CPU的生產流程
1、硅提純
生產CPU等芯片(pian)的材(cai)料是半導體(ti),現階段(duan)主要的材(cai)料是硅Si,這是一(yi)種非金(jin)屬元(yuan)素(su),從化學的(de)角度來看(kan),由于(yu)(yu)它處于(yu)(yu)元(yuan)素(su)周期表(biao)中(zhong)金(jin)屬元(yuan)素(su)區與非金(jin)屬元(yuan)素(su)區的(de)交界處,所以具有半(ban)導(dao)體(ti)的(de)性(xing)質(zhi),適合于(yu)(yu)制(zhi)造各種微小的(de)晶體(ti)管,是目前最適宜(yi)于(yu)(yu)制(zhi)造現代大規模集成(cheng)電路的(de)材料之一(yi)。
在(zai)硅(gui)(gui)提純的過程(cheng)中(zhong),原(yuan)材(cai)料硅(gui)(gui)將被熔化(hua),并放進一(yi)個巨大的石(shi)英(ying)熔爐。這時(shi)向熔爐里放入(ru)一(yi)顆晶種(zhong)(zhong),以(yi)(yi)便硅(gui)(gui)晶體圍著這顆晶種(zhong)(zhong)生長(chang),直(zhi)到形成一(yi)個幾近完美的單晶硅(gui)(gui)。以(yi)(yi)往的硅(gui)(gui)錠的直(zhi)徑大都是200毫米,而CPU廠商正(zheng)在(zai)增加300毫米(mi)晶圓(yuan)的生(sheng)產。
2、切割晶圓
硅錠造出來了,并被(bei)整(zheng)型成一個完美的圓柱體,接下(xia)來將被(bei)切割(ge)成片狀,稱為晶(jing)圓。晶(jing)圓才被(bei)真正用于CPU的(de)制造。所謂的(de)“切割晶圓”也就是用機器從單晶硅棒上切割下一片事先確定規格的(de)硅晶片,并將(jiang)其劃(hua)分成多個細(xi)小的(de)區(qu)域(yu)(yu),每個區(qu)域(yu)(yu)都將(jiang)成為一個CPU的內(nei)核(Die)。一般(ban)來說,晶圓切得越薄,相同量的(de)硅材料能夠制造的(de)CPU成品就越多。
3、影印
在經過熱處理得(de)到的硅(gui)氧化(hua)物(wu)層上面涂敷(fu)一種光阻(Photoresist)物質,紫(zi)外線通(tong)過印制著CPU復(fu)雜電(dian)路結(jie)構圖樣的(de)模板照射硅基片,被紫外(wai)線照射的(de)地方光(guang)(guang)阻物質(zhi)溶解。而為(wei)了避免讓不需要(yao)被曝光(guang)(guang)的(de)區域也受到光(guang)(guang)的(de)干(gan)擾(rao),必須制作(zuo)遮罩來(lai)遮蔽這(zhe)些(xie)區域。這(zhe)是(shi)個相當復(fu)雜的(de)過(guo)程,每一個遮罩的(de)復(fu)雜程度(du)得用10GB數據來描述(shu)。
4、蝕刻
這是CPU生產過程中重要操作,也是CPU工業(ye)中的(de)重頭技術。蝕(shi)刻(ke)技術把對(dui)光(guang)(guang)(guang)(guang)的(de)應用推向了極(ji)限。蝕(shi)刻(ke)使(shi)用的(de)是波長很短(duan)(duan)的(de)紫外(wai)光(guang)(guang)(guang)(guang)并配(pei)合很大的(de)鏡頭。短(duan)(duan)波長的(de)光(guang)(guang)(guang)(guang)將透過這些石英遮罩的(de)孔照在光(guang)(guang)(guang)(guang)敏抗蝕(shi)膜(mo)(mo)上,使(shi)之曝光(guang)(guang)(guang)(guang)。接下來(lai)停止光(guang)(guang)(guang)(guang)照并移(yi)除遮罩,使(shi)用特定的(de)化學(xue)溶液清洗(xi)掉(diao)被曝光(guang)(guang)(guang)(guang)的(de)光(guang)(guang)(guang)(guang)敏抗蝕(shi)膜(mo)(mo),以及在下面(mian)緊貼(tie)著(zhu)抗蝕(shi)膜(mo)(mo)的(de)一層硅。
