一、光澤度計檢定規程
光澤度儀是一種專門測量物體表面光澤的精密儀器,應根據使用情況定期進行檢定,以確保儀器的準確性,按照相關標準的要求,光澤度儀的檢定項目包括:
1、外觀、測量范圍和分度值
通過(guo)目(mu)視(shi)觀察和手動相結合,按(an)光澤度儀通用(yong)技(ji)術要求的(de)各項內(nei)容(rong)進行(xing)檢(jian)查(cha),并在原始記錄的(de)相關欄目(mu)中填寫檢(jian)查(cha)結果。
2、測量基準面的平整性
在光(guang)澤(ze)度(du)計(ji)的(de)(de)(de)(de)測(ce)口(kou)(即測(ce)量基準平面)上(shang)覆蓋上(shang)二(er)級平晶,然后在各個方向用塞尺測(ce)量兩者之間可能形(xing)成(cheng)的(de)(de)(de)(de)間隙,如果使用0.05mm的(de)(de)(de)(de)塞尺可以塞入間隙并達到測(ce)口(kou)內(nei)側,則判(pan)定該光(guang)澤(ze)度(du)計(ji)的(de)(de)(de)(de)測(ce)量基準平面的(de)(de)(de)(de)平整性不合格。
3、照明均勻性
在光澤(ze)度計的樣品測(ce)量(liang)窗口(kou)上(shang)平貼一張描圖紙(zhi),觀(guan)察(cha)照(zhao)明的均勻情況(kuang),應滿足通用(yong)技術(shu)照(zhao)明均勻性(xing)的規定。
4、穩定度和零值誤差
(1)采用連續測量方(fang)式的(de)光(guang)(guang)澤(ze)度計:開機穩定(ding)后,在無受光(guang)(guang)條件(jian)下(放(fang)置(zhi)遮光(guang)(guang)罩或光(guang)(guang)阱等)調節零(ling)位(wei),然后放(fang)上高(gao)光(guang)(guang)澤(ze)度標準板,按其光(guang)(guang)澤(ze)度值(zhi)(zhi)設定(ding)光(guang)(guang)澤(ze)度計的(de)示(shi)值(zhi)(zhi)。每5min交替記錄示(shi)值(zhi)(zhi)和零(ling)位(wei)一次,30min內(nei)測得的(de)各示(shi)值(zhi)(zhi)之間(jian)的(de)偏(pian)差(cha)不得超(chao)過(guo)表1對穩定(ding)度和零(ling)值(zhi)(zhi)誤差(cha)的(de)要求。
(2)采(cai)用瞬(shun)態(tai)測(ce)量方式的(de)光(guang)(guang)澤度(du)計(ji):先在無受光(guang)(guang)條件下(放置遮(zhe)光(guang)(guang)罩或光(guang)(guang)阱等)測(ce)量零位;然(ran)后對(dui)高(gao)光(guang)(guang)澤板進(jin)行測(ce)量,每次測(ce)量間(jian)隔10s,共測(ce)量6次。示值(zhi)之間(jian)的(de)偏(pian)差不得超過表1對(dui)穩定度(du)和零值(zhi)誤(wu)差的(de)要求。
5、示值誤差
(1)采用連續測量方式的光澤(ze)(ze)(ze)度計(ji):儀器預熱穩(wen)定后(hou),調整好零位,用高(gao)光澤(ze)(ze)(ze)度基(ji)準板(ban)或(huo)被檢光澤(ze)(ze)(ze)度計(ji)配(pei)套高(gao)光澤(ze)(ze)(ze)度標(biao)準板(ban)的標(biao)準值設定光澤(ze)(ze)(ze)度計(ji)的示值,然(ran)后(hou)依次換(huan)上(shang)中光澤(ze)(ze)(ze)和低光澤(ze)(ze)(ze)的基(ji)準板(ban),記下(xia)光澤(ze)(ze)(ze)度計(ji)的讀數(shu)。
