一、電芯k值如何計算

電芯的(de)K值是一個重要的(de)性能(neng)指(zhi)標，它(ta)反映了(le)電(dian)(dian)池(chi)的(de)老化(hua)速度和容(rong)量。具體(ti)來說(shuo)，K值是通過(guo)測量電(dian)(dian)池(chi)充滿后達到的(de)飽和電(dian)(dian)量與其實際放電(dian)(dian)電(dian)(dian)流(liu)的(de)比值計算得出的(de)，也被稱(cheng)為(wei)額定充放電(dian)(dian)倍(bei)率。具體(ti)計算方式如下(xia)：

K=電(dian)池充(chong)放電(dian)電(dian)壓(ya)(ya)(ya)或電(dian)流上、下限值(zhi)的(de)最大正弦波幅值(zhi)差與標稱值(zhi)的(de)百分比，即K=（Umax-Umin）%÷UN×100%。其中(zhong)，K代(dai)表偏差系數；UN為(wei)標準規(gui)定輸(shu)入/輸(shu)出直流母線額定電(dian)壓(ya)(ya)(ya)（V）；Umax為(wei)在(zai)某(mou)工況(kuang)下的(de)最高測試(shi)點對應(ying)的(de)充(chong)、放電(dian)壓(ya)(ya)(ya)；Umin為(wei)在(zai)某(mou)工況(kuang)下的(de)最低測試(shi)點對應(ying)的(de)充(chong)、放電(dian)壓(ya)(ya)(ya)。這(zhe)些數據需(xu)要在(zai)實際測量中(zhong)獲取(qu)。

二、影響電芯k值的因素有什么

1、正負極材料、電解液種類、隔膜厚度種類

由于自(zi)放(fang)電(dian)很(hen)大程度上是發生于材(cai)料之間(jian)，因此材(cai)料的(de)性能對自(zi)放(fang)電(dian)有很(hen)大的(de)影響。有人(ren)曾做實驗得知三(san)元材(cai)料比鈷酸鋰電(dian)池自(zi)放(fang)電(dian)更高。

2、存儲的時間

存(cun)儲(chu)時間(jian)變(bian)長，一(yi)方(fang)面是使(shi)壓降的絕(jue)對值(zhi)增大，另一(yi)方(fang)面則變(bian)相的減少了“儀器(qi)絕(jue)對誤差/壓降值(zhi)”，從而使(shi)結果更為準(zhun)確。但儲(chu)存(cun)時間(jian)過長也會(hui)使(shi)正負極之間(jian)容量的平衡(heng)逐漸被(bei)打破并深化，電解液的分解也會(hui)累計一(yi)些不可逆容量損失，使(shi)自(zi)放電變(bian)大。

3、存儲的條件

存儲溫度(du)和(he)濕度(du)的增加，會增大自放電程度(du)。

4、保護板自耗

與電芯(xin)保護板自耗電也有(you)一定(ding)關(guan)系。

5、測試的初始電壓

初(chu)始電(dian)壓（或者說一次電(dian)壓）不同，所得K值(zhi)差(cha)別明顯。一般初(chu)始電(dian)壓過高(gao)，自放(fang)電(dian)率越大。

嚴格的說，自放電用容量的衰減來表示，只是沒有合適的設備在不讓電芯放(fang)(fang)電的(de)(de)情況(kuang)(kuang)下直(zhi)接(jie)測(ce)出(chu)其剩余容量(liang)，而只(zhi)能(neng)(neng)是通過測(ce)量(liang)其電壓來(lai)間接(jie)的(de)(de)衡量(liang)其自放(fang)(fang)電，也就是所說的(de)(de)K值，所以如(ru)果環境(jing)條件(jian)的(de)(de)改(gai)變引起測(ce)試電壓的(de)(de)偏差可能(neng)(neng)導致K值的(de)(de)測(ce)量(liang)誤差，我們在實(shi)際測(ce)量(liang)時甚至得(de)到(dao)了(le)K為負值的(de)(de)情況(kuang)(kuang)，這(zhe)顯然與(yu)自放(fang)(fang)電本身(shen)的(de)(de)意義相矛盾，因(yin)此需(xu)要對設備經常進行校驗(yan)，測(ce)量(liang)環境(jing)保持(chi)一致。