一、探傷儀是干什么用的
探傷儀是(shi)(shi)(shi)一種探測(ce)機(ji)器缺陷(xian)的(de)的(de)工程器械，它(ta)的(de)主(zhu)要用途是(shi)(shi)(shi)探測(ce)機(ji)器加工件(jian)內(nei)部是(shi)(shi)(shi)否(fou)有缺陷(xian)，如裂紋、砂眼、氣孔、白點、夾雜(za)等，檢查(cha)焊縫是(shi)(shi)(shi)否(fou)合(he)格，查(cha)找有無暗(an)傷，進而判定(ding)工件(jian)合(he)格與(yu)否(fou)。
探傷(shang)(shang)儀的應用十(shi)分廣泛，目前探傷(shang)(shang)儀主要用在(zai)工(gong)業和(he)醫療(liao)上(shang)，工(gong)業上(shang)用于檢測金(jin)屬材料中是否有傷(shang)(shang)痕、氣(qi)泡、裂縫等，醫學(xue)上(shang)用于檢測人(ren)體的軟組織、血流等是否正常(chang)。
二、探傷儀的原理是什么
探(tan)傷儀(yi)檢測(ce)通常是對被(bei)測(ce)物(wu)體(ti)（比如工業材(cai)料(liao)、人體(ti)）發射(she)(she)超(chao)聲(sheng)，然(ran)后利(li)用其(qi)反射(she)(she)、多普勒(le)效應、透(tou)射(she)(she)等(deng)來(lai)獲(huo)取被(bei)測(ce)物(wu)體(ti)內(nei)部(bu)的信息并經過處(chu)理形成圖像。探(tan)傷儀(yi)其(qi)中多普勒(le)效應法是利(li)用超(chao)聲(sheng)在遇(yu)到運動的物(wu)體(ti)時發生的多普勒(le)頻移效應來(lai)得出該物(wu)體(ti)的運動方向和速度等(deng)特性；透(tou)射(she)(she)法則是通過分析超(chao)聲(sheng)穿透(tou)過被(bei)測(ce)物(wu)體(ti)之后的變化而得出物(wu)體(ti)的內(nei)部(bu)特性的，其(qi)應用還處(chu)于研制階(jie)段。
三、探傷儀怎么使用
探傷儀五(wu)大常規方法(fa)(fa)(fa)是指射線探傷法(fa)(fa)(fa)、超(chao)聲波探傷法(fa)(fa)(fa)、磁粉探傷法(fa)(fa)(fa)、渦流(liu)探傷法(fa)(fa)(fa)和滲透探傷法(fa)(fa)(fa)。
1、射線探傷方法
射(she)(she)(she)線(xian)(xian)探(tan)傷(shang)(shang)(shang)是利用(yong)射(she)(she)(she)線(xian)(xian)的(de)(de)穿(chuan)透性(xing)和(he)直線(xian)(xian)性(xing)來探(tan)傷(shang)(shang)(shang)的(de)(de)方法(fa)。這些射(she)(she)(she)線(xian)(xian)雖然不(bu)會(hui)像可見(jian)光那(nei)樣憑肉眼就(jiu)能直接(jie)(jie)(jie)察知，但它可使照(zhao)相(xiang)底片感(gan)光，也可用(yong)特(te)殊的(de)(de)接(jie)(jie)(jie)收器來接(jie)(jie)(jie)收。常用(yong)于探(tan)傷(shang)(shang)(shang)的(de)(de)射(she)(she)(she)線(xian)(xian)有(you)x光和(he)同位素(su)發出的(de)(de)γ射(she)(she)(she)線(xian)(xian)，分別稱為x光探(tan)傷(shang)(shang)(shang)和(he)γ射(she)(she)(she)線(xian)(xian)探(tan)傷(shang)(shang)(shang)。當這些射(she)(she)(she)線(xian)(xian)穿(chuan)過(guo)(guo)(guo)（照(zhao)射(she)(she)(she)）物質(zhi)(zhi)時(shi)，該物質(zhi)(zhi)的(de)(de)密度(du)(du)越大，射(she)(she)(she)線(xian)(xian)強度(du)(du)減弱(ruo)得(de)越多，即(ji)射(she)(she)(she)線(xian)(xian)能穿(chuan)透過(guo)(guo)(guo)該物質(zhi)(zhi)的(de)(de)強度(du)(du)就(jiu)越小。此時(shi)，若用(yong)照(zhao)相(xiang)底片接(jie)(jie)(jie)收，則底片的(de)(de)感(gan)光量(liang)就(jiu)小；若用(yong)儀器來接(jie)(jie)(jie)收，獲得(de)的(de)(de)信號(hao)就(jiu)弱(ruo)。