一、探傷儀是干什么用的
探傷儀(yi)是(shi)一種探測機器(qi)缺陷的的工程器(qi)械，它的主(zhu)要用(yong)途是(shi)探測機器(qi)加(jia)工件內部是(shi)否(fou)(fou)有缺陷，如(ru)裂紋、砂眼、氣孔、白(bai)點、夾雜等，檢查(cha)焊縫是(shi)否(fou)(fou)合格(ge)，查(cha)找有無暗傷，進而判(pan)定工件合格(ge)與否(fou)(fou)。
探(tan)傷(shang)儀的(de)應(ying)用十分廣泛(fan)，目(mu)前(qian)探(tan)傷(shang)儀主(zhu)要用在工業和醫(yi)療(liao)上(shang)，工業上(shang)用于(yu)檢測金屬材(cai)料中是(shi)(shi)否有傷(shang)痕(hen)、氣泡、裂縫等，醫(yi)學(xue)上(shang)用于(yu)檢測人體的(de)軟(ruan)組織、血流等是(shi)(shi)否正常。
二、探傷儀的原理是什么
探(tan)(tan)傷(shang)儀(yi)檢(jian)測通(tong)常是(shi)(shi)對被測物(wu)體(ti)(ti)（比如工業材料(liao)、人體(ti)(ti)）發射(she)超(chao)聲(sheng)，然后(hou)利(li)用(yong)其反射(she)、多普(pu)勒(le)效應(ying)、透(tou)(tou)射(she)等(deng)來獲取被測物(wu)體(ti)(ti)內部(bu)的(de)信息(xi)并經過處(chu)理形成圖像。探(tan)(tan)傷(shang)儀(yi)其中多普(pu)勒(le)效應(ying)法是(shi)(shi)利(li)用(yong)超(chao)聲(sheng)在遇(yu)到運動(dong)的(de)物(wu)體(ti)(ti)時發生的(de)多普(pu)勒(le)頻移效應(ying)來得(de)出該物(wu)體(ti)(ti)的(de)運動(dong)方向和速度等(deng)特性；透(tou)(tou)射(she)法則是(shi)(shi)通(tong)過分析(xi)超(chao)聲(sheng)穿透(tou)(tou)過被測物(wu)體(ti)(ti)之后(hou)的(de)變化而得(de)出物(wu)體(ti)(ti)的(de)內部(bu)特性的(de)，其應(ying)用(yong)還處(chu)于研制階段。
三、探傷儀怎么使用
探傷儀(yi)五大(da)常規(gui)方(fang)法(fa)(fa)是指(zhi)射線探傷法(fa)(fa)、超聲波(bo)探傷法(fa)(fa)、磁粉(fen)探傷法(fa)(fa)、渦流(liu)探傷法(fa)(fa)和滲透(tou)探傷法(fa)(fa)。
1、射線探傷方法
射(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)探(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)是利用射(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)的(de)(de)(de)(de)(de)穿透(tou)性和(he)直(zhi)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)性來(lai)探(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)的(de)(de)(de)(de)(de)方法。這(zhe)些射(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)雖然不(bu)會像可(ke)(ke)見光(guang)(guang)(guang)那樣憑(ping)肉(rou)眼就(jiu)能直(zhi)接(jie)察知(zhi)，但它可(ke)(ke)使照(zhao)相(xiang)底片感(gan)(gan)(gan)光(guang)(guang)(guang)，也(ye)(ye)可(ke)(ke)用特殊的(de)(de)(de)(de)(de)接(jie)收器來(lai)接(jie)收。常(chang)用于(yu)探(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)的(de)(de)(de)(de)(de)射(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)有(you)x光(guang)(guang)(guang)和(he)同位素發(fa)出(chu)的(de)(de)(de)(de)(de)γ射(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)，分別稱(cheng)為x光(guang)(guang)(guang)探(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)和(he)γ射(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)探(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)。