一、探傷儀是干什么用的
探(tan)傷(shang)儀(yi)是(shi)一種探(tan)測機(ji)器缺陷的的工(gong)程器械，它的主要用途是(shi)探(tan)測機(ji)器加工(gong)件內部是(shi)否(fou)有(you)缺陷，如(ru)裂紋(wen)、砂眼、氣孔、白(bai)點、夾雜等，檢查焊縫是(shi)否(fou)合(he)格(ge)，查找有(you)無暗傷(shang)，進而判定工(gong)件合(he)格(ge)與否(fou)。
探傷儀的(de)應(ying)用(yong)十分廣泛，目前探傷儀主要用(yong)在(zai)工業和醫療上(shang)，工業上(shang)用(yong)于(yu)檢(jian)測(ce)(ce)金屬材料(liao)中是(shi)否有傷痕、氣泡(pao)、裂縫等，醫學上(shang)用(yong)于(yu)檢(jian)測(ce)(ce)人體(ti)的(de)軟組(zu)織、血流等是(shi)否正(zheng)常。
二、探傷儀的原理是什么
探傷(shang)儀(yi)檢(jian)測(ce)通常是對被(bei)測(ce)物體(ti)(ti)（比如(ru)工業材料、人(ren)體(ti)(ti)）發射(she)(she)超聲，然(ran)后利用(yong)(yong)其反射(she)(she)、多普勒效應(ying)、透(tou)射(she)(she)等來(lai)(lai)獲取被(bei)測(ce)物體(ti)(ti)內(nei)部的(de)信息(xi)并經過處(chu)理形成圖像(xiang)。探傷(shang)儀(yi)其中多普勒效應(ying)法(fa)是利用(yong)(yong)超聲在遇到運(yun)動(dong)的(de)物體(ti)(ti)時(shi)發生的(de)多普勒頻移效應(ying)來(lai)(lai)得(de)出該物體(ti)(ti)的(de)運(yun)動(dong)方向和速度(du)等特性；透(tou)射(she)(she)法(fa)則(ze)是通過分(fen)析超聲穿透(tou)過被(bei)測(ce)物體(ti)(ti)之后的(de)變化而得(de)出物體(ti)(ti)的(de)內(nei)部特性的(de)，其應(ying)用(yong)(yong)還處(chu)于研制階段。
三、探傷儀怎么使用
探傷(shang)儀五大(da)常規方法(fa)(fa)是指射線探傷(shang)法(fa)(fa)、超聲波探傷(shang)法(fa)(fa)、磁粉探傷(shang)法(fa)(fa)、渦流探傷(shang)法(fa)(fa)和滲透(tou)探傷(shang)法(fa)(fa)。
1、射線探傷方法
射(she)(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)探(tan)(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)是利(li)用(yong)射(she)(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)的(de)(de)穿透(tou)(tou)性和(he)直線(xian)(xian)(xian)性來探(tan)(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)的(de)(de)方(fang)法。這些(xie)(xie)射(she)(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)雖然不(bu)(bu)會像可(ke)見(jian)光(guang)那(nei)樣憑肉眼就(jiu)能(neng)直接察(cha)知，但它可(ke)使照(zhao)相(xiang)底(di)片感(gan)(gan)(gan)光(guang)，也可(ke)用(yong)特殊(shu)的(de)(de)接收(shou)(shou)器來接收(shou)(shou)。常用(yong)于(yu)探(tan)(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)的(de)(de)射(she)(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)有x光(guang)和(he)同(tong)位素發(fa)出(chu)的(de)(de)γ射(she)(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)，分別稱為x光(guang)探(tan)(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)和(he)γ射(she)(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)探(tan)(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)。當(dang)這些(xie)(xie)射(she)(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)穿過（照(zhao)射(she)(she)(she)(she)(she)(she)(she)）物(wu)(wu)(wu)質時，該物(wu)(wu)(wu)質的(de)(de)密(mi)度(du)(du)越(yue)大(da)(da)，射(she)(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)強度(du)(du)減弱得(de)越(yue)多(duo)，即(ji)(ji)射(she)(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)能(neng)穿透(tou)(tou)過該物(wu)(wu)(wu)質的(de)(de)強度(du)(du)就(jiu)越(yue)小。