一、探傷儀是干什么用的
探(tan)傷儀是(shi)一種探(tan)測機(ji)(ji)器(qi)缺(que)陷(xian)的的工(gong)程器(qi)械,它(ta)的主要用(yong)途是(shi)探(tan)測機(ji)(ji)器(qi)加(jia)工(gong)件(jian)內部是(shi)否(fou)有缺(que)陷(xian),如裂紋、砂(sha)眼、氣孔、白點、夾雜等(deng),檢(jian)查(cha)焊縫是(shi)否(fou)合格(ge)(ge),查(cha)找(zhao)有無暗傷,進而(er)判定工(gong)件(jian)合格(ge)(ge)與(yu)否(fou)。
探傷儀的應用十分(fen)廣泛(fan),目前探傷儀主要用在工業和(he)醫(yi)療上,工業上用于(yu)檢測(ce)金屬材料(liao)中(zhong)是否有傷痕、氣泡、裂縫等,醫(yi)學(xue)上用于(yu)檢測(ce)人體(ti)的軟組織、血流等是否正常。
二、探傷儀的原理是什么
探傷(shang)儀檢測(ce)通常是對被測(ce)物(wu)體(ti)(ti)(比如(ru)工業材料、人體(ti)(ti))發射(she)(she)超聲,然(ran)后利用(yong)其反射(she)(she)、多(duo)普(pu)(pu)勒(le)效應、透(tou)射(she)(she)等來獲(huo)取被測(ce)物(wu)體(ti)(ti)內(nei)部的信息并經過處理形成(cheng)圖像(xiang)。探傷(shang)儀其中多(duo)普(pu)(pu)勒(le)效應法是利用(yong)超聲在(zai)遇到(dao)運動(dong)的物(wu)體(ti)(ti)時發生的多(duo)普(pu)(pu)勒(le)頻移效應來得出(chu)該物(wu)體(ti)(ti)的運動(dong)方向和速度等特(te)性;透(tou)射(she)(she)法則是通過分析超聲穿(chuan)透(tou)過被測(ce)物(wu)體(ti)(ti)之后的變(bian)化而得出(chu)物(wu)體(ti)(ti)的內(nei)部特(te)性的,其應用(yong)還(huan)處于(yu)研(yan)制階段。
三、探傷儀怎么使用
探(tan)(tan)傷(shang)(shang)儀五大(da)常規(gui)方法(fa)(fa)(fa)是(shi)指射線探(tan)(tan)傷(shang)(shang)法(fa)(fa)(fa)、超聲波(bo)探(tan)(tan)傷(shang)(shang)法(fa)(fa)(fa)、磁粉(fen)探(tan)(tan)傷(shang)(shang)法(fa)(fa)(fa)、渦流探(tan)(tan)傷(shang)(shang)法(fa)(fa)(fa)和(he)滲透探(tan)(tan)傷(shang)(shang)法(fa)(fa)(fa)。
1、射線探傷方法
射(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)探(tan)傷(shang)(shang)(shang)(shang)是(shi)利(li)用射(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)的(de)(de)(de)(de)(de)穿透性和直(zhi)(zhi)線(xian)(xian)(xian)(xian)性來(lai)探(tan)傷(shang)(shang)(shang)(shang)的(de)(de)(de)(de)(de)方法。這些射(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)雖然不(bu)會像可見光那樣憑肉眼就(jiu)(jiu)能直(zhi)(zhi)接(jie)察知,但它可使照相底片感(gan)光,也可用特殊(shu)的(de)(de)(de)(de)(de)接(jie)收器來(lai)接(jie)收。常用于(yu)探(tan)傷(shang)(shang)(shang)(shang)的(de)(de)(de)(de)(de)射(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)有(you)x光和同位(wei)素發(fa)出的(de)(de)(de)(de)(de)γ射(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian),分(fen)別(bie)稱(cheng)為x光探(tan)傷(shang)(shang)(shang)(shang)和γ射(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)探(tan)傷(shang)(shang)(shang)(shang)。