一、ntc熱敏電阻怎么測量好壞

ntc被(bei)稱為負(fu)溫度(du)系(xi)數熱敏電阻，是由(you)Mn-Co-Ni的(de)(de)氧(yang)化物充分混合后燒結而(er)成(cheng)的(de)(de)陶(tao)瓷材料(liao)制備而(er)來(lai)，它在(zai)實現小(xiao)型化的(de)(de)同時(shi)，還具有(you)電阻值-溫度(du)特(te)性波(bo)動小(xiao)、對各種溫度(du)變化響應快(kuai)的(de)(de)特(te)點，可被(bei)用來(lai)做高靈敏度(du)、高精(jing)度(du)的(de)(de)溫度(du)傳(chuan)感器(qi)，在(zai)電子電路當中也經常被(bei)用作實時(shi)的(de)(de)溫度(du)監控(kong)及溫度(du)補償等(deng)。

可以從以下幾個方面測量ntc熱敏電阻的好壞。

1、將萬用表置于合適(shi)的歐姆擋（根據標稱電阻值確定擋位）。

2、用(yong)兩(liang)只表筆分別接觸熱敏電阻(zu)(zu)的兩(liang)個引腳測出(chu)實際阻(zu)(zu)值。

3、標稱阻值相比(bi)較(jiao)，如果二者相差，過大，則說明(ming)所測熱敏電(dian)阻性能(neng)不良或(huo)已損壞。

4、用手捏住(zhu)熱敏電(dian)(dian)阻測電(dian)(dian)阻值(zhi)，觀(guan)察萬(wan)用表(biao)(biao)數(shu)數(shu)，此時(shi)會(hui)看到顯示的數(shu)據隨溫度的升高而變化（ntc表(biao)(biao)示減小，PTC表(biao)(biao)示增(zeng)大），表(biao)(biao)明(ming)電(dian)(dian)阻值(zhi)在逐(zhu)漸變化

5、當阻(zu)值改變到一定(ding)數(shu)值時，顯示數(shu)據會逐(zhu)漸穩(wen)定(ding)。

6、測(ce)量時若環境溫(wen)度(du)接(jie)近(jin)體溫(wen)，則(ze)可使用電(dian)烙(luo)鐵(tie)靠近(jin)或緊(jin)貼熱(re)(re)敏電(dian)阻進行加(jia)熱(re)(re)。

二、ntc熱敏電阻壞了什么現象

1、ntc熱敏電阻短路

在ntc電(dian)(dian)(dian)路中，當(dang)環路電(dian)(dian)(dian)流高于(yu)值(zhi)，或額定(ding)功率長(chang)時(shi)間(jian)高于(yu)大阻(zu)(zu)時(shi)，會使熱敏(min)電(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)的溫(wen)度高于(yu)設定(ding)的值(zhi)。所以(yi)在電(dian)(dian)(dian)流啟動時(shi)，熱敏(min)電(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)會表(biao)現出相(xiang)當(dang)低(di)的電(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)，然(ran)后(hou)熱敏(min)電(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)將被燒毀，導(dao)致(zhi)短路或開路。

2、ntc熱敏電阻開裂

當電(dian)(dian)流開始運作時，可能(neng)(neng)導致瞬間(jian)大(da)的能(neng)(neng)量加載到熱敏電(dian)(dian)阻中(zhong)，如(ru)果產品生產的時候(hou)存在瑕疵(ci)，那么ntc可能(neng)(neng)無(wu)法承受然后損壞(huai)，一般(ban)情況，ntc會表現出更高的阻值(zhi)或者直接(jie)開裂。

3、ntc熱敏電阻阻值偏移

ntc熱敏(min)電阻是對(dui)熱靈敏(min)的半導體元(yuan)件。如果IR回(hui)流和返工超過(guo)一定的溫度和時間，熱敏(min)電阻也(ye)容(rong)易損壞，導致阻值偏移。這個故(gu)障(zhang)下ntc的阻值可(ke)能(neng)變大(da)或變小。