此時，若(ruo)(ruo)用(yong)照(zhao)相(xiang)底(di)片接收(shou)(shou)，則底(di)片的(de)(de)感(gan)(gan)(gan)光(guang)量(liang)就(jiu)小；若(ruo)(ruo)用(yong)儀(yi)器來接收(shou)(shou)，獲得(de)的(de)(de)信號就(jiu)弱。因(yin)此，用(yong)射(she)(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)來照(zhao)射(she)(she)(she)(she)(she)(she)(she)待探(tan)(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)的(de)(de)零部(bu)件時，若(ruo)(ruo)其(qi)內部(bu)有氣孔(kong)、夾(jia)渣等(deng)缺(que)(que)陷(xian)(xian)，射(she)(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)穿過有缺(que)(que)陷(xian)(xian)的(de)(de)路(lu)徑比沒有缺(que)(que)陷(xian)(xian)的(de)(de)路(lu)徑所透(tou)(tou)過的(de)(de)物(wu)(wu)(wu)質密(mi)度(du)(du)要小得(de)多(duo)，其(qi)強度(du)(du)就(jiu)減弱得(de)少些(xie)(xie)，即(ji)(ji)透(tou)(tou)過的(de)(de)強度(du)(du)就(jiu)大(da)(da)些(xie)(xie)，若(ruo)(ruo)用(yong)底(di)片接收(shou)(shou)，則感(gan)(gan)(gan)光(guang)量(liang)就(jiu)大(da)(da)些(xie)(xie)，就(jiu)可(ke)以從底(di)片上反(fan)(fan)映(ying)出(chu)缺(que)(que)陷(xian)(xian)垂(chui)直于(yu)射(she)(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)方(fang)向(xiang)的(de)(de)平面(mian)投影；若(ruo)(ruo)用(yong)其(qi)它接收(shou)(shou)器也同(tong)樣可(ke)以用(yong)儀(yi)表來反(fan)(fan)映(ying)缺(que)(que)陷(xian)(xian)垂(chui)直于(yu)射(she)(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)方(fang)向(xiang)的(de)(de)平面(mian)投影和(he)射(she)(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)的(de)(de)透(tou)(tou)過量(liang)。由此可(ke)見(jian)，一般情(qing)況下，射(she)(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)探(tan)(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)是不(bu)(bu)易發(fa)現裂紋的(de)(de)，或(huo)者說(shuo)，射(she)(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)探(tan)(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)對裂紋是不(bu)(bu)敏感(gan)(gan)(gan)的(de)(de)。因(yin)此，射(she)(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)探(tan)(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)對氣孔(kong)、夾(jia)渣、未焊透(tou)(tou)等(deng)體積型(xing)缺(que)(que)陷(xian)(xian)最(zui)敏感(gan)(gan)(gan)。即(ji)(ji)射(she)(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)探(tan)(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)適宜用(yong)于(yu)體積型(xing)缺(que)(que)陷(xian)(xian)探(tan)(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)，而(er)不(bu)(bu)適宜面(mian)積型(xing)缺(que)(que)陷(xian)(xian)探(tan)(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)。
2、超聲波探傷方法
