軟件測試的目的

1、測試(shi)是為了發現程(cheng)序中的(de)錯誤而執行程(cheng)序的(de)過程(cheng)。

2、好(hao)的測(ce)試方案(an)是極可能發現迄(qi)今(jin)為(wei)止尚未發現的錯誤(wu)的測(ce)試方案(an)。

3、成功(gong)的測(ce)試是發現(xian)了至今(jin)為止(zhi)尚未發現(xian)的錯誤的測(ce)試。

4、測試并不僅僅是為了找出錯誤。通過分析錯誤產生的原因和錯誤的發生趨勢，可以幫助軟件項目管理者發現當前軟件開發過程中的缺陷，以(yi)便及時改進。

5、這(zhe)種分析也能幫助測(ce)試(shi)(shi)人員設計(ji)出(chu)有(you)(you)針對性(xing)的測(ce)試(shi)(shi)方法，改善測(ce)試(shi)(shi)的效(xiao)率(lv)和有(you)(you)效(xiao)性(xing)。

6、沒有(you)發(fa)現錯(cuo)誤的(de)測試也是有(you)價值的(de)，完整的(de)測試是評(ping)定軟件質量的(de)一種(zhong)方(fang)法。

7、另外，根據(ju)測試(shi)目的(de)的(de)不同(tong)，還有回歸測試(shi)、壓(ya)力測試(shi)、性能(neng)(neng)(neng)測試(shi)等，分(fen)別為了檢驗修改或優化(hua)過程(cheng)是否引發新(xin)的(de)問題、軟件所能(neng)(neng)(neng)達到處(chu)理能(neng)(neng)(neng)力和是否達到預期的(de)處(chu)理能(neng)(neng)(neng)力等。

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軟件測試的原則

1、測試應該盡早進(jin)行(xing)，最好在需求(qiu)階段就開始介入，因為最嚴重(zhong)的(de)錯(cuo)誤不(bu)外乎是(shi)系統不(bu)能滿足用戶的(de)需求(qiu)。

2、程(cheng)(cheng)序員應(ying)該(gai)避免(mian)檢查自己(ji)的程(cheng)(cheng)序，軟件測試應(ying)該(gai)由(you)第三方來負責。

3、設計測試用例時(shi)應(ying)考慮到(dao)合(he)法(fa)的(de)輸(shu)入和不合(he)法(fa)的(de)輸(shu)入以及(ji)各種邊(bian)界(jie)條件，特殊情況下還要制造(zao)極(ji)端狀(zhuang)態(tai)和意外狀(zhuang)態(tai)，如網絡(luo)異常中(zhong)斷、電(dian)源斷電(dian)等。

4、應該充分注意測試中的群集現(xian)象。

5、對(dui)錯誤結果要(yao)進(jin)行(xing)(xing)一個(ge)確(que)認(ren)過程。一般由A測(ce)試出來(lai)的錯誤，一定要(yao)由B來(lai)確(que)認(ren)。嚴重的錯誤可以(yi)召開評審會(hui)議進(jin)行(xing)(xing)討論和分析，對(dui)測(ce)試結果要(yao)進(jin)行(xing)(xing)嚴格地(di)確(que)認(ren)，是(shi)否(fou)真的存在這個(ge)問題以(yi)及(ji)嚴重程度等(deng)。

6、制定嚴格的測試(shi)計劃。一定要制定測試(shi)計劃，并且要有指導性。測試(shi)時間安排(pai)盡量寬松，不要希望在極短的時間內完成一個高水(shui)平的測試(shi)。

7、妥(tuo)善保存(cun)測(ce)試計(ji)劃、測(ce)試用例、出(chu)錯(cuo)統計(ji)和最終(zhong)分析(xi)報告，為維(wei)護提供(gong)方便。

