芒果视频下载

一、探傷儀是干什么用的

探(tan)(tan)傷儀是(shi)一種探(tan)(tan)測(ce)機器(qi)缺陷(xian)的(de)(de)的(de)(de)工(gong)程器(qi)械(xie)，它的(de)(de)主要(yao)用途是(shi)探(tan)(tan)測(ce)機器(qi)加工(gong)件(jian)內部(bu)是(shi)否(fou)有(you)缺陷(xian)，如裂紋、砂眼、氣(qi)孔(kong)、白點(dian)、夾雜等，檢(jian)查焊(han)縫是(shi)否(fou)合(he)格(ge)，查找有(you)無暗傷，進而判(pan)定(ding)工(gong)件(jian)合(he)格(ge)與(yu)否(fou)。

探傷儀(yi)的應(ying)用十分廣泛，目(mu)前探傷儀(yi)主要(yao)用在(zai)工業(ye)(ye)和醫療上(shang)(shang)，工業(ye)(ye)上(shang)(shang)用于(yu)(yu)檢測金屬材料中是否有傷痕、氣(qi)泡(pao)、裂縫等，醫學上(shang)(shang)用于(yu)(yu)檢測人體(ti)的軟組織、血流等是否正常。

二、探傷儀的原理是什么

探(tan)傷儀檢測(ce)通常是(shi)(shi)對(dui)被測(ce)物(wu)體(ti)(ti)（比如工業材料、人(ren)體(ti)(ti)）發射超聲(sheng)，然后利用其反射、多(duo)(duo)普勒(le)效(xiao)應(ying)、透射等來(lai)獲取(qu)被測(ce)物(wu)體(ti)(ti)內(nei)部的(de)(de)(de)(de)信息(xi)并(bing)經過處理形成圖像。探(tan)傷儀其中多(duo)(duo)普勒(le)效(xiao)應(ying)法是(shi)(shi)利用超聲(sheng)在遇到運(yun)動的(de)(de)(de)(de)物(wu)體(ti)(ti)時發生的(de)(de)(de)(de)多(duo)(duo)普勒(le)頻移效(xiao)應(ying)來(lai)得出(chu)該物(wu)體(ti)(ti)的(de)(de)(de)(de)運(yun)動方(fang)向和速度等特(te)性；透射法則是(shi)(shi)通過分析超聲(sheng)穿透過被測(ce)物(wu)體(ti)(ti)之后的(de)(de)(de)(de)變化而得出(chu)物(wu)體(ti)(ti)的(de)(de)(de)(de)內(nei)部特(te)性的(de)(de)(de)(de)，其應(ying)用還(huan)處于(yu)研(yan)制階段(duan)。

三、探傷儀怎么使用

探(tan)傷儀五大常規方(fang)法(fa)(fa)是指射(she)線探(tan)傷法(fa)(fa)、超聲波(bo)探(tan)傷法(fa)(fa)、磁粉探(tan)傷法(fa)(fa)、渦流探(tan)傷法(fa)(fa)和(he)滲透(tou)探(tan)傷法(fa)(fa)。