人們的(de)(de)(de)(de)耳朵能直(zhi)接接收(shou)到的(de)(de)(de)(de)聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)的(de)(de)(de)(de)頻(pin)率(lv)范(fan)圍(wei)通常(chang)(chang)是20Hz到20kHz，即(ji)音（聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)）頻(pin)。頻(pin)率(lv)低于(yu)20Hz的(de)(de)(de)(de)稱為次聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)，高于(yu)20 kHz的(de)(de)(de)(de)稱為超聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)。工業(ye)上常(chang)(chang)用數兆赫(he)茲超聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)來(lai)探(tan)(tan)傷(shang)。超聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)頻(pin)率(lv)高，則(ze)(ze)傳(chuan)播(bo)的(de)(de)(de)(de)直(zhi)線性強，又(you)易(yi)于(yu)在(zai)固體(ti)中傳(chuan)播(bo)，并(bing)且遇到兩(liang)種(zhong)不同介(jie)質(zhi)形(xing)成(cheng)的(de)(de)(de)(de)界(jie)面(mian)(mian)(mian)時(shi)易(yi)于(yu)反(fan)射(she)，這樣就可(ke)(ke)以用它來(lai)探(tan)(tan)傷(shang)。通常(chang)(chang)用超聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)探(tan)(tan)頭(tou)(tou)與待探(tan)(tan)工件表面(mian)(mian)(mian)良好的(de)(de)(de)(de)接觸，探(tan)(tan)頭(tou)(tou)則(ze)(ze)可(ke)(ke)有效(xiao)地向工件發射(she)超聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)，并(bing)能接收(shou)（缺(que)陷(xian)(xian)）界(jie)面(mian)(mian)(mian)反(fan)射(she)來(lai)的(de)(de)(de)(de)超聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)，同時(shi)轉換成(cheng)電信號(hao)，再(zai)傳(chuan)輸給儀器進行處(chu)理(li)。根據(ju)超聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)在(zai)介(jie)質(zhi)中傳(chuan)播(bo)的(de)(de)(de)(de)速度（常(chang)(chang)稱聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)速）和傳(chuan)播(bo)的(de)(de)(de)(de)時(shi)間，就可(ke)(ke)知道缺(que)陷(xian)(xian)的(de)(de)(de)(de)位置。當缺(que)陷(xian)(xian)越大，反(fan)射(she)面(mian)(mian)(mian)則(ze)(ze)越大，其反(fan)射(she)的(de)(de)(de)(de)能量(liang)也就越大，故可(ke)(ke)根據(ju)反(fan)射(she)能量(liang)的(de)(de)(de)(de)大小(xiao)來(lai)查(cha)知各缺(que)陷(xian)(xian)（當量(liang)）的(de)(de)(de)(de)大小(xiao)。常(chang)(chang)用的(de)(de)(de)(de)探(tan)(tan)傷(shang)波(bo)(bo)(bo)形(xing)有縱波(bo)(bo)(bo)、橫波(bo)(bo)(bo)、表面(mian)(mian)(mian)波(bo)(bo)(bo)等，前二者適用于(yu)探(tan)(tan)測(ce)內(nei)部(bu)缺(que)陷(xian)(xian)，后者適宜于(yu)探(tan)(tan)測(ce)表面(mian)(mian)(mian)缺(que)陷(xian)(xian)，但對表面(mian)(mian)(mian)的(de)(de)(de)(de)條件要求高。
3、磁粉探傷方法
磁(ci)(ci)(ci)粉探(tan)(tan)傷(shang)是(shi)建(jian)立在漏磁(ci)(ci)(ci)原(yuan)理基礎上的(de)一種磁(ci)(ci)(ci)力(li)探(tan)(tan)傷(shang)方法。當(dang)磁(ci)(ci)(ci)力(li)線穿過鐵(tie)磁(ci)(ci)(ci)材(cai)料及其(qi)制(zhi)(zhi)品時(shi)，在其(qi)（磁(ci)(ci)(ci)性）不(bu)連續處(chu)將產(chan)生漏磁(ci)(ci)(ci)場，形成磁(ci)(ci)(ci)極。此(ci)(ci)時(shi)撒上干磁(ci)(ci)(ci)粉或(huo)澆上磁(ci)(ci)(ci)懸液，磁(ci)(ci)(ci)極就會吸附磁(ci)(ci)(ci)粉，產(chan)生用肉眼能(neng)直(zhi)(zhi)接觀(guan)察(cha)的(de)明顯(xian)磁(ci)(ci)(ci)痕(hen)。