【萬用(yong)表測電阻(zu)】如(ru)何使用(yong)萬用(yong)表測電阻(zu) 指針萬(wan)用表測電阻的(de)方(fang)法

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通用萬用表測電阻的方法

1、我們所使用(yong)的萬用(yong)表(biao)，不管是(shi)在測電(dian)壓(ya)還是(shi)電(dian)流，電(dian)阻，都是(shi)公用(yong)的一個表(biao)頭。在需要(yao)測量電(dian)阻時，我們首(shou)先(xian)要(yao)調到歐姆檔(dang)。

2、測量之前若是(shi)表(biao)的指針或是(shi)數(shu)字萬(wan)用表(biao)二(er)表(biao)臂短路時讀數(shu)不為零，就必須先把它調(diao)到(dao)零位。

3、選擇倍(bei)率，利用萬用表(biao)(biao)測電(dian)阻，為(wei)了便于準確地讀數，要盡(jin)可能使表(biao)(biao)針指在(zai)表(biao)(biao)盤(pan)中間部位，所以需要恰當地選擇倍(bei)率擋(dang)。

4、讀出(chu)萬(wan)用表上(shang)顯示的數字，再(zai)乘(cheng)以倍率就是(shi)本電阻的阻值。

萬用表測電阻的原理

萬用表測電阻原理其實就是根據歐姆定律而來的。萬用表中，它的電壓就是電池的(de)(de)電(dian)(dian)(dian)(dian)壓；它的(de)(de)阻(zu)(zu)值(zhi)有幾(ji)個，包(bao)括我(wo)(wo)們(men)(men)(men)要(yao)測(ce)試的(de)(de)電(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)，它的(de)(de)可(ke)調(diao)(diao)電(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)(萬用(yong)表(biao)不同檔(dang)位，它的(de)(de)內阻(zu)(zu)是(shi)不同的(de)(de))，還有它的(de)(de)定(ding)電(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)。而電(dian)(dian)(dian)(dian)流(liu)是(shi)在我(wo)(wo)們(men)(men)(men)的(de)(de)測(ce)試電(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)等(deng)于零(ling)時算出來的(de)(de)。這(zhe)樣(yang)我(wo)(wo)們(men)(men)(men)就得出一個公(gong)式：I=U/(Rg+R定(ding)+R調(diao)(diao)+R測(ce))U是(shi)它內部電(dian)(dian)(dian)(dian)池的(de)(de)電(dian)(dian)(dian)(dian)壓，Rg是(shi)表(biao)頭的(de)(de)電(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)，R定(ding)，與表(biao)頭串聯的(de)(de)一個定(ding)值(zhi)電(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)，R調(diao)(diao)，調(diao)(diao)零(ling)的(de)(de)可(ke)變電(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)，R測(ce)，要(yao)測(ce)量的(de)(de)電(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)。由于要(yao)測(ce)量的(de)(de)電(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)大(da)小范圍不同，使用(yong)的(de)(de)定(ding)值(zhi)電(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)(zu)也不同，這(zhe)使得用(yong)萬用(yong)表(biao)分(fen)為幾(ji)檔(dang)。

用(yong)萬用(yong)表上測(ce)(ce)量時(shi)(shi)，電(dian)阻讀數(shu)實際是(shi)(shi)電(dian)流(liu)讀數(shu)，只是(shi)(shi)將R測(ce)(ce)=0時(shi)(shi)的(de)(de)電(dian)流(liu)：I=U/(Rg+R定+R調)標成R=0，沒有電(dian)流(liu)時(shi)(shi)，電(dian)阻標在(zai)無(wu)阻大，I與是(shi)(shi)一(yi)個函數(shu)關(guan)系(xi)，它們不(bu)是(shi)(shi)簡單的(de)(de)正(zheng)比關(guan)系(xi)。選用(yong)不(bu)同的(de)(de)電(dian)阻檔，R定不(bu)同，R=0時(shi)(shi)，I是(shi)(shi)不(bu)同的(de)(de)，所以每次測(ce)(ce)量之前都要調零。

如何使用萬用表測不同電阻

1、固定電阻測試方法

將(jiang)兩表筆(bi)（不分(fen)正(zheng)負）分(fen)別與電(dian)阻(zu)的(de)(de)兩端引腳相(xiang)接，即可測(ce)出實際電(dian)阻(zu)值(zhi)。為了(le)提高測(ce)量(liang)精(jing)度；應根(gen)據被測(ce)電(dian)阻(zu)標稱(cheng)值(zhi)的(de)(de)大小(xiao)來(lai)選擇(ze)量(liang)程。

