一、探傷儀是干什么用的
探傷(shang)儀是(shi)(shi)一(yi)種探測(ce)機器缺(que)(que)陷的的工程器械，它的主要用途是(shi)(shi)探測(ce)機器加(jia)工件(jian)內(nei)部是(shi)(shi)否有缺(que)(que)陷，如裂(lie)紋(wen)、砂眼、氣孔、白點、夾雜等，檢查焊縫是(shi)(shi)否合格，查找有無暗傷(shang)，進而判定(ding)工件(jian)合格與否。
探傷儀的應用十分廣(guang)泛，目前探傷儀主要(yao)用在工業和醫(yi)(yi)療上(shang)，工業上(shang)用于檢測(ce)金屬(shu)材料中(zhong)是否(fou)有傷痕、氣泡、裂(lie)縫等(deng)，醫(yi)(yi)學上(shang)用于檢測(ce)人體(ti)的軟組織、血流等(deng)是否(fou)正常。
二、探傷儀的原理是什么
探(tan)傷儀檢(jian)測通(tong)常(chang)是(shi)對被測物體(ti)（比如工業材料(liao)、人體(ti)）發射超(chao)聲，然后(hou)利(li)用其(qi)(qi)反射、多(duo)普(pu)勒效(xiao)應、透射等(deng)來獲取被測物體(ti)內(nei)部的(de)(de)信(xin)息并經過(guo)處理(li)形成圖像。探(tan)傷儀其(qi)(qi)中多(duo)普(pu)勒效(xiao)應法(fa)是(shi)利(li)用超(chao)聲在遇到運動的(de)(de)物體(ti)時發生的(de)(de)多(duo)普(pu)勒頻移效(xiao)應來得出(chu)該物體(ti)的(de)(de)運動方(fang)向和速(su)度等(deng)特性；透射法(fa)則是(shi)通(tong)過(guo)分(fen)析(xi)超(chao)聲穿透過(guo)被測物體(ti)之后(hou)的(de)(de)變化而(er)得出(chu)物體(ti)的(de)(de)內(nei)部特性的(de)(de)，其(qi)(qi)應用還處于研(yan)制階段。
三、探傷儀怎么使用
探(tan)(tan)傷(shang)(shang)儀五大常規方法是指射(she)線探(tan)(tan)傷(shang)(shang)法、超聲波探(tan)(tan)傷(shang)(shang)法、磁粉探(tan)(tan)傷(shang)(shang)法、渦流探(tan)(tan)傷(shang)(shang)法和(he)滲透探(tan)(tan)傷(shang)(shang)法。
1、射線探傷方法
射(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)探(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)是利(li)用(yong)(yong)射(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)的(de)(de)(de)穿(chuan)透(tou)性(xing)和(he)直(zhi)線(xian)(xian)(xian)(xian)性(xing)來(lai)(lai)探(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)的(de)(de)(de)方法。這(zhe)些(xie)(xie)射(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)雖然(ran)不(bu)會像(xiang)可(ke)見光(guang)(guang)(guang)(guang)那樣(yang)憑肉眼(yan)就(jiu)(jiu)(jiu)能直(zhi)接(jie)察知(zhi)，但它(ta)可(ke)使照(zhao)相底片(pian)(pian)感(gan)光(guang)(guang)(guang)(guang)，也可(ke)用(yong)(yong)特殊的(de)(de)(de)接(jie)收器(qi)(qi)來(lai)(lai)接(jie)收。常用(yong)(yong)于(yu)探(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)的(de)(de)(de)射(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)有(you)x光(guang)(guang)(guang)(guang)和(he)同位素(su)發(fa)出(chu)的(de)(de)(de)γ射(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)，分別稱為(wei)x光(guang)(guang)(guang)(guang)探(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)和(he)γ射(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)探(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)。當這(zhe)些(xie)(xie)射(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)穿(chuan)過(guo)（照(zhao)射(she)(she)(she)(she)(she)(she)）物(wu)(wu)質時(shi)，該物(wu)(wu)質的(de)(de)(de)密度(du)(du)越(yue)大(da)，射(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)強(qiang)(qiang)度(du)(du)減(jian)弱得越(yue)多(duo)，即(ji)射(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)能穿(chuan)透(tou)過(guo)該物(wu)(wu)質的(de)(de)(de)強(qiang)(qiang)度(du)(du)就(jiu)(jiu)(jiu)越(yue)小。此時(shi)，若(ruo)用(yong)(yong)照(zhao)相底片(pian)(pian)接(jie)收，則底片(pian)(pian)的(de)(de)(de)感(gan)光(guang)(guang)(guang)(guang)量(liang)就(jiu)(jiu)(jiu)小；若(ruo)用(yong)(yong)儀器(qi)(qi)來(lai)(lai)接(jie)收，獲(huo)得的(de)(de)(de)信號就(jiu)(jiu)(jiu)弱。