【萬(wan)用表(biao)測電阻】如何使用萬(wan)用表(biao)測電阻 指針萬用表測(ce)電阻的方法

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通用萬用表測電阻的方法

1、我們(men)所使用(yong)(yong)的萬用(yong)(yong)表，不管是(shi)在測(ce)電壓還是(shi)電流，電阻，都是(shi)公用(yong)(yong)的一個表頭。在需要測(ce)量電阻時，我們(men)首先要調(diao)到(dao)歐姆檔(dang)。

2、測量之前若是表的指針或是數字萬(wan)用表二表臂(bei)短路時讀數不為零(ling)，就必須先把(ba)它調(diao)到零(ling)位。

3、選(xuan)擇倍率，利用(yong)萬用(yong)表測電阻，為了便于準(zhun)確地(di)讀數(shu)，要盡可能(neng)使表針指在表盤中(zhong)間部位，所以需(xu)要恰當地(di)選(xuan)擇倍率擋(dang)。

4、讀(du)出萬用表上顯示(shi)的(de)數字，再(zai)乘(cheng)以倍率就是本(ben)電阻(zu)(zu)的(de)阻(zu)(zu)值。

萬用表測電阻的原理

萬用表測電阻原理其實就是根據歐姆定律而來的。萬用表中，它的電壓就是電池的(de)(de)電(dian)壓(ya)；它(ta)的(de)(de)阻(zu)(zu)值(zhi)有幾個(ge)，包括我們要(yao)測(ce)試的(de)(de)電(dian)阻(zu)(zu)，它(ta)的(de)(de)可調(diao)(diao)(diao)電(dian)阻(zu)(zu)(萬用表(biao)不同檔位，它(ta)的(de)(de)內(nei)阻(zu)(zu)是不同的(de)(de))，還有它(ta)的(de)(de)定電(dian)阻(zu)(zu)。而電(dian)流(liu)是在我們的(de)(de)測(ce)試電(dian)阻(zu)(zu)等于零(ling)時算出來的(de)(de)。這(zhe)樣我們就(jiu)得(de)出一個(ge)公(gong)式：I=U/(Rg+R定+R調(diao)(diao)(diao)+R測(ce))U是它(ta)內(nei)部(bu)電(dian)池的(de)(de)電(dian)壓(ya)，Rg是表(biao)頭的(de)(de)電(dian)阻(zu)(zu)，R定，與表(biao)頭串聯的(de)(de)一個(ge)定值(zhi)電(dian)阻(zu)(zu)，R調(diao)(diao)(diao)，調(diao)(diao)(diao)零(ling)的(de)(de)可變(bian)電(dian)阻(zu)(zu)，R測(ce)，要(yao)測(ce)量的(de)(de)電(dian)阻(zu)(zu)。由于要(yao)測(ce)量的(de)(de)電(dian)阻(zu)(zu)大(da)小范圍不同，使用的(de)(de)定值(zhi)電(dian)阻(zu)(zu)也(ye)不同，這(zhe)使得(de)用萬用表(biao)分為幾檔。

用(yong)(yong)萬用(yong)(yong)表上測(ce)量時，電(dian)阻讀數實際是(shi)(shi)(shi)電(dian)流讀數，只(zhi)是(shi)(shi)(shi)將R測(ce)=0時的電(dian)流：I=U/(Rg+R定(ding)+R調)標成R=0，沒(mei)有(you)電(dian)流時，電(dian)阻標在無阻大(da)，I與是(shi)(shi)(shi)一個函數關系，它(ta)們(men)不(bu)是(shi)(shi)(shi)簡單的正(zheng)比關系。選(xuan)用(yong)(yong)不(bu)同的電(dian)阻檔，R定(ding)不(bu)同，R=0時，I是(shi)(shi)(shi)不(bu)同的，所以每(mei)次測(ce)量之(zhi)前都(dou)要調零。

如何使用萬用表測不同電阻

1、固定電阻測試方法

將兩表筆（不(bu)分正負）分別與電(dian)(dian)阻的兩端引腳相接，即可(ke)測出實際電(dian)(dian)阻值(zhi)。為了(le)提高測量(liang)精度；應(ying)根據被測電(dian)(dian)阻標稱值(zhi)的大(da)小來選擇量(liang)程。

