一、探傷儀是干什么用的
探傷(shang)儀是(shi)一種(zhong)探測(ce)機(ji)器(qi)缺陷的的工(gong)程器(qi)械，它的主要用途是(shi)探測(ce)機(ji)器(qi)加工(gong)件內部是(shi)否有(you)缺陷，如裂紋、砂眼、氣(qi)孔、白(bai)點(dian)、夾雜等，檢查焊縫是(shi)否合(he)格(ge)，查找有(you)無(wu)暗傷(shang)，進而判定(ding)工(gong)件合(he)格(ge)與否。
探傷儀(yi)的應(ying)用十(shi)分廣泛，目前探傷儀(yi)主(zhu)要用在工業和(he)醫療上(shang)(shang)，工業上(shang)(shang)用于檢測金屬材料(liao)中(zhong)是(shi)否有(you)傷痕、氣泡、裂縫(feng)等，醫學(xue)上(shang)(shang)用于檢測人體的軟組(zu)織(zhi)、血流(liu)等是(shi)否正(zheng)常。
二、探傷儀的原理是什么
探傷儀(yi)檢(jian)測(ce)通(tong)常是對被(bei)測(ce)物(wu)(wu)(wu)體(ti)(ti)（比如工業材(cai)料、人體(ti)(ti)）發射超聲(sheng)，然后利用其反(fan)射、多普(pu)勒效應、透射等來獲取被(bei)測(ce)物(wu)(wu)(wu)體(ti)(ti)內(nei)部的(de)(de)信息并經(jing)過處理形成圖像。探傷儀(yi)其中(zhong)多普(pu)勒效應法(fa)是利用超聲(sheng)在遇到運動的(de)(de)物(wu)(wu)(wu)體(ti)(ti)時發生的(de)(de)多普(pu)勒頻(pin)移效應來得出該物(wu)(wu)(wu)體(ti)(ti)的(de)(de)運動方(fang)向和速度等特(te)性(xing)；透射法(fa)則是通(tong)過分析超聲(sheng)穿透過被(bei)測(ce)物(wu)(wu)(wu)體(ti)(ti)之(zhi)后的(de)(de)變化而得出物(wu)(wu)(wu)體(ti)(ti)的(de)(de)內(nei)部特(te)性(xing)的(de)(de)，其應用還處于研制階段。
三、探傷儀怎么使用
探(tan)傷(shang)儀(yi)五(wu)大(da)常規方法(fa)是指射(she)線探(tan)傷(shang)法(fa)、超(chao)聲波探(tan)傷(shang)法(fa)、磁(ci)粉(fen)探(tan)傷(shang)法(fa)、渦流探(tan)傷(shang)法(fa)和滲透探(tan)傷(shang)法(fa)。
1、射線探傷方法
射(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)是利用(yong)(yong)(yong)射(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)穿透(tou)(tou)(tou)性(xing)和(he)直線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)性(xing)來探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)方法(fa)。這些(xie)射(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)雖然不(bu)會(hui)像可(ke)見光那樣憑肉眼就能直接(jie)察知(zhi)，但它(ta)可(ke)使照(zhao)相(xiang)底(di)(di)片(pian)感(gan)(gan)光，也(ye)可(ke)用(yong)(yong)(yong)特殊的(de)(de)(de)(de)(de)(de)接(jie)收(shou)器(qi)來接(jie)收(shou)。常(chang)用(yong)(yong)(yong)于探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)射(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)有(you)x光和(he)同位素(su)發出(chu)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)γ射(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)，分別稱為x光探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)和(he)γ射(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)。當這些(xie)射(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)穿過（照(zhao)射(she)(she)(she)(she)）物(wu)質(zhi)(zhi)時，該物(wu)質(zhi)(zhi)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)密度(du)(du)越(yue)大，射(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)強(qiang)度(du)(du)減弱(ruo)得(de)越(yue)多(duo)，即(ji)射(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)能穿透(tou)(tou)(tou)過該物(wu)質(zhi)(zhi)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)強(qiang)度(du)(du)就越(yue)小(xiao)。