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測厚儀
0 票數:0 #儀器儀表#
測厚儀是用來測量材料及物體厚度的儀表。在工業生產中常用來連續或抽樣測量產品的厚度(如鋼板、鋼帶、薄膜、紙張、金屬箔片等材料)。這類儀表中有利用α射線、β射線、γ射線穿透特性的放射性厚度計;有利用超聲波頻率變化的超聲波厚度計;有利用渦流原理的電渦流厚度計;還有利用機械接觸式測量原理的測厚儀等。
詳(xiang)細介紹(shao) PROFILE +

介紹

測(ce)(ce)厚(hou)儀可以(yi)(yi)(yi)用來在線(xian)測(ce)(ce)量軋制(zhi)(zhi)后(hou)的(de)板帶(dai)材厚(hou)度(du),并以(yi)(yi)(yi)電訊(xun)號(hao)的(de)形式(shi)輸出(chu)。該電訊(xun)號(hao)輸給(gei)顯示器(qi)和(he)自動厚(hou)度(du)控(kong)制(zhi)(zhi)系統,以(yi)(yi)(yi)實(shi)現對(dui)板帶(dai)厚(hou)度(du)的(de)自動厚(hou)度(du)控(kong)制(zhi)(zhi)(AGC)。 目前常見的(de)測(ce)(ce)厚(hou)儀有γ射(she)線(xian)、β射(she)線(xian)、x射(she)線(xian)及同(tong)位素射(she)線(xian)等(deng)四種,其安放位置均在板帶(dai)軋機的(de)出(chu)口或入口側。設計、安裝測(ce)(ce)厚(hou)儀時要在可能(neng)的(de)條件下盡量靠近工作輥,目的(de)是降低(di)板厚(hou)的(de)滯后(hou)調整時間(jian)。

主要類型

用(yong)于測(ce)定材(cai)料(liao)(liao)本身厚(hou)度(du)(du)(du)或材(cai)料(liao)(liao)表(biao)面(mian)(mian)覆蓋(gai)層厚(hou)度(du)(du)(du)的(de)(de)儀器。有些構件在制造和檢(jian)修時必須測(ce)量(liang)其厚(hou)度(du)(du)(du),以便了解材(cai)料(liao)(liao)的(de)(de)厚(hou)薄規格,各點均勻度(du)(du)(du)和材(cai)料(liao)(liao)腐蝕、磨損(sun)程度(du)(du)(du);有時則要測(ce)定材(cai)料(liao)(liao)表(biao)面(mian)(mian)的(de)(de)覆蓋(gai)層厚(hou)度(du)(du)(du),以保證產品質(zhi)量(liang)和生產安(an)全。根據測(ce)定原(yuan)理的(de)(de)不同,常用(yong)測(ce)厚(hou)儀有超聲、磁性、渦流、同位(wei)素等四種。

超聲(sheng)(sheng)波測(ce)厚(hou)儀(yi)(yi)超聲(sheng)(sheng)波在(zai)(zai)各種介質中(zhong)的(de)(de)(de)聲(sheng)(sheng)速是不(bu)同(tong)的(de)(de)(de),但(dan)在(zai)(zai)同(tong)一介質中(zhong)聲(sheng)(sheng)速是一常數。超聲(sheng)(sheng)波在(zai)(zai)介質中(zhong)傳播遇到第(di)二種介質時會被反射,測(ce)量超聲(sheng)(sheng)波脈沖從發射至接(jie)收(shou)的(de)(de)(de)間(jian)隔(ge)(ge)時間(jian),即可將這間(jian)隔(ge)(ge)時間(jian)換算成厚(hou)度。在(zai)(zai)電力工業中(zhong)應用最廣的(de)(de)(de)就是這類(lei)測(ce)厚(hou)儀(yi)(yi)。常用于(yu)測(ce)定(ding)鍋爐鍋筒(tong)、受(shou)熱面管(guan)子、管(guan)道等的(de)(de)(de)厚(hou)度,也用于(yu)校核工件(jian)結(jie)構尺(chi)寸等。這類(lei)測(ce)厚(hou)儀(yi)(yi)多是攜(xie)帶式(shi)(shi)的(de)(de)(de),體積(ji)與小(xiao)型(xing)半(ban)導(dao)體收(shou)音機(ji)相近,厚(hou)度值(zhi)的(de)(de)(de)顯示多是數字式(shi)(shi)的(de)(de)(de)。對于(yu)鋼材,最大測(ce)定(ding)厚(hou)度達2000mm左右,精度在(zai)(zai)±0.01~±0.1mm之間(jian)。

