測(ce)厚儀(yi)(yi)可(ke)以(yi)用來(lai)在(zai)線(xian)(xian)測(ce)量軋(ya)制后的板(ban)帶材厚度(du)，并以(yi)電(dian)(dian)訊(xun)號的形式(shi)輸出。該電(dian)(dian)訊(xun)號輸給顯示器和自動厚度(du)控(kong)制系統，以(yi)實(shi)現對板(ban)帶厚度(du)的自動厚度(du)控(kong)制（AGC）。 目(mu)(mu)前常見的測(ce)厚儀(yi)(yi)有γ射線(xian)(xian)、β射線(xian)(xian)、x射線(xian)(xian)及同位素(su)射線(xian)(xian)等四(si)種，其安(an)放位置均在(zai)板(ban)帶軋(ya)機的出口或入口側(ce)。設計、安(an)裝測(ce)厚儀(yi)(yi)時(shi)要(yao)在(zai)可(ke)能的條件(jian)下盡量靠近工作輥，目(mu)(mu)的是(shi)降(jiang)低板(ban)厚的滯后調整(zheng)時(shi)間。
用于測(ce)(ce)定(ding)(ding)材(cai)(cai)料本(ben)身厚(hou)(hou)度或(huo)材(cai)(cai)料表(biao)(biao)面覆蓋層厚(hou)(hou)度的儀(yi)器(qi)。有些構件在制造(zao)和檢修(xiu)時必須(xu)測(ce)(ce)量其(qi)厚(hou)(hou)度，以(yi)便(bian)了解(jie)材(cai)(cai)料的厚(hou)(hou)薄規格(ge)，各點均勻度和材(cai)(cai)料腐蝕、磨(mo)損程度；有時則要測(ce)(ce)定(ding)(ding)材(cai)(cai)料表(biao)(biao)面的覆蓋層厚(hou)(hou)度，以(yi)保證(zheng)產品質量和生產安全。根據測(ce)(ce)定(ding)(ding)原理的不同，常用測(ce)(ce)厚(hou)(hou)儀(yi)有超(chao)聲、磁性(xing)、渦(wo)流、同位素(su)等四(si)種。
超(chao)(chao)聲(sheng)波(bo)(bo)(bo)測厚(hou)儀超(chao)(chao)聲(sheng)波(bo)(bo)(bo)在(zai)(zai)各種(zhong)介質(zhi)(zhi)中的聲(sheng)速是(shi)不同的，但在(zai)(zai)同一介質(zhi)(zhi)中聲(sheng)速是(shi)一常(chang)數。超(chao)(chao)聲(sheng)波(bo)(bo)(bo)在(zai)(zai)介質(zhi)(zhi)中傳播遇(yu)到第(di)二種(zhong)介質(zhi)(zhi)時會被反射(she)(she)，測量超(chao)(chao)聲(sheng)波(bo)(bo)(bo)脈沖從發射(she)(she)至接收的間隔時間，即可將這間隔時間換(huan)算成厚(hou)度。在(zai)(zai)電(dian)力工業中應用(yong)最(zui)廣(guang)的就是(shi)這類測厚(hou)儀。常(chang)用(yong)于測定鍋爐鍋筒、受熱面管(guan)子(zi)、管(guan)道等的厚(hou)度，也用(yong)于校核工件(jian)結構(gou)尺寸(cun)等。這類測厚(hou)儀多(duo)是(shi)攜(xie)帶(dai)式(shi)的，體(ti)積(ji)與小型半導體(ti)收音(yin)機相近，厚(hou)度值的顯示多(duo)是(shi)數字式(shi)的。對于鋼材，最(zui)大測定厚(hou)度達2000mm左右，精度在(zai)(zai)±0.01～±0.1mm之間。
磁性(xing)測(ce)(ce)厚(hou)(hou)(hou)儀在測(ce)(ce)定(ding)各種導磁材(cai)料的磁阻時(shi)，測(ce)(ce)定(ding)值會因其表(biao)面(mian)非(fei)導磁覆蓋層(ceng)厚(hou)(hou)(hou)度(du)(du)的不(bu)同而發生變(bian)化。利用(yong)這種變(bian)化即可測(ce)(ce)知(zhi)覆蓋層(ceng)厚(hou)(hou)(hou)度(du)(du)值。常(chang)用(yong)于(yu)測(ce)(ce)定(ding)鐵(tie)磁金(jin)屬表(biao)面(mian)上(shang)的噴鋁層(ceng)、塑料層(ceng)、電鍍層(ceng)、磷化層(ceng)、油(you)漆層(ceng)等的厚(hou)(hou)(hou)度(du)(du)。