測試經驗：

（1）由于電阻(zu)擋刻度(du)的(de)(de)非線性關系；它的(de)(de)中間一段(duan)分布較為精細，因此(ci)應使(shi)(shi)指(zhi)針指(zhi)示值(zhi)(zhi)盡可能落到刻度(du)的(de)(de)中段(duan)位置，即(ji)全(quan)刻度(du)起始的(de)(de)20％—80％弧度(du)范(fan)圍(wei)內(nei)，以使(shi)(shi)測量更準確。根據電阻(zu)誤差等級(ji)不(bu)同(tong)，讀(du)數(shu)與(yu)標(biao)稱阻(zu)值(zhi)(zhi)之(zhi)間分別允許(xu)有土5％、±10％或(huo)±20％的(de)(de)誤差。如(ru)不(bu)相符，超出誤差范(fan)圍(wei)，則(ze)說明該電阻(zu)變值(zhi)(zhi)了(le)。

（2）測(ce)試(shi)時，特別是在(zai)測(ce)幾十k歐姆以上阻(zu)值(zhi)的(de)電(dian)阻(zu)時，手不(bu)要觸(chu)及表筆和電(dian)阻(zu)的(de)導電(dian)部分，被檢測(ce)的(de)電(dian)阻(zu)從(cong)電(dian)路中焊(han)下來，至少要焊(han)開一端，以免電(dian)路中的(de)其(qi)他元件對測(ce)試(shi)產生影響，造(zao)成(cheng)測(ce)量(liang)誤差(cha)，色環(huan)電(dian)阻(zu)的(de)阻(zu)值(zhi)雖(sui)然能以色環(huan)標志來確定，但在(zai)使(shi)用(yong)(yong)時最好用(yong)(yong)萬用(yong)(yong)表測(ce)一下其(qi)實際阻(zu)值(zhi)。

針對水(shui)泥(ni)電阻(zu)的(de)檢測，由于它通(tong)常也是固(gu)定(ding)電阻(zu)，所以檢測水(shui)泥(ni)電阻(zu)的(de)方法與檢測普通(tong)固(gu)定(ding)電阻(zu)完全相同。

2、熔斷電阻測試方法

（1）在電(dian)路中，當熔(rong)斷(duan)(duan)電(dian)阻(zu)器熔(rong)斷(duan)(duan)開路后,可根據經(jing)驗作(zuo)出判(pan)斷(duan)(duan);若發(fa)現熔(rong)斷(duan)(duan)電(dian)阻(zu)器表面(mian)發(fa)黑或燒焦，可斷(duan)(duan)定(ding)(ding)是其負荷過(guo)重，通(tong)過(guo)它的(de)電(dian)流超過(guo)額定(ding)(ding)值很(hen)多倍所致(zhi)；如其表面(mian)無任何痕跡(ji)而開路，則(ze)表明流過(guo)的(de)電(dian)流剛(gang)好等于或稍大于其額定(ding)(ding)熔(rong)斷(duan)(duan)值。

（2）對于表面無(wu)任何痕跡(ji)的(de)熔(rong)斷電(dian)阻器(qi)(qi)好壞的(de)判斷，可借助萬用(yong)表Rxl擋來測量，為保證測量準(zhun)確，應將熔(rong)斷電(dian)阻器(qi)(qi)一端從電(dian)路上焊下(xia)。若測得的(de)阻值為無(wu)窮大，則說明此(ci)熔(rong)斷電(dian)阻器(qi)(qi)已失(shi)效開路，若測得的(de)阻值與標(biao)稱值梧差甚遠，表明電(dian)阻變(bian)值，也不宜再使(shi)用(yong)。

測(ce)試經驗；實踐中(zhong)，也有少(shao)數熔(rong)斷電(dian)阻器在電(dian)路中(zhong)被(bei)擊穿(chuan)或(huo)短路的現象(xiang)。

3、電位器測試方法

（1）檢查電(dian)(dian)位(wei)器(qi)時(shi)，首先(xian)要轉動(dong)旋柄(bing)，試一試旋柄(bing)轉動(dong)是否平滑，開關(guan)是否靈活。開關(guan)通、斷時(shi)"喀噠"聲是否清脆，并聽一聽電(dian)(dian)位(wei)器(qi)內部接觸點(dian)和電(dian)(dian)阻體摩擦(ca)的聲音，如有(you)“沙沙”聲，說明質(zhi)量不好。

（2）用(yong)(yong)萬(wan)用(yong)(yong)表測試(shi)時，先根據被測電(dian)位器阻值(zhi)，選擇好萬(wan)用(yong)(yong)表的(de)合適電(dian)阻擋(dang)位，然后可按下(xia)述方法進行檢測。