因(yin)此(ci)(ci)，可借助(zhu)于(yu)(yu)該(gai)磁(ci)(ci)(ci)痕(hen)來(lai)顯(xian)示鐵(tie)磁(ci)(ci)(ci)材(cai)料及其(qi)制(zhi)(zhi)品的(de)缺(que)陷(xian)(xian)情況。磁(ci)(ci)(ci)粉探(tan)(tan)傷(shang)法可探(tan)(tan)測露(lu)出表面(mian)，用肉眼或(huo)借助(zhu)于(yu)(yu)放大鏡也不(bu)能(neng)直(zhi)(zhi)接觀(guan)察(cha)到的(de)微(wei)小缺(que)陷(xian)(xian)，也可探(tan)(tan)測未(wei)露(lu)出表面(mian)，而是(shi)埋藏在表面(mian)下(xia)幾(ji)毫米的(de)近表面(mian)缺(que)陷(xian)(xian)。用這種方法雖然(ran)也能(neng)探(tan)(tan)查氣孔、夾雜(za)、未(wei)焊透等體積(ji)(ji)型缺(que)陷(xian)(xian)，但對(dui)面(mian)積(ji)(ji)型缺(que)陷(xian)(xian)更靈敏，更適于(yu)(yu)檢查因(yin)淬火、軋制(zhi)(zhi)、鍛(duan)造、鑄造、焊接、電(dian)鍍、磨削、疲勞等引起的(de)裂紋(wen)。
磁(ci)力探(tan)(tan)傷(shang)中對缺(que)(que)陷的(de)顯(xian)(xian)示(shi)(shi)(shi)方法有多種，有用(yong)(yong)磁(ci)粉(fen)顯(xian)(xian)示(shi)(shi)(shi)的(de)，也有不用(yong)(yong)磁(ci)粉(fen)顯(xian)(xian)示(shi)(shi)(shi)的(de)。用(yong)(yong)磁(ci)粉(fen)顯(xian)(xian)示(shi)(shi)(shi)的(de)稱為磁(ci)粉(fen)探(tan)(tan)傷(shang)，因它(ta)顯(xian)(xian)示(shi)(shi)(shi)直(zhi)(zhi)觀、操作(zuo)簡單(dan)、人們樂于使(shi)用(yong)(yong)，故它(ta)是最常用(yong)(yong)的(de)方法之一。不用(yong)(yong)磁(ci)粉(fen)顯(xian)(xian)示(shi)(shi)(shi)的(de)，習(xi)慣上稱為漏磁(ci)探(tan)(tan)傷(shang)，它(ta)常借(jie)助于感應線圈(quan)、磁(ci)敏管、霍爾元件(jian)等來(lai)反(fan)映缺(que)(que)陷，它(ta)比磁(ci)粉(fen)探(tan)(tan)傷(shang)更衛生，但不如前者直(zhi)(zhi)觀。由于磁(ci)力探(tan)(tan)傷(shang)主要用(yong)(yong)磁(ci)粉(fen)來(lai)顯(xian)(xian)示(shi)(shi)(shi)缺(que)(que)陷，因此(ci)，人們有時把磁(ci)粉(fen)探(tan)(tan)傷(shang)直(zhi)(zhi)接稱為磁(ci)力探(tan)(tan)傷(shang)，其設備稱為磁(ci)力探(tan)(tan)傷(shang)設備。
4、渦流探傷方法
渦(wo)(wo)(wo)流(liu)探(tan)傷是(shi)由交流(liu)電(dian)(dian)流(liu)產生(sheng)的(de)(de)交變磁場(chang)作用(yong)于待探(tan)傷的(de)(de)導電(dian)(dian)材(cai)料(liao)，感應(ying)出電(dian)(dian)渦(wo)(wo)(wo)流(liu)。如果材(cai)料(liao)中有缺陷，它將(jiang)干擾所產生(sheng)的(de)(de)電(dian)(dian)渦(wo)(wo)(wo)流(liu)，即形成干擾信(xin)(xin)號(hao)。用(yong)渦(wo)(wo)(wo)流(liu)探(tan)傷儀檢測出其(qi)干擾信(xin)(xin)號(hao)，就可(ke)知道缺陷的(de)(de)狀況(kuang)。影響(xiang)渦(wo)(wo)(wo)流(liu)的(de)(de)因素(su)很(hen)多，即是(shi)說渦(wo)(wo)(wo)流(liu)中載有豐富的(de)(de)信(xin)(xin)號(hao)，這些信(xin)(xin)號(hao)與(yu)材(cai)料(liao)的(de)(de)很(hen)多因素(su)有關(guan)，如何將(jiang)其(qi)中有用(yong)的(de)(de)信(xin)(xin)號(hao)從諸(zhu)多的(de)(de)信(xin)(xin)號(hao)中一一分(fen)離出來(lai)，是(shi)渦(wo)(wo)(wo)流(liu)研(yan)究工作者的(de)(de)難題(ti)(ti)，多年來(lai)已經取得(de)了(le)一些進展，在一定條件下可(ke)解決一些問題(ti)(ti)，但還遠不能滿(man)足現場(chang)的(de)(de)要(yao)求，有待于大力發展。