此(ci)時，若(ruo)用(yong)(yong)(yong)照(zhao)相(xiang)底(di)(di)片(pian)接(jie)收(shou)，則(ze)底(di)(di)片(pian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)感(gan)(gan)光量就小(xiao)；若(ruo)用(yong)(yong)(yong)儀(yi)器(qi)來接(jie)收(shou)，獲得(de)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)信號(hao)就弱(ruo)。因此(ci)，用(yong)(yong)(yong)射(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)來照(zhao)射(she)(she)(she)(she)待(dai)探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)零部件時，若(ruo)其內部有(you)氣孔(kong)、夾(jia)渣等缺(que)(que)陷(xian)，射(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)穿過有(you)缺(que)(que)陷(xian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)路徑比沒有(you)缺(que)(que)陷(xian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)路徑所透(tou)(tou)(tou)過的(de)(de)(de)(de)(de)(de)物(wu)質(zhi)(zhi)密度(du)(du)要小(xiao)得(de)多(duo)，其強(qiang)度(du)(du)就減弱(ruo)得(de)少些(xie)，即(ji)透(tou)(tou)(tou)過的(de)(de)(de)(de)(de)(de)強(qiang)度(du)(du)就大些(xie)，若(ruo)用(yong)(yong)(yong)底(di)(di)片(pian)接(jie)收(shou)，則(ze)感(gan)(gan)光量就大些(xie)，就可(ke)以從(cong)底(di)(di)片(pian)上反(fan)映出(chu)缺(que)(que)陷(xian)垂(chui)直于射(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)方向(xiang)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)平面(mian)投(tou)影；若(ruo)用(yong)(yong)(yong)其它(ta)接(jie)收(shou)器(qi)也(ye)同樣可(ke)以用(yong)(yong)(yong)儀(yi)表來反(fan)映缺(que)(que)陷(xian)垂(chui)直于射(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)方向(xiang)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)平面(mian)投(tou)影和(he)射(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)透(tou)(tou)(tou)過量。由(you)此(ci)可(ke)見，一(yi)般情(qing)況下(xia)，射(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)是不(bu)易發現(xian)裂紋的(de)(de)(de)(de)(de)(de)，或(huo)者說，射(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)對裂紋是不(bu)敏感(gan)(gan)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)。因此(ci)，射(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)對氣孔(kong)、夾(jia)渣、未(wei)焊透(tou)(tou)(tou)等體積型(xing)缺(que)(que)陷(xian)最敏感(gan)(gan)。即(ji)射(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)適宜用(yong)(yong)(yong)于體積型(xing)缺(que)(que)陷(xian)探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)，而不(bu)適宜面(mian)積型(xing)缺(que)(que)陷(xian)探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)。
2、超聲波探傷方法