測試經驗：

（1）由于電阻(zu)擋刻(ke)(ke)度的非線性關系；它的中間一段分布較(jiao)為精細，因此應使(shi)指(zhi)(zhi)針指(zhi)(zhi)示值(zhi)盡可能落到刻(ke)(ke)度的中段位(wei)置，即全刻(ke)(ke)度起始的20％—80％弧度范圍內，以使(shi)測量更準確。根據電阻(zu)誤差等級不(bu)同(tong)，讀數與標稱(cheng)阻(zu)值(zhi)之間分別(bie)允許有土(tu)5％、±10％或±20％的誤差。如不(bu)相符，超出誤差范圍，則(ze)說明該電阻(zu)變值(zhi)了(le)。

（2）測(ce)試時(shi)，特別是在測(ce)幾十k歐姆(mu)以(yi)(yi)上阻值的(de)電(dian)阻時(shi)，手不要觸(chu)及表(biao)筆和電(dian)阻的(de)導電(dian)部分，被檢測(ce)的(de)電(dian)阻從(cong)電(dian)路(lu)中焊下(xia)來，至少要焊開一(yi)端(duan)，以(yi)(yi)免電(dian)路(lu)中的(de)其他元件對測(ce)試產(chan)生影(ying)響，造成測(ce)量誤差，色(se)環電(dian)阻的(de)阻值雖然能(neng)以(yi)(yi)色(se)環標志來確定(ding)，但在使(shi)用時(shi)最好(hao)用萬用表(biao)測(ce)一(yi)下(xia)其實際阻值。

針對水泥電阻(zu)的檢測，由于它通(tong)(tong)常也(ye)是固(gu)(gu)定電阻(zu)，所以(yi)檢測水泥電阻(zu)的方法與檢測普通(tong)(tong)固(gu)(gu)定電阻(zu)完全相同。

2、熔斷電阻測試方法

（1）在電路(lu)(lu)(lu)中，當熔斷(duan)電阻器(qi)(qi)熔斷(duan)開(kai)路(lu)(lu)(lu)后,可(ke)根(gen)據經驗作出(chu)判斷(duan);若(ruo)發(fa)(fa)現熔斷(duan)電阻器(qi)(qi)表(biao)面發(fa)(fa)黑或(huo)燒(shao)焦，可(ke)斷(duan)定(ding)(ding)是其負荷(he)過(guo)重(zhong)，通(tong)過(guo)它(ta)的電流(liu)超(chao)過(guo)額定(ding)(ding)值很多倍所致；如其表(biao)面無任(ren)何(he)痕(hen)跡而開(kai)路(lu)(lu)(lu)，則表(biao)明流(liu)過(guo)的電流(liu)剛好等于(yu)或(huo)稍大于(yu)其額定(ding)(ding)熔斷(duan)值。

（2）對于表(biao)面(mian)無(wu)任何痕跡(ji)的(de)熔斷(duan)電(dian)(dian)阻器(qi)好壞的(de)判斷(duan)，可借助(zhu)萬用表(biao)Rxl擋來(lai)測(ce)量，為保證測(ce)量準確，應(ying)將熔斷(duan)電(dian)(dian)阻器(qi)一端(duan)從電(dian)(dian)路上焊下。若測(ce)得的(de)阻值(zhi)為無(wu)窮(qiong)大，則(ze)說明此熔斷(duan)電(dian)(dian)阻器(qi)已失效開路，若測(ce)得的(de)阻值(zhi)與標稱值(zhi)梧(wu)差甚遠，表(biao)明電(dian)(dian)阻變值(zhi)，也不(bu)宜再使用。

測試(shi)經驗(yan)；實踐中，也有少(shao)數熔(rong)斷電阻器在電路(lu)中被(bei)擊穿或短路(lu)的現象(xiang)。

3、電位器測試方法

（1）檢查(cha)電位器(qi)時，首先要轉動(dong)旋柄(bing)，試(shi)一試(shi)旋柄(bing)轉動(dong)是否(fou)平(ping)滑，開關是否(fou)靈(ling)活。開關通、斷時"喀噠"聲(sheng)是否(fou)清脆(cui)，并聽一聽電位器(qi)內部接(jie)觸點和電阻(zu)體摩(mo)擦的(de)聲(sheng)音，如(ru)有“沙沙”聲(sheng)，說明質量不好。

（2）用(yong)(yong)(yong)萬(wan)用(yong)(yong)(yong)表測(ce)(ce)試時(shi)，先(xian)根(gen)據被測(ce)(ce)電(dian)位(wei)器阻值，選擇(ze)好萬(wan)用(yong)(yong)(yong)表的(de)合適(shi)電(dian)阻擋位(wei)，然后可按下述方法進行(xing)檢(jian)測(ce)(ce)。

