某工(gong)況下的(de)(de)最高測試(shi)(shi)點對應(ying)的(de)(de)充(chong)(chong)、放電(dian)(dian)壓；Umin為在(zai)(zai)某工(gong)況下的(de)(de)最低測試(shi)(shi)點對應(ying)的(de)(de)充(chong)(chong)、放電(dian)(dian)壓。這些數據需(xu)要在(zai)(zai)實際測量(liang)中(zhong)獲取。

二、影響電芯k值的因素有什么

1、正負極材料、電解液種類、隔膜厚度種類

由于自(zi)放(fang)電(dian)(dian)很大程度上是發生(sheng)于材(cai)(cai)料之間，因此材(cai)(cai)料的性能對自(zi)放(fang)電(dian)(dian)有很大的影(ying)響。有人曾做(zuo)實驗得(de)知三元材(cai)(cai)料比鈷酸鋰(li)電(dian)(dian)池自(zi)放(fang)電(dian)(dian)更高。

2、存儲的時間

存儲時間(jian)變(bian)長(chang)，一方面是使(shi)壓降的(de)絕對值增大，另(ling)一方面則(ze)變(bian)相的(de)減(jian)少了“儀器(qi)絕對誤差/壓降值”，從而使(shi)結(jie)果更為準(zhun)確(que)。但儲存時間(jian)過長(chang)也(ye)會(hui)使(shi)正負極之間(jian)容量(liang)的(de)平(ping)衡逐(zhu)漸被打(da)破并深化，電解(jie)液的(de)分解(jie)也(ye)會(hui)累計一些不可逆容量(liang)損失，使(shi)自放電變(bian)大。

3、存儲的條件

存儲溫度和(he)濕度的增加，會增大自放(fang)電程度。

4、保護板自耗

與電芯保護板(ban)自耗電也(ye)有一定關系。

5、測試的初始電壓

初(chu)始(shi)電(dian)壓(ya)（或者(zhe)說一次電(dian)壓(ya)）不同，所得K值差別明顯。一般初(chu)始(shi)電(dian)壓(ya)過高，自放電(dian)率越(yue)大。

嚴格的說，自放電用容量的衰減來表示，只是沒有合適的設備在不讓電芯放(fang)電(dian)(dian)的(de)(de)情況下直接測(ce)(ce)出其剩余容量(liang)，而只能是通過測(ce)(ce)量(liang)其電(dian)(dian)壓(ya)來間接的(de)(de)衡量(liang)其自(zi)放(fang)電(dian)(dian)，也就是所說的(de)(de)K值，所以如果環境條(tiao)件的(de)(de)改變引起測(ce)(ce)試電(dian)(dian)壓(ya)的(de)(de)偏差可能導致K值的(de)(de)測(ce)(ce)量(liang)誤差，我(wo)們在(zai)實際測(ce)(ce)量(liang)時甚至得到了K為負值的(de)(de)情況，這顯然與自(zi)放(fang)電(dian)(dian)本(ben)身的(de)(de)意義相矛(mao)盾，因此需(xu)要對設備(bei)經常進行(xing)校驗，測(ce)(ce)量(liang)環境保持一致。