測厚(hou)儀可以用(yong)來在(zai)線測量(liang)軋(ya)制后(hou)的板(ban)帶(dai)材厚(hou)度(du)，并(bing)以電訊(xun)號的形式(shi)輸出。該電訊(xun)號輸給顯示器和自動(dong)厚(hou)度(du)控制系統，以實(shi)現對板(ban)帶(dai)厚(hou)度(du)的自動(dong)厚(hou)度(du)控制（AGC）。 目(mu)前常見(jian)的測厚(hou)儀有γ射(she)線、β射(she)線、x射(she)線及同位素射(she)線等四種，其安(an)放位置均在(zai)板(ban)帶(dai)軋(ya)機的出口或入口側。設計、安(an)裝測厚(hou)儀時要在(zai)可能(neng)的條件下盡量(liang)靠近工作(zuo)輥，目(mu)的是降(jiang)低板(ban)厚(hou)的滯(zhi)后(hou)調整(zheng)時間。
用于測(ce)(ce)定(ding)(ding)材(cai)(cai)料(liao)本(ben)身厚(hou)度(du)(du)(du)(du)或(huo)材(cai)(cai)料(liao)表(biao)(biao)面覆蓋層(ceng)厚(hou)度(du)(du)(du)(du)的(de)(de)儀(yi)器。有些(xie)構件在制造和檢修時(shi)必須(xu)測(ce)(ce)量(liang)其厚(hou)度(du)(du)(du)(du)，以便(bian)了解(jie)材(cai)(cai)料(liao)的(de)(de)厚(hou)薄(bo)規(gui)格，各點均(jun)勻度(du)(du)(du)(du)和材(cai)(cai)料(liao)腐(fu)蝕、磨(mo)損程(cheng)度(du)(du)(du)(du)；有時(shi)則要測(ce)(ce)定(ding)(ding)材(cai)(cai)料(liao)表(biao)(biao)面的(de)(de)覆蓋層(ceng)厚(hou)度(du)(du)(du)(du)，以保(bao)證產品(pin)質量(liang)和生(sheng)產安(an)全。根據測(ce)(ce)定(ding)(ding)原理的(de)(de)不(bu)同(tong)，常用測(ce)(ce)厚(hou)儀(yi)有超聲(sheng)、磁性、渦流(liu)、同(tong)位素等(deng)四種。
超聲(sheng)(sheng)波(bo)測(ce)(ce)厚(hou)(hou)儀超聲(sheng)(sheng)波(bo)在各種(zhong)介(jie)質中(zhong)的(de)(de)聲(sheng)(sheng)速是(shi)(shi)(shi)不同的(de)(de)，但(dan)在同一介(jie)質中(zhong)聲(sheng)(sheng)速是(shi)(shi)(shi)一常數。超聲(sheng)(sheng)波(bo)在介(jie)質中(zhong)傳播(bo)遇到第(di)二種(zhong)介(jie)質時(shi)會被反射，測(ce)(ce)量超聲(sheng)(sheng)波(bo)脈沖從發射至(zhi)接收(shou)的(de)(de)間(jian)隔(ge)時(shi)間(jian)，即可將這間(jian)隔(ge)時(shi)間(jian)換算成厚(hou)(hou)度(du)。在電力工業(ye)中(zhong)應用最廣的(de)(de)就(jiu)是(shi)(shi)(shi)這類(lei)測(ce)(ce)厚(hou)(hou)儀。常用于測(ce)(ce)定鍋爐鍋筒、受熱(re)面(mian)管(guan)(guan)子、管(guan)(guan)道等的(de)(de)厚(hou)(hou)度(du)，也用于校核(he)工件結構尺寸等。這類(lei)測(ce)(ce)厚(hou)(hou)儀多是(shi)(shi)(shi)攜帶式的(de)(de)，體積與(yu)小(xiao)型半(ban)導體收(shou)音(yin)機相(xiang)近，厚(hou)(hou)度(du)值的(de)(de)顯示多是(shi)(shi)(shi)數字式的(de)(de)。對于鋼材，最大測(ce)(ce)定厚(hou)(hou)度(du)達2000mm左右(you)，精度(du)在±0.01～±0.1mm之間(jian)。