因(yin)此，用(yong)(yong)射(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)來(lai)(lai)照(zhao)射(she)(she)(she)(she)(she)(she)待探(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)的(de)(de)(de)零(ling)部(bu)件時(shi)，若(ruo)其(qi)內部(bu)有(you)氣(qi)孔、夾渣(zha)等(deng)缺(que)(que)陷(xian)(xian)，射(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)穿(chuan)過(guo)有(you)缺(que)(que)陷(xian)(xian)的(de)(de)(de)路徑(jing)比沒有(you)缺(que)(que)陷(xian)(xian)的(de)(de)(de)路徑(jing)所透(tou)過(guo)的(de)(de)(de)物(wu)(wu)質密度(du)(du)要小得多(duo)，其(qi)強(qiang)(qiang)度(du)(du)就(jiu)(jiu)(jiu)減(jian)弱得少(shao)些(xie)(xie)，即(ji)透(tou)過(guo)的(de)(de)(de)強(qiang)(qiang)度(du)(du)就(jiu)(jiu)(jiu)大(da)些(xie)(xie)，若(ruo)用(yong)(yong)底片(pian)(pian)接(jie)收，則感(gan)光(guang)(guang)(guang)(guang)量(liang)就(jiu)(jiu)(jiu)大(da)些(xie)(xie)，就(jiu)(jiu)(jiu)可(ke)以(yi)從(cong)底片(pian)(pian)上反映出(chu)缺(que)(que)陷(xian)(xian)垂直(zhi)于(yu)射(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)方向的(de)(de)(de)平(ping)面(mian)投(tou)(tou)影；若(ruo)用(yong)(yong)其(qi)它(ta)接(jie)收器(qi)(qi)也同樣(yang)可(ke)以(yi)用(yong)(yong)儀表來(lai)(lai)反映缺(que)(que)陷(xian)(xian)垂直(zhi)于(yu)射(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)方向的(de)(de)(de)平(ping)面(mian)投(tou)(tou)影和(he)射(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)的(de)(de)(de)透(tou)過(guo)量(liang)。由此可(ke)見，一般情況下，射(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)探(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)是不(bu)易發(fa)現(xian)裂紋(wen)的(de)(de)(de)，或者說，射(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)探(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)對(dui)(dui)裂紋(wen)是不(bu)敏感(gan)的(de)(de)(de)。因(yin)此，射(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)探(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)對(dui)(dui)氣(qi)孔、夾渣(zha)、未焊透(tou)等(deng)體積(ji)(ji)型缺(que)(que)陷(xian)(xian)最敏感(gan)。即(ji)射(she)(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)探(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)適(shi)宜用(yong)(yong)于(yu)體積(ji)(ji)型缺(que)(que)陷(xian)(xian)探(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)，而不(bu)適(shi)宜面(mian)積(ji)(ji)型缺(que)(que)陷(xian)(xian)探(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)。
2、超聲波探傷方法
人們的(de)(de)(de)(de)(de)(de)耳(er)朵能直(zhi)接(jie)接(jie)收到(dao)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)聲(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)頻(pin)(pin)率(lv)范圍通常(chang)是20Hz到(dao)20kHz，即音(yin)（聲(sheng)(sheng)(sheng)）頻(pin)(pin)。頻(pin)(pin)率(lv)低(di)于(yu)20Hz的(de)(de)(de)(de)(de)(de)稱(cheng)為次聲(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)，高(gao)于(yu)20 kHz的(de)(de)(de)(de)(de)(de)稱(cheng)為超聲(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)。工業上常(chang)用數兆赫茲超聲(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)來(lai)探(tan)(tan)(tan)傷。