人(ren)們(men)的(de)(de)耳(er)朵能直(zhi)接接收到的(de)(de)聲(sheng)波(bo)(bo)的(de)(de)頻(pin)率范(fan)圍(wei)通常(chang)是20Hz到20kHz，即(ji)音(yin)（聲(sheng)）頻(pin)。頻(pin)率低于(yu)20Hz的(de)(de)稱(cheng)為次聲(sheng)波(bo)(bo)，高于(yu)20 kHz的(de)(de)稱(cheng)為超(chao)聲(sheng)波(bo)(bo)。工業上常(chang)用(yong)數兆赫(he)茲超(chao)聲(sheng)波(bo)(bo)來(lai)探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)。超(chao)聲(sheng)波(bo)(bo)頻(pin)率高，則傳播(bo)的(de)(de)直(zhi)線性強(qiang)，又易(yi)于(yu)在固體中(zhong)傳播(bo)，并且(qie)遇到兩種(zhong)不同介(jie)(jie)質形成(cheng)的(de)(de)界面(mian)(mian)(mian)時易(yi)于(yu)反(fan)射，這樣就可以用(yong)它(ta)來(lai)探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)。通常(chang)用(yong)超(chao)聲(sheng)波(bo)(bo)探(tan)(tan)(tan)(tan)頭與待探(tan)(tan)(tan)(tan)工件表(biao)面(mian)(mian)(mian)良好(hao)的(de)(de)接觸，探(tan)(tan)(tan)(tan)頭則可有效地向(xiang)工件發(fa)射超(chao)聲(sheng)波(bo)(bo)，并能接收（缺(que)陷(xian)(xian)）界面(mian)(mian)(mian)反(fan)射來(lai)的(de)(de)超(chao)聲(sheng)波(bo)(bo)，同時轉換成(cheng)電信號(hao)，再傳輸給(gei)儀(yi)器進行(xing)處理。根(gen)據超(chao)聲(sheng)波(bo)(bo)在介(jie)(jie)質中(zhong)傳播(bo)的(de)(de)速度（常(chang)稱(cheng)聲(sheng)速）和傳播(bo)的(de)(de)時間，就可知道缺(que)陷(xian)(xian)的(de)(de)位置。當(dang)缺(que)陷(xian)(xian)越(yue)大(da)，反(fan)射面(mian)(mian)(mian)則越(yue)大(da)，其反(fan)射的(de)(de)能量也(ye)就越(yue)大(da)，故可根(gen)據反(fan)射能量的(de)(de)大(da)小來(lai)查知各缺(que)陷(xian)(xian)（當(dang)量）的(de)(de)大(da)小。常(chang)用(yong)的(de)(de)探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)波(bo)(bo)形有縱波(bo)(bo)、橫波(bo)(bo)、表(biao)面(mian)(mian)(mian)波(bo)(bo)等(deng)，前(qian)二者適(shi)用(yong)于(yu)探(tan)(tan)(tan)(tan)測內部缺(que)陷(xian)(xian)，后者適(shi)宜于(yu)探(tan)(tan)(tan)(tan)測表(biao)面(mian)(mian)(mian)缺(que)陷(xian)(xian)，但對表(biao)面(mian)(mian)(mian)的(de)(de)條件要求高。
3、磁粉探傷方法
磁(ci)(ci)(ci)(ci)粉探(tan)(tan)傷是建立在漏磁(ci)(ci)(ci)(ci)原(yuan)理基(ji)礎(chu)上(shang)(shang)(shang)的(de)(de)(de)一種(zhong)磁(ci)(ci)(ci)(ci)力探(tan)(tan)傷方法(fa)。當(dang)磁(ci)(ci)(ci)(ci)力線穿過(guo)鐵磁(ci)(ci)(ci)(ci)材(cai)料及其(qi)制品時，在其(qi)（磁(ci)(ci)(ci)(ci)性）不連(lian)續處將(jiang)產生漏磁(ci)(ci)(ci)(ci)場，形(xing)成磁(ci)(ci)(ci)(ci)極(ji)。此時撒上(shang)(shang)(shang)干磁(ci)(ci)(ci)(ci)粉或(huo)澆上(shang)(shang)(shang)磁(ci)(ci)(ci)(ci)懸液(ye)，磁(ci)(ci)(ci)(ci)極(ji)就會吸(xi)附(fu)磁(ci)(ci)(ci)(ci)粉，產生用肉眼能直接觀察的(de)(de)(de)明顯磁(ci)(ci)(ci)(ci)痕(hen)(hen)。因(yin)此，可(ke)借助于(yu)該(gai)磁(ci)(ci)(ci)(ci)痕(hen)(hen)來顯示鐵磁(ci)(ci)(ci)(ci)材(cai)料及其(qi)制品的(de)(de)(de)缺(que)陷情況。磁(ci)(ci)(ci)(ci)粉探(tan)(tan)傷法(fa)可(ke)探(tan)(tan)測(ce)露(lu)出表面(mian)，用肉眼或(huo)借助于(yu)放(fang)大鏡也(ye)不能直接觀察到的(de)(de)(de)微小缺(que)陷，也(ye)可(ke)探(tan)(tan)測(ce)未露(lu)出表面(mian)，而是埋藏在表面(mian)下幾毫米的(de)(de)(de)近表面(mian)缺(que)陷。用這種(zhong)方法(fa)雖然也(ye)能探(tan)(tan)查氣孔、夾雜、未焊透等體積型(xing)缺(que)陷，但對面(mian)積型(xing)缺(que)陷更(geng)靈(ling)敏(min)，更(geng)適于(yu)檢查因(yin)淬火(huo)、軋(ya)制、鍛造(zao)、鑄造(zao)、焊接、電鍍(du)、磨削、疲勞等引起的(de)(de)(de)裂紋。