1、射線探傷方法

射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)是(shi)利用(yong)(yong)(yong)(yong)(yong)射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)的(de)(de)(de)(de)(de)穿(chuan)透性和直線(xian)(xian)(xian)(xian)性來(lai)(lai)探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)的(de)(de)(de)(de)(de)方法。這些(xie)射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)雖然不(bu)(bu)會像(xiang)可見(jian)光(guang)(guang)那樣憑肉(rou)眼就(jiu)能(neng)直接察知(zhi)，但它可使(shi)照相底(di)片(pian)感光(guang)(guang)，也可用(yong)(yong)(yong)(yong)(yong)特殊的(de)(de)(de)(de)(de)接收(shou)器(qi)來(lai)(lai)接收(shou)。常用(yong)(yong)(yong)(yong)(yong)于(yu)(yu)探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)的(de)(de)(de)(de)(de)射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)有x光(guang)(guang)和同(tong)位(wei)素發出的(de)(de)(de)(de)(de)γ射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)，分(fen)別(bie)稱為x光(guang)(guang)探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)和γ射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)。當(dang)這些(xie)射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)穿(chuan)過(guo)（照射(she)(she)(she)(she)(she)）物質(zhi)(zhi)時(shi)(shi)(shi)，該物質(zhi)(zhi)的(de)(de)(de)(de)(de)密(mi)度(du)越(yue)大，射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)強(qiang)度(du)減(jian)弱得(de)越(yue)多，即(ji)(ji)(ji)射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)能(neng)穿(chuan)透過(guo)該物質(zhi)(zhi)的(de)(de)(de)(de)(de)強(qiang)度(du)就(jiu)越(yue)小(xiao)。此(ci)時(shi)(shi)(shi)，若(ruo)用(yong)(yong)(yong)(yong)(yong)照相底(di)片(pian)接收(shou)，則底(di)片(pian)的(de)(de)(de)(de)(de)感光(guang)(guang)量就(jiu)小(xiao)；若(ruo)用(yong)(yong)(yong)(yong)(yong)儀(yi)器(qi)來(lai)(lai)接收(shou)，獲得(de)的(de)(de)(de)(de)(de)信號就(jiu)弱。因此(ci)，用(yong)(yong)(yong)(yong)(yong)射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)來(lai)(lai)照射(she)(she)(she)(she)(she)待探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)的(de)(de)(de)(de)(de)零(ling)部(bu)件時(shi)(shi)(shi)，若(ruo)其(qi)內部(bu)有氣孔、夾渣等缺陷，射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)穿(chuan)過(guo)有缺陷的(de)(de)(de)(de)(de)路(lu)(lu)徑比沒有缺陷的(de)(de)(de)(de)(de)路(lu)(lu)徑所(suo)透過(guo)的(de)(de)(de)(de)(de)物質(zhi)(zhi)密(mi)度(du)要小(xiao)得(de)多，其(qi)強(qiang)度(du)就(jiu)減(jian)弱得(de)少些(xie)，即(ji)(ji)(ji)透過(guo)的(de)(de)(de)(de)(de)強(qiang)度(du)就(jiu)大些(xie)，若(ruo)用(yong)(yong)(yong)(yong)(yong)底(di)片(pian)接收(shou)，則感光(guang)(guang)量就(jiu)大些(xie)，就(jiu)可以(yi)從底(di)片(pian)上(shang)反映(ying)出缺陷垂(chui)直于(yu)(yu)射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)方向的(de)(de)(de)(de)(de)平面投(tou)(tou)影；若(ruo)用(yong)(yong)(yong)(yong)(yong)其(qi)它接收(shou)器(qi)也同(tong)樣可以(yi)用(yong)(yong)(yong)(yong)(yong)儀(yi)表來(lai)(lai)反映(ying)缺陷垂(chui)直于(yu)(yu)射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)方向的(de)(de)(de)(de)(de)平面投(tou)(tou)影和射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)的(de)(de)(de)(de)(de)透過(guo)量。由此(ci)可見(jian)，一般(ban)情況下，射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)是(shi)不(bu)(bu)易發現裂紋的(de)(de)(de)(de)(de)，或者說，射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)對裂紋是(shi)不(bu)(bu)敏感的(de)(de)(de)(de)(de)。因此(ci)，射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)對氣孔、夾渣、未焊(han)透等體積(ji)型(xing)(xing)缺陷最(zui)敏感。即(ji)(ji)(ji)射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)適(shi)宜用(yong)(yong)(yong)(yong)(yong)于(yu)(yu)體積(ji)型(xing)(xing)缺陷探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)，而不(bu)(bu)適(shi)宜面積(ji)型(xing)(xing)缺陷探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)。

