一、開關柜局放檢測是什么意思

局(ju)放，即局(ju)部放電，開(kai)關(guan)(guan)柜局(ju)方(fang)檢測(ce)是(shi)指對(dui)開(kai)關(guan)(guan)柜的(de)局(ju)部放電現象進行檢測(ce)。

在(zai)開關柜運行中(zhong)，開關柜各部位的電(dian)場強(qiang)(qiang)度(du)存在(zai)差異，某個(ge)區域的電(dian)場強(qiang)(qiang)度(du)一(yi)旦達到其擊(ji)穿(chuan)(chuan)強(qiang)(qiang)度(du)時(shi)，該(gai)區域就(jiu)(jiu)會(hui)出現放電(dian)現象(xiang)，不過施加電(dian)壓的兩個(ge)導體之(zhi)間并未貫(guan)穿(chuan)(chuan)整個(ge)放電(dian)過程，即放電(dian)未擊(ji)穿(chuan)(chuan)絕緣系統，這種現象(xiang)即為局部放電(dian)，開關柜處于局部放電(dian)階段往往通過肉眼和人工觸摸(mo)無法(fa)識別，如果(guo)長期不處理(li)，放電(dian)嚴重區域會(hui)達到其擊(ji)穿(chuan)(chuan)強(qiang)(qiang)度(du)，就(jiu)(jiu)會(hui)發(fa)生(sheng)故障，因此要注(zhu)意定(ding)期檢測。

二、開關柜局放檢測方法有哪些

檢測(ce)開(kai)關柜的(de)局(ju)部放電可以有效預防故障，針對開(kai)關柜而言，其局(ju)部放電檢測(ce)方(fang)法包括以下幾種：

1、地電波檢測法

在(zai)高壓開關(guan)(guan)柜絕緣層中發生(sheng)局部(bu)(bu)放電(dian)(dian)時(shi)會(hui)產(chan)生(sheng)電(dian)(dian)磁波(bo)，而(er)(er)開關(guan)(guan)柜的(de)金(jin)屬(shu)(shu)外殼會(hui)將(jiang)(jiang)這種(zhong)電(dian)(dian)磁波(bo)屏蔽(bi)掉一(yi)(yi)大部(bu)(bu)分，不過(guo)(guo)(guo)仍(reng)有(you)小部(bu)(bu)分會(hui)通(tong)過(guo)(guo)(guo)金(jin)屬(shu)(shu)殼體的(de)接縫或(huo)者氣體絕緣開關(guan)(guan)襯墊傳(chuan)播出去，而(er)(er)且(qie)還會(hui)產(chan)生(sheng)一(yi)(yi)個地(di)電(dian)(dian)波(bo)通(tong)過(guo)(guo)(guo)設備金(jin)屬(shu)(shu)殼體外表面傳(chuan)向地(di)下。地(di)電(dian)(dian)波(bo)的(de)范圍通(tong)常在(zai)幾(ji)毫伏直至幾(ji)伏中間，而(er)(er)且(qie)上升時(shi)間內有(you)幾(ji)個納秒。可以(yi)將(jiang)(jiang)探(tan)頭設置于工作狀態(tai)中的(de)開關(guan)(guan)柜的(de)外表面，對局部(bu)(bu)放電(dian)(dian)活動進行檢測。

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2、超聲波檢測法

其實超(chao)聲波(bo)檢測屬于機械振(zhen)動波(bo)的(de)(de)(de)一種(zhong)，基于能(neng)(neng)(neng)量(liang)的(de)(de)(de)角度而言(yan)，局部(bu)放(fang)(fang)電(dian)(dian)(dian)的(de)(de)(de)過程(cheng)即為(wei)(wei)能(neng)(neng)(neng)量(liang)瞬時爆發的(de)(de)(de)過程(cheng)，電(dian)(dian)(dian)能(neng)(neng)(neng)通(tong)過聲能(neng)(neng)(neng)、光能(neng)(neng)(neng)、熱能(neng)(neng)(neng)以及電(dian)(dian)(dian)磁能(neng)(neng)(neng)的(de)(de)(de)形式釋放(fang)(fang)出去，電(dian)(dian)(dian)氣(qi)(qi)擊穿發生(sheng)(sheng)在空氣(qi)(qi)間隙，瞬間就可(ke)以完成(cheng)放(fang)(fang)電(dian)(dian)(dian)，此時電(dian)(dian)(dian)能(neng)(neng)(neng)也會(hui)在一瞬間轉(zhuan)化為(wei)(wei)熱能(neng)(neng)(neng)，放(fang)(fang)電(dian)(dian)(dian)中心的(de)(de)(de)氣(qi)(qi)體(ti)(ti)受到熱能(neng)(neng)(neng)的(de)(de)(de)作用會(hui)發生(sheng)(sheng)膨脹(zhang)，通(tong)過聲波(bo)向外傳播，傳播區(qu)域內(nei)氣(qi)(qi)體(ti)(ti)被(bei)加(jia)熱后形成(cheng)一個等溫(wen)區(qu)，其溫(wen)度超(chao)出環境(jing)溫(wen)度;等到這些(xie)氣(qi)(qi)體(ti)(ti)冷卻后開始收縮，則會(hui)產(chan)生(sheng)(sheng)后續波(bo)，后續波(bo)的(de)(de)(de)頻(pin)(pin)率(lv)以及強度均比較低，包含各種(zhong)頻(pin)(pin)率(lv)分(fen)量(liang)，有很(hen)寬(kuan)的(de)(de)(de)頻(pin)(pin)帶，超(chao)聲波(bo)的(de)(de)(de)頻(pin)(pin)率(lv)大于20kHz。因為(wei)(wei)局部(bu)放(fang)(fang)電(dian)(dian)(dian)的(de)(de)(de)區(qu)域相對較小(xiao)，所以局放(fang)(fang)聲源即為(wei)(wei)點(dian)聲源。