磁(ci)(ci)(ci)性測(ce)厚(hou)(hou)儀(yi)在測(ce)定各種導(dao)磁(ci)(ci)(ci)材料(liao)的磁(ci)(ci)(ci)阻時,測(ce)定值會因其表面非導(dao)磁(ci)(ci)(ci)覆(fu)蓋(gai)層(ceng)(ceng)(ceng)厚(hou)(hou)度(du)的不同而發生(sheng)變(bian)化(hua)。利用這種變(bian)化(hua)即可測(ce)知覆(fu)蓋(gai)層(ceng)(ceng)(ceng)厚(hou)(hou)度(du)值。常用于(yu)測(ce)定鐵(tie)磁(ci)(ci)(ci)金(jin)屬表面上(shang)的噴鋁層(ceng)(ceng)(ceng)、塑(su)料(liao)層(ceng)(ceng)(ceng)、電鍍層(ceng)(ceng)(ceng)、磷化(hua)層(ceng)(ceng)(ceng)、油漆層(ceng)(ceng)(ceng)等的厚(hou)(hou)度(du)。

渦(wo)(wo)流(liu)測厚儀(yi)當載有高頻電流(liu)的(de)(de)探頭(tou)線圈置于(yu)(yu)被(bei)測金屬(shu)(shu)表(biao)面(mian)時,由于(yu)(yu)高頻磁(ci)場的(de)(de)作(zuo)(zuo)用而(er)使金屬(shu)(shu)體內產生(sheng)(sheng)(sheng)渦(wo)(wo)流(liu),此渦(wo)(wo)流(liu)產生(sheng)(sheng)(sheng)的(de)(de)磁(ci)場又(you)反作(zuo)(zuo)用于(yu)(yu)探頭(tou)線圈,使其(qi)阻抗(kang)發生(sheng)(sheng)(sheng)變(bian)(bian)化(hua),此變(bian)(bian)化(hua)量與探頭(tou)線圈離金屬(shu)(shu)表(biao)面(mian)的(de)(de)距離(即覆蓋層(ceng)的(de)(de)厚度)有關,因(yin)而(er)根據探頭(tou)線圈阻抗(kang)的(de)(de)變(bian)(bian)化(hua)可間接(jie)測量金屬(shu)(shu)表(biao)面(mian)覆蓋層(ceng)的(de)(de)厚度。常(chang)用于(yu)(yu)測定鋁材上(shang)的(de)(de)氧化(hua)膜或鋁、銅表(biao)面(mian)上(shang)其(qi)他絕緣(yuan)覆蓋層(ceng)的(de)(de)厚度。

同位素測厚儀(yi)利用物質厚度不同對輻射(she)的吸收與散射(she)不同的原理,可以測定薄(bo)鋼板、薄(bo)銅板、薄(bo)鋁板、硅鋼片、合金(jin)片等(deng)金(jin)屬材料(liao)及(ji)橡膠片,塑(su)料(liao)膜,紙張等(deng)的厚度。常用的同位素射(she)線(xian)有γ射(she)線(xian)、β射(she)線(xian)等(deng)。

使用注意事項

測(ce)厚(hou)儀(yi)的測(ce)試方法(fa)(fa)(fa)(fa)主要有:磁性測(ce)厚(hou)法(fa)(fa)(fa)(fa),放射測(ce)厚(hou)法(fa)(fa)(fa)(fa),電解測(ce)厚(hou)法(fa)(fa)(fa)(fa),渦流測(ce)厚(hou)法(fa)(fa)(fa)(fa),超聲波測(ce)厚(hou)法(fa)(fa)(fa)(fa)。

測量注意事項:

⒈在進行測試的(de)時候要注意標(biao)準(zhun)片(pian)集(ji)體的(de)金屬磁性和表面粗(cu)糙度應當與試件相(xiang)似。

⒉測量時側頭與試(shi)樣表面保持垂直。

⒊測量時要注意基體金屬的臨(lin)界厚(hou)度,如(ru)果大(da)于這個(ge)厚(hou)度測量就不受基體金屬厚(hou)度的影(ying)響。

⒋測(ce)量(liang)時要(yao)注意試件的(de)曲率對測(ce)量(liang)的(de)影響。因(yin)此在彎(wan)曲的(de)試件表面上測(ce)量(liang)時不可靠的(de)。

⒌測量前要注意(yi)周圍其(qi)他(ta)的(de)電(dian)器(qi)設(she)備(bei)會(hui)(hui)不會(hui)(hui)產生磁場,如果會(hui)(hui)將會(hui)(hui)干擾磁性測厚法。

