一、光時域反射儀測試誤差的原因有哪些

光時(shi)域反射儀是一(yi)種精密(mi)儀器(qi)，但測試過程中，或多或少會存在一(yi)些(xie)誤(wu)(wu)差，一(yi)般導致測試誤(wu)(wu)差的(de)原因(yin)主要有：

1、OTDR光時域反射儀存在的固有偏差

由OTDR的(de)(de)測(ce)試原理可(ke)知，它是(shi)按一(yi)定(ding)(ding)的(de)(de)周(zhou)期向(xiang)被測(ce)光(guang)纖發送光(guang)脈沖，再按一(yi)定(ding)(ding)的(de)(de)速率(lv)(lv)將來(lai)自光(guang)纖的(de)(de)背向(xiang)散(san)射信號(hao)抽樣(yang)、量化、編碼后，存(cun)儲并顯示出來(lai)。OTDR光(guang)時域反射儀本身由于抽樣(yang)間隔(ge)而存(cun)在誤差，這(zhe)種固有(you)偏差主要反映在距離(li)分(fen)辯率(lv)(lv)上。OTDR的(de)(de)距離(li)分(fen)辯率(lv)(lv)正比于抽樣(yang)頻率(lv)(lv)。

2、測試儀表操作不當產生的誤差

在光纜故障定位測(ce)試(shi)時，OTDR光時域反(fan)射儀(yi)(yi)使用的正(zheng)確性(xing)與障礙測(ce)試(shi)的準(zhun)確性(xing)直接相關(guan)，儀(yi)(yi)表(biao)參數設定和準(zhun)確性(xing)、儀(yi)(yi)表(biao)量(liang)程范圍的選(xuan)擇不(bu)當或光標設置不(bu)準(zhun)等(deng)都將導致(zhi)測(ce)試(shi)結果的誤差。

（1）設定儀表的折射率偏差產生的誤差

不(bu)(bu)(bu)同類型和廠家的(de)(de)光(guang)(guang)纖(xian)的(de)(de)折(zhe)射率是(shi)不(bu)(bu)(bu)同的(de)(de)。使(shi)用(yong)OTDR測試(shi)光(guang)(guang)纖(xian)長(chang)度(du)時，必(bi)須(xu)先進行儀表參(can)數設(she)定(ding)，折(zhe)射率的(de)(de)設(she)定(ding)就是(shi)其(qi)中之一。當幾段光(guang)(guang)纜的(de)(de)折(zhe)射率不(bu)(bu)(bu)同時可采用(yong)分段設(she)置(zhi)的(de)(de)方法，以減少(shao)因折(zhe)射率設(she)置(zhi)誤(wu)差而造(zao)成的(de)(de)測試(shi)誤(wu)差。

（2）量程范圍選擇不當

OTDR光(guang)時域(yu)反射儀(yi)測(ce)試(shi)距離(li)分辯率(lv)為1米(mi)(mi)(mi)時，它是(shi)指圖形放大到水平(ping)刻(ke)度(du)為25米(mi)(mi)(mi)/格(ge)(ge)時才能實現(xian)。儀(yi)表設(she)計是(shi)以(yi)光(guang)標(biao)每(mei)(mei)移(yi)動(dong)25步(bu)(bu)為1滿格(ge)(ge)。在這種情況(kuang)下，光(guang)標(biao)每(mei)(mei)移(yi)動(dong)一步(bu)(bu)，即表示移(yi)動(dong)1米(mi)(mi)(mi)的(de)距離(li)，所以(yi)讀出分辯率(lv)為1米(mi)(mi)(mi)。如果水平(ping)刻(ke)度(du)選(xuan)擇2公里/每(mei)(mei)格(ge)(ge)，則光(guang)標(biao)每(mei)(mei)移(yi)動(dong)一步(bu)(bu)，距離(li)就會(hui)偏(pian)移(yi)80米(mi)(mi)(mi)。由此可見，測(ce)試(shi)時選(xuan)擇的(de)量程范圍越(yue)大，測(ce)試(shi)結果的(de)偏(pian)差就越(yue)大。

（3）脈沖寬度選擇不當

在脈沖(chong)(chong)幅(fu)度相同的條件下，脈沖(chong)(chong)寬度越大，脈沖(chong)(chong)能量就越大，此時OTDR的動態范圍也越大，相應(ying)盲(mang)區也就大。

（4）平均化處理時間選擇不當

OTDR測(ce)(ce)(ce)試曲線是(shi)將每(mei)次輸出脈(mo)沖后的反射(she)信號采樣，并把多次采樣做平(ping)均(jun)(jun)處(chu)理以消除一些隨機事件，平(ping)均(jun)(jun)化(hua)時(shi)間越(yue)(yue)(yue)長，噪聲(sheng)電平(ping)越(yue)(yue)(yue)接(jie)近最小值，動態范(fan)圍就越(yue)(yue)(yue)大。平(ping)均(jun)(jun)化(hua)時(shi)間越(yue)(yue)(yue)長，測(ce)(ce)(ce)試精度(du)越(yue)(yue)(yue)高，但達到(dao)一定(ding)程(cheng)度(du)時(shi)精度(du)不再提高。為了提高測(ce)(ce)(ce)試速度(du)，縮短整體測(ce)(ce)(ce)試時(shi)間，一般測(ce)(ce)(ce)試時(shi)間可在0.5~3分鐘內選(xuan)擇(ze)。