然后,曝光的(de)硅將被原子(zi)轟擊,使得暴(bao)露的(de)硅基片局部摻(chan)雜,從而(er)改變這些區(qu)域的(de)導電狀(zhuang)態,以制造出N井(jing)或P井,結合(he)上(shang)面制造的基片(pian),CPU的(de)門(men)電路(lu)就完成(cheng)了(le)。
5、重復、分層
為加(jia)工新的一層電路,再次生長硅(gui)氧化物(wu),然(ran)后沉積一層多(duo)晶(jing)硅(gui),涂(tu)敷光阻(zu)物(wu)質,重復影印(yin)、蝕刻過程,得到含多(duo)晶(jing)硅(gui)和硅(gui)氧化物(wu)的溝槽(cao)結構。重復多(duo)遍,形成一個3D的結(jie)構,這才是最終(zhong)的CPU的核心。每幾層中間(jian)都要填上金屬作為導體。Intel的(de)Pentium 4處理器(qi)有7層,而AMD的Athlon 64則達到(dao)了9層(ceng)。層(ceng)數決定于設計時CPU的(de)布(bu)局(ju),以(yi)及通過的(de)電流大小(xiao)。
6、封裝
這(zhe)時的CPU是一(yi)塊(kuai)塊(kuai)晶(jing)圓,它還不能直接(jie)被用(yong)(yong)戶(hu)使用(yong)(yong),必須將它封(feng)入一(yi)個陶瓷的(de)或(huo)塑料的(de)封(feng)殼中,這樣它就可以很容(rong)易地裝在一(yi)塊(kuai)電(dian)路板上了。封(feng)裝結(jie)構各有不同,但越高級的(de)CPU封裝也越復雜(za),新(xin)的(de)(de)封裝往往能(neng)帶(dai)來(lai)芯片電氣性(xing)能(neng)和(he)穩定性(xing)的(de)(de)提升(sheng),并能(neng)間接地為主頻的(de)(de)提升(sheng)提供堅實可靠的(de)(de)基(ji)礎。
7、多次測試
測試是(shi)一(yi)個CPU制造的(de)重要環節,也是一塊CPU出(chu)廠前必要(yao)的考驗。這(zhe)一步將測試晶圓(yuan)的電(dian)氣性能,以檢查是否出(chu)了什(shen)么差(cha)錯,以及這(zhe)些差(cha)錯出(chu)現在(zai)哪個(ge)步驟(如果可能的話(hua))。接下來(lai),晶圓(yuan)上(shang)的每個(ge)CPU核心都將被(bei)分(fen)開測(ce)試(shi)。
由于SRAM(靜態隨(sui)機存儲器(qi),CPU中緩(huan)存的基本組成)結構復(fu)雜(za)、密度(du)高,所以緩(huan)存是CPU中容易出問題(ti)的部分,對緩存的測試也是CPU測試中的(de)重(zhong)要部(bu)分(fen)。
每(mei)塊CPU將被進行完全測(ce)試,以檢驗其全部功能(neng)。某些(xie)CPU能夠在較(jiao)高(gao)的(de)頻率下(xia)運行,所(suo)以被標上了(le)較(jiao)高(gao)的(de)頻率;而有些CPU因為(wei)種種原(yuan)因運行(xing)頻率較低(di),所以被(bei)標(biao)上了較低(di)的頻率。最(zui)后,個別CPU可能存(cun)在某些(xie)功能上的缺陷,如(ru)果問(wen)題出在緩(huan)存(cun)上,制造商仍(reng)然可以(yi)屏蔽掉它(ta)的部分緩(huan)存(cun),這(zhe)意(yi)味(wei)著這(zhe)塊CPU依然能夠出售,只(zhi)是(shi)它可能是(shi)Celeron等低端產品。
當CPU被放(fang)(fang)進(jin)包(bao)(bao)裝盒(he)之(zhi)前,一般還要進(jin)行最(zui)后一次測試,以確(que)保之(zhi)前的(de)工作(zuo)準(zhun)確(que)無誤。根據前面確(que)定的(de)最(zui)高運行頻率和緩存(cun)的(de)不同,它們被放(fang)(fang)進(jin)不同的(de)包(bao)(bao)裝,銷(xiao)往世界(jie)各地(di)。
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