軟件測試的目的

1、測試是為了發現程(cheng)序中的錯誤而(er)執行程(cheng)序的過程(cheng)。

2、好的(de)測試(shi)方案是極可能發(fa)現迄今為止(zhi)尚未發(fa)現的(de)錯(cuo)誤的(de)測試(shi)方案。

3、成功的(de)測試是(shi)發現了至今為止(zhi)尚未發現的(de)錯誤的(de)測試。

4、測試并不僅僅是為了找出錯誤。通過分析錯誤產生的原因和錯誤的發生趨勢，可以幫助軟件項目(mu)管理者發現當前軟件開(kai)發過程中的缺(que)陷(xian)，以便及時改進。

5、這種分析也能(neng)幫助(zhu)測(ce)試人(ren)員設計出有針對性的(de)測(ce)試方法，改善(shan)測(ce)試的(de)效率和有效性。

6、沒有發現錯(cuo)誤的(de)(de)測(ce)試(shi)也是有價值的(de)(de)，完整的(de)(de)測(ce)試(shi)是評定(ding)軟件質(zhi)量的(de)(de)一種方法。

7、另(ling)外，根據測(ce)試目的的不同(tong)，還(huan)有回歸測(ce)試、壓(ya)力測(ce)試、性能測(ce)試等，分(fen)別(bie)為了檢(jian)驗修(xiu)改或(huo)優化過程是(shi)(shi)否引發(fa)新的問(wen)題(ti)、軟件(jian)所能達(da)到處理能力和是(shi)(shi)否達(da)到預期的處理能力等。

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軟件測試的原則

1、測試應該盡(jin)早(zao)進(jin)行，最好在需(xu)求(qiu)階段就開始介入，因為(wei)最嚴重(zhong)的錯(cuo)誤(wu)不外(wai)乎(hu)是系統不能滿足用戶的需(xu)求(qiu)。

2、程序員應該(gai)避免(mian)檢查自己(ji)的程序，軟件測試應該(gai)由第三方來(lai)負責。

3、設計測試用例時應考慮(lv)到合(he)法(fa)的(de)輸(shu)入和(he)不(bu)合(he)法(fa)的(de)輸(shu)入以及各種邊(bian)界(jie)條件(jian)，特殊(shu)情況下還要(yao)制造極端(duan)狀態和(he)意外狀態，如網(wang)絡異常中斷、電(dian)源斷電(dian)等。

4、應該充分注意測試中的群集現象。

5、對錯誤結果要(yao)進(jin)行(xing)一個確認(ren)過程。一般(ban)由(you)A測試出(chu)來(lai)的錯誤，一定要(yao)由(you)B來(lai)確認(ren)。嚴重的錯誤可以召開評審會(hui)議進(jin)行(xing)討論(lun)和分析，對測試結果要(yao)進(jin)行(xing)嚴格地(di)確認(ren)，是否真(zhen)的存在(zai)這個問(wen)題以及嚴重程度(du)等。

6、制定嚴(yan)格的(de)測試(shi)(shi)(shi)計劃。一定要(yao)制定測試(shi)(shi)(shi)計劃，并且要(yao)有指導性。測試(shi)(shi)(shi)時間安排盡量寬(kuan)松，不要(yao)希望在極短的(de)時間內(nei)完成一個高水(shui)平的(de)測試(shi)(shi)(shi)。

7、妥善保存測(ce)試計劃、測(ce)試用例、出錯統計和最(zui)終分(fen)析報告，為維(wei)護提供方便。

軟件測試的方法

1、靜態測試

靜態(tai)測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)方式(shi)指軟(ruan)(ruan)件(jian)代碼的靜態(tai)分析(xi)測(ce)(ce)驗，此(ci)類(lei)過(guo)程中應用(yong)數據較少，主要(yao)過(guo)程為(wei)(wei)通(tong)過(guo)軟(ruan)(ruan)件(jian)的靜態(tai)性測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)（即人工推斷(duan)或計算(suan)機輔助測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)）測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)程序中運(yun)算(suan)方式(shi)、算(suan)法的正(zheng)確性，進而完(wan)成(cheng)測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)過(guo)程，此(ci)類(lei)測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)的優(you)點在于能夠消耗較短時間、較少資源完(wan)成(cheng)對軟(ruan)(ruan)件(jian)、軟(ruan)(ruan)件(jian)代碼的測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)，能夠較為(wei)(wei)明(ming)顯地發現此(ci)類(lei)代碼中出現的錯誤。靜態(tai)測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)方法適用(yong)范圍較大，尤其(qi)適用(yong)于較大型的軟(ruan)(ruan)件(jian)測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)。