3、超高頻檢測法

時(shi)間變化過程(cheng)(cheng)中(zhong)(zhong)，局部放(fang)電(dian)(dian)所產生的(de)(de)電(dian)(dian)磁振動(dong)會產生電(dian)(dian)磁波(bo)，在固氣與氣體介質(zhi)中(zhong)(zhong)，局部放(fang)電(dian)(dian)脈沖會發生非常(chang)豐富的(de)(de)電(dian)(dian)磁波(bo)超高頻(pin)分量，最高可(ke)達數GHz。實際(ji)應(ying)用過程(cheng)(cheng)中(zhong)(zhong)，局放(fang)信號(hao)(hao)的(de)(de)檢測(ce)可(ke)以(yi)利用兩個(ge)探(tan)(tan)頭來進(jin)行，將(jiang)探(tan)(tan)頭檢測(ce)到信號(hao)(hao)的(de)(de)時(shi)間順序作為判(pan)斷(duan)依據，放(fang)電(dian)(dian)源的(de)(de)距離較(jiao)近，就會被(bei)先檢測(ce)到;探(tan)(tan)頭位置不(bu)斷(duan)變化，可(ke)以(yi)將(jiang)放(fang)電(dian)(dian)源的(de)(de)大致位置逐步判(pan)斷(duan)出來。或者通(tong)過多(duo)個(ge)探(tan)(tan)頭，將(jiang)探(tan)(tan)頭檢測(ce)局放(fang)信號(hao)(hao)的(de)(de)時(shi)間差列方程(cheng)(cheng)組(zu)，可(ke)以(yi)求出放(fang)電(dian)(dian)源的(de)(de)三維空間坐標，最終確定放(fang)電(dian)(dian)源。該方法的(de)(de)靈敏度相對較(jiao)高，且(qie)具備較(jiao)強的(de)(de)抗干擾能力，而且(qie)開關(guan)柜上通(tong)常(chang)有接縫或者小玻璃窗，可(ke)以(yi)不(bu)用考慮該方法在完全密封條件(jian)下很難檢測(ce)的(de)(de)要(yao)求。

其實無論哪種(zhong)(zhong)檢(jian)測(ce)方法(fa)均有一定的(de)局限性(xing)，無法(fa)將(jiang)開關柜(ju)的(de)運(yun)行(xing)(xing)狀態(tai)客(ke)觀、全面、真實的(de)反(fan)映出來，還會出現誤判的(de)可能。由于放(fang)電類型(xing)能量的(de)釋(shi)放(fang)形(xing)式不同、各種(zhong)(zhong)檢(jian)測(ce)方法(fa)的(de)實用性(xing)與(yu)靈敏度也(ye)存在差異，所(suo)以(yi)在對開關柜(ju)局部放(fang)電檢(jian)測(ce)過程中(zhong)，要將(jiang)上述檢(jian)測(ce)手段綜合應用，以(yi)地電波檢(jian)測(ce)為主、超聲(sheng)波檢(jian)測(ce)及超高頻檢(jian)測(ce)為輔來進行(xing)(xing)。

三、開關柜局放檢測周期

開關(guan)(guan)柜的局部放電檢測(ce)對開關(guan)(guan)柜正常(chang)運行(xing)至(zhi)關(guan)(guan)重要，至(zhi)于檢測(ce)周期(qi)方面(mian)，傳統上，通常(chang)每年定期(qi)兩次通過開關(guan)(guan)柜局部放電檢測(ce)儀進(jin)行(xing)在(zai)(zai)線(xian)或離線(xian)局部放電測(ce)試；現在(zai)(zai)更多(duo)的是使用(yong)開關(guan)(guan)柜局放測(ce)試儀進(jin)行(xing)連(lian)續(xu)監測(ce)。