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基本介紹

HD Tune Pro硬(ying)盤(pan)檢測(ce)工(gong)具是一(yi)款小(xiao)巧易用的(de)硬(ying)盤(pan)工(gong)具軟(ruan)(ruan)件(jian)(jian)，其主要(yao)功能(neng)有硬(ying)盤(pan)傳輸速率檢測(ce)，健康狀態檢測(ce)，溫度檢測(ce)及磁(ci)盤(pan)表面(mian)掃描等。另外，還(huan)能(neng)檢測(ce)出硬(ying)盤(pan)的(de)固件(jian)(jian)版(ban)本、序列號、容量、緩存大小(xiao)以及當前的(de)Ultra DMA模式等。雖然(ran)這些功能(neng)其它軟(ruan)(ruan)件(jian)(jian)也(ye)有，但難能(neng)可貴的(de)是此(ci)軟(ruan)(ruan)件(jian)(jian)把所(suo)有這些功能(neng)積(ji)于一(yi)身，而(er)且非(fei)常小(xiao)巧，速度又快(kuai)，更重(zhong)要(yao)的(de)是它是免費軟(ruan)(ruan)件(jian)(jian)，可自由使用。

產品設計

HD Tune是(shi)一款小巧(qiao)(qiao)易用的(de)硬(ying)盤(pan)工具軟(ruan)件(jian)(jian)，其(qi)主要功(gong)能有(you)(you)硬(ying)盤(pan)傳輸速率(lv)檢(jian)測(ce)，健康狀(zhuang)態檢(jian)測(ce)，溫度檢(jian)測(ce)及磁盤(pan)表面掃(sao)描存(cun)取(qu)時間、CPU占用率(lv)。另(ling)外，還能檢(jian)測(ce)出硬(ying)盤(pan)的(de)固件(jian)(jian)版本、序列號、容量、緩存(cun)大(da)小以及當前的(de)Ultra DMA模(mo)式等。雖然這些(xie)功(gong)能其(qi)它軟(ruan)件(jian)(jian)也有(you)(you)，但難能可貴的(de)是(shi)此軟(ruan)件(jian)(jian)把所有(you)(you)這些(xie)功(gong)能集于一身，而且(qie)非常小巧(qiao)(qiao)，速度又快，更(geng)重(zhong)要的(de)是(shi)它是(shi)免費軟(ruan)件(jian)(jian)，可以自由使(shi)用。

特色功能

S.M.A.R.T.包含很多個(ge)屬(shu)性，每(mei)個(ge)屬(shu)性值(zhi)(zhi)(zhi)(zhi)(zhi)只有(you)兩(liang)(liang)種含義，超過閾(yu)(yu)(yu)值(zhi)(zhi)(zhi)(zhi)(zhi)和沒有(you)超過閾(yu)(yu)(yu)值(zhi)(zhi)(zhi)(zhi)(zhi)。一旦有(you)屬(shu)性值(zhi)(zhi)(zhi)(zhi)(zhi)超過了(le)(le)閾(yu)(yu)(yu)值(zhi)(zhi)(zhi)(zhi)(zhi)，表明“硬(ying)盤(pan)(pan)快不行了(le)(le)”。每(mei)個(ge)硬(ying)盤(pan)(pan)的S.M.A.R.T.信息中(zhong)都注明了(le)(le)這些屬(shu)性的閾(yu)(yu)(yu)值(zhi)(zhi)(zhi)(zhi)(zhi)，不同(tong)廠家的閾(yu)(yu)(yu)值(zhi)(zhi)(zhi)(zhi)(zhi)是不同(tong)的，不同(tong)的屬(shu)性值(zhi)(zhi)(zhi)(zhi)(zhi)對于閾(yu)(yu)(yu)值(zhi)(zhi)(zhi)(zhi)(zhi)對比關(guan)系有(you)兩(liang)(liang)種情況：應大于閾(yu)(yu)(yu)值(zhi)(zhi)(zhi)(zhi)(zhi)和小于閾(yu)(yu)(yu)值(zhi)(zhi)(zhi)(zhi)(zhi)。

(01)讀(du)取錯誤率Read Error Rate(應小于閾(yu)值)

硬(ying)件讀取錯(cuo)誤(wu)率(lv)，在從磁盤(pan)表(biao)面讀取數據發生錯(cuo)誤(wu)時記錄。任何(he)大(da)于0的數據表(biao)明在磁盤(pan)表(biao)面或者讀寫柱頭發生過問題。這項的最差值很(hen)低的話(hua)，則(ze)提(ti)示硬(ying)盤(pan)多半有壞道(dao)。某些(xie)二(er)手(shou)硬(ying)盤(pan)檢測這個數值不正常的話(hua)，有可能是被修復或屏蔽過壞道(dao)。

(02)重新(xin)映射扇(shan)區計數Reallocated Sectors Count(應小(xiao)于閾值(zhi))