用(yong)(yong)(yong)萬(wan)(wan)用(yong)(yong)(yong)表(biao)的(de)(de)(de)(de)電(dian)阻(zu)(zu)(zu)(zu)擋測(ce)(ce)“1”、“3”兩(liang)端(duan)，其(qi)讀數應為(wei)電(dian)位(wei)器(qi)的(de)(de)(de)(de)標稱(cheng)(cheng)阻(zu)(zu)(zu)(zu)值(zhi)(zhi)(zhi)，如(ru)萬(wan)(wan)用(yong)(yong)(yong)表(biao)的(de)(de)(de)(de)指(zhi)針不動(dong)或阻(zu)(zu)(zu)(zu)值(zhi)(zhi)(zhi)相差很多，則表(biao)明該電(dian)位(wei)器(qi)已(yi)損壞。檢測(ce)(ce)電(dian)位(wei)器(qi)的(de)(de)(de)(de)活動(dong)臂與電(dian)阻(zu)(zu)(zu)(zu)片的(de)(de)(de)(de)接(jie)觸(chu)是否良好(hao)。用(yong)(yong)(yong)萬(wan)(wan)用(yong)(yong)(yong)表(biao)的(de)(de)(de)(de)電(dian)阻(zu)(zu)(zu)(zu)擋測(ce)(ce)“l”、“2”兩(liang)端(duan)，將電(dian)位(wei)器(qi)的(de)(de)(de)(de)轉軸2按逆時(shi)(shi)針方向旋至接(jie)近(jin)“關(guan)”的(de)(de)(de)(de)位(wei)置(zhi)，這時(shi)(shi)電(dian)阻(zu)(zu)(zu)(zu)值(zhi)(zhi)(zhi)越(yue)小越(yue)好(hao)。再順(shun)時(shi)(shi)針慢慢旋轉軸柄，電(dian)阻(zu)(zu)(zu)(zu)值(zhi)(zhi)(zhi)應逐漸增大(da)，表(biao)頭中的(de)(de)(de)(de)指(zhi)針應平穩移動(dong)。當軸柄旋至極端(duan)位(wei)置(zhi)“3”時(shi)(shi)，阻(zu)(zu)(zu)(zu)值(zhi)(zhi)(zhi)應接(jie)近(jin)電(dian)位(wei)器(qi)的(de)(de)(de)(de)標稱(cheng)(cheng)值(zhi)(zhi)(zhi)（測(ce)(ce)“2”、“3”兩(liang)端(duan)時(shi)(shi)類似）。

測試經驗：如萬用表的指針在(zai)電位器的軸柄轉動(dong)過程中有跳動(dong)現象，說明活動(dong)觸點有接觸不良的故障。

4、正溫度系數熱敏電阻（PTC）測試方法

用(yong)萬(wan)用(yong)表Rxl擋，具體可分(fen)兩步操作：一(yi)是(shi)常(chang)溫(wen)(wen)檢測(ce)(ce)（室內溫(wen)(wen)度接近25℃），將兩表筆接觸PTC熱(re)敏電(dian)阻(zu)(zu)的兩引腳測(ce)(ce)出其(qi)實際(ji)阻(zu)(zu)值(zhi)，并與(yu)標稱(cheng)阻(zu)(zu)值(zhi)相對比，二(er)(er)者相差在_±2Ω內即為正(zheng)常(chang)。實際(ji)阻(zu)(zu)值(zhi)若(ruo)與(yu)標稱(cheng)阻(zu)(zu)值(zhi)相差過(guo)大，則說明(ming)其(qi)性(xing)能不(bu)良(liang)或已損壞(huai)。二(er)(er)是(shi)加溫(wen)(wen)檢測(ce)(ce)，在常(chang)溫(wen)(wen)測(ce)(ce)試正(zheng)常(chang)的基礎上，即可進行第二(er)(er)步測(ce)(ce)試，加溫(wen)(wen)檢測(ce)(ce)，將一(yi)熱(re)源（例如電(dian)烙鐵）靠(kao)近PTC熱(re)敏電(dian)阻(zu)(zu)對其(qi)加熱(re)，同時用(yong)萬(wan)用(yong)表監測(ce)(ce)其(qi)電(dian)阻(zu)(zu)值(zhi)是(shi)否隨(sui)溫(wen)(wen)度的升高而增大，如是(shi)，說明(ming)熱(re)敏電(dian)阻(zu)(zu)正(zheng)常(chang)，若(ruo)阻(zu)(zu)值(zhi)無變化，說明(ming)其(qi)性(xing)能變劣，不(bu)能繼續使用(yong)。