當這(zhe)些射(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)穿過（照(zhao)射(she)(she)(she)(she)(she)(she)）物質時(shi)，該物質的(de)(de)(de)(de)(de)密(mi)(mi)度(du)越(yue)大，射(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)強(qiang)度(du)減(jian)弱得越(yue)多，即(ji)射(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)能穿透(tou)過該物質的(de)(de)(de)(de)(de)強(qiang)度(du)就(jiu)越(yue)小(xiao)。此(ci)時(shi)，若用照(zhao)相(xiang)底片接(jie)收，則(ze)底片的(de)(de)(de)(de)(de)感(gan)(gan)(gan)光(guang)(guang)(guang)量就(jiu)小(xiao)；若用儀器來(lai)接(jie)收，獲得的(de)(de)(de)(de)(de)信號就(jiu)弱。因(yin)此(ci)，用射(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)來(lai)照(zhao)射(she)(she)(she)(she)(she)(she)待(dai)探(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)的(de)(de)(de)(de)(de)零(ling)部(bu)件時(shi)，若其內部(bu)有(you)氣(qi)孔(kong)、夾渣等缺(que)陷(xian)，射(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)穿過有(you)缺(que)陷(xian)的(de)(de)(de)(de)(de)路(lu)徑(jing)比沒(mei)有(you)缺(que)陷(xian)的(de)(de)(de)(de)(de)路(lu)徑(jing)所(suo)透(tou)過的(de)(de)(de)(de)(de)物質密(mi)(mi)度(du)要小(xiao)得多，其強(qiang)度(du)就(jiu)減(jian)弱得少些，即(ji)透(tou)過的(de)(de)(de)(de)(de)強(qiang)度(du)就(jiu)大些，若用底片接(jie)收，則(ze)感(gan)(gan)(gan)光(guang)(guang)(guang)量就(jiu)大些，就(jiu)可(ke)(ke)以(yi)從(cong)底片上(shang)反映(ying)出(chu)缺(que)陷(xian)垂直(zhi)于(yu)射(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)方向的(de)(de)(de)(de)(de)平(ping)面(mian)(mian)投影；若用其它接(jie)收器也(ye)(ye)同樣可(ke)(ke)以(yi)用儀表來(lai)反映(ying)缺(que)陷(xian)垂直(zhi)于(yu)射(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)方向的(de)(de)(de)(de)(de)平(ping)面(mian)(mian)投影和(he)射(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)的(de)(de)(de)(de)(de)透(tou)過量。由(you)此(ci)可(ke)(ke)見，一(yi)般情(qing)況下，射(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)探(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)是不(bu)易發(fa)現裂(lie)紋(wen)的(de)(de)(de)(de)(de)，或(huo)者說，射(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)探(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)對裂(lie)紋(wen)是不(bu)敏(min)感(gan)(gan)(gan)的(de)(de)(de)(de)(de)。因(yin)此(ci)，射(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)探(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)對氣(qi)孔(kong)、夾渣、未焊(han)透(tou)等體積型缺(que)陷(xian)最敏(min)感(gan)(gan)(gan)。即(ji)射(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)探(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)適宜用于(yu)體積型缺(que)陷(xian)探(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)，而不(bu)適宜面(mian)(mian)積型缺(que)陷(xian)探(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)。
2、超聲波探傷方法