重新映射(she)(she)扇區(qu)的(de)(de)計數值。硬盤(pan)發現一個讀、寫或校驗錯誤(wu)時，會將這個扇區(qu)重新映射(she)(she)并將數據轉移到一個特殊的(de)(de)保(bao)留的(de)(de)空(kong)閑區(qu)域，這些區(qu)域就稱為(wei)重新映射(she)(she)扇區(qu)。也就是說，硬盤(pan)是無法通(tong)過(guo)檢測來發現“壞(huai)塊”的(de)(de)，所有的(de)(de)壞(huai)塊都被(bei)隱藏到了(le)重新映射(she)(she)的(de)(de)扇區(qu)里面了(le)，當(dang)然這樣讀寫速度會有影響變慢(man)。

(03)通電時間計數 Power-On Hours Count，POH(越(yue)小(xiao)越(yue)好，通常無閾值(zhi))

通電狀(zhuang)態下的(de)小(xiao)(xiao)時計(ji)數(shu)(shu)。這個值表示(shi)了硬(ying)盤(pan)通電狀(zhuang)態下總(zong)計(ji)的(de)小(xiao)(xiao)時計(ji)數(shu)(shu)，不(bu)(bu)過不(bu)(bu)同(tong)廠家這個值的(de)單(dan)位(wei)有所不(bu)(bu)同(tong)，也(ye)有以分(fen)鐘、秒鐘為單(dan)位(wei)的(de)。新(xin)買回的(de)硬(ying)盤(pan)應(ying)該小(xiao)(xiao)于10小(xiao)(xiao)時吧(ba)。

(0A)馬達重試(shi)計數Spin Retry Count(應小于(yu)閾值(zhi))

馬(ma)達嘗試啟(qi)動(dong)的(de)(de)重試計數(shu)。這(zhe)個(ge)屬(shu)性存儲了馬(ma)達為了達到(dao)標(biao)(biao)準轉速(su)而(er)進(jin)行的(de)(de)啟(qi)動(dong)嘗試的(de)(de)總計數(shu)，即第一次(ci)啟(qi)動(dong)并不能成功達到(dao)標(biao)(biao)準轉速(su)。數(shu)值高(gao)可(ke)能電路或是硬盤的(de)(de)保留(liu)區有問(wen)題(ti)，說明硬盤的(de)(de)機械系(xi)統出現了問(wen)題(ti)。

(0C)通電周期計數(shu)Power Cycle Count(越(yue)小越(yue)好，通常(chang)無閾值)

這個屬性表明(ming)了整個硬盤通電/去電周期的次數(shu)，即開關次數(shu)。

(C2)Temperature(越小越好，通常無閾值)

當(dang)前內部溫(wen)度。一般不應超過45攝氏度。

(C4)重新映射事件(jian)計數Reallocetion Event Count(應小于閾值)

重新映射操作(zuo)的計數(shu)值(zhi)。這個屬性值(zhi)表明了將重新映射扇區的數(shu)據轉移(yi)到空閑區域(yu)的嘗(chang)試(shi)總次數(shu)。成(cheng)(cheng)功的轉移(yi)和(he)不成(cheng)(cheng)功的轉移(yi)都(dou)會被計數(shu)。

(C5)當前待映(ying)射扇區(qu)計數Current Pending Sector Count(應小于閾值)

“不穩(wen)(wen)定(ding)的”扇(shan)區(qu)(qu)(qu)數量(liang)，即等(deng)待被(bei)映射的扇(shan)區(qu)(qu)(qu)數量(liang)。如果不穩(wen)(wen)定(ding)的扇(shan)區(qu)(qu)(qu)隨(sui)后被(bei)讀寫(xie)成(cheng)功，這個值(zhi)會(hui)(hui)(hui)降低，扇(shan)區(qu)(qu)(qu)也(ye)不會(hui)(hui)(hui)重(zhong)新(xin)(xin)映射。扇(shan)區(qu)(qu)(qu)讀取錯(cuo)誤不會(hui)(hui)(hui)造成(cheng)重(zhong)新(xin)(xin)映射，扇(shan)區(qu)(qu)(qu)只(zhi)(zhi)會(hui)(hui)(hui)在寫(xie)入(ru)(ru)失敗(bai)時發(fa)生重(zhong)新(xin)(xin)映射。這個值(zhi)有(you)(you)時候(hou)會(hui)(hui)(hui)有(you)(you)問(wen)題，因為帶(dai)緩(huan)存寫(xie)入(ru)(ru)不會(hui)(hui)(hui)重(zhong)新(xin)(xin)映射扇(shan)區(qu)(qu)(qu)，只(zhi)(zhi)有(you)(you)直(zhi)接(jie)讀寫(xie)才會(hui)(hui)(hui)真正寫(xie)入(ru)(ru)磁(ci)盤。假如這個數值(zhi)異常，則(ze)可(ke)能預示硬盤快掛了(le)。。。。

(C6)無(wu)法校正(zheng)扇區計數Uncorrectable Sector Count(應小于閾值)

讀寫扇區(qu)時發生的(de)無法(fa)校(xiao)正(zheng)的(de)錯誤總計數。這個值(zhi)上升表(biao)明硬盤(pan)表(biao)明有(you)缺(que)損或者機械系(xi)統有(you)問題。

(C7)直接內存(cun)訪問校驗(yan)錯(cuo)誤計數UltraDMA CRC Error Count(應小于(yu)閾值(zhi))

通(tong)過接口循環冗(rong)余校驗(Interface Cyclic Redundancy Check，ICRC)發現的通(tong)過接口電纜進行數據傳輸(shu)的錯誤。