磁(ci)性(xing)測厚儀在測定各種(zhong)導磁(ci)材料的(de)磁(ci)阻時(shi)，測定值(zhi)會因其表面(mian)(mian)非導磁(ci)覆蓋層(ceng)厚度的(de)不同而發生(sheng)變(bian)化(hua)。利(li)用(yong)這種(zhong)變(bian)化(hua)即(ji)可測知覆蓋層(ceng)厚度值(zhi)。常用(yong)于測定鐵磁(ci)金屬表面(mian)(mian)上的(de)噴鋁層(ceng)、塑料層(ceng)、電鍍層(ceng)、磷化(hua)層(ceng)、油漆(qi)層(ceng)等的(de)厚度。
渦流(liu)測(ce)厚(hou)(hou)儀當(dang)載有高頻電(dian)流(liu)的(de)(de)探頭線(xian)圈(quan)(quan)置于(yu)被測(ce)金(jin)屬(shu)(shu)表(biao)面(mian)時，由于(yu)高頻磁(ci)場的(de)(de)作(zuo)用(yong)(yong)而使金(jin)屬(shu)(shu)體內產(chan)生渦流(liu)，此(ci)渦流(liu)產(chan)生的(de)(de)磁(ci)場又反(fan)作(zuo)用(yong)(yong)于(yu)探頭線(xian)圈(quan)(quan)，使其阻(zu)抗發(fa)生變化(hua)(hua)，此(ci)變化(hua)(hua)量(liang)與探頭線(xian)圈(quan)(quan)離(li)金(jin)屬(shu)(shu)表(biao)面(mian)的(de)(de)距離(li)（即(ji)覆蓋層(ceng)的(de)(de)厚(hou)(hou)度(du)）有關，因(yin)而根據探頭線(xian)圈(quan)(quan)阻(zu)抗的(de)(de)變化(hua)(hua)可間接(jie)測(ce)量(liang)金(jin)屬(shu)(shu)表(biao)面(mian)覆蓋層(ceng)的(de)(de)厚(hou)(hou)度(du)。常用(yong)(yong)于(yu)測(ce)定鋁(lv)材上(shang)(shang)的(de)(de)氧化(hua)(hua)膜或(huo)鋁(lv)、銅表(biao)面(mian)上(shang)(shang)其他絕緣(yuan)覆蓋層(ceng)的(de)(de)厚(hou)(hou)度(du)。
同位素測厚(hou)儀利用(yong)物質厚(hou)度不同對輻射(she)(she)的(de)吸(xi)收與散射(she)(she)不同的(de)原(yuan)理，可以測定(ding)薄(bo)鋼板、薄(bo)銅(tong)板、薄(bo)鋁板、硅鋼片、合金片等金屬材料及橡膠片，塑(su)料膜，紙張等的(de)厚(hou)度。常用(yong)的(de)同位素射(she)(she)線(xian)有γ射(she)(she)線(xian)、β射(she)(she)線(xian)等。
測厚(hou)(hou)儀的測試(shi)方法主要有(you)：磁性測厚(hou)(hou)法，放射測厚(hou)(hou)法，電解測厚(hou)(hou)法，渦流測厚(hou)(hou)法，超聲波(bo)測厚(hou)(hou)法。
測量注意事項：
⒈在進行測試(shi)的時(shi)候要注意標準片集體的金屬磁(ci)性和(he)表面粗(cu)糙度應當與試(shi)件相(xiang)似。
⒉測(ce)量時(shi)側頭與(yu)試(shi)樣表面(mian)保持垂直。
⒊測量時(shi)要注意(yi)基(ji)體金屬的臨界厚度，如(ru)果(guo)大于這個厚度測量就不受基(ji)體金屬厚度的影響。
⒋測量時(shi)要注意試(shi)件的(de)曲率對測量的(de)影(ying)響。因此(ci)在彎曲的(de)試(shi)件表(biao)面上測量時(shi)不可靠的(de)。
