一、光澤度儀測量值解析
光澤是物體表面的一種特性,光澤度儀就(jiu)是測量物(wu)體(ti)表(biao)(biao)面光(guang)(guang)澤度的(de)儀器,其(qi)測量的(de)光(guang)(guang)澤度是參照折(zhe)射(she)(she)(she)率np=1.567的(de)黑(hei)玻璃,假設(she)其(qi)平面在得到理想拋光(guang)(guang)的(de)狀態下,由該平面對自然光(guang)(guang)束進行鏡(jing)向(xiang)反(fan)射(she)(she)(she),并定義(yi)此(ci)時的(de)光(guang)(guang)澤度值(zhi)為(wei)100.0光(guang)(guang)澤單(dan)位(wei)。然后在相同條件下,對物(wu)體(ti)表(biao)(biao)面反(fan)射(she)(she)(she)光(guang)(guang)通(tong)量除以(yi)標準板(ban)反(fan)射(she)(she)(she)光(guang)(guang)通(tong)量,從而求(qiu)出物(wu)體(ti)表(biao)(biao)面光(guang)(guang)澤度的(de)相對值(zhi)。
用(yong)光(guang)(guang)(guang)(guang)澤度儀測(ce)量(liang)物體得到的(de)(de)(de)測(ce)量(liang)值(zhi),實際上是一個以標(biao)(biao)準(zhun)板為(wei)基準(zhun),測(ce)得的(de)(de)(de)無量(liang)綱,準(zhun)確的(de)(de)(de)來說就是物體受光(guang)(guang)(guang)(guang)照射(she)時表面對光(guang)(guang)(guang)(guang)的(de)(de)(de)反(fan)射(she)能力與標(biao)(biao)準(zhun)表面的(de)(de)(de)反(fan)射(she)率(lv)(lv)的(de)(de)(de)比值(zhi),其(qi)公式(shi)為(wei)G=100R/R,式(shi)中G為(wei)gloss(光(guang)(guang)(guang)(guang)澤)的(de)(de)(de)縮寫,R則為(wei)分(fen)別(bie)指物體表面對光(guang)(guang)(guang)(guang)反(fan)射(she)率(lv)(lv)和標(biao)(biao)準(zhun)板表面對光(guang)(guang)(guang)(guang)澤反(fan)射(she)率(lv)(lv)。這里的(de)(de)(de)標(biao)(biao)準(zhun)板定義(yi)為(wei)100,所以就乘(cheng)以100。
光澤度的(de)(de)測量很大程度上和標(biao)準(zhun)板的(de)(de)數值(zhi)有關,理(li)想狀態下的(de)(de)折射率(lv)為1.567的(de)(de)黑玻璃,其(qi)光澤度定義為100.0GU,而(er)實際儀器設備在生產的(de)(de)過程中(zhong),是(shi)無法達(da)到這么準(zhun)確的(de)(de)要求(qiu)的(de)(de),每一(yi)個儀器的(de)(de)標(biao)準(zhun)板其(qi)折射率(lv)是(shi)有一(yi)定差別的(de)(de)。
二、光澤度計測得的數值一直變怎么回事
使(shi)用(yong)光(guang)澤(ze)度儀測(ce)量物體(ti)光(guang)澤(ze)度的時候,由于(yu)儀器故障或操作不當,可能的導致測(ce)試數值(zhi)出(chu)現(xian)變化,一般可能的原因主要有(you):
1、電池電量不足
這(zhe)是一種(zhong)比較常(chang)見的問(wen)題,光(guang)澤度儀(yi)是一種(zhong)光(guang)電(dian)分析儀(yi)器(qi),如果(guo)設備(bei)供(gong)電(dian)不足,那么儀(yi)器(qi)就無法正常(chang)的工作,測量的數字(zi)就會(hui)產生偏差。
2、程序錯誤
現在(zai)很多光(guang)澤度(du)儀都(dou)是(shi)智能型的(de)(de)測量(liang)設備(bei),無需(xu)手(shou)動(dong)校準(zhun),開(kai)機時(shi)(shi)檢(jian)測到標準(zhun)板就可以自(zi)動(dong)校準(zhun),這就是(shi)因為儀器有一些內置(zhi)的(de)(de)程序在(zai)工作。而在(zai)平時(shi)(shi)的(de)(de)使用(yong)過程中,由于設備(bei)故障導致(zhi)程序發生(sheng)錯誤,就可能出(chu)現測試的(de)(de)時(shi)(shi)候數(shu)字一直變的(de)(de)情況(kuang)。
3、光澤度儀放置位置不正確
由于測量物體(ti)時漏光(guang)就會(hui)導致測量數值出現(xian)偏差。
4、測量環境發生變化
如(ru)果外界溫(wen)度(du)急劇(ju)變化,或者周圍有強烈磁場干擾(rao),也會導致(zhi)測(ce)量結果不準確,甚至損壞儀器。
為了(le)測量(liang)的準確度,大家(jia)一(yi)定要(yao)按照標(biao)準光源箱正常(chang)的工作步驟來(lai)操作,并(bing)注意操作環境的選擇和(he)校準。