人們的(de)(de)耳朵能直接接收(shou)(shou)到(dao)的(de)(de)聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)(bo)(bo)的(de)(de)頻(pin)(pin)(pin)率范圍通常(chang)是20Hz到(dao)20kHz，即音（聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)）頻(pin)(pin)(pin)。頻(pin)(pin)(pin)率低于(yu)(yu)(yu)20Hz的(de)(de)稱(cheng)為次聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)(bo)(bo)，高于(yu)(yu)(yu)20 kHz的(de)(de)稱(cheng)為超(chao)(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)(bo)(bo)。工業上常(chang)用(yong)(yong)數兆赫茲超(chao)(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)(bo)(bo)來探(tan)傷(shang)。超(chao)(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)(bo)(bo)頻(pin)(pin)(pin)率高，則傳播(bo)的(de)(de)直線性(xing)強，又易于(yu)(yu)(yu)在固體中傳播(bo)，并(bing)且(qie)遇到(dao)兩種不同介質(zhi)形成的(de)(de)界(jie)(jie)面(mian)(mian)時(shi)易于(yu)(yu)(yu)反(fan)射(she)，這樣就(jiu)可以用(yong)(yong)它來探(tan)傷(shang)。通常(chang)用(yong)(yong)超(chao)(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)(bo)(bo)探(tan)頭與待探(tan)工件表(biao)(biao)面(mian)(mian)良好的(de)(de)接觸，探(tan)頭則可有(you)效地(di)向(xiang)工件發射(she)超(chao)(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)(bo)(bo)，并(bing)能接收(shou)(shou)（缺(que)陷）界(jie)(jie)面(mian)(mian)反(fan)射(she)來的(de)(de)超(chao)(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)(bo)(bo)，同時(shi)轉換成電信號，再傳輸給儀器進(jin)行處理。根據超(chao)(chao)(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)(bo)(bo)在介質(zhi)中傳播(bo)的(de)(de)速度(du)（常(chang)稱(cheng)聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)速）和傳播(bo)的(de)(de)時(shi)間，就(jiu)可知(zhi)道缺(que)陷的(de)(de)位(wei)置(zhi)。當(dang)缺(que)陷越大，反(fan)射(she)面(mian)(mian)則越大，其反(fan)射(she)的(de)(de)能量(liang)(liang)也就(jiu)越大，故(gu)可根據反(fan)射(she)能量(liang)(liang)的(de)(de)大小來查(cha)知(zhi)各缺(que)陷（當(dang)量(liang)(liang)）的(de)(de)大小。常(chang)用(yong)(yong)的(de)(de)探(tan)傷(shang)波(bo)(bo)(bo)(bo)(bo)形有(you)縱波(bo)(bo)(bo)(bo)(bo)、橫波(bo)(bo)(bo)(bo)(bo)、表(biao)(biao)面(mian)(mian)波(bo)(bo)(bo)(bo)(bo)等，前(qian)二者(zhe)適(shi)用(yong)(yong)于(yu)(yu)(yu)探(tan)測內部缺(que)陷，后者(zhe)適(shi)宜于(yu)(yu)(yu)探(tan)測表(biao)(biao)面(mian)(mian)缺(que)陷，但對表(biao)(biao)面(mian)(mian)的(de)(de)條件要求高。
3、磁粉探傷方法
磁(ci)(ci)粉(fen)(fen)探(tan)(tan)傷(shang)(shang)是建立在(zai)漏磁(ci)(ci)原理基礎(chu)上的(de)(de)一種磁(ci)(ci)力(li)(li)探(tan)(tan)傷(shang)(shang)方(fang)(fang)法(fa)(fa)。當磁(ci)(ci)力(li)(li)線(xian)穿(chuan)過(guo)鐵(tie)磁(ci)(ci)材(cai)料(liao)及(ji)其(qi)(qi)制品(pin)時，在(zai)其(qi)(qi)（磁(ci)(ci)性）不連(lian)續處將產(chan)生(sheng)漏磁(ci)(ci)場，形成磁(ci)(ci)極(ji)。此時撒上干磁(ci)(ci)粉(fen)(fen)或(huo)澆上磁(ci)(ci)懸液，磁(ci)(ci)極(ji)就會吸附磁(ci)(ci)粉(fen)(fen)，產(chan)生(sheng)用(yong)肉(rou)眼能(neng)直接(jie)觀察(cha)的(de)(de)明(ming)顯(xian)磁(ci)(ci)痕。因(yin)此，可(ke)借助于該磁(ci)(ci)痕來(lai)顯(xian)示(shi)鐵(tie)磁(ci)(ci)材(cai)料(liao)及(ji)其(qi)(qi)制品(pin)的(de)(de)缺(que)陷(xian)情況(kuang)。