渦流(liu)測(ce)厚儀當載有高(gao)頻電流(liu)的(de)(de)(de)探(tan)頭(tou)線(xian)圈(quan)置于(yu)被測(ce)金屬表(biao)面(mian)時，由于(yu)高(gao)頻磁場的(de)(de)(de)作用而使(shi)金屬體內產生(sheng)渦流(liu)，此渦流(liu)產生(sheng)的(de)(de)(de)磁場又反作用于(yu)探(tan)頭(tou)線(xian)圈(quan)，使(shi)其阻抗發生(sheng)變(bian)化(hua)，此變(bian)化(hua)量與探(tan)頭(tou)線(xian)圈(quan)離金屬表(biao)面(mian)的(de)(de)(de)距離（即(ji)覆(fu)蓋層(ceng)的(de)(de)(de)厚度）有關，因(yin)而根據(ju)探(tan)頭(tou)線(xian)圈(quan)阻抗的(de)(de)(de)變(bian)化(hua)可間接(jie)測(ce)量金屬表(biao)面(mian)覆(fu)蓋層(ceng)的(de)(de)(de)厚度。常(chang)用于(yu)測(ce)定(ding)鋁(lv)材上的(de)(de)(de)氧化(hua)膜或鋁(lv)、銅(tong)表(biao)面(mian)上其他絕緣(yuan)覆(fu)蓋層(ceng)的(de)(de)(de)厚度。
同(tong)位素測厚(hou)儀利用物(wu)質厚(hou)度不(bu)同(tong)對輻射(she)(she)的(de)(de)吸(xi)收與散射(she)(she)不(bu)同(tong)的(de)(de)原理，可以測定薄(bo)鋼(gang)(gang)板(ban)、薄(bo)銅板(ban)、薄(bo)鋁板(ban)、硅鋼(gang)(gang)片(pian)(pian)、合金片(pian)(pian)等金屬(shu)材料及橡膠片(pian)(pian)，塑料膜，紙(zhi)張(zhang)等的(de)(de)厚(hou)度。常用的(de)(de)同(tong)位素射(she)(she)線有γ射(she)(she)線、β射(she)(she)線等。
測(ce)(ce)厚(hou)儀的測(ce)(ce)試方法(fa)主要有(you)：磁(ci)性測(ce)(ce)厚(hou)法(fa)，放射測(ce)(ce)厚(hou)法(fa)，電解(jie)測(ce)(ce)厚(hou)法(fa)，渦流測(ce)(ce)厚(hou)法(fa)，超聲(sheng)波測(ce)(ce)厚(hou)法(fa)。
測量注意事項：
⒈在進行(xing)測(ce)試(shi)的時候(hou)要(yao)注意標準片集體的金(jin)屬磁性和表(biao)面粗糙度應(ying)當與(yu)試(shi)件相似。
⒉測量時側頭與試樣表面保持垂直。
⒊測量時要注(zhu)意(yi)基(ji)體金屬的(de)(de)臨界厚(hou)度，如(ru)果大于(yu)這個厚(hou)度測量就不受基(ji)體金屬厚(hou)度的(de)(de)影(ying)響。
⒋測量時(shi)要注意試(shi)件的(de)(de)(de)(de)曲率對(dui)測量的(de)(de)(de)(de)影響(xiang)。因(yin)此在彎曲的(de)(de)(de)(de)試(shi)件表面上測量時(shi)不可靠的(de)(de)(de)(de)。
⒌測(ce)量前要注意周圍其他的電器設備(bei)會不會產生(sheng)磁場，如(ru)果會將會干擾磁性測(ce)厚(hou)法。
⒍測(ce)量時要注意不要在內轉角處(chu)和靠近(jin)試件邊(bian)緣處(chu)測(ce)量，因為一般的測(ce)厚(hou)儀試件表面形狀的忽然變化很敏感。
⒎在測量時要(yao)保持(chi)壓力的恒定(ding)，否則(ze)會影響測量的讀(du)數。