軟件測試的方法

1、靜態測試

靜(jing)(jing)態測(ce)(ce)試(shi)(shi)方(fang)式指軟(ruan)件(jian)(jian)代碼(ma)的(de)靜(jing)(jing)態分析(xi)測(ce)(ce)驗，此類過程中應(ying)用數據較(jiao)(jiao)少(shao)，主要過程為(wei)通過軟(ruan)件(jian)(jian)的(de)靜(jing)(jing)態性測(ce)(ce)試(shi)(shi)（即人工(gong)推斷或計算機輔(fu)助(zhu)測(ce)(ce)試(shi)(shi)）測(ce)(ce)試(shi)(shi)程序(xu)中運算方(fang)式、算法(fa)的(de)正(zheng)確性，進而(er)完成測(ce)(ce)試(shi)(shi)過程，此類測(ce)(ce)試(shi)(shi)的(de)優點(dian)在于能夠消(xiao)耗較(jiao)(jiao)短時間、較(jiao)(jiao)少(shao)資源完成對軟(ruan)件(jian)(jian)、軟(ruan)件(jian)(jian)代碼(ma)的(de)測(ce)(ce)試(shi)(shi)，能夠較(jiao)(jiao)為(wei)明顯(xian)地發現(xian)此類代碼(ma)中出現(xian)的(de)錯(cuo)誤。靜(jing)(jing)態測(ce)(ce)試(shi)(shi)方(fang)法(fa)適用范圍較(jiao)(jiao)大，尤(you)其適用于較(jiao)(jiao)大型的(de)軟(ruan)件(jian)(jian)測(ce)(ce)試(shi)(shi)。

2、動態測試

計算機(ji)動(dong)態(tai)(tai)(tai)測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)的(de)主(zhu)要(yao)目(mu)的(de)為(wei)(wei)檢測(ce)(ce)軟(ruan)(ruan)件(jian)(jian)運(yun)(yun)(yun)行(xing)中出現的(de)問題(ti)，較靜態(tai)(tai)(tai)測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)方式(shi)(shi)相(xiang)比，其被稱為(wei)(wei)動(dong)態(tai)(tai)(tai)的(de)原因即(ji)為(wei)(wei)其測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)方式(shi)(shi)主(zhu)要(yao)依賴程(cheng)序的(de)運(yun)(yun)(yun)用，主(zhu)要(yao)為(wei)(wei)檢測(ce)(ce)軟(ruan)(ruan)件(jian)(jian)中動(dong)態(tai)(tai)(tai)行(xing)為(wei)(wei)是否缺失、軟(ruan)(ruan)件(jian)(jian)運(yun)(yun)(yun)行(xing)效果是否良好(hao)。其最為(wei)(wei)明(ming)顯的(de)特征即(ji)為(wei)(wei)進(jin)(jin)行(xing)動(dong)態(tai)(tai)(tai)測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)時軟(ruan)(ruan)件(jian)(jian)為(wei)(wei)運(yun)(yun)(yun)轉狀態(tai)(tai)(tai)，只(zhi)有如此才能(neng)于使(shi)用過程(cheng)中發現軟(ruan)(ruan)件(jian)(jian)缺陷(xian)，進(jin)(jin)而(er)對此類(lei)缺陷(xian)進(jin)(jin)行(xing)修(xiu)復(fu)。目(mu)前(qian)動(dong)態(tai)(tai)(tai)測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)過程(cheng)中可包括兩(liang)類(lei)因素，即(ji)被測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)軟(ruan)(ruan)件(jian)(jian)與測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)中所需數(shu)據，兩(liang)類(lei)因素決定動(dong)態(tai)(tai)(tai)測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)正確展開(kai)、有效展開(kai)。

3、黑盒測試

黑(hei)(hei)盒測(ce)(ce)試(shi)，顧(gu)名(ming)思義(yi)即(ji)為將軟(ruan)(ruan)件(jian)(jian)測(ce)(ce)試(shi)環境(jing)模擬為不(bu)可見(jian)的(de)“黑(hei)(hei)盒”。通(tong)過數(shu)(shu)(shu)據輸入觀察數(shu)(shu)(shu)據輸出(chu)，檢查軟(ruan)(ruan)件(jian)(jian)內部(bu)功能(neng)是否(fou)正(zheng)常(chang)。測(ce)(ce)試(shi)展開(kai)時，數(shu)(shu)(shu)據輸入軟(ruan)(ruan)件(jian)(jian)中，等(deng)待數(shu)(shu)(shu)據輸出(chu)。數(shu)(shu)(shu)據輸出(chu)時若(ruo)與預計數(shu)(shu)(shu)據一致，則證明該軟(ruan)(ruan)件(jian)(jian)通(tong)過測(ce)(ce)試(shi)，若(ruo)數(shu)(shu)(shu)據與預計數(shu)(shu)(shu)據有(you)出(chu)入，即(ji)便(bian)出(chu)入較小亦(yi)證明軟(ruan)(ruan)件(jian)(jian)程序內部(bu)出(chu)現問題，需盡快(kuai)解決。