用萬(wan)用表(biao)的(de)(de)(de)(de)電(dian)(dian)阻(zu)擋(dang)測(ce)“1”、“3”兩(liang)端，其讀數應(ying)(ying)為(wei)電(dian)(dian)位器(qi)(qi)(qi)的(de)(de)(de)(de)標稱阻(zu)值(zhi)，如萬(wan)用表(biao)的(de)(de)(de)(de)指針(zhen)不動或阻(zu)值(zhi)相差很多，則表(biao)明該電(dian)(dian)位器(qi)(qi)(qi)已(yi)損壞。檢測(ce)電(dian)(dian)位器(qi)(qi)(qi)的(de)(de)(de)(de)活(huo)動臂與電(dian)(dian)阻(zu)片的(de)(de)(de)(de)接觸(chu)是(shi)否良好(hao)(hao)。用萬(wan)用表(biao)的(de)(de)(de)(de)電(dian)(dian)阻(zu)擋(dang)測(ce)“l”、“2”兩(liang)端，將電(dian)(dian)位器(qi)(qi)(qi)的(de)(de)(de)(de)轉軸(zhou)2按逆時針(zhen)方向旋(xuan)至接近(jin)(jin)“關(guan)”的(de)(de)(de)(de)位置，這時電(dian)(dian)阻(zu)值(zhi)越(yue)(yue)小越(yue)(yue)好(hao)(hao)。再順時針(zhen)慢慢旋(xuan)轉軸(zhou)柄(bing)，電(dian)(dian)阻(zu)值(zhi)應(ying)(ying)逐漸增大，表(biao)頭中的(de)(de)(de)(de)指針(zhen)應(ying)(ying)平穩移動。當軸(zhou)柄(bing)旋(xuan)至極端位置“3”時，阻(zu)值(zhi)應(ying)(ying)接近(jin)(jin)電(dian)(dian)位器(qi)(qi)(qi)的(de)(de)(de)(de)標稱值(zhi)（測(ce)“2”、“3”兩(liang)端時類似）。

測試(shi)經驗：如萬用表的(de)指針(zhen)在電位器的(de)軸(zhou)柄轉動(dong)過程(cheng)中(zhong)有跳動(dong)現象(xiang)，說明活(huo)動(dong)觸(chu)點有接觸(chu)不良的(de)故障。

4、正溫度系數熱敏電阻（PTC）測試方法

用萬(wan)用表Rxl擋，具體可分兩(liang)步操作：一(yi)是(shi)常溫(wen)(wen)檢(jian)測(ce)（室內(nei)(nei)溫(wen)(wen)度接近(jin)25℃），將(jiang)兩(liang)表筆接觸PTC熱(re)敏(min)電阻(zu)(zu)(zu)(zu)(zu)(zu)的(de)兩(liang)引腳測(ce)出(chu)其(qi)實際(ji)阻(zu)(zu)(zu)(zu)(zu)(zu)值，并與標稱阻(zu)(zu)(zu)(zu)(zu)(zu)值相對比，二(er)者相差(cha)在(zai)_±2Ω內(nei)(nei)即(ji)(ji)為(wei)正常。實際(ji)阻(zu)(zu)(zu)(zu)(zu)(zu)值若(ruo)(ruo)與標稱阻(zu)(zu)(zu)(zu)(zu)(zu)值相差(cha)過大，則說明其(qi)性能不(bu)良或已(yi)損壞。二(er)是(shi)加(jia)溫(wen)(wen)檢(jian)測(ce)，在(zai)常溫(wen)(wen)測(ce)試正常的(de)基(ji)礎上，即(ji)(ji)可進行第(di)二(er)步測(ce)試，加(jia)溫(wen)(wen)檢(jian)測(ce)，將(jiang)一(yi)熱(re)源（例如(ru)電烙(luo)鐵）靠近(jin)PTC熱(re)敏(min)電阻(zu)(zu)(zu)(zu)(zu)(zu)對其(qi)加(jia)熱(re)，同(tong)時(shi)用萬(wan)用表監測(ce)其(qi)電阻(zu)(zu)(zu)(zu)(zu)(zu)值是(shi)否隨(sui)溫(wen)(wen)度的(de)升(sheng)高而增大，如(ru)是(shi)，說明熱(re)敏(min)電阻(zu)(zu)(zu)(zu)(zu)(zu)正常，若(ruo)(ruo)阻(zu)(zu)(zu)(zu)(zu)(zu)值無(wu)變(bian)化(hua)，說明其(qi)性能變(bian)劣，不(bu)能繼續使用。

測試經驗：不要使熱源與PTC熱敏(min)電阻靠得過近(jin)或直接接觸熱敏(min)電阻，以(yi)防止將其燙壞。

5、負溫度系數熱敏電阻（NTC）測試方法

（1）測量標稱電阻(zu)值(zhi)Rt。用萬用表測量NTC熱敏(min)電阻(zu)的(de)(de)方法與測量普(pu)通(tong)固(gu)定(ding)電阻(zu)的(de)(de)方法相同，即根(gen)據NTC熱敏(min)電阻(zu)的(de)(de)標稱阻(zu)值(zhi)選擇合適的(de)(de)電阻(zu)擋，可直接(jie)測出Rt的(de)(de)實際值(zhi)。