超聲(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)頻(pin)(pin)率(lv)高(gao)，則傳播(bo)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)直(zhi)線性(xing)強，又(you)易(yi)于(yu)在固體中傳播(bo)，并且遇到(dao)兩種(zhong)不(bu)同介質形(xing)成(cheng)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)界面時(shi)易(yi)于(yu)反射(she)(she)，這樣就(jiu)可以用它來(lai)探(tan)(tan)(tan)傷。通常(chang)用超聲(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)探(tan)(tan)(tan)頭與待探(tan)(tan)(tan)工件(jian)表面良好(hao)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)接(jie)觸，探(tan)(tan)(tan)頭則可有效地(di)向工件(jian)發射(she)(she)超聲(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)，并能接(jie)收（缺(que)陷(xian)）界面反射(she)(she)來(lai)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)超聲(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)，同時(shi)轉換成(cheng)電信號，再傳輸給儀器進行處理。根據超聲(sheng)(sheng)(sheng)波(bo)在介質中傳播(bo)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)速度(du)（常(chang)稱(cheng)聲(sheng)(sheng)(sheng)速）和傳播(bo)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)時(shi)間，就(jiu)可知道缺(que)陷(xian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)位置。當缺(que)陷(xian)越(yue)大(da)，反射(she)(she)面則越(yue)大(da)，其反射(she)(she)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)能量也就(jiu)越(yue)大(da)，故(gu)可根據反射(she)(she)能量的(de)(de)(de)(de)(de)(de)大(da)小來(lai)查知各(ge)缺(que)陷(xian)（當量）的(de)(de)(de)(de)(de)(de)大(da)小。常(chang)用的(de)(de)(de)(de)(de)(de)探(tan)(tan)(tan)傷波(bo)形(xing)有縱波(bo)、橫波(bo)、表面波(bo)等，前二(er)者適用于(yu)探(tan)(tan)(tan)測內部(bu)缺(que)陷(xian)，后者適宜于(yu)探(tan)(tan)(tan)測表面缺(que)陷(xian)，但(dan)對表面的(de)(de)(de)(de)(de)(de)條(tiao)件(jian)要(yao)求高(gao)。
3、磁粉探傷方法
磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)探(tan)傷(shang)(shang)是建立在(zai)漏(lou)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)原理基礎上的(de)一種磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)力探(tan)傷(shang)(shang)方法(fa)。當磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)力線穿過鐵磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)材料(liao)及其制品(pin)時(shi)，在(zai)其（磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)性）不連續處將(jiang)產生漏(lou)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)場，形成磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)極(ji)。此時(shi)撒上干磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)或澆上磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)懸液，磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)極(ji)就會吸附(fu)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)，產生用(yong)(yong)肉眼能直(zhi)(zhi)接觀(guan)察(cha)的(de)明(ming)顯磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)痕。因此，可借(jie)助于該(gai)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)痕來顯示(shi)鐵磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)材料(liao)及其制品(pin)的(de)缺陷(xian)(xian)情況。磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)探(tan)傷(shang)(shang)法(fa)可探(tan)測露出表面(mian)，用(yong)(yong)肉眼或借(jie)助于放(fang)大(da)鏡也(ye)(ye)(ye)不能直(zhi)(zhi)接觀(guan)察(cha)到的(de)微小缺陷(xian)(xian)，也(ye)(ye)(ye)可探(tan)測未露出表面(mian)，而是埋藏在(zai)表面(mian)下(xia)幾毫米的(de)近表面(mian)缺陷(xian)(xian)。用(yong)(yong)這種方法(fa)雖然(ran)也(ye)(ye)(ye)能探(tan)查(cha)氣(qi)孔、夾雜、未焊(han)透等體積(ji)型缺陷(xian)(xian)，但對面(mian)積(ji)型缺陷(xian)(xian)更靈敏，更適于檢查(cha)因淬(cui)火、軋制、鍛(duan)造(zao)、鑄造(zao)、焊(han)接、電鍍(du)、磨削、疲(pi)勞等引起(qi)的(de)裂紋(wen)。
磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)力探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)中對缺(que)陷(xian)的(de)(de)(de)顯示(shi)(shi)(shi)方法有(you)(you)多種(zhong)，有(you)(you)用磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉顯示(shi)(shi)(shi)的(de)(de)(de)，也有(you)(you)不用磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉顯示(shi)(shi)(shi)的(de)(de)(de)。用磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉顯示(shi)(shi)(shi)的(de)(de)(de)稱為磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)，因它顯示(shi)(shi)(shi)直觀、操作簡(jian)單、人(ren)們樂于(yu)使用，故它是(shi)最常用的(de)(de)(de)方法之(zhi)一。不用磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉顯示(shi)(shi)(shi)的(de)(de)(de)，習慣上稱為漏磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)，它常借助于(yu)感(gan)應線(xian)圈(quan)、磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)敏管、霍(huo)爾元件等來反(fan)映缺(que)陷(xian)，它比磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)更衛(wei)生，但不如前者直觀。由于(yu)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)力探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)主要用磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉來顯示(shi)(shi)(shi)缺(que)陷(xian)，因此，人(ren)們有(you)(you)時把磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)直接稱為磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)力探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)，其設(she)備(bei)(bei)稱為磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)力探(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)設(she)備(bei)(bei)。
4、渦流探傷方法
渦(wo)(wo)(wo)(wo)流(liu)探傷(shang)是(shi)由交流(liu)電(dian)流(liu)產生(sheng)的交變磁場作用(yong)(yong)于(yu)待(dai)探傷(shang)的導電(dian)材(cai)料(liao)，感(gan)應出電(dian)渦(wo)(wo)(wo)(wo)流(liu)。如果材(cai)料(liao)中(zhong)有(you)(you)缺陷，它將干擾所產生(sheng)的電(dian)渦(wo)(wo)(wo)(wo)流(liu)，即(ji)(ji)形(xing)成干擾信(xin)(xin)號(hao)。用(yong)(yong)渦(wo)(wo)(wo)(wo)流(liu)探傷(shang)儀檢測出其干擾信(xin)(xin)號(hao)，就可知(zhi)道缺陷的狀況。影響渦(wo)(wo)(wo)(wo)流(liu)的因素很多，即(ji)(ji)是(shi)說(shuo)渦(wo)(wo)(wo)(wo)流(liu)中(zhong)載(zai)有(you)(you)豐富的信(xin)(xin)號(hao)，這些(xie)信(xin)(xin)號(hao)與材(cai)料(liao)的很多因素有(you)(you)關(guan)，如何將其中(zhong)有(you)(you)用(yong)(yong)的信(xin)(xin)號(hao)從諸多的信(xin)(xin)號(hao)中(zhong)一(yi)(yi)(yi)一(yi)(yi)(yi)分(fen)離出來(lai)(lai)，是(shi)渦(wo)(wo)(wo)(wo)流(liu)研(yan)究工作者的難題，多年(nian)來(lai)(lai)已經取得(de)了一(yi)(yi)(yi)些(xie)進展，在一(yi)(yi)(yi)定條件下可解決(jue)一(yi)(yi)(yi)些(xie)問題，但還遠不(bu)能滿足(zu)現(xian)場的要求，有(you)(you)待(dai)于(yu)大力發展。
渦流(liu)探(tan)(tan)(tan)傷的(de)顯著特(te)點是對導(dao)電材料就能起作(zuo)用(yong)，而不一定(ding)是鐵磁材料，但對鐵磁材料的(de)效果(guo)較(jiao)差。其(qi)次，待(dai)探(tan)(tan)(tan)工(gong)件(jian)(jian)表面的(de)光潔度(du)、平整度(du)、邊介等(deng)對渦流(liu)探(tan)(tan)(tan)傷都有(you)較(jiao)大影響，因此常將渦流(liu)探(tan)(tan)(tan)傷用(yong)于形狀較(jiao)規(gui)則、表面較(jiao)光潔的(de)銅管等(deng)非鐵磁性工(gong)件(jian)(jian)探(tan)(tan)(tan)傷。
5、滲透探傷方法