磁(ci)(ci)粉(fen)(fen)探(tan)(tan)傷(shang)(shang)法(fa)(fa)可(ke)探(tan)(tan)測(ce)露(lu)出表(biao)面，用(yong)肉(rou)眼或(huo)借助于放大鏡(jing)也(ye)不能(neng)直接(jie)觀察(cha)到(dao)的(de)(de)微小缺(que)陷(xian)，也(ye)可(ke)探(tan)(tan)測(ce)未露(lu)出表(biao)面，而(er)是埋藏在(zai)表(biao)面下幾毫米(mi)的(de)(de)近表(biao)面缺(que)陷(xian)。用(yong)這(zhe)種方(fang)(fang)法(fa)(fa)雖然也(ye)能(neng)探(tan)(tan)查(cha)氣孔、夾(jia)雜(za)、未焊(han)(han)透等體積(ji)型缺(que)陷(xian)，但(dan)對面積(ji)型缺(que)陷(xian)更靈敏(min)，更適于檢查(cha)因(yin)淬火、軋制、鍛造、鑄造、焊(han)(han)接(jie)、電鍍、磨削、疲勞等引起的(de)(de)裂(lie)紋。
磁(ci)力探(tan)傷(shang)(shang)中(zhong)對缺(que)(que)陷的(de)顯(xian)示方法有多種(zhong)，有用磁(ci)粉(fen)顯(xian)示的(de)，也有不用磁(ci)粉(fen)顯(xian)示的(de)。用磁(ci)粉(fen)顯(xian)示的(de)稱為磁(ci)粉(fen)探(tan)傷(shang)(shang)，因(yin)它顯(xian)示直觀、操作簡單(dan)、人們樂于(yu)使用，故它是最常用的(de)方法之一。不用磁(ci)粉(fen)顯(xian)示的(de)，習慣上稱為漏(lou)磁(ci)探(tan)傷(shang)(shang)，它常借助于(yu)感應(ying)線(xian)圈、磁(ci)敏管、霍爾元件等來反映缺(que)(que)陷，它比(bi)磁(ci)粉(fen)探(tan)傷(shang)(shang)更衛生，但不如前者直觀。由于(yu)磁(ci)力探(tan)傷(shang)(shang)主要用磁(ci)粉(fen)來顯(xian)示缺(que)(que)陷，因(yin)此(ci)，人們有時把磁(ci)粉(fen)探(tan)傷(shang)(shang)直接稱為磁(ci)力探(tan)傷(shang)(shang)，其設備(bei)稱為磁(ci)力探(tan)傷(shang)(shang)設備(bei)。
4、渦流探傷方法
渦(wo)(wo)流(liu)(liu)(liu)探傷是由交流(liu)(liu)(liu)電(dian)流(liu)(liu)(liu)產(chan)生(sheng)(sheng)的(de)(de)交變磁(ci)場作用(yong)于(yu)待探傷的(de)(de)導電(dian)材料，感應(ying)出(chu)電(dian)渦(wo)(wo)流(liu)(liu)(liu)。如果材料中(zhong)有(you)(you)缺陷，它將(jiang)干擾所產(chan)生(sheng)(sheng)的(de)(de)電(dian)渦(wo)(wo)流(liu)(liu)(liu)，即形成干擾信(xin)號(hao)(hao)。用(yong)渦(wo)(wo)流(liu)(liu)(liu)探傷儀檢測(ce)出(chu)其干擾信(xin)號(hao)(hao)，就可知道缺陷的(de)(de)狀況。影響渦(wo)(wo)流(liu)(liu)(liu)的(de)(de)因(yin)素很多(duo)，即是說(shuo)渦(wo)(wo)流(liu)(liu)(liu)中(zhong)載有(you)(you)豐(feng)富的(de)(de)信(xin)號(hao)(hao)，這(zhe)些信(xin)號(hao)(hao)與(yu)材料的(de)(de)很多(duo)因(yin)素有(you)(you)關(guan)，如何(he)將(jiang)其中(zhong)有(you)(you)用(yong)的(de)(de)信(xin)號(hao)(hao)從諸多(duo)的(de)(de)信(xin)號(hao)(hao)中(zhong)一一分離出(chu)來(lai)，是渦(wo)(wo)流(liu)(liu)(liu)研究工作者(zhe)的(de)(de)難題(ti)，多(duo)年(nian)來(lai)已經取(qu)得了(le)一些進(jin)展(zhan)，在一定條件下(xia)可解(jie)決一些問題(ti)，但還遠(yuan)不能滿足現(xian)場的(de)(de)要(yao)求，有(you)(you)待于(yu)大力發展(zhan)。
渦流探(tan)傷的顯著特點是對導電材(cai)料就能起作用(yong)，而不(bu)一定是鐵(tie)磁材(cai)料，但對鐵(tie)磁材(cai)料的效果(guo)較差(cha)。其次(ci)，待探(tan)工件(jian)表面的光(guang)(guang)潔度(du)、平(ping)整度(du)、邊介(jie)等對渦流探(tan)傷都有較大影響，因此(ci)常將渦流探(tan)傷用(yong)于形(xing)狀(zhuang)較規則、表面較光(guang)(guang)潔的銅管等非鐵(tie)磁性工件(jian)探(tan)傷。
5、滲透探傷方法