測試經驗：不要使(shi)熱源與PTC熱敏電(dian)阻靠得過近或直接接觸熱敏電(dian)阻，以防止將其燙壞。

5、負溫度系數熱敏電阻（NTC）測試方法

（1）測(ce)量標(biao)稱(cheng)(cheng)電(dian)阻(zu)(zu)值Rt。用萬用表(biao)測(ce)量NTC熱敏電(dian)阻(zu)(zu)的(de)方(fang)法與(yu)測(ce)量普通固定電(dian)阻(zu)(zu)的(de)方(fang)法相同，即根(gen)據(ju)NTC熱敏電(dian)阻(zu)(zu)的(de)標(biao)稱(cheng)(cheng)阻(zu)(zu)值選擇(ze)合適(shi)的(de)電(dian)阻(zu)(zu)擋，可直接測(ce)出Rt的(de)實際(ji)值。

（2）估測(ce)溫(wen)(wen)度(du)系數。先在室溫(wen)(wen)T1下(xia)測(ce)得電阻值(zhi)Rtl，再(zai)(zai)用電烙鐵作(zuo)熱源(yuan)，靠近熱敏電阻Rt，測(ce)出電阻值(zhi)RT2，同時用溫(wen)(wen)度(du)計(ji)測(ce)出此時熱敏電阻RT表面的平(ping)均溫(wen)(wen)度(du)t2再(zai)(zai)進行計(ji)算。

測(ce)試經驗(yan)：因(yin)NTC熱敏電阻對溫度很敏感，故測(ce)試時(shi)應注意以(yi)下幾點：

（1）Rt是生產廠家(jia)在環境(jing)溫(wen)度(du)為25℃時(shi)所(suo)(suo)測得的(de)，所(suo)(suo)以用萬用表測量Rt時(shi)，亦應在環境(jing)溫(wen)度(du)接近25~C時(shi)進行，以保證測試的(de)可(ke)信度(du)。

（2）測(ce)(ce)量功率不(bu)得超過規定值(zhi)，以免電(dian)(dian)流熱效(xiao)應引(yin)起測(ce)(ce)量誤差。測(ce)(ce)試(shi)時，不(bu)要用手捏(nie)住熱敏電(dian)(dian)阻體，以防止(zhi)人體溫度對測(ce)(ce)試(shi)產生影響。

6、壓敏電阻測試方法

用萬用表的Rxlk擋測量壓敏電阻(zu)兩引腳之間的正(zheng)、反向絕緣電阻(zu)，均應為無(wu)窮大。

測(ce)試經驗(yan)：如測(ce)得的阻值不是無窮大，說(shuo)明有漏電流。若(ruo)所測(ce)阻值很小，說(shuo)明壓敏電阻已損(sun)壞；不能使用。

7、光敏電阻測試方法

（1）用(yong)(yong)一黑紙片將光敏電阻(zu)的透光窗口(kou)遮住，此時萬(wan)用(yong)(yong)表的指針基本(ben)保持不動，阻(zu)值接近無窮大。

（2）將一光(guang)(guang)源對準光(guang)(guang)敏電(dian)阻的透光(guang)(guang)窗(chuang)口(kou)，此時萬用(yong)表的指針應有較(jiao)大幅度的擺(bai)動，阻值(zhi)明顯減(jian)小(xiao)。

（3）將光(guang)(guang)(guang)敏(min)電(dian)阻透光(guang)(guang)(guang)窗(chuang)口對準入(ru)射(she)光(guang)(guang)(guang)線，用小黑紙片在光(guang)(guang)(guang)敏(min)電(dian)阻的遮光(guang)(guang)(guang)窗(chuang)上部(bu)晃動(dong)，使其(qi)間斷受光(guang)(guang)(guang)，此時萬用表指針應隨(sui)黑紙片的晃動(dong)而左右擺(bai)動(dong)。如果萬用表指針始終停在某(mou)一位置不(bu)隨(sui)紙片晃動(dong)而擺(bai)動(dong)，說明(ming)光(guang)(guang)(guang)敏(min)電(dian)阻的光(guang)(guang)(guang)敏(min)材(cai)料(liao)已經損壞(huai)。

測(ce)試(shi)經驗：針對(dui)方法(fa)(fa)（1），測(ce)試(shi)值(zhi)越大(da)，說(shuo)明(ming)光(guang)敏(min)電阻性能(neng)越好。若(ruo)此(ci)值(zhi)很小(xiao)或接近零，說(shuo)明(ming)光(guang)敏(min)電阻已燒穿損(sun)(sun)壞，不能(neng)再(zai)用。針對(dui)方法(fa)(fa)（2），此(ci)值(zhi)越小(xiao)說(shuo)明(ming)光(guang)敏(min)電阻性能(neng)越好。若(ruo)此(ci)值(zhi)很大(da)，表明(ming)光(guang)敏(min)電阻內部(bu)開路損(sun)(sun)壞，不能(neng)再(zai)用。