4、白盒測試

白(bai)(bai)(bai)盒(he)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)相對(dui)于(yu)黑(hei)盒(he)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)而言具有一定(ding)透明性，原(yuan)理為(wei)(wei)根據(ju)軟(ruan)件內(nei)部(bu)(bu)應用(yong)(yong)、源代碼等對(dui)產品內(nei)部(bu)(bu)工作過程(cheng)進(jin)(jin)行調試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)。測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)過程(cheng)中(zhong)常(chang)將其與(yu)軟(ruan)件內(nei)部(bu)(bu)結(jie)(jie)構協同展開(kai)分(fen)析(xi)，最(zui)大優點即為(wei)(wei)其能夠有效解決(jue)軟(ruan)件內(nei)部(bu)(bu)應用(yong)(yong)程(cheng)序(xu)出(chu)現(xian)的問(wen)題，測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)過程(cheng)中(zhong)常(chang)將其與(yu)黑(hei)盒(he)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)方式結(jie)(jie)合，當測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)軟(ruan)件功能較多時，白(bai)(bai)(bai)盒(he)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)法(fa)(fa)(fa)亦可對(dui)此類(lei)情況展開(kai)有效調試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)。其中(zhong)，判定(ding)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)作為(wei)(wei)白(bai)(bai)(bai)盒(he)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)法(fa)(fa)(fa)中(zhong)最(zui)為(wei)(wei)主要的測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)程(cheng)序(xu)結(jie)(jie)構之(zhi)一，此類(lei)程(cheng)序(xu)結(jie)(jie)構作為(wei)(wei)對(dui)程(cheng)序(xu)邏輯結(jie)(jie)構的整體實現(xian)，對(dui)于(yu)程(cheng)序(xu)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)而言具有較為(wei)(wei)重要的作用(yong)(yong)。此類(lei)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)方式針對(dui)程(cheng)序(xu)中(zhong)各類(lei)型的代碼進(jin)(jin)行覆蓋式檢(jian)測(ce)(ce)(ce)，覆蓋范圍較廣，適用(yong)(yong)于(yu)多類(lei)型程(cheng)序(xu)。實際檢(jian)測(ce)(ce)(ce)中(zhong)，白(bai)(bai)(bai)盒(he)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)法(fa)(fa)(fa)常(chang)與(yu)黑(hei)盒(he)檢(jian)測(ce)(ce)(ce)法(fa)(fa)(fa)并用(yong)(yong)，以(yi)(yi)動態檢(jian)測(ce)(ce)(ce)方式中(zhong)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)出(chu)的未(wei)知錯(cuo)誤為(wei)(wei)例(li)，首(shou)先使(shi)用(yong)(yong)黑(hei)盒(he)檢(jian)測(ce)(ce)(ce)法(fa)(fa)(fa)，若(ruo)程(cheng)序(xu)輸入數據(ju)與(yu)輸出(chu)數據(ju)相同，則(ze)證明內(nei)部(bu)(bu)數據(ju)未(wei)出(chu)現(xian)問(wen)題，應從代碼方面進(jin)(jin)行分(fen)析(xi)，若(ruo)出(chu)現(xian)問(wen)題則(ze)使(shi)用(yong)(yong)白(bai)(bai)(bai)盒(he)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)法(fa)(fa)(fa)，針對(dui)軟(ruan)件內(nei)部(bu)(bu)結(jie)(jie)構進(jin)(jin)行分(fen)析(xi)，直至(zhi)檢(jian)測(ce)(ce)(ce)出(chu)問(wen)題所在(zai)，及時加(jia)以(yi)(yi)修(xiu)改。