當(dang)這些射(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)穿過(guo)(照射(she)(she))物(wu)質(zhi)時,該(gai)物(wu)質(zhi)的(de)(de)(de)(de)(de)密度(du)(du)越(yue)大,射(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)強(qiang)度(du)(du)減弱得(de)越(yue)多,即(ji)(ji)射(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)能穿透過(guo)該(gai)物(wu)質(zhi)的(de)(de)(de)(de)(de)強(qiang)度(du)(du)就(jiu)(jiu)越(yue)小(xiao)。此時,若用照相底片接(jie)收,則(ze)(ze)底片的(de)(de)(de)(de)(de)感(gan)光量(liang)(liang)就(jiu)(jiu)小(xiao);若用儀(yi)器來(lai)接(jie)收,獲得(de)的(de)(de)(de)(de)(de)信號(hao)就(jiu)(jiu)弱。因此,用射(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)來(lai)照射(she)(she)待探(tan)傷(shang)(shang)(shang)(shang)的(de)(de)(de)(de)(de)零(ling)部件(jian)時,若其(qi)內部有(you)氣孔(kong)、夾渣等(deng)缺(que)(que)(que)陷(xian)(xian),射(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)穿過(guo)有(you)缺(que)(que)(que)陷(xian)(xian)的(de)(de)(de)(de)(de)路徑比沒有(you)缺(que)(que)(que)陷(xian)(xian)的(de)(de)(de)(de)(de)路徑所透過(guo)的(de)(de)(de)(de)(de)物(wu)質(zhi)密度(du)(du)要(yao)小(xiao)得(de)多,其(qi)強(qiang)度(du)(du)就(jiu)(jiu)減弱得(de)少些,即(ji)(ji)透過(guo)的(de)(de)(de)(de)(de)強(qiang)度(du)(du)就(jiu)(jiu)大些,若用底片接(jie)收,則(ze)(ze)感(gan)光量(liang)(liang)就(jiu)(jiu)大些,就(jiu)(jiu)可以從底片上反(fan)映出缺(que)(que)(que)陷(xian)(xian)垂直(zhi)(zhi)于(yu)射(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)方向的(de)(de)(de)(de)(de)平面(mian)(mian)投影(ying);若用其(qi)它接(jie)收器也同樣可以用儀(yi)表來(lai)反(fan)映缺(que)(que)(que)陷(xian)(xian)垂直(zhi)(zhi)于(yu)射(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)方向的(de)(de)(de)(de)(de)平面(mian)(mian)投影(ying)和射(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)的(de)(de)(de)(de)(de)透過(guo)量(liang)(liang)。由此可見,一般情況下,射(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)探(tan)傷(shang)(shang)(shang)(shang)是(shi)不(bu)易發(fa)現裂紋的(de)(de)(de)(de)(de),或者(zhe)說,射(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)探(tan)傷(shang)(shang)(shang)(shang)對裂紋是(shi)不(bu)敏(min)感(gan)的(de)(de)(de)(de)(de)。因此,射(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)探(tan)傷(shang)(shang)(shang)(shang)對氣孔(kong)、夾渣、未焊(han)透等(deng)體積(ji)(ji)型(xing)(xing)缺(que)(que)(que)陷(xian)(xian)最敏(min)感(gan)。即(ji)(ji)射(she)(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)探(tan)傷(shang)(shang)(shang)(shang)適宜用于(yu)體積(ji)(ji)型(xing)(xing)缺(que)(que)(que)陷(xian)(xian)探(tan)傷(shang)(shang)(shang)(shang),而(er)不(bu)適宜面(mian)(mian)積(ji)(ji)型(xing)(xing)缺(que)(que)(que)陷(xian)(xian)探(tan)傷(shang)(shang)(shang)(shang)。