渦(wo)流探傷(shang)(shang)的(de)顯著特點是(shi)對導電材(cai)料就能起作用(yong)，而(er)不一(yi)定是(shi)鐵(tie)磁(ci)材(cai)料，但(dan)對鐵(tie)磁(ci)材(cai)料的(de)效果較(jiao)(jiao)差(cha)。其次，待探工件表(biao)(biao)面的(de)光(guang)潔度(du)、平(ping)整度(du)、邊介(jie)等(deng)(deng)對渦(wo)流探傷(shang)(shang)都有較(jiao)(jiao)大(da)影響，因此(ci)常將渦(wo)流探傷(shang)(shang)用(yong)于(yu)形狀較(jiao)(jiao)規則、表(biao)(biao)面較(jiao)(jiao)光(guang)潔的(de)銅管等(deng)(deng)非鐵(tie)磁(ci)性工件探傷(shang)(shang)。
5、滲透探傷方法
滲透(tou)(tou)(tou)(tou)(tou)探(tan)傷(shang)(shang)是(shi)利用(yong)(yong)(yong)毛細現象(xiang)(xiang)來(lai)進(jin)行(xing)探(tan)傷(shang)(shang)的(de)(de)(de)(de)(de)方法。對于表(biao)面光(guang)滑而(er)清潔的(de)(de)(de)(de)(de)零部(bu)件(jian)，用(yong)(yong)(yong)一種帶(dai)色(se)（常為(wei)(wei)(wei)紅色(se)）或(huo)帶(dai)有(you)(you)熒光(guang)的(de)(de)(de)(de)(de)、滲透(tou)(tou)(tou)(tou)(tou)性(xing)很強的(de)(de)(de)(de)(de)液(ye)(ye)(ye)(ye)體(ti)(ti)(ti)，涂覆于待探(tan)零部(bu)件(jian)的(de)(de)(de)(de)(de)表(biao)面。若表(biao)面有(you)(you)肉眼不能直(zhi)接察知的(de)(de)(de)(de)(de)微裂紋(wen)，由(you)(you)于該液(ye)(ye)(ye)(ye)體(ti)(ti)(ti)的(de)(de)(de)(de)(de)滲透(tou)(tou)(tou)(tou)(tou)性(xing)很強，它將(jiang)(jiang)沿著(zhu)裂紋(wen)滲透(tou)(tou)(tou)(tou)(tou)到(dao)其根(gen)部(bu)。然(ran)后將(jiang)(jiang)表(biao)面的(de)(de)(de)(de)(de)滲透(tou)(tou)(tou)(tou)(tou)液(ye)(ye)(ye)(ye)洗去(qu)，再(zai)涂上對比度較大(da)的(de)(de)(de)(de)(de)顯(xian)(xian)示液(ye)(ye)(ye)(ye)（常為(wei)(wei)(wei)白(bai)色(se)）。放(fang)置片刻后，由(you)(you)于裂紋(wen)很窄(zhai)，毛細現象(xiang)(xiang)作用(yong)(yong)(yong)顯(xian)(xian)著(zhu)，原滲透(tou)(tou)(tou)(tou)(tou)到(dao)裂紋(wen)內(nei)的(de)(de)(de)(de)(de)滲透(tou)(tou)(tou)(tou)(tou)液(ye)(ye)(ye)(ye)將(jiang)(jiang)上升(sheng)到(dao)表(biao)面并擴(kuo)散，在白(bai)色(se)的(de)(de)(de)(de)(de)襯底上顯(xian)(xian)出較粗的(de)(de)(de)(de)(de)紅線，從(cong)而(er)顯(xian)(xian)示出裂紋(wen)露于表(biao)面的(de)(de)(de)(de)(de)形狀，因此，常稱(cheng)為(wei)(wei)(wei)著(zhu)色(se)探(tan)傷(shang)(shang)。若滲透(tou)(tou)(tou)(tou)(tou)液(ye)(ye)(ye)(ye)采用(yong)(yong)(yong)的(de)(de)(de)(de)(de)是(shi)帶(dai)熒光(guang)的(de)(de)(de)(de)(de)液(ye)(ye)(ye)(ye)體(ti)(ti)(ti)，由(you)(you)毛細現象(xiang)(xiang)上升(sheng)到(dao)表(biao)面的(de)(de)(de)(de)(de)液(ye)(ye)(ye)(ye)體(ti)(ti)(ti)，則會在紫外燈照(zhao)射(she)下發出熒光(guang)，從(cong)而(er)更能顯(xian)(xian)示出裂紋(wen)露于表(biao)面的(de)(de)(de)(de)(de)形狀，故(gu)常常又將(jiang)(jiang)此時的(de)(de)(de)(de)(de)滲透(tou)(tou)(tou)(tou)(tou)探(tan)傷(shang)(shang)直(zhi)接稱(cheng)為(wei)(wei)(wei)熒光(guang)探(tan)傷(shang)(shang)。此探(tan)傷(shang)(shang)方法也可(ke)用(yong)(yong)(yong)于金(jin)(jin)屬(shu)(shu)和(he)非(fei)金(jin)(jin)屬(shu)(shu)表(biao)面探(tan)傷(shang)(shang)。其使用(yong)(yong)(yong)的(de)(de)(de)(de)(de)探(tan)傷(shang)(shang)液(ye)(ye)(ye)(ye)劑有(you)(you)較大(da)氣(qi)味(wei)，常有(you)(you)一定毒性(xing)。
探傷儀除以上五大常規方法外，近年(nian)來(lai)又有了紅(hong)外、聲發射等(deng)一些新的探(tan)傷(shang)方法。
