一、探針壓合不回位是什么情況
探針是一種用于探測、檢測和測量物理特性或環境條件的工具或設備。它們在各種領域中被廣泛應用,包括科學實驗、醫療診斷、工程檢驗、環境監測等等。探針可以通過測量不同的物理量來提供有關目標物體或環境的信息,包括溫度、濕度、壓力、電流、電壓、速度、位置等等。那么在使用的時候,探針壓合(he)不(bu)回位是(shi)什么情況呢?
探針壓(ya)合不(bu)回位的情況:
1、探針(zhen)感應(ying)程序行凸輪的活動的角度太小。
2、探(tan)針的探(tan)針頭和探(tan)針線接觸不良。
3、I/0輸入輸出到節制(zhi)器的信號線接觸不(bu)良。
二、探針卡故障分析及維護方法
探針卡狀態的好壞直接影響測(ce)試的質量。以下是(shi)探針卡的常見故障及維護方法:
1、探針卡使用中出現的問題:
(1)針(zhen)尖端(duan)面氧(yang)化:長時間不使用可能導致針(zhen)尖端(duan)面氧(yang)化,從而在檢(jian)測(ce)時出現探針(zhen)和ITO或PAD接觸不良的現象。
處理方法::從(cong)探(tan)針(zhen)臺上取下針(zhen)卡,利(li)用sanding砂紙(zhi)對針(zhen)尖端(duan)進行(xing)輕微的打磨,避免過度打磨使(shi)針(zhen)的平坦度和排列變(bian)形(xing)。
(2)濕(shi)(shi)度影響:在(zai)濕(shi)(shi)度較大(da)的環境下,水(shui)份可能侵入EPOXY的內部且(qie)不(bu)易(yi)散(san)發出(chu)去(qu),導(dao)致在(zai)生產(chan)測(ce)試(shi)前出(chu)現空測(ce)短路現象。
處理方法:將針卡放入溫度設為(wei)80°C的(de)oven里,時間為(wei)15分鐘(zhong)。結束后用(yong)顯微鏡檢(jian)查針尖部(bu)分是否有異物或灰塵附著(zhu),如無異常即可進(jin)行作(zuo)業。
2、探針卡的一般維修
(1)定期檢查:每張探(tan)針卡約使用25,000次時(shi)需(xu)要檢查其位置基準和水平基準值(zhi),約使用250,000次時(shi)需(xu)要重(zhong)新(xin)更(geng)換所有探(tan)針。
(2)清潔(jie)與(yu)調整(zheng):探針(zhen)卡(ka)在使用(yong)一段時間后,針(zhen)尖上可能會附(fu)著(zhu)污染物,如外來碎(sui)片、灰(hui)塵等。此時需要(yao)進行化(hua)學清潔(jie),并調整(zheng)水平及其(qi)位置基(ji)準(zhun)。每次(ci)取下探針(zhen)卡(ka)進行清潔(jie)或調整(zheng)后,需要(yao)用(yong)特殊藥劑(ji)清洗(xi)后烘(hong)干,以確保探針(zhen)卡(ka)的電子(zi)性能。
3、維護的重要性
探(tan)針卡在使用一段時間后,如(ru)果(guo)針尖位置偏(pian)移(yi)可能會(hui)導致接觸(chu)斷路、接觸(chu)短路、破壞焊墊周圍的保護層等問(wen)題(ti)。
若探針卡因(yin)本身(shen)的污染或水平(ping)基準偏差(cha)導(dao)致高阻抗、接觸短(duan)路、高泄漏電(dian)流、不一致的參數測(ce)量、信號及電(dian)源(yuan)傳(chuan)導(dao)失敗等(deng)現象,這些都可(ke)能(neng)對測(ce)試造成不良(liang)影(ying)響。