滲(shen)(shen)透探(tan)(tan)(tan)傷(shang)是(shi)利用(yong)(yong)毛(mao)細現象來進行(xing)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)方法。對(dui)于(yu)(yu)表(biao)(biao)(biao)(biao)(biao)面(mian)(mian)光滑而(er)清潔的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)零(ling)部件(jian)，用(yong)(yong)一種帶(dai)色(se)（常(chang)(chang)為紅(hong)色(se)）或帶(dai)有熒(ying)光的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)、滲(shen)(shen)透性(xing)(xing)很強的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)液(ye)(ye)體(ti)，涂覆于(yu)(yu)待探(tan)(tan)(tan)零(ling)部件(jian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)表(biao)(biao)(biao)(biao)(biao)面(mian)(mian)。若表(biao)(biao)(biao)(biao)(biao)面(mian)(mian)有肉眼不能(neng)(neng)直接(jie)(jie)察(cha)知的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)微(wei)裂紋(wen)，由于(yu)(yu)該(gai)液(ye)(ye)體(ti)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)滲(shen)(shen)透性(xing)(xing)很強，它將沿著裂紋(wen)滲(shen)(shen)透到(dao)其(qi)根部。然后(hou)將表(biao)(biao)(biao)(biao)(biao)面(mian)(mian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)滲(shen)(shen)透液(ye)(ye)洗去，再涂上(shang)(shang)(shang)對(dui)比度較大的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)顯(xian)示液(ye)(ye)（常(chang)(chang)為白色(se)）。放置片刻后(hou)，由于(yu)(yu)裂紋(wen)很窄，毛(mao)細現象作(zuo)用(yong)(yong)顯(xian)著，原滲(shen)(shen)透到(dao)裂紋(wen)內的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)滲(shen)(shen)透液(ye)(ye)將上(shang)(shang)(shang)升到(dao)表(biao)(biao)(biao)(biao)(biao)面(mian)(mian)并擴散，在(zai)白色(se)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)襯底(di)上(shang)(shang)(shang)顯(xian)出(chu)較粗(cu)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)紅(hong)線，從而(er)顯(xian)示出(chu)裂紋(wen)露于(yu)(yu)表(biao)(biao)(biao)(biao)(biao)面(mian)(mian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)形狀，因此，常(chang)(chang)稱(cheng)為著色(se)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)。若滲(shen)(shen)透液(ye)(ye)采用(yong)(yong)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)是(shi)帶(dai)熒(ying)光的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)液(ye)(ye)體(ti)，由毛(mao)細現象上(shang)(shang)(shang)升到(dao)表(biao)(biao)(biao)(biao)(biao)面(mian)(mian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)液(ye)(ye)體(ti)，則會(hui)在(zai)紫外燈(deng)照射下發出(chu)熒(ying)光，從而(er)更能(neng)(neng)顯(xian)示出(chu)裂紋(wen)露于(yu)(yu)表(biao)(biao)(biao)(biao)(biao)面(mian)(mian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)形狀，故常(chang)(chang)常(chang)(chang)又將此時(shi)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)滲(shen)(shen)透探(tan)(tan)(tan)傷(shang)直接(jie)(jie)稱(cheng)為熒(ying)光探(tan)(tan)(tan)傷(shang)。此探(tan)(tan)(tan)傷(shang)方法也可用(yong)(yong)于(yu)(yu)金屬(shu)和(he)非金屬(shu)表(biao)(biao)(biao)(biao)(biao)面(mian)(mian)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)。其(qi)使用(yong)(yong)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)液(ye)(ye)劑有較大氣味，常(chang)(chang)有一定毒性(xing)(xing)。
探傷儀除(chu)以上五大常(chang)規(gui)方(fang)法外，近年來又有了紅外、聲發射等一(yi)些(xie)新的探(tan)傷方(fang)法。