2、超聲波探傷方法

人們的(de)(de)(de)(de)耳(er)朵(duo)能(neng)(neng)直(zhi)接(jie)接(jie)收到(dao)的(de)(de)(de)(de)聲(sheng)波(bo)(bo)(bo)的(de)(de)(de)(de)頻(pin)率(lv)(lv)范(fan)圍通常(chang)是(shi)20Hz到(dao)20kHz，即(ji)音（聲(sheng)）頻(pin)。頻(pin)率(lv)(lv)低(di)于20Hz的(de)(de)(de)(de)稱為次聲(sheng)波(bo)(bo)(bo)，高于20 kHz的(de)(de)(de)(de)稱為超(chao)聲(sheng)波(bo)(bo)(bo)。工業上(shang)常(chang)用數兆赫茲超(chao)聲(sheng)波(bo)(bo)(bo)來探(tan)傷(shang)。超(chao)聲(sheng)波(bo)(bo)(bo)頻(pin)率(lv)(lv)高，則傳(chuan)播(bo)的(de)(de)(de)(de)直(zhi)線性(xing)強，又易(yi)于在(zai)固體中傳(chuan)播(bo)，并(bing)且遇到(dao)兩(liang)種不同介質形成(cheng)的(de)(de)(de)(de)界面時易(yi)于反(fan)射(she)，這樣就可以用它(ta)來探(tan)傷(shang)。通常(chang)用超(chao)聲(sheng)波(bo)(bo)(bo)探(tan)頭與待探(tan)工件(jian)(jian)表面良好的(de)(de)(de)(de)接(jie)觸(chu)，探(tan)頭則可有效地向(xiang)工件(jian)(jian)發射(she)超(chao)聲(sheng)波(bo)(bo)(bo)，并(bing)能(neng)(neng)接(jie)收（缺(que)陷(xian)(xian)）界面反(fan)射(she)來的(de)(de)(de)(de)超(chao)聲(sheng)波(bo)(bo)(bo)，同時轉換(huan)成(cheng)電信號，再傳(chuan)輸(shu)給儀(yi)器進行處理(li)。根(gen)據超(chao)聲(sheng)波(bo)(bo)(bo)在(zai)介質中傳(chuan)播(bo)的(de)(de)(de)(de)速度（常(chang)稱聲(sheng)速）和(he)傳(chuan)播(bo)的(de)(de)(de)(de)時間，就可知道缺(que)陷(xian)(xian)的(de)(de)(de)(de)位置(zhi)。當(dang)缺(que)陷(xian)(xian)越大，反(fan)射(she)面則越大，其反(fan)射(she)的(de)(de)(de)(de)能(neng)(neng)量(liang)也就越大，故可根(gen)據反(fan)射(she)能(neng)(neng)量(liang)的(de)(de)(de)(de)大小來查知各缺(que)陷(xian)(xian)（當(dang)量(liang)）的(de)(de)(de)(de)大小。常(chang)用的(de)(de)(de)(de)探(tan)傷(shang)波(bo)(bo)(bo)形有縱波(bo)(bo)(bo)、橫波(bo)(bo)(bo)、表面波(bo)(bo)(bo)等，前(qian)二者適用于探(tan)測內部(bu)缺(que)陷(xian)(xian)，后者適宜于探(tan)測表面缺(que)陷(xian)(xian)，但對表面的(de)(de)(de)(de)條件(jian)(jian)要求高。

3、磁粉探傷方法

磁(ci)粉(fen)探(tan)(tan)傷是建立在(zai)漏磁(ci)原理基礎上(shang)的一種磁(ci)力探(tan)(tan)傷方法(fa)。當(dang)磁(ci)力線穿過鐵磁(ci)材(cai)料(liao)及(ji)其(qi)制品(pin)時，在(zai)其(qi)（磁(ci)性）不連(lian)續處(chu)將(jiang)產生漏磁(ci)場，形成磁(ci)極。此(ci)時撒上(shang)干磁(ci)粉(fen)或(huo)澆上(shang)磁(ci)懸液，磁(ci)極就會吸附磁(ci)粉(fen)，產生用(yong)肉眼能直接(jie)觀察的明顯磁(ci)痕。因此(ci)，可借助(zhu)(zhu)于該磁(ci)痕來顯示鐵磁(ci)材(cai)料(liao)及(ji)其(qi)制品(pin)的缺陷(xian)情況。磁(ci)粉(fen)探(tan)(tan)傷法(fa)可探(tan)(tan)測(ce)露出表(biao)面(mian)，用(yong)肉眼或(huo)借助(zhu)(zhu)于放大鏡也(ye)不能直接(jie)觀察到的微小(xiao)缺陷(xian)，也(ye)可探(tan)(tan)測(ce)未露出表(biao)面(mian)，而是埋藏在(zai)表(biao)面(mian)下幾(ji)毫米的近(jin)表(biao)面(mian)缺陷(xian)。用(yong)這種方法(fa)雖然也(ye)能探(tan)(tan)查氣孔、夾雜、未焊(han)(han)透等(deng)體積型(xing)缺陷(xian)，但對面(mian)積型(xing)缺陷(xian)更(geng)靈敏，更(geng)適于檢查因淬(cui)火、軋制、鍛造(zao)、鑄造(zao)、焊(han)(han)接(jie)、電(dian)鍍、磨削、疲勞等(deng)引起的裂紋。