（2）估測(ce)溫(wen)度(du)系數。先(xian)在(zai)室溫(wen)T1下測(ce)得電阻(zu)值(zhi)Rtl，再(zai)用電烙鐵作熱(re)源，靠近熱(re)敏(min)電阻(zu)Rt，測(ce)出電阻(zu)值(zhi)RT2，同時(shi)用溫(wen)度(du)計(ji)測(ce)出此時(shi)熱(re)敏(min)電阻(zu)RT表面(mian)的平均溫(wen)度(du)t2再(zai)進行(xing)計(ji)算。

測(ce)試經驗：因NTC熱敏電阻對(dui)溫(wen)度很敏感，故測(ce)試時應注意(yi)以(yi)下幾(ji)點：

（1）Rt是生產(chan)廠家在(zai)(zai)環境溫(wen)度(du)為25℃時(shi)所測(ce)得的，所以(yi)(yi)用(yong)萬用(yong)表(biao)測(ce)量Rt時(shi)，亦(yi)應在(zai)(zai)環境溫(wen)度(du)接近25~C時(shi)進(jin)行(xing)，以(yi)(yi)保證測(ce)試的可信度(du)。

（2）測量(liang)功(gong)率不(bu)得超過規定值，以(yi)(yi)免電流熱(re)效應引起(qi)測量(liang)誤差。測試(shi)時，不(bu)要用手捏住(zhu)熱(re)敏電阻體，以(yi)(yi)防止人(ren)體溫(wen)度對(dui)測試(shi)產生影響。

6、壓敏電阻測試方法

用萬用表的Rxlk擋測量壓敏(min)電阻兩引腳之(zhi)間(jian)的正、反向(xiang)絕緣電阻，均應為無窮大。

測試經驗：如測得的阻值(zhi)不是(shi)無(wu)窮大(da)，說(shuo)明(ming)有(you)漏電流。若所(suo)測阻值(zhi)很小，說(shuo)明(ming)壓敏電阻已損壞；不能使用。

7、光敏電阻測試方法

（1）用一黑紙片將光敏電阻的透光窗口遮住，此時萬(wan)用表的指針基本保持不動，阻值接近無(wu)窮(qiong)大(da)。

（2）將(jiang)一光源對準光敏電阻(zu)的透光窗口(kou)，此時萬(wan)用表的指(zhi)針應(ying)有較大(da)幅度的擺動，阻(zu)值明顯(xian)減小。

（3）將光(guang)(guang)敏(min)電阻透(tou)光(guang)(guang)窗(chuang)口(kou)對(dui)準入射光(guang)(guang)線，用小黑(hei)(hei)紙片(pian)在(zai)光(guang)(guang)敏(min)電阻的遮(zhe)光(guang)(guang)窗(chuang)上部(bu)晃(huang)動(dong)，使(shi)其間斷受光(guang)(guang)，此時萬用表指(zhi)針應隨(sui)黑(hei)(hei)紙片(pian)的晃(huang)動(dong)而左(zuo)右擺(bai)動(dong)。如果(guo)萬用表指(zhi)針始終停在(zai)某一位置(zhi)不隨(sui)紙片(pian)晃(huang)動(dong)而擺(bai)動(dong)，說明光(guang)(guang)敏(min)電阻的光(guang)(guang)敏(min)材料已經(jing)損(sun)壞。

測(ce)試經(jing)驗：針對方法（1），測(ce)試值(zhi)(zhi)越大，說(shuo)(shuo)明(ming)(ming)光(guang)敏電(dian)阻(zu)性(xing)能(neng)(neng)越好。若(ruo)此(ci)(ci)值(zhi)(zhi)很小或(huo)接近零(ling)，說(shuo)(shuo)明(ming)(ming)光(guang)敏電(dian)阻(zu)已燒穿損(sun)壞，不能(neng)(neng)再(zai)用。針對方法（2），此(ci)(ci)值(zhi)(zhi)越小說(shuo)(shuo)明(ming)(ming)光(guang)敏電(dian)阻(zu)性(xing)能(neng)(neng)越好。若(ruo)此(ci)(ci)值(zhi)(zhi)很大，表明(ming)(ming)光(guang)敏電(dian)阻(zu)內部開路損(sun)壞，不能(neng)(neng)再(zai)用。