（5）光標位置放置不當

光(guang)纖活動連接器、機(ji)械接頭和(he)光(guang)纖中的斷裂(lie)都會引起(qi)損耗和(he)反(fan)射，光(guang)纖末端(duan)的破裂(lie)端(duan)面由(you)于末端(duan)端(duan)面的不規則性會產(chan)生(sheng)(sheng)各(ge)種菲涅爾反(fan)射峰或者(zhe)不產(chan)生(sheng)(sheng)菲涅爾反(fan)射。如(ru)果光(guang)標設置不夠(gou)準確，也會產(chan)生(sheng)(sheng)一定誤差(cha)。

二、如何減少OTDR測試誤差

為了減(jian)少測試誤差，在使(shi)用(yong)OTDR光時域反射儀(yi)的時候(hou)，可以采取以下幾個(ge)方法：

1、設定儀表的折射率偏差

不(bu)同類(lei)型和廠家的(de)(de)(de)光纖的(de)(de)(de)折(zhe)射率是(shi)不(bu)同的(de)(de)(de)，使用(yong)OTDR測試光纖長度(du)時，必須先進行儀表參數設(she)定，折(zhe)射率的(de)(de)(de)設(she)定就是(shi)其中之一。當幾段(duan)光纜的(de)(de)(de)折(zhe)射率不(bu)同時可(ke)采(cai)用(yong)分段(duan)設(she)置的(de)(de)(de)方法，以減少因折(zhe)射率設(she)置誤差(cha)而造成的(de)(de)(de)測試誤差(cha)。

2、選擇正確的量程范圍

OTDR測試(shi)距(ju)(ju)離分辯率(lv)為1米(mi)(mi)(mi)時，它(ta)是(shi)指圖形(xing)放大到水(shui)平刻(ke)度(du)為25米(mi)(mi)(mi)/格時才能實現。儀表設計是(shi)以光(guang)標每移動25步(bu)為1滿格，在這種情況下(xia)，光(guang)標每移動一步(bu)，即(ji)表示移動1米(mi)(mi)(mi)的(de)距(ju)(ju)離，所以讀出分辯率(lv)為1米(mi)(mi)(mi)；如果水(shui)平刻(ke)度(du)選擇2公里/每格，則光(guang)標每移動一步(bu)，距(ju)(ju)離就會偏移80米(mi)(mi)(mi)。

3、保持測試參數的一致性

在光纖線路的測試中，應盡量保持使用同一塊光時域反射儀進行(xing)某條線(xian)路的(de)(de)(de)測(ce)(ce)試(shi)(shi)，各(ge)次(ci)(ci)測(ce)(ce)試(shi)(shi)時主(zhu)要參(can)(can)數(shu)值的(de)(de)(de)設(she)置(zhi)也應保(bao)持一致，這樣(yang)可以減少測(ce)(ce)試(shi)(shi)誤(wu)差(cha)，便于和上次(ci)(ci)的(de)(de)(de)測(ce)(ce)試(shi)(shi)結果比較。即使(shi)使(shi)用不(bu)(bu)同(tong)型號的(de)(de)(de)儀表(biao)進行(xing)測(ce)(ce)試(shi)(shi)，只要其動態范圍(wei)能達到要求，折射率(lv)、波(bo)長(chang)、脈寬、距離、均化(hua)時間等參(can)(can)數(shu)的(de)(de)(de)設(she)置(zhi)亦和上一次(ci)(ci)的(de)(de)(de)相同(tong)，這樣(yang)測(ce)(ce)試(shi)(shi)數(shu)據一般不(bu)(bu)會有大的(de)(de)(de)差(cha)別。

4、選擇合適的測試方式

通過OTDR來對(dui)光纖(xian)線(xian)(xian)路進(jin)行測試，就會考慮(lv)到(dao)實時、自(zi)動(dong)(dong)與手動(dong)(dong)三種相(xiang)(xiang)應(ying)的處理方式(shi)。在(zai)進(jin)行實時處理中，要求對(dui)于(yu)(yu)刷新曲(qu)線(xian)(xian)進(jin)行不斷地掃(sao)描，但是因為曲(qu)線(xian)(xian)反復跳動(dong)(dong)和變化的緣故，因此使用頻率(lv)相(xiang)(xiang)對(dui)偏(pian)少(shao)。自(zi)動(dong)(dong)方式(shi)多用于(yu)(yu)對(dui)整條線(xian)(xian)路狀況的概(gai)覽，僅需完成折射率(lv)及波(bo)長等基(ji)本參(can)數的設(she)(she)置即可，儀表在(zai)測試中能自(zi)動(dong)(dong)完成剩余參(can)數的設(she)(she)定。