⒏在(zai)進行測(ce)試的時候(hou)要注意儀器測(ce)頭(tou)和被測(ce)試件的要直接接觸，因此超聲波測(ce)厚儀在(zai)進行對側(ce)頭(tou)清除附(fu)著(zhu)物質。
1、激(ji)光(guang)測(ce)厚(hou)(hou)儀是利用激(ji)光(guang)的(de)反射原理，根據(ju)光(guang)切(qie)法測(ce)量和觀察機械制造中零件加(jia)工(gong)(gong)表面的(de)微觀幾何(he)形(xing)狀來(lai)測(ce)量產品的(de)厚(hou)(hou)度，是一(yi)種(zhong)非接觸式(shi)的(de)動態(tai)測(ce)量儀器。它可直接輸出(chu)數字信號與工(gong)(gong)業計算機相連接，并(bing)迅速處理數據(ju)并(bing)輸出(chu)偏差值到各種(zhong)工(gong)(gong)業設備。
2、X射線測(ce)厚儀(yi)利用(yong)X射線穿透被測(ce)材(cai)料時(shi)，X射線的(de)強度(du)的(de)變化與材(cai)料的(de)厚度(du)相關的(de)特性，滄州(zhou)歐譜從而測(ce)定(ding)材(cai)料的(de)厚度(du)，是(shi)一(yi)種非接觸式的(de)動態計量儀(yi)器。它(ta)以PLC和(he)工業計算機為(wei)核心，采集計算數據并輸出目標(biao)偏(pian)差值(zhi)給(gei)軋(ya)機厚度(du)控制系(xi)統，達(da)到要(yao)求的(de)軋(ya)制厚度(du)。主要(yao)應用(yong)行業：有色金屬的(de)板帶(dai)箔加(jia)工、冶(ye)金行業的(de)板帶(dai)加(jia)工。
3、紙(zhi)張測厚(hou)儀：適用(yong)于(yu)4mm以(yi)下的各種薄膜、紙(zhi)張、紙(zhi)板以(yi)及其他片(pian)狀(zhuang)材(cai)料厚(hou)度的測量。
4、薄膜測(ce)厚儀：用于測(ce)定薄膜、薄片等(deng)材料的厚度，測(ce)量范圍寬、測(ce)量精(jing)度高，具有數據(ju)輸出、任意(yi)位置置零(ling)、公英(ying)制轉(zhuan)換、自動斷電等(deng)特(te)點。
5、涂(tu)層測厚儀：用于測量鐵(tie)及非鐵(tie)金屬(shu)基體上涂(tu)層的厚度。
6、超(chao)(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)測(ce)(ce)厚(hou)儀(yi)：超(chao)(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)測(ce)(ce)厚(hou)儀(yi)是(shi)根據超(chao)(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)脈(mo)沖(chong)反(fan)射(she)(she)原(yuan)理(li)來進行厚(hou)度測(ce)(ce)量(liang)的(de)，當探(tan)頭(tou)發射(she)(she)的(de)超(chao)(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)脈(mo)沖(chong)通(tong)過(guo)被(bei)測(ce)(ce)物(wu)體(ti)到達(da)材料分界面時(shi)(shi)，脈(mo)沖(chong)被(bei)反(fan)射(she)(she)回探(tan)頭(tou)，通(tong)過(guo)精確測(ce)(ce)量(liang)超(chao)(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)在材料中傳播(bo)的(de)時(shi)(shi)間來確定被(bei)測(ce)(ce)材料的(de)厚(hou)度。凡能使超(chao)(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)以一恒定速(su)度在其(qi)內部傳播(bo)的(de)各種材料均可采(cai)用(yong)此(ci)原(yuan)理(li)測(ce)(ce)量(liang)。