2、超聲波探傷方法
人(ren)們的(de)(de)耳朵能(neng)直(zhi)接(jie)接(jie)收(shou)到(dao)的(de)(de)聲(sheng)波(bo)(bo)的(de)(de)頻率(lv)(lv)范圍通(tong)(tong)常是20Hz到(dao)20kHz,即音(yin)(聲(sheng))頻。頻率(lv)(lv)低(di)于20Hz的(de)(de)稱為次聲(sheng)波(bo)(bo),高(gao)于20 kHz的(de)(de)稱為超(chao)(chao)(chao)聲(sheng)波(bo)(bo)。工(gong)業上常用(yong)(yong)(yong)數兆(zhao)赫茲超(chao)(chao)(chao)聲(sheng)波(bo)(bo)來(lai)探(tan)(tan)傷。超(chao)(chao)(chao)聲(sheng)波(bo)(bo)頻率(lv)(lv)高(gao),則(ze)傳(chuan)播(bo)(bo)(bo)的(de)(de)直(zhi)線性強,又易于在固(gu)體(ti)中傳(chuan)播(bo)(bo)(bo),并且遇到(dao)兩種不同介(jie)質(zhi)形(xing)成(cheng)的(de)(de)界(jie)面時(shi)易于反(fan)射(she),這樣(yang)就可(ke)以(yi)用(yong)(yong)(yong)它來(lai)探(tan)(tan)傷。通(tong)(tong)常用(yong)(yong)(yong)超(chao)(chao)(chao)聲(sheng)波(bo)(bo)探(tan)(tan)頭(tou)與待探(tan)(tan)工(gong)件表面良好的(de)(de)接(jie)觸,探(tan)(tan)頭(tou)則(ze)可(ke)有效(xiao)地向(xiang)工(gong)件發(fa)射(she)超(chao)(chao)(chao)聲(sheng)波(bo)(bo),并能(neng)接(jie)收(shou)(缺陷(xian))界(jie)面反(fan)射(she)來(lai)的(de)(de)超(chao)(chao)(chao)聲(sheng)波(bo)(bo),同時(shi)轉(zhuan)換成(cheng)電信號,再傳(chuan)輸(shu)給(gei)儀(yi)器進行處(chu)理。根(gen)(gen)據(ju)超(chao)(chao)(chao)聲(sheng)波(bo)(bo)在介(jie)質(zhi)中傳(chuan)播(bo)(bo)(bo)的(de)(de)速度(du)(常稱聲(sheng)速)和傳(chuan)播(bo)(bo)(bo)的(de)(de)時(shi)間(jian),就可(ke)知道缺陷(xian)的(de)(de)位置(zhi)。當缺陷(xian)越大(da),反(fan)射(she)面則(ze)越大(da),其反(fan)射(she)的(de)(de)能(neng)量(liang)也就越大(da),故(gu)可(ke)根(gen)(gen)據(ju)反(fan)射(she)能(neng)量(liang)的(de)(de)大(da)小(xiao)來(lai)查知各缺陷(xian)(當量(liang))的(de)(de)大(da)小(xiao)。常用(yong)(yong)(yong)的(de)(de)探(tan)(tan)傷波(bo)(bo)形(xing)有縱波(bo)(bo)、橫波(bo)(bo)、表面波(bo)(bo)等,前二者(zhe)適(shi)用(yong)(yong)(yong)于探(tan)(tan)測(ce)(ce)內(nei)部缺陷(xian),后(hou)者(zhe)適(shi)宜于探(tan)(tan)測(ce)(ce)表面缺陷(xian),但對表面的(de)(de)條件要(yao)求(qiu)高(gao)。
3、磁粉探傷方法
磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)探(tan)傷(shang)是(shi)建立(li)在(zai)漏(lou)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)原理基礎(chu)上(shang)(shang)的一(yi)種磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)力探(tan)傷(shang)方(fang)法(fa)。當(dang)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)力線穿過鐵磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)材(cai)料(liao)及(ji)其(qi)制(zhi)品(pin)(pin)時,在(zai)其(qi)(磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)性)不連續處將產生漏(lou)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)場,形成磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)極。此(ci)時撒上(shang)(shang)干(gan)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)或澆上(shang)(shang)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)懸(xuan)液,磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)極就會吸附(fu)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen),產生用肉眼(yan)能直接(jie)觀察(cha)的明顯磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)痕。因此(ci),可(ke)借助(zhu)于(yu)(yu)該磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)痕來顯示鐵磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)材(cai)料(liao)及(ji)其(qi)制(zhi)品(pin)(pin)的缺(que)(que)陷(xian)情況。磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)探(tan)傷(shang)法(fa)可(ke)探(tan)測(ce)露出(chu)表(biao)面(mian),用肉眼(yan)或借助(zhu)于(yu)(yu)放大鏡(jing)也不能直接(jie)觀察(cha)到的微小缺(que)(que)陷(xian),也可(ke)探(tan)測(ce)未(wei)露出(chu)表(biao)面(mian),而是(shi)埋(mai)藏在(zai)表(biao)面(mian)下幾毫米(mi)的近(jin)表(biao)面(mian)缺(que)(que)陷(xian)。用這(zhe)種方(fang)法(fa)雖然也能探(tan)查氣孔(kong)、夾雜、未(wei)焊(han)透等(deng)體積(ji)型(xing)缺(que)(que)陷(xian),但對面(mian)積(ji)型(xing)缺(que)(que)陷(xian)更靈(ling)敏,更適(shi)于(yu)(yu)檢查因淬火、軋制(zhi)、鍛造、鑄造、焊(han)接(jie)、電鍍、磨削、疲(pi)勞等(deng)引起的裂紋(wen)。
磁(ci)(ci)(ci)力探傷(shang)(shang)中對缺(que)陷(xian)的(de)顯示方(fang)法有多(duo)種,有用(yong)磁(ci)(ci)(ci)粉(fen)顯示的(de),也有不(bu)用(yong)磁(ci)(ci)(ci)粉(fen)顯示的(de)。用(yong)磁(ci)(ci)(ci)粉(fen)顯示的(de)稱(cheng)為(wei)磁(ci)(ci)(ci)粉(fen)探傷(shang)(shang),因(yin)它顯示直(zhi)觀、操(cao)作(zuo)簡單、人們樂于使(shi)用(yong),故它是(shi)最常用(yong)的(de)方(fang)法之一。不(bu)用(yong)磁(ci)(ci)(ci)粉(fen)顯示的(de),習慣上(shang)稱(cheng)為(wei)漏磁(ci)(ci)(ci)探傷(shang)(shang),它常借助于感應線圈、磁(ci)(ci)(ci)敏管(guan)、霍爾元件等來(lai)(lai)反映缺(que)陷(xian),它比磁(ci)(ci)(ci)粉(fen)探傷(shang)(shang)更衛生,但不(bu)如前者直(zhi)觀。由于磁(ci)(ci)(ci)力探傷(shang)(shang)主要用(yong)磁(ci)(ci)(ci)粉(fen)來(lai)(lai)顯示缺(que)陷(xian),因(yin)此,人們有時(shi)把磁(ci)(ci)(ci)粉(fen)探傷(shang)(shang)直(zhi)接(jie)稱(cheng)為(wei)磁(ci)(ci)(ci)力探傷(shang)(shang),其設(she)(she)備稱(cheng)為(wei)磁(ci)(ci)(ci)力探傷(shang)(shang)設(she)(she)備。