⒍測(ce)量(liang)時要注意不要在(zai)內轉角處和靠近(jin)試件邊緣處測(ce)量(liang),因為(wei)一般的(de)測(ce)厚(hou)儀試件表(biao)面形(xing)狀的(de)忽然變化很敏感。

⒎在測量時要保持壓力的(de)恒定,否(fou)則(ze)會影響測量的(de)讀數。

⒏在進行測(ce)試的時候(hou)要(yao)注意儀(yi)器(qi)測(ce)頭和被測(ce)試件的要(yao)直接接觸,因此超聲波測(ce)厚(hou)儀(yi)在進行對側頭清除附(fu)著物(wu)質。

應用

1、激(ji)光測厚(hou)儀是利用激(ji)光的反(fan)射(she)原理,根據(ju)光切法測量(liang)和觀察機(ji)械制造中零件加工表面的微觀幾何形(xing)狀來測量(liang)產品(pin)的厚(hou)度,是一(yi)種非接(jie)觸式的動態測量(liang)儀器。它(ta)可直接(jie)輸出(chu)數字(zi)信號與工業計算(suan)機(ji)相連接(jie),并迅速處理數據(ju)并輸出(chu)偏差(cha)值到各(ge)種工業設備。

2、X射線測厚儀利(li)用X射線穿透(tou)被測材(cai)(cai)料時,X射線的(de)(de)(de)(de)強度(du)的(de)(de)(de)(de)變化與材(cai)(cai)料的(de)(de)(de)(de)厚度(du)相(xiang)關的(de)(de)(de)(de)特性,滄州歐譜從而測定材(cai)(cai)料的(de)(de)(de)(de)厚度(du),是一種非接觸式的(de)(de)(de)(de)動態計量儀器。它以PLC和工(gong)業計算機(ji)為核(he)心,采集計算數據并輸出目(mu)標偏差值給(gei)軋(ya)機(ji)厚度(du)控制(zhi)系統,達(da)到(dao)要求的(de)(de)(de)(de)軋(ya)制(zhi)厚度(du)。主要應用行業:有色金(jin)屬(shu)的(de)(de)(de)(de)板帶(dai)箔加工(gong)、冶金(jin)行業的(de)(de)(de)(de)板帶(dai)加工(gong)。

3、紙張測(ce)厚儀:適用于(yu)4mm以下的(de)各(ge)種(zhong)薄膜、紙張、紙板以及其(qi)他片狀材料(liao)厚度的(de)測(ce)量。

4、薄膜(mo)測(ce)(ce)(ce)厚(hou)儀:用于測(ce)(ce)(ce)定薄膜(mo)、薄片等材料(liao)的厚(hou)度,測(ce)(ce)(ce)量范圍寬、測(ce)(ce)(ce)量精(jing)度高,具有數據輸出、任(ren)意位置置零(ling)、公英制轉(zhuan)換、自(zi)動斷(duan)電等特點。

5、涂(tu)層(ceng)測厚(hou)儀:用于測量鐵及(ji)非鐵金屬基(ji)體(ti)上涂(tu)層(ceng)的厚(hou)度。

6、超(chao)聲(sheng)(sheng)波測(ce)(ce)(ce)(ce)厚(hou)儀:超(chao)聲(sheng)(sheng)波測(ce)(ce)(ce)(ce)厚(hou)儀是根據超(chao)聲(sheng)(sheng)波脈沖(chong)(chong)反射(she)(she)原理來(lai)進行厚(hou)度(du)測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)的(de),當探頭(tou)發射(she)(she)的(de)超(chao)聲(sheng)(sheng)波脈沖(chong)(chong)通過被測(ce)(ce)(ce)(ce)物體到達材(cai)(cai)料(liao)(liao)分界面(mian)時(shi),脈沖(chong)(chong)被反射(she)(she)回探頭(tou),通過精確測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)超(chao)聲(sheng)(sheng)波在材(cai)(cai)料(liao)(liao)中傳(chuan)(chuan)播(bo)的(de)時(shi)間來(lai)確定被測(ce)(ce)(ce)(ce)材(cai)(cai)料(liao)(liao)的(de)厚(hou)度(du)。凡能使超(chao)聲(sheng)(sheng)波以一(yi)恒定速度(du)在其內部(bu)傳(chuan)(chuan)播(bo)的(de)各種(zhong)材(cai)(cai)料(liao)(liao)均可采用此原理測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)。

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