⒌測(ce)量前要注意周圍(wei)其他的電器設備會不會產生磁場，如果會將會干擾磁性測(ce)厚法。
⒍測量時要(yao)注意不(bu)要(yao)在內轉角處和靠近試件邊緣(yuan)處測量，因為一般的測厚(hou)儀試件表面形狀的忽(hu)然變化很敏感。
⒎在(zai)測(ce)量時要保持壓力的(de)(de)恒定，否則會影(ying)響測(ce)量的(de)(de)讀數。
⒏在(zai)進行(xing)測試的(de)時候要注意儀器測頭(tou)和被測試件的(de)要直接(jie)接(jie)觸，因此超聲波測厚儀在(zai)進行(xing)對側頭(tou)清除(chu)附著物質。
1、激光(guang)測(ce)(ce)厚儀(yi)是利用激光(guang)的(de)反射原(yuan)理，根據(ju)光(guang)切法(fa)測(ce)(ce)量(liang)和觀察機械制(zhi)造中零件加工(gong)表面(mian)的(de)微(wei)觀幾何形狀來(lai)測(ce)(ce)量(liang)產(chan)品的(de)厚度，是一種非接觸(chu)式的(de)動態測(ce)(ce)量(liang)儀(yi)器。它可直接輸出(chu)數字信號與工(gong)業計算機相連接，并迅(xun)速處理數據(ju)并輸出(chu)偏(pian)差值到各種工(gong)業設備。
2、X射線(xian)測厚儀(yi)利(li)用X射線(xian)穿透被測材料(liao)時，X射線(xian)的(de)(de)(de)強度的(de)(de)(de)變(bian)化(hua)與材料(liao)的(de)(de)(de)厚度相關的(de)(de)(de)特(te)性，滄(cang)州歐譜(pu)從而(er)測定材料(liao)的(de)(de)(de)厚度，是一種(zhong)非接觸(chu)式的(de)(de)(de)動態計量儀(yi)器。它以PLC和工(gong)業(ye)計算機(ji)為核心(xin)，采集計算數據并輸出目標偏差值給軋(ya)機(ji)厚度控制系(xi)統，達到(dao)要求的(de)(de)(de)軋(ya)制厚度。主要應用行業(ye)：有色金屬的(de)(de)(de)板(ban)帶箔加工(gong)、冶金行業(ye)的(de)(de)(de)板(ban)帶加工(gong)。
3、紙(zhi)張測厚儀：適用(yong)于(yu)4mm以下的(de)各種薄膜、紙(zhi)張、紙(zhi)板以及其他片狀(zhuang)材料(liao)厚度的(de)測量(liang)。
4、薄膜測(ce)厚儀：用于測(ce)定薄膜、薄片等(deng)材料的厚度，測(ce)量范圍寬、測(ce)量精度高，具有數(shu)據輸(shu)出(chu)、任意位置(zhi)置(zhi)零、公英制轉(zhuan)換(huan)、自(zi)動斷電等(deng)特(te)點。
5、涂層(ceng)測(ce)厚儀：用于(yu)測(ce)量(liang)鐵及非(fei)鐵金屬基體上(shang)涂層(ceng)的厚度。
6、超(chao)聲(sheng)波(bo)(bo)測(ce)厚儀(yi)：超(chao)聲(sheng)波(bo)(bo)測(ce)厚儀(yi)是根據(ju)超(chao)聲(sheng)波(bo)(bo)脈(mo)沖反(fan)射原理來進行厚度(du)測(ce)量的(de)(de)，當探(tan)頭發射的(de)(de)超(chao)聲(sheng)波(bo)(bo)脈(mo)沖通過被測(ce)物體到達材(cai)料分界面時，脈(mo)沖被反(fan)射回探(tan)頭，通過精確(que)(que)測(ce)量超(chao)聲(sheng)波(bo)(bo)在(zai)材(cai)料中傳(chuan)播(bo)的(de)(de)時間(jian)來確(que)(que)定(ding)被測(ce)材(cai)料的(de)(de)厚度(du)。凡能使超(chao)聲(sheng)波(bo)(bo)以(yi)一恒定(ding)速度(du)在(zai)其內部(bu)傳(chuan)播(bo)的(de)(de)各(ge)種(zhong)材(cai)料均可采用此原理測(ce)量。
