精度(du)高---測(ce)角精度(du)可(ke)達±0.3秒；
壽(shou)命長---主軸(zhou)采(cai)用氣(qi)浮(fu)結(jie)構，精度保持長久(jiu)，永(yong)不磨損，使用壽(shou)命長；
讀數系統采用進口的高精(jing)度(du)位相(xiang)光柵編(bian)碼器及其相(xiang)關技(ji)術；
光柵刻線(xian)條數達16300線(xian)/圓度。
刻線寬度為0.1чm。準(zhun)確度高，穩定性好。
瞄準系統采用以(yi)圖(tu)象(xiang)傳感器探測(ce)信號的自準儀，精度高。
主軸精(jing)度：±0.02чm；
角度傳感器絕度精度：0.3秒；
單次測角精度：±1秒；
多次測角(jiao)精度：±0.5秒(miao)；
CCD分辨率：0.03秒(miao)；
CCD重復性(xing)：±0.2秒；
承(cheng)載重量：50kg。
接(jie)(jie)觸(chu)(chu)角(jiao)(jiao)測(ce)(ce)(ce)量儀(yi)由美(mei)國海軍研(yan)究實驗室(shi)（UnitedStatesNavalResearchLaboratory）的(de)(de)威廉·濟(ji)斯(si)曼（WilliamZisman）博士(shi)發明，由萊(lai)姆-哈特(te)公司(si)（ramé-hart instrumentco.）于(yu)1960年代試制(zhi)成功。人們不僅可以生產基于(yu)濟(ji)斯(si)曼博士(shi)設計(ji)思想的(de)(de)手動(dong)(dong)接(jie)(jie)觸(chu)(chu)角(jiao)(jiao)儀(yi)，還(huan)開發出了各(ge)種利(li)用(yong)攝像(xiang)機和(he)(he)軟(ruan)(ruan)件控制(zhi)的(de)(de)全(quan)自(zi)動(dong)(dong)測(ce)(ce)(ce)角(jiao)(jiao)儀(yi)，測(ce)(ce)(ce)量領域也(ye)不僅局(ju)限于(yu)測(ce)(ce)(ce)量液(ye)體接(jie)(jie)觸(chu)(chu)角(jiao)(jiao)和(he)(he)表面能，還(huan)括展到(dao)表面張力的(de)(de)懸滴(di)法(fa)（pendantdrop）和(he)(he)躺滴(di)法(fa)（sessiledrop）測(ce)(ce)(ce)量等(deng)等(deng)其(qi)他技術中(zhong)。手動(dong)(dong)接(jie)(jie)觸(chu)(chu)角(jiao)(jiao)儀(yi)需要操作員從(cong)顯微鏡目鏡中(zhong)觀察測(ce)(ce)(ce)量。新一代測(ce)(ce)(ce)角(jiao)(jiao)儀(yi)則可利(li)用(yong)攝像(xiang)機和(he)(he)計(ji)算機軟(ruan)(ruan)件自(zi)動(dong)(dong)獲取和(he)(he)分析液(ye)滴(di)形狀(zhuang)。這將極大方(fang)便(bian)人們的(de)(de)生活(huo)和(he)(he)專業學(xue)習。
1.清洗正多面棱體，并對(dui)棱鏡及棱體恒溫。
2.調整儀(yi)器(qi)(qi)使儀(yi)器(qi)(qi)處于正常工(gong)作狀態下，并檢查外觀，儀(yi)器(qi)(qi)應能平穩的工(gong)作，讀(du)數裝(zhuang)置視場亮度(du)應均勻(yun)。開關(guan)按(an)扭應可(ke)靠(kao)的工(gong)作。金屬(shu)度(du)盤刻度(du)方(fang)向及示值應一致。
3.用(yong)自準儀檢查工(gong)作臺的工(gong)作面(mian)的直線度和平面(mian)度。
4.用心軸、測微表檢定工(gong)作臺的(de)平行度和(he)頂尖的(de)斜向圓跳(tiao)動。