磁(ci)(ci)力(li)探(tan)(tan)(tan)傷中對缺(que)陷(xian)(xian)的(de)顯示(shi)(shi)方法有(you)(you)多種(zhong)，有(you)(you)用(yong)(yong)磁(ci)(ci)粉(fen)顯示(shi)(shi)的(de)，也有(you)(you)不(bu)用(yong)(yong)磁(ci)(ci)粉(fen)顯示(shi)(shi)的(de)。用(yong)(yong)磁(ci)(ci)粉(fen)顯示(shi)(shi)的(de)稱(cheng)為磁(ci)(ci)粉(fen)探(tan)(tan)(tan)傷，因它(ta)顯示(shi)(shi)直觀(guan)、操作(zuo)簡單(dan)、人們樂于(yu)使用(yong)(yong)，故(gu)它(ta)是最常(chang)用(yong)(yong)的(de)方法之一(yi)。不(bu)用(yong)(yong)磁(ci)(ci)粉(fen)顯示(shi)(shi)的(de)，習慣上稱(cheng)為漏磁(ci)(ci)探(tan)(tan)(tan)傷，它(ta)常(chang)借助于(yu)感(gan)應線圈、磁(ci)(ci)敏管、霍爾元件等(deng)來反映缺(que)陷(xian)(xian)，它(ta)比磁(ci)(ci)粉(fen)探(tan)(tan)(tan)傷更衛生，但不(bu)如前者直觀(guan)。由于(yu)磁(ci)(ci)力(li)探(tan)(tan)(tan)傷主(zhu)要用(yong)(yong)磁(ci)(ci)粉(fen)來顯示(shi)(shi)缺(que)陷(xian)(xian)，因此，人們有(you)(you)時把磁(ci)(ci)粉(fen)探(tan)(tan)(tan)傷直接稱(cheng)為磁(ci)(ci)力(li)探(tan)(tan)(tan)傷，其設備稱(cheng)為磁(ci)(ci)力(li)探(tan)(tan)(tan)傷設備。

4、渦流探傷方法

渦(wo)(wo)(wo)流(liu)(liu)(liu)探傷是(shi)(shi)由(you)交流(liu)(liu)(liu)電(dian)流(liu)(liu)(liu)產生的(de)(de)交變磁場作(zuo)(zuo)用于待探傷的(de)(de)導電(dian)材料(liao)，感應出電(dian)渦(wo)(wo)(wo)流(liu)(liu)(liu)。如果材料(liao)中(zhong)(zhong)有缺(que)陷，它將(jiang)干(gan)擾(rao)所產生的(de)(de)電(dian)渦(wo)(wo)(wo)流(liu)(liu)(liu)，即(ji)形成干(gan)擾(rao)信(xin)號(hao)(hao)。用渦(wo)(wo)(wo)流(liu)(liu)(liu)探傷儀檢(jian)測出其干(gan)擾(rao)信(xin)號(hao)(hao)，就可知道缺(que)陷的(de)(de)狀況。影響(xiang)渦(wo)(wo)(wo)流(liu)(liu)(liu)的(de)(de)因(yin)素很多(duo)，即(ji)是(shi)(shi)說(shuo)渦(wo)(wo)(wo)流(liu)(liu)(liu)中(zhong)(zhong)載有豐富(fu)的(de)(de)信(xin)號(hao)(hao)，這些信(xin)號(hao)(hao)與(yu)材料(liao)的(de)(de)很多(duo)因(yin)素有關(guan)，如何將(jiang)其中(zhong)(zhong)有用的(de)(de)信(xin)號(hao)(hao)從(cong)諸多(duo)的(de)(de)信(xin)號(hao)(hao)中(zhong)(zhong)一一分離出來(lai)，是(shi)(shi)渦(wo)(wo)(wo)流(liu)(liu)(liu)研(yan)究工作(zuo)(zuo)者的(de)(de)難題(ti)，多(duo)年(nian)來(lai)已經取得了一些進展，在(zai)一定條件下可解決一些問題(ti)，但還遠不能滿足現(xian)場的(de)(de)要(yao)求，有待于大(da)力發展。

渦流探(tan)(tan)傷的(de)(de)顯著(zhu)特點是對導(dao)電材(cai)料就能起作用，而不(bu)一定是鐵磁(ci)材(cai)料，但對鐵磁(ci)材(cai)料的(de)(de)效(xiao)果(guo)較(jiao)差。其次(ci)，待(dai)探(tan)(tan)工件表面的(de)(de)光潔(jie)度、平整(zheng)度、邊介等對渦流探(tan)(tan)傷都有較(jiao)大影響，因此常將(jiang)渦流探(tan)(tan)傷用于(yu)形(xing)狀較(jiao)規則、表面較(jiao)光潔(jie)的(de)(de)銅管等非(fei)鐵磁(ci)性工件探(tan)(tan)傷。