磁(ci)(ci)(ci)力探(tan)(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)中對缺陷(xian)(xian)的(de)顯(xian)(xian)示(shi)(shi)方法有多種，有用(yong)磁(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)顯(xian)(xian)示(shi)(shi)的(de)，也有不(bu)用(yong)磁(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)顯(xian)(xian)示(shi)(shi)的(de)。用(yong)磁(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)顯(xian)(xian)示(shi)(shi)的(de)稱(cheng)為磁(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)探(tan)(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)，因它(ta)(ta)(ta)顯(xian)(xian)示(shi)(shi)直(zhi)(zhi)觀(guan)、操作(zuo)簡單、人們樂于(yu)(yu)使用(yong)，故它(ta)(ta)(ta)是(shi)最常用(yong)的(de)方法之一。不(bu)用(yong)磁(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)顯(xian)(xian)示(shi)(shi)的(de)，習慣上稱(cheng)為漏磁(ci)(ci)(ci)探(tan)(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)，它(ta)(ta)(ta)常借助于(yu)(yu)感應線(xian)圈、磁(ci)(ci)(ci)敏管、霍爾元件等來(lai)反(fan)映(ying)缺陷(xian)(xian)，它(ta)(ta)(ta)比(bi)磁(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)探(tan)(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)更衛生，但不(bu)如(ru)前者直(zhi)(zhi)觀(guan)。由于(yu)(yu)磁(ci)(ci)(ci)力探(tan)(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)主要用(yong)磁(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)來(lai)顯(xian)(xian)示(shi)(shi)缺陷(xian)(xian)，因此(ci)，人們有時把磁(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)探(tan)(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)直(zhi)(zhi)接(jie)稱(cheng)為磁(ci)(ci)(ci)力探(tan)(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)，其設備稱(cheng)為磁(ci)(ci)(ci)力探(tan)(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)設備。
4、渦流探傷方法
渦(wo)流(liu)探(tan)傷(shang)是由交(jiao)流(liu)電(dian)流(liu)產(chan)生(sheng)(sheng)的(de)(de)(de)(de)交(jiao)變磁場(chang)作(zuo)用于(yu)待探(tan)傷(shang)的(de)(de)(de)(de)導電(dian)材料(liao)，感(gan)應(ying)出電(dian)渦(wo)流(liu)。如(ru)果材料(liao)中(zhong)(zhong)有(you)缺陷，它將(jiang)干(gan)(gan)(gan)擾所(suo)產(chan)生(sheng)(sheng)的(de)(de)(de)(de)電(dian)渦(wo)流(liu)，即(ji)形成干(gan)(gan)(gan)擾信(xin)(xin)號(hao)(hao)。用渦(wo)流(liu)探(tan)傷(shang)儀檢(jian)測出其干(gan)(gan)(gan)擾信(xin)(xin)號(hao)(hao)，就可知道(dao)缺陷的(de)(de)(de)(de)狀況。影(ying)響渦(wo)流(liu)的(de)(de)(de)(de)因素很多(duo)(duo)，即(ji)是說渦(wo)流(liu)中(zhong)(zhong)載有(you)豐富(fu)的(de)(de)(de)(de)信(xin)(xin)號(hao)(hao)，這些信(xin)(xin)號(hao)(hao)與材料(liao)的(de)(de)(de)(de)很多(duo)(duo)因素有(you)關，如(ru)何將(jiang)其中(zhong)(zhong)有(you)用的(de)(de)(de)(de)信(xin)(xin)號(hao)(hao)從諸多(duo)(duo)的(de)(de)(de)(de)信(xin)(xin)號(hao)(hao)中(zhong)(zhong)一一分離出來(lai)，是渦(wo)流(liu)研究工作(zuo)者的(de)(de)(de)(de)難(nan)題，多(duo)(duo)年(nian)來(lai)已經取(qu)得了一些進展(zhan)，在(zai)一定條件(jian)下可解(jie)決一些問題，但還遠不能滿足現場(chang)的(de)(de)(de)(de)要求(qiu)，有(you)待于(yu)大力(li)發展(zhan)。