因此，用(yong)射(she)(she)(she)線(xian)(xian)來照(zhao)射(she)(she)(she)待探(tan)傷(shang)(shang)(shang)的(de)(de)零(ling)部件時(shi)，若其(qi)(qi)內部有(you)氣孔、夾渣(zha)等缺(que)(que)陷(xian)(xian)，射(she)(she)(she)線(xian)(xian)穿(chuan)過(guo)(guo)(guo)有(you)缺(que)(que)陷(xian)(xian)的(de)(de)路徑比沒有(you)缺(que)(que)陷(xian)(xian)的(de)(de)路徑所透過(guo)(guo)(guo)的(de)(de)物質(zhi)(zhi)密度(du)(du)要小得(de)多，其(qi)(qi)強度(du)(du)就(jiu)減弱(ruo)得(de)少些，即(ji)透過(guo)(guo)(guo)的(de)(de)強度(du)(du)就(jiu)大些，若用(yong)底片接(jie)(jie)(jie)收，則感(gan)光量(liang)就(jiu)大些，就(jiu)可以從底片上反映出缺(que)(que)陷(xian)(xian)垂直于射(she)(she)(she)線(xian)(xian)方向的(de)(de)平(ping)面投(tou)影(ying)；若用(yong)其(qi)(qi)它接(jie)(jie)(jie)收器也同樣可以用(yong)儀表來反映缺(que)(que)陷(xian)(xian)垂直于射(she)(she)(she)線(xian)(xian)方向的(de)(de)平(ping)面投(tou)影(ying)和(he)射(she)(she)(she)線(xian)(xian)的(de)(de)透過(guo)(guo)(guo)量(liang)。由此可見(jian)，一般情況下，射(she)(she)(she)線(xian)(xian)探(tan)傷(shang)(shang)(shang)是不(bu)易發現裂紋的(de)(de)，或者說，射(she)(she)(she)線(xian)(xian)探(tan)傷(shang)(shang)(shang)對裂紋是不(bu)敏感(gan)的(de)(de)。因此，射(she)(she)(she)線(xian)(xian)探(tan)傷(shang)(shang)(shang)對氣孔、夾渣(zha)、未焊透等體積型缺(que)(que)陷(xian)(xian)最敏感(gan)。即(ji)射(she)(she)(she)線(xian)(xian)探(tan)傷(shang)(shang)(shang)適(shi)宜(yi)用(yong)于體積型缺(que)(que)陷(xian)(xian)探(tan)傷(shang)(shang)(shang)，而(er)不(bu)適(shi)宜(yi)面積型缺(que)(que)陷(xian)(xian)探(tan)傷(shang)(shang)(shang)。
2、超聲波探傷方法
人們的(de)(de)(de)(de)(de)耳(er)朵能直接接收到(dao)(dao)的(de)(de)(de)(de)(de)聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)的(de)(de)(de)(de)(de)頻率范圍通常(chang)(chang)是(shi)20Hz到(dao)(dao)20kHz，即(ji)音(yin)（聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)）頻。頻率低于(yu)20Hz的(de)(de)(de)(de)(de)稱(cheng)為次聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)，高(gao)于(yu)20 kHz的(de)(de)(de)(de)(de)稱(cheng)為超(chao)(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)。工業上(shang)常(chang)(chang)用數兆(zhao)赫茲(zi)超(chao)(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)來(lai)(lai)探(tan)傷。超(chao)(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)頻率高(gao)，則傳(chuan)播(bo)的(de)(de)(de)(de)(de)直線性強，又易于(yu)在固(gu)體(ti)中傳(chuan)播(bo)，并且遇到(dao)(dao)兩種不同介質(zhi)形(xing)成(cheng)的(de)(de)(de)(de)(de)界(jie)面時(shi)(shi)易于(yu)反(fan)射(she)(she)，這(zhe)樣(yang)就(jiu)可以(yi)用它來(lai)(lai)探(tan)傷。