2、動態測試

計算機動態(tai)測(ce)(ce)試(shi)(shi)的主要(yao)目(mu)的為(wei)(wei)(wei)檢測(ce)(ce)軟(ruan)件(jian)運(yun)行(xing)(xing)中出現的問(wen)題(ti)，較(jiao)靜態(tai)測(ce)(ce)試(shi)(shi)方式(shi)(shi)相(xiang)比，其被(bei)稱為(wei)(wei)(wei)動態(tai)的原因即為(wei)(wei)(wei)其測(ce)(ce)試(shi)(shi)方式(shi)(shi)主要(yao)依賴程(cheng)序的運(yun)用，主要(yao)為(wei)(wei)(wei)檢測(ce)(ce)軟(ruan)件(jian)中動態(tai)行(xing)(xing)為(wei)(wei)(wei)是否缺(que)失、軟(ruan)件(jian)運(yun)行(xing)(xing)效(xiao)果是否良好。其最為(wei)(wei)(wei)明(ming)顯的特(te)征即為(wei)(wei)(wei)進(jin)行(xing)(xing)動態(tai)測(ce)(ce)試(shi)(shi)時軟(ruan)件(jian)為(wei)(wei)(wei)運(yun)轉狀(zhuang)態(tai)，只(zhi)有如此(ci)才能于使用過程(cheng)中發現軟(ruan)件(jian)缺(que)陷，進(jin)而對此(ci)類缺(que)陷進(jin)行(xing)(xing)修復。目(mu)前(qian)動態(tai)測(ce)(ce)試(shi)(shi)過程(cheng)中可包括兩類因素，即被(bei)測(ce)(ce)試(shi)(shi)軟(ruan)件(jian)與測(ce)(ce)試(shi)(shi)中所(suo)需(xu)數據(ju)，兩類因素決定(ding)動態(tai)測(ce)(ce)試(shi)(shi)正確展(zhan)開(kai)、有效(xiao)展(zhan)開(kai)。

3、黑盒測試

黑(hei)盒(he)測(ce)(ce)試，顧(gu)名思義即為(wei)將軟(ruan)(ruan)件測(ce)(ce)試環(huan)境(jing)模擬為(wei)不可(ke)見的“黑(hei)盒(he)”。通(tong)過數(shu)(shu)(shu)據(ju)(ju)輸(shu)(shu)入觀察(cha)數(shu)(shu)(shu)據(ju)(ju)輸(shu)(shu)出，檢查軟(ruan)(ruan)件內部功(gong)能是(shi)否(fou)正常。測(ce)(ce)試展(zhan)開時(shi)，數(shu)(shu)(shu)據(ju)(ju)輸(shu)(shu)入軟(ruan)(ruan)件中，等(deng)待(dai)數(shu)(shu)(shu)據(ju)(ju)輸(shu)(shu)出。數(shu)(shu)(shu)據(ju)(ju)輸(shu)(shu)出時(shi)若(ruo)與預計數(shu)(shu)(shu)據(ju)(ju)一(yi)致(zhi)，則證(zheng)明該(gai)軟(ruan)(ruan)件通(tong)過測(ce)(ce)試，若(ruo)數(shu)(shu)(shu)據(ju)(ju)與預計數(shu)(shu)(shu)據(ju)(ju)有出入，即便出入較小(xiao)亦證(zheng)明軟(ruan)(ruan)件程(cheng)序內部出現(xian)問題，需盡快解決。