渦流探(tan)(tan)傷的顯著特點是(shi)對(dui)導電材料就能起作(zuo)用(yong)，而不(bu)一定是(shi)鐵磁材料，但對(dui)鐵磁材料的效果較差。其次，待(dai)探(tan)(tan)工件表面的光(guang)潔度、平(ping)整度、邊介(jie)等對(dui)渦流探(tan)(tan)傷都有較大影響，因(yin)此常將(jiang)渦流探(tan)(tan)傷用(yong)于形狀較規則、表面較光(guang)潔的銅管等非(fei)鐵磁性工件探(tan)(tan)傷。
5、滲透探傷方法
滲(shen)(shen)(shen)透(tou)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)是利用(yong)毛細現(xian)象來進行(xing)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)的(de)(de)(de)(de)方(fang)法(fa)。對(dui)于表(biao)(biao)面(mian)光滑(hua)而(er)清潔的(de)(de)(de)(de)零(ling)部件(jian)，用(yong)一(yi)種(zhong)帶(dai)色(se)(se)(se)（常(chang)為(wei)紅(hong)色(se)(se)(se)）或帶(dai)有(you)(you)(you)熒光的(de)(de)(de)(de)、滲(shen)(shen)(shen)透(tou)性(xing)(xing)很強(qiang)的(de)(de)(de)(de)液(ye)體，涂覆于待探(tan)(tan)(tan)零(ling)部件(jian)的(de)(de)(de)(de)表(biao)(biao)面(mian)。若(ruo)表(biao)(biao)面(mian)有(you)(you)(you)肉(rou)眼不能直接(jie)察知(zhi)的(de)(de)(de)(de)微裂紋(wen)(wen)，由(you)(you)于該液(ye)體的(de)(de)(de)(de)滲(shen)(shen)(shen)透(tou)性(xing)(xing)很強(qiang)，它(ta)將沿著裂紋(wen)(wen)滲(shen)(shen)(shen)透(tou)到(dao)(dao)其(qi)(qi)根部。然后將表(biao)(biao)面(mian)的(de)(de)(de)(de)滲(shen)(shen)(shen)透(tou)液(ye)洗(xi)去，再涂上(shang)對(dui)比度較(jiao)大的(de)(de)(de)(de)顯示(shi)液(ye)（常(chang)為(wei)白(bai)色(se)(se)(se)）。放(fang)置片(pian)刻(ke)后，由(you)(you)于裂紋(wen)(wen)很窄(zhai)，毛細現(xian)象作用(yong)顯著，原(yuan)滲(shen)(shen)(shen)透(tou)到(dao)(dao)裂紋(wen)(wen)內的(de)(de)(de)(de)滲(shen)(shen)(shen)透(tou)液(ye)將上(shang)升到(dao)(dao)表(biao)(biao)面(mian)并擴(kuo)散，在白(bai)色(se)(se)(se)的(de)(de)(de)(de)襯底上(shang)顯出(chu)較(jiao)粗的(de)(de)(de)(de)紅(hong)線，從而(er)顯示(shi)出(chu)裂紋(wen)(wen)露于表(biao)(biao)面(mian)的(de)(de)(de)(de)形狀(zhuang)(zhuang)，因此，常(chang)稱為(wei)著色(se)(se)(se)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)。若(ruo)滲(shen)(shen)(shen)透(tou)液(ye)采用(yong)的(de)(de)(de)(de)是帶(dai)熒光的(de)(de)(de)(de)液(ye)體，由(you)(you)毛細現(xian)象上(shang)升到(dao)(dao)表(biao)(biao)面(mian)的(de)(de)(de)(de)液(ye)體，則會(hui)在紫(zi)外燈照射(she)下(xia)發出(chu)熒光，從而(er)更能顯示(shi)出(chu)裂紋(wen)(wen)露于表(biao)(biao)面(mian)的(de)(de)(de)(de)形狀(zhuang)(zhuang)，故常(chang)常(chang)又(you)將此時的(de)(de)(de)(de)滲(shen)(shen)(shen)透(tou)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)直接(jie)稱為(wei)熒光探(tan)(tan)(tan)傷(shang)。此探(tan)(tan)(tan)傷(shang)方(fang)法(fa)也可(ke)用(yong)于金(jin)屬和非金(jin)屬表(biao)(biao)面(mian)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)。其(qi)(qi)使(shi)用(yong)的(de)(de)(de)(de)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)液(ye)劑有(you)(you)(you)較(jiao)大氣味，常(chang)有(you)(you)(you)一(yi)定毒性(xing)(xing)。
探傷儀除(chu)以上五大常規方法外(wai)，近年來(lai)又有了紅外(wai)、聲發射等一些新(xin)的探傷方法。