通常(chang)(chang)用超(chao)(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)探(tan)頭與待探(tan)工件表面良好的(de)(de)(de)(de)(de)接觸，探(tan)頭則可有效地向工件發(fa)射(she)(she)超(chao)(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)，并能接收（缺(que)陷(xian)）界(jie)面反(fan)射(she)(she)來(lai)(lai)的(de)(de)(de)(de)(de)超(chao)(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)，同時(shi)(shi)轉換(huan)成(cheng)電信號(hao)，再(zai)傳(chuan)輸給儀器(qi)進行處理。根(gen)據超(chao)(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)在介質(zhi)中傳(chuan)播(bo)的(de)(de)(de)(de)(de)速(su)(su)度(du)（常(chang)(chang)稱(cheng)聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)速(su)(su)）和傳(chuan)播(bo)的(de)(de)(de)(de)(de)時(shi)(shi)間，就(jiu)可知道(dao)缺(que)陷(xian)的(de)(de)(de)(de)(de)位(wei)置。當(dang)缺(que)陷(xian)越(yue)大(da)(da)，反(fan)射(she)(she)面則越(yue)大(da)(da)，其(qi)反(fan)射(she)(she)的(de)(de)(de)(de)(de)能量(liang)也(ye)就(jiu)越(yue)大(da)(da)，故可根(gen)據反(fan)射(she)(she)能量(liang)的(de)(de)(de)(de)(de)大(da)(da)小(xiao)來(lai)(lai)查知各缺(que)陷(xian)（當(dang)量(liang)）的(de)(de)(de)(de)(de)大(da)(da)小(xiao)。常(chang)(chang)用的(de)(de)(de)(de)(de)探(tan)傷波(bo)形(xing)有縱(zong)波(bo)、橫波(bo)、表面波(bo)等，前(qian)二(er)者(zhe)適(shi)用于(yu)探(tan)測內部缺(que)陷(xian)，后者(zhe)適(shi)宜于(yu)探(tan)測表面缺(que)陷(xian)，但對表面的(de)(de)(de)(de)(de)條件要(yao)求高(gao)。
3、磁粉探傷方法
磁(ci)(ci)粉(fen)探(tan)傷是(shi)建立在(zai)漏磁(ci)(ci)原理基礎上的(de)一種磁(ci)(ci)力(li)探(tan)傷方法。當磁(ci)(ci)力(li)線穿過(guo)鐵磁(ci)(ci)材料(liao)及(ji)其制(zhi)品時，在(zai)其（磁(ci)(ci)性）不(bu)連續處將產(chan)生漏磁(ci)(ci)場，形成磁(ci)(ci)極。此時撒上干磁(ci)(ci)粉(fen)或澆上磁(ci)(ci)懸液，磁(ci)(ci)極就會吸(xi)附磁(ci)(ci)粉(fen)，產(chan)生用肉眼能(neng)直(zhi)接(jie)觀察(cha)的(de)明顯磁(ci)(ci)痕(hen)。因此，可借助于(yu)(yu)該磁(ci)(ci)痕(hen)來(lai)顯示鐵磁(ci)(ci)材料(liao)及(ji)其制(zhi)品的(de)缺(que)陷情(qing)況(kuang)。磁(ci)(ci)粉(fen)探(tan)傷法可探(tan)測露(lu)出表(biao)面(mian)(mian)，用肉眼或借助于(yu)(yu)放大鏡也(ye)不(bu)能(neng)直(zhi)接(jie)觀察(cha)到的(de)微小缺(que)陷，也(ye)可探(tan)測未露(lu)出表(biao)面(mian)(mian)，而是(shi)埋藏在(zai)表(biao)面(mian)(mian)下幾毫米的(de)近表(biao)面(mian)(mian)缺(que)陷。用這種方法雖然也(ye)能(neng)探(tan)查氣(qi)孔(kong)、夾雜、未焊透等(deng)體積型缺(que)陷，但(dan)對面(mian)(mian)積型缺(que)陷更(geng)靈(ling)敏，更(geng)適于(yu)(yu)檢查因淬火、軋制(zhi)、鍛造、鑄造、焊接(jie)、電鍍、磨削、疲(pi)勞等(deng)引起的(de)裂紋。