4、白盒測試

白盒(he)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)相對(dui)(dui)(dui)(dui)于黑(hei)盒(he)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)而(er)言(yan)具有(you)一定透(tou)明(ming)性，原理為(wei)(wei)根(gen)據(ju)軟(ruan)件內(nei)(nei)部(bu)(bu)(bu)應(ying)用(yong)(yong)、源代(dai)碼等對(dui)(dui)(dui)(dui)產品內(nei)(nei)部(bu)(bu)(bu)工(gong)作(zuo)過程(cheng)(cheng)(cheng)(cheng)(cheng)進行(xing)調試(shi)(shi)(shi)(shi)。測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)過程(cheng)(cheng)(cheng)(cheng)(cheng)中(zhong)常將其(qi)與(yu)軟(ruan)件內(nei)(nei)部(bu)(bu)(bu)結(jie)構協同(tong)展(zhan)開(kai)分析(xi)，最(zui)大優點即(ji)為(wei)(wei)其(qi)能夠(gou)有(you)效(xiao)解決軟(ruan)件內(nei)(nei)部(bu)(bu)(bu)應(ying)用(yong)(yong)程(cheng)(cheng)(cheng)(cheng)(cheng)序(xu)(xu)出(chu)(chu)(chu)現(xian)的(de)(de)問題(ti)(ti)，測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)過程(cheng)(cheng)(cheng)(cheng)(cheng)中(zhong)常將其(qi)與(yu)黑(hei)盒(he)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)方(fang)(fang)式(shi)(shi)結(jie)合(he)，當測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)軟(ruan)件功(gong)能較多時，白盒(he)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)法(fa)(fa)(fa)(fa)亦可(ke)對(dui)(dui)(dui)(dui)此(ci)類(lei)情況展(zhan)開(kai)有(you)效(xiao)調試(shi)(shi)(shi)(shi)。其(qi)中(zhong)，判(pan)定測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)作(zuo)為(wei)(wei)白盒(he)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)法(fa)(fa)(fa)(fa)中(zhong)最(zui)為(wei)(wei)主要的(de)(de)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)程(cheng)(cheng)(cheng)(cheng)(cheng)序(xu)(xu)結(jie)構之(zhi)一，此(ci)類(lei)程(cheng)(cheng)(cheng)(cheng)(cheng)序(xu)(xu)結(jie)構作(zuo)為(wei)(wei)對(dui)(dui)(dui)(dui)程(cheng)(cheng)(cheng)(cheng)(cheng)序(xu)(xu)邏(luo)輯結(jie)構的(de)(de)整(zheng)體實(shi)現(xian)，對(dui)(dui)(dui)(dui)于程(cheng)(cheng)(cheng)(cheng)(cheng)序(xu)(xu)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)而(er)言(yan)具有(you)較為(wei)(wei)重要的(de)(de)作(zuo)用(yong)(yong)。此(ci)類(lei)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)方(fang)(fang)式(shi)(shi)針對(dui)(dui)(dui)(dui)程(cheng)(cheng)(cheng)(cheng)(cheng)序(xu)(xu)中(zhong)各類(lei)型(xing)(xing)的(de)(de)代(dai)碼進行(xing)覆蓋(gai)式(shi)(shi)檢(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)，覆蓋(gai)范圍較廣，適用(yong)(yong)于多類(lei)型(xing)(xing)程(cheng)(cheng)(cheng)(cheng)(cheng)序(xu)(xu)。實(shi)際檢(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)中(zhong)，白盒(he)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)法(fa)(fa)(fa)(fa)常與(yu)黑(hei)盒(he)檢(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)法(fa)(fa)(fa)(fa)并用(yong)(yong)，以(yi)動態(tai)檢(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)方(fang)(fang)式(shi)(shi)中(zhong)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)出(chu)(chu)(chu)的(de)(de)未知錯誤為(wei)(wei)例，首先(xian)使(shi)用(yong)(yong)黑(hei)盒(he)檢(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)法(fa)(fa)(fa)(fa)，若(ruo)程(cheng)(cheng)(cheng)(cheng)(cheng)序(xu)(xu)輸入數(shu)(shu)據(ju)與(yu)輸出(chu)(chu)(chu)數(shu)(shu)據(ju)相同(tong)，則證(zheng)明(ming)內(nei)(nei)部(bu)(bu)(bu)數(shu)(shu)據(ju)未出(chu)(chu)(chu)現(xian)問題(ti)(ti)，應(ying)從代(dai)碼方(fang)(fang)面進行(xing)分析(xi)，若(ruo)出(chu)(chu)(chu)現(xian)問題(ti)(ti)則使(shi)用(yong)(yong)白盒(he)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)法(fa)(fa)(fa)(fa)，針對(dui)(dui)(dui)(dui)軟(ruan)件內(nei)(nei)部(bu)(bu)(bu)結(jie)構進行(xing)分析(xi)，直至檢(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)出(chu)(chu)(chu)問題(ti)(ti)所在(zai)，及(ji)時加以(yi)修(xiu)改。