(2)采用瞬態測(ce)量方(fang)式的光(guang)(guang)(guang)(guang)澤(ze)(ze)(ze)(ze)度(du)(du)(du)計(ji)(ji):無(wu)須預(yu)熱調整零位,a)如(ru)可以調整光(guang)(guang)(guang)(guang)澤(ze)(ze)(ze)(ze)度(du)(du)(du)示(shi)值,先(xian)(xian)用高(gao)光(guang)(guang)(guang)(guang)澤(ze)(ze)(ze)(ze)度(du)(du)(du)基準(zhun)板或被檢光(guang)(guang)(guang)(guang)澤(ze)(ze)(ze)(ze)度(du)(du)(du)計(ji)(ji)配(pei)套高(gao)光(guang)(guang)(guang)(guang)澤(ze)(ze)(ze)(ze)度(du)(du)(du)標準(zhun)板的標準(zhun)值設(she)定光(guang)(guang)(guang)(guang)澤(ze)(ze)(ze)(ze)度(du)(du)(du)計(ji)(ji)的示(shi)值,然后依(yi)次(ci)(ci)換(huan)上(shang)中光(guang)(guang)(guang)(guang)澤(ze)(ze)(ze)(ze)和低光(guang)(guang)(guang)(guang)澤(ze)(ze)(ze)(ze)的基準(zhun)板,記(ji)下光(guang)(guang)(guang)(guang)澤(ze)(ze)(ze)(ze)度(du)(du)(du)計(ji)(ji)的讀數;b)如(ru)不可以調整光(guang)(guang)(guang)(guang)澤(ze)(ze)(ze)(ze)度(du)(du)(du)示(shi)值,先(xian)(xian)放在自(zi)校(xiao)板上(shang)自(zi)校(xiao),然后依(yi)次(ci)(ci)換(huan)上(shang)高(gao)光(guang)(guang)(guang)(guang)澤(ze)(ze)(ze)(ze)、中光(guang)(guang)(guang)(guang)澤(ze)(ze)(ze)(ze)和低光(guang)(guang)(guang)(guang)澤(ze)(ze)(ze)(ze)的基準(zhun)板,記(ji)下光(guang)(guang)(guang)(guang)澤(ze)(ze)(ze)(ze)度(du)(du)(du)計(ji)(ji)的讀數。
上(shang)述檢(jian)定至少(shao)應重復兩(liang)次,并分別對高、中(zhong)和低光(guang)澤(ze)度(du)(du)的(de)讀數計算平均值,其值不(bu)應超過表1的(de)要求。每次檢(jian)定均應依次在高、中(zhong)、低光(guang)澤(ze)度(du)(du)板(ban)中(zhong)分別進行。工(gong)作光(guang)澤(ze)度(du)(du)計的(de)計量檢(jian)定方(fang)法同標(biao)準光(guang)澤(ze)度(du)(du)計,檢(jian)測(ce)設備使用標(biao)準光(guang)澤(ze)度(du)(du)板(ban)。
二、光澤度儀的檢定周期是多久
光(guang)澤度(du)(du)儀(yi)用(yong)(yong)于測量(liang)物體表(biao)面(mian)光(guang)澤度(du)(du),由于對于產品(pin)測量(liang)結果要求比較嚴格,為了(le)減小(xiao)光(guang)澤度(du)(du)儀(yi)檢測誤差,就需要隔一(yi)段(duan)時間(jian)檢定一(yi)次。那(nei)么具體來說,光(guang)澤度(du)(du)儀(yi)使用(yong)(yong)多久要檢定呢?
光澤度儀屬于計量儀器,應(ying)根(gen)(gen)據使(shi)用情況定(ding)(ding)(ding)期(qi)進行檢(jian)定(ding)(ding)(ding),以確(que)保儀器的(de)(de)準(zhun)確(que)性。根(gen)(gen)據JJG696-2015《鏡像光澤(ze)度(du)計和光澤(ze)度(du)板》國(guo)家(jia)計量檢(jian)定(ding)(ding)(ding)規(gui)程的(de)(de)規(gui)定(ding)(ding)(ding),光澤(ze)度(du)儀及光澤(ze)度(du)板的(de)(de)檢(jian)定(ding)(ding)(ding)周期(qi)一般不超過(guo)1年,具體檢(jian)定(ding)(ding)(ding)周期(qi)可以根(gen)(gen)據使(shi)用頻率等(deng)方(fang)面來(lai)確(que)定(ding)(ding)(ding)。