磁(ci)(ci)力探傷(shang)(shang)(shang)中對(dui)缺陷(xian)的顯示方法(fa)有(you)多種，有(you)用(yong)磁(ci)(ci)粉(fen)(fen)(fen)顯示的，也有(you)不(bu)(bu)用(yong)磁(ci)(ci)粉(fen)(fen)(fen)顯示的。用(yong)磁(ci)(ci)粉(fen)(fen)(fen)顯示的稱(cheng)為(wei)磁(ci)(ci)粉(fen)(fen)(fen)探傷(shang)(shang)(shang)，因(yin)(yin)它(ta)顯示直(zhi)觀、操作簡單、人們(men)(men)樂于(yu)使用(yong)，故它(ta)是(shi)最常用(yong)的方法(fa)之一。不(bu)(bu)用(yong)磁(ci)(ci)粉(fen)(fen)(fen)顯示的，習慣上(shang)稱(cheng)為(wei)漏(lou)磁(ci)(ci)探傷(shang)(shang)(shang)，它(ta)常借助于(yu)感應線圈、磁(ci)(ci)敏管、霍爾(er)元件等來反(fan)映缺陷(xian)，它(ta)比(bi)磁(ci)(ci)粉(fen)(fen)(fen)探傷(shang)(shang)(shang)更衛(wei)生(sheng)，但不(bu)(bu)如前者直(zhi)觀。由(you)于(yu)磁(ci)(ci)力探傷(shang)(shang)(shang)主要用(yong)磁(ci)(ci)粉(fen)(fen)(fen)來顯示缺陷(xian)，因(yin)(yin)此(ci)，人們(men)(men)有(you)時把磁(ci)(ci)粉(fen)(fen)(fen)探傷(shang)(shang)(shang)直(zhi)接稱(cheng)為(wei)磁(ci)(ci)力探傷(shang)(shang)(shang)，其設(she)備稱(cheng)為(wei)磁(ci)(ci)力探傷(shang)(shang)(shang)設(she)備。
4、渦流探傷方法
渦流(liu)(liu)探傷是(shi)由交流(liu)(liu)電(dian)(dian)流(liu)(liu)產生的(de)(de)(de)交變磁場(chang)作(zuo)用(yong)于待探傷的(de)(de)(de)導電(dian)(dian)材料，感應出(chu)電(dian)(dian)渦流(liu)(liu)。如果材料中有缺(que)陷，它將干(gan)擾(rao)所產生的(de)(de)(de)電(dian)(dian)渦流(liu)(liu)，即形成(cheng)干(gan)擾(rao)信(xin)號(hao)。用(yong)渦流(liu)(liu)探傷儀檢測出(chu)其干(gan)擾(rao)信(xin)號(hao)，就可知道缺(que)陷的(de)(de)(de)狀(zhuang)況。影響渦流(liu)(liu)的(de)(de)(de)因(yin)素很多，即是(shi)說渦流(liu)(liu)中載有豐富的(de)(de)(de)信(xin)號(hao)，這些(xie)(xie)信(xin)號(hao)與(yu)材料的(de)(de)(de)很多因(yin)素有關(guan)，如何將其中有用(yong)的(de)(de)(de)信(xin)號(hao)從(cong)諸多的(de)(de)(de)信(xin)號(hao)中一(yi)(yi)一(yi)(yi)分離出(chu)來，是(shi)渦流(liu)(liu)研究工作(zuo)者(zhe)的(de)(de)(de)難題，多年來已(yi)經取得了一(yi)(yi)些(xie)(xie)進展，在一(yi)(yi)定條件下(xia)可解(jie)決一(yi)(yi)些(xie)(xie)問(wen)題，但還遠不(bu)能滿足現場(chang)的(de)(de)(de)要求，有待于大力發(fa)展。
渦流(liu)探傷(shang)的(de)顯(xian)著特(te)點是對導電材料(liao)就(jiu)能起作用，而不一定是鐵(tie)磁(ci)(ci)材料(liao)，但對鐵(tie)磁(ci)(ci)材料(liao)的(de)效果(guo)較(jiao)差(cha)。其次(ci)，待探工件表(biao)(biao)面的(de)光(guang)潔度、平整度、邊介等(deng)對渦流(liu)探傷(shang)都有較(jiao)大影響，因此常(chang)將渦流(liu)探傷(shang)用于形狀較(jiao)規則、表(biao)(biao)面較(jiao)光(guang)潔的(de)銅管等(deng)非鐵(tie)磁(ci)(ci)性工件探傷(shang)。