滲(shen)(shen)(shen)透(tou)探(tan)傷(shang)(shang)是(shi)利用(yong)(yong)(yong)毛(mao)細(xi)現象來進行探(tan)傷(shang)(shang)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)方法。對于(yu)表面(mian)(mian)(mian)光滑而清潔的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)零部件，用(yong)(yong)(yong)一種帶色（常為(wei)(wei)紅色）或帶有熒光的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)、滲(shen)(shen)(shen)透(tou)性很(hen)強的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)液(ye)體，涂(tu)覆于(yu)待(dai)探(tan)零部件的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)表面(mian)(mian)(mian)。若表面(mian)(mian)(mian)有肉眼不能直接察知的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)微(wei)裂(lie)紋(wen)(wen)，由(you)于(yu)該液(ye)體的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)滲(shen)(shen)(shen)透(tou)性很(hen)強，它將(jiang)沿著裂(lie)紋(wen)(wen)滲(shen)(shen)(shen)透(tou)到其根部。然(ran)后(hou)將(jiang)表面(mian)(mian)(mian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)滲(shen)(shen)(shen)透(tou)液(ye)洗去，再涂(tu)上(shang)對比度較(jiao)大的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)顯(xian)示液(ye)（常為(wei)(wei)白(bai)(bai)色）。放置片刻后(hou)，由(you)于(yu)裂(lie)紋(wen)(wen)很(hen)窄，毛(mao)細(xi)現象作(zuo)用(yong)(yong)(yong)顯(xian)著，原滲(shen)(shen)(shen)透(tou)到裂(lie)紋(wen)(wen)內的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)滲(shen)(shen)(shen)透(tou)液(ye)將(jiang)上(shang)升到表面(mian)(mian)(mian)并擴(kuo)散，在(zai)白(bai)(bai)色的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)襯底上(shang)顯(xian)出(chu)較(jiao)粗的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)紅線，從而顯(xian)示出(chu)裂(lie)紋(wen)(wen)露于(yu)表面(mian)(mian)(mian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)形狀，因此(ci)，常稱(cheng)為(wei)(wei)著色探(tan)傷(shang)(shang)。若滲(shen)(shen)(shen)透(tou)液(ye)采用(yong)(yong)(yong)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)是(shi)帶熒光的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)液(ye)體，由(you)毛(mao)細(xi)現象上(shang)升到表面(mian)(mian)(mian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)液(ye)體，則會在(zai)紫外燈照射下發出(chu)熒光，從而更能顯(xian)示出(chu)裂(lie)紋(wen)(wen)露于(yu)表面(mian)(mian)(mian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)形狀，故(gu)常常又(you)將(jiang)此(ci)時的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)滲(shen)(shen)(shen)透(tou)探(tan)傷(shang)(shang)直接稱(cheng)為(wei)(wei)熒光探(tan)傷(shang)(shang)。此(ci)探(tan)傷(shang)(shang)方法也可用(yong)(yong)(yong)于(yu)金(jin)(jin)屬和非金(jin)(jin)屬表面(mian)(mian)(mian)探(tan)傷(shang)(shang)。其使(shi)用(yong)(yong)(yong)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)探(tan)傷(shang)(shang)液(ye)劑(ji)有較(jiao)大氣味，常有一定毒性。
探傷儀除以上五大常規方法外(wai)，近年(nian)來(lai)又有了紅外(wai)、聲發射等(deng)一些新的(de)探傷方法。