5、滲透探傷方法

滲(shen)透(tou)(tou)探傷(shang)是利用毛(mao)細(xi)(xi)(xi)現(xian)(xian)象(xiang)來進行探傷(shang)的(de)(de)(de)(de)(de)方法。對(dui)于(yu)(yu)表(biao)(biao)(biao)面(mian)光(guang)滑而清潔的(de)(de)(de)(de)(de)零部件，用一種帶(dai)色(se)(se)（常(chang)為(wei)紅色(se)(se)）或帶(dai)有(you)熒(ying)光(guang)的(de)(de)(de)(de)(de)、滲(shen)透(tou)(tou)性(xing)(xing)很強的(de)(de)(de)(de)(de)液(ye)體，涂覆于(yu)(yu)待探零部件的(de)(de)(de)(de)(de)表(biao)(biao)(biao)面(mian)。若表(biao)(biao)(biao)面(mian)有(you)肉眼不(bu)能直接察知的(de)(de)(de)(de)(de)微(wei)裂(lie)(lie)紋(wen)，由于(yu)(yu)該(gai)液(ye)體的(de)(de)(de)(de)(de)滲(shen)透(tou)(tou)性(xing)(xing)很強，它將(jiang)沿(yan)著(zhu)裂(lie)(lie)紋(wen)滲(shen)透(tou)(tou)到(dao)其根部。然(ran)后將(jiang)表(biao)(biao)(biao)面(mian)的(de)(de)(de)(de)(de)滲(shen)透(tou)(tou)液(ye)洗去，再涂上(shang)對(dui)比度較大的(de)(de)(de)(de)(de)顯(xian)示液(ye)（常(chang)為(wei)白色(se)(se)）。放(fang)置片(pian)刻(ke)后，由于(yu)(yu)裂(lie)(lie)紋(wen)很窄，毛(mao)細(xi)(xi)(xi)現(xian)(xian)象(xiang)作用顯(xian)著(zhu)，原(yuan)滲(shen)透(tou)(tou)到(dao)裂(lie)(lie)紋(wen)內的(de)(de)(de)(de)(de)滲(shen)透(tou)(tou)液(ye)將(jiang)上(shang)升到(dao)表(biao)(biao)(biao)面(mian)并擴散，在(zai)白色(se)(se)的(de)(de)(de)(de)(de)襯底上(shang)顯(xian)出(chu)較粗的(de)(de)(de)(de)(de)紅線，從而顯(xian)示出(chu)裂(lie)(lie)紋(wen)露于(yu)(yu)表(biao)(biao)(biao)面(mian)的(de)(de)(de)(de)(de)形(xing)狀，因此，常(chang)稱(cheng)為(wei)著(zhu)色(se)(se)探傷(shang)。若滲(shen)透(tou)(tou)液(ye)采用的(de)(de)(de)(de)(de)是帶(dai)熒(ying)光(guang)的(de)(de)(de)(de)(de)液(ye)體，由毛(mao)細(xi)(xi)(xi)現(xian)(xian)象(xiang)上(shang)升到(dao)表(biao)(biao)(biao)面(mian)的(de)(de)(de)(de)(de)液(ye)體，則(ze)會在(zai)紫外燈照射下發(fa)出(chu)熒(ying)光(guang)，從而更能顯(xian)示出(chu)裂(lie)(lie)紋(wen)露于(yu)(yu)表(biao)(biao)(biao)面(mian)的(de)(de)(de)(de)(de)形(xing)狀，故(gu)常(chang)常(chang)又將(jiang)此時的(de)(de)(de)(de)(de)滲(shen)透(tou)(tou)探傷(shang)直接稱(cheng)為(wei)熒(ying)光(guang)探傷(shang)。此探傷(shang)方法也可用于(yu)(yu)金(jin)屬(shu)和非金(jin)屬(shu)表(biao)(biao)(biao)面(mian)探傷(shang)。其使(shi)用的(de)(de)(de)(de)(de)探傷(shang)液(ye)劑有(you)較大氣味，常(chang)有(you)一定(ding)毒性(xing)(xing)。

探傷儀除以上五(wu)大常規方(fang)(fang)法(fa)外(wai)，近年來又有了(le)紅外(wai)、聲發射等一些(xie)新的探傷(shang)方(fang)(fang)法(fa)。