5、滲透探傷方法
滲(shen)(shen)(shen)(shen)透(tou)(tou)探傷(shang)是(shi)(shi)利用毛(mao)細(xi)現象(xiang)來進(jin)行探傷(shang)的(de)(de)(de)方法。對于(yu)表(biao)(biao)(biao)(biao)面(mian)光(guang)滑而(er)清潔的(de)(de)(de)零部(bu)件(jian)，用一(yi)種(zhong)帶色（常(chang)為(wei)(wei)(wei)紅色）或(huo)帶有(you)熒(ying)光(guang)的(de)(de)(de)、滲(shen)(shen)(shen)(shen)透(tou)(tou)性(xing)很強的(de)(de)(de)液(ye)體(ti)，涂覆于(yu)待探零部(bu)件(jian)的(de)(de)(de)表(biao)(biao)(biao)(biao)面(mian)。若(ruo)表(biao)(biao)(biao)(biao)面(mian)有(you)肉眼不能直(zhi)(zhi)接(jie)察知(zhi)的(de)(de)(de)微裂(lie)(lie)紋，由(you)(you)于(yu)該液(ye)體(ti)的(de)(de)(de)滲(shen)(shen)(shen)(shen)透(tou)(tou)性(xing)很強，它將(jiang)(jiang)沿著裂(lie)(lie)紋滲(shen)(shen)(shen)(shen)透(tou)(tou)到(dao)其根部(bu)。然(ran)后(hou)將(jiang)(jiang)表(biao)(biao)(biao)(biao)面(mian)的(de)(de)(de)滲(shen)(shen)(shen)(shen)透(tou)(tou)液(ye)洗去，再涂上(shang)對比度(du)較大的(de)(de)(de)顯(xian)(xian)示液(ye)（常(chang)為(wei)(wei)(wei)白(bai)色）。放置(zhi)片刻(ke)后(hou)，由(you)(you)于(yu)裂(lie)(lie)紋很窄，毛(mao)細(xi)現象(xiang)作用顯(xian)(xian)著，原滲(shen)(shen)(shen)(shen)透(tou)(tou)到(dao)裂(lie)(lie)紋內的(de)(de)(de)滲(shen)(shen)(shen)(shen)透(tou)(tou)液(ye)將(jiang)(jiang)上(shang)升到(dao)表(biao)(biao)(biao)(biao)面(mian)并擴散，在白(bai)色的(de)(de)(de)襯底上(shang)顯(xian)(xian)出(chu)較粗(cu)的(de)(de)(de)紅線，從而(er)顯(xian)(xian)示出(chu)裂(lie)(lie)紋露(lu)(lu)于(yu)表(biao)(biao)(biao)(biao)面(mian)的(de)(de)(de)形(xing)狀，因此，常(chang)稱為(wei)(wei)(wei)著色探傷(shang)。若(ruo)滲(shen)(shen)(shen)(shen)透(tou)(tou)液(ye)采用的(de)(de)(de)是(shi)(shi)帶熒(ying)光(guang)的(de)(de)(de)液(ye)體(ti)，由(you)(you)毛(mao)細(xi)現象(xiang)上(shang)升到(dao)表(biao)(biao)(biao)(biao)面(mian)的(de)(de)(de)液(ye)體(ti)，則(ze)會在紫外(wai)燈照射下發出(chu)熒(ying)光(guang)，從而(er)更能顯(xian)(xian)示出(chu)裂(lie)(lie)紋露(lu)(lu)于(yu)表(biao)(biao)(biao)(biao)面(mian)的(de)(de)(de)形(xing)狀，故常(chang)常(chang)又(you)將(jiang)(jiang)此時的(de)(de)(de)滲(shen)(shen)(shen)(shen)透(tou)(tou)探傷(shang)直(zhi)(zhi)接(jie)稱為(wei)(wei)(wei)熒(ying)光(guang)探傷(shang)。此探傷(shang)方法也可用于(yu)金(jin)屬和非金(jin)屬表(biao)(biao)(biao)(biao)面(mian)探傷(shang)。其使(shi)用的(de)(de)(de)探傷(shang)液(ye)劑有(you)較大氣(qi)味(wei)，常(chang)有(you)一(yi)定毒性(xing)。
探傷儀除(chu)以(yi)上五大常規方(fang)法外，近年(nian)來又(you)有了紅外、聲(sheng)發射等一些新的探傷方(fang)法。