5.示(shi)值誤差檢定(ding)：選用標(biao)準正多(duo)面(mian)棱體和(he)自(zi)準直儀(yi)做標(biao)準，將(jiang)棱體借(jie)助心軸固定(ding)在分(fen)度(du)頭(tou)上，儀(yi)器度(du)盤位(wei)(wei)于0°位(wei)(wei)置(zhi)，調整多(duo)面(mian)棱體，使其0°工作(zuo)面(mian)與(yu)自(zi)準直儀(yi)照準，在分(fen)度(du)頭(tou)讀(du)數裝置(zhi)中讀(du)數，然后轉(zhuan)動分(fen)度(du)頭(tou)，使度(du)盤分(fen)別為30°…60°…330°位(wei)(wei)置(zhi)，每個測回的示(shi)值用最(zui)大與(yu)最(zui)小(xiao)之(zhi)差來(lai)確定(ding)。
晶體(ti)(ti)測(ce)(ce)角(jiao)儀(yi)（goniometer）是(shi)測(ce)(ce)量晶體(ti)(ti)面(mian)角(jiao)以研究晶體(ti)(ti)幾何形(xing)狀(zhuang)的(de)儀(yi)器。常用(yong)的(de)有接觸(chu)測(ce)(ce)角(jiao)儀(yi)和反(fan)射(she)測(ce)(ce)角(jiao)儀(yi)。最普通(tong)的(de)接觸(chu)測(ce)(ce)角(jiao)儀(yi)（contactgoniometer）相當于量角(jiao)器加一小尺，適用(yong)于較(jiao)大(da)晶體(ti)(ti)的(de)測(ce)(ce)量，精度較(jiao)低，只達(da)12°。反(fan)射(she)測(ce)(ce)角(jiao)儀(yi)有單圈(quan)反(fan)射(she)測(ce)(ce)角(jiao)儀(yi)和雙圈(quan)反(fan)射(she)測(ce)(ce)角(jiao)儀(yi)兩(liang)種(zhong)。
單圈反射(she)(she)測(ce)角儀（onecirclereflectiongoniometer）主要(yao)由(you)水平(ping)圈、光管、視物管（望遠鏡）和掣(che)晶臺四部(bu)分組(zu)成(cheng)。根(gen)據(ju)晶面(mian)對光線反射(she)(she)的(de)性質，利(li)用光學(xue)系統進行測(ce)量(liang)(liang)，精度較高，可達1′，適用于測(ce)量(liang)(liang)粒徑(jing)約數毫米而(er)且晶面(mian)平(ping)整光滑的(de)小晶體。
雙圈反射(she)(she)測(ce)(ce)角儀(yi)(yi)(yi)（twocirclereflectiongoniometer）比單圈反射(she)(she)測(ce)(ce)角儀(yi)(yi)(yi)多(duo)一(yi)個(ge)直(zhi)(zhi)立圈，使晶體可繞互相垂(chui)直(zhi)(zhi)的(de)兩(liang)個(ge)軸(zhou)任意轉動，大(da)大(da)簡化了測(ce)(ce)量(liang)手續，是晶體測(ce)(ce)量(liang)的(de)主要儀(yi)(yi)(yi)器。用(yong)接觸測(ce)(ce)角儀(yi)(yi)(yi)或(huo)單圈反射(she)(she)測(ce)(ce)角儀(yi)(yi)(yi)測(ce)(ce)得(de)的(de)是每(mei)兩(liang)個(ge)晶面(mian)(mian)法(fa)線(xian)間(jian)的(de)夾角值(zhi)，即(ji)面(mian)(mian)角值(zhi)。而(er)由(you)雙圈反射(she)(she)測(ce)(ce)角儀(yi)(yi)(yi)測(ce)(ce)得(de)的(de)則是每(mei)一(yi)個(ge)晶面(mian)(mian)的(de)一(yi)組球面(mian)(mian)坐標值(zhi)——方位角和極(ji)距角值(zhi)，前(qian)者相當于(yu)地球上(shang)的(de)經(jing)度，而(er)后者則相當于(yu)緯度。
