一、ntc熱敏電阻怎么測量好壞

ntc被(bei)稱(cheng)為(wei)負溫(wen)度(du)(du)系數熱(re)敏電阻，是(shi)由Mn-Co-Ni的(de)氧化物充(chong)分混合后燒結(jie)而成的(de)陶瓷材料制備而來(lai)，它在(zai)實現小型化的(de)同時(shi)，還具(ju)有(you)電阻值(zhi)-溫(wen)度(du)(du)特(te)性(xing)波(bo)動(dong)小、對各種溫(wen)度(du)(du)變(bian)化響應快的(de)特(te)點，可被(bei)用(yong)來(lai)做(zuo)高靈敏度(du)(du)、高精度(du)(du)的(de)溫(wen)度(du)(du)傳感器，在(zai)電子電路當中也經常被(bei)用(yong)作實時(shi)的(de)溫(wen)度(du)(du)監(jian)控及溫(wen)度(du)(du)補償等。

可以從以下幾個方面測量ntc熱敏電阻的好壞。

1、將萬用表置于合適的歐姆(mu)擋(dang)（根據(ju)標稱(cheng)電阻(zu)值(zhi)確定(ding)擋(dang)位）。

2、用兩(liang)只表筆分別接觸熱(re)敏電阻的兩(liang)個引腳測(ce)出實際阻值(zhi)。

3、標(biao)稱阻(zu)值相比較，如果(guo)二者相差，過大，則(ze)說(shuo)明所測(ce)熱敏電阻(zu)性能(neng)不良或已(yi)損壞。

4、用手捏住熱敏(min)電阻(zu)測電阻(zu)值，觀察萬用表數(shu)數(shu)，此時會看到顯示的(de)數(shu)據(ju)隨(sui)溫度(du)的(de)升高(gao)而變化（ntc表示減小，PTC表示增大），表明電阻(zu)值在逐漸變化

5、當阻值改(gai)變到一(yi)定(ding)數(shu)(shu)值時，顯示數(shu)(shu)據會逐漸穩(wen)定(ding)。

6、測量時若(ruo)環境溫度接近(jin)體溫，則(ze)可(ke)使用(yong)電烙鐵靠近(jin)或緊貼熱(re)敏(min)電阻進行加(jia)熱(re)。

二、ntc熱敏電阻壞了什么現象

1、ntc熱敏電阻短路

在ntc電路(lu)(lu)(lu)中，當(dang)環路(lu)(lu)(lu)電流(liu)高于值(zhi)，或(huo)額定(ding)功率(lv)長時間高于大(da)阻時，會使熱敏電阻的(de)溫(wen)度高于設定(ding)的(de)值(zhi)。所以在電流(liu)啟動時，熱敏電阻會表現(xian)出相當(dang)低的(de)電阻，然后熱敏電阻將被(bei)燒毀，導致短(duan)路(lu)(lu)(lu)或(huo)開路(lu)(lu)(lu)。

2、ntc熱敏電阻開裂

當電(dian)流開始運作時，可能導致(zhi)瞬間大的(de)(de)能量(liang)加載(zai)到熱(re)敏(min)電(dian)阻(zu)中，如果產品生(sheng)產的(de)(de)時候存在瑕(xia)疵，那么ntc可能無法承受然后(hou)損壞，一(yi)般情況(kuang)，ntc會表現出更(geng)高的(de)(de)阻(zu)值或者直接(jie)開裂。

3、ntc熱敏電阻阻值偏移

ntc熱敏(min)電阻(zu)是對熱靈敏(min)的(de)半導(dao)體元件。如(ru)果IR回流(liu)和返工(gong)超過(guo)一定的(de)溫度(du)和時(shi)間，熱敏(min)電阻(zu)也容易損壞，導(dao)致阻(zu)值偏移。這個故(gu)障(zhang)下ntc的(de)阻(zu)值可(ke)能變大(da)或(huo)變小(xiao)。