4、渦流探傷方法
渦(wo)(wo)(wo)流(liu)探(tan)傷(shang)是(shi)由交流(liu)電(dian)流(liu)產生(sheng)的(de)(de)交變磁場作用(yong)于(yu)(yu)待探(tan)傷(shang)的(de)(de)導電(dian)材(cai)料(liao),感應出(chu)(chu)電(dian)渦(wo)(wo)(wo)流(liu)。如(ru)果材(cai)料(liao)中(zhong)有缺陷(xian),它將干擾(rao)所產生(sheng)的(de)(de)電(dian)渦(wo)(wo)(wo)流(liu),即(ji)形成干擾(rao)信(xin)號(hao)(hao)。用(yong)渦(wo)(wo)(wo)流(liu)探(tan)傷(shang)儀檢測(ce)出(chu)(chu)其干擾(rao)信(xin)號(hao)(hao),就可(ke)知(zhi)道缺陷(xian)的(de)(de)狀況。影響渦(wo)(wo)(wo)流(liu)的(de)(de)因(yin)素很多(duo),即(ji)是(shi)說渦(wo)(wo)(wo)流(liu)中(zhong)載有豐富的(de)(de)信(xin)號(hao)(hao),這(zhe)些信(xin)號(hao)(hao)與材(cai)料(liao)的(de)(de)很多(duo)因(yin)素有關,如(ru)何將其中(zhong)有用(yong)的(de)(de)信(xin)號(hao)(hao)從諸多(duo)的(de)(de)信(xin)號(hao)(hao)中(zhong)一(yi)(yi)一(yi)(yi)分離(li)出(chu)(chu)來,是(shi)渦(wo)(wo)(wo)流(liu)研究工作者的(de)(de)難題,多(duo)年來已經(jing)取得了一(yi)(yi)些進(jin)展(zhan)(zhan),在一(yi)(yi)定條(tiao)件下可(ke)解決一(yi)(yi)些問題,但還(huan)遠不能滿足(zu)現場的(de)(de)要求,有待于(yu)(yu)大力發展(zhan)(zhan)。
渦(wo)流探(tan)傷(shang)(shang)的(de)顯著特點(dian)是(shi)(shi)對(dui)導電材料(liao)就能起作(zuo)用,而(er)不(bu)一定是(shi)(shi)鐵(tie)磁材料(liao),但(dan)對(dui)鐵(tie)磁材料(liao)的(de)效果(guo)較(jiao)差(cha)。其(qi)次(ci),待探(tan)工件表(biao)面(mian)的(de)光(guang)潔(jie)度、平整度、邊(bian)介(jie)等對(dui)渦(wo)流探(tan)傷(shang)(shang)都(dou)有(you)較(jiao)大(da)影(ying)響(xiang),因(yin)此常將(jiang)渦(wo)流探(tan)傷(shang)(shang)用于形狀較(jiao)規(gui)則、表(biao)面(mian)較(jiao)光(guang)潔(jie)的(de)銅(tong)管(guan)等非鐵(tie)磁性工件探(tan)傷(shang)(shang)。
5、滲透探傷方法
滲(shen)(shen)透(tou)(tou)(tou)探傷(shang)(shang)是(shi)利用(yong)毛細現象來(lai)進行(xing)探傷(shang)(shang)的(de)(de)(de)(de)(de)方法(fa)。對(dui)于(yu)(yu)(yu)(yu)表(biao)面光(guang)(guang)滑而清潔的(de)(de)(de)(de)(de)零部件(jian),用(yong)一(yi)種帶色(se)(常(chang)(chang)為紅(hong)色(se))或(huo)帶有(you)熒光(guang)(guang)的(de)(de)(de)(de)(de)、滲(shen)(shen)透(tou)(tou)(tou)性很(hen)強的(de)(de)(de)(de)(de)液(ye)(ye)體,涂覆于(yu)(yu)(yu)(yu)待探零部件(jian)的(de)(de)(de)(de)(de)表(biao)面。若表(biao)面有(you)肉眼(yan)不能直接(jie)察知的(de)(de)(de)(de)(de)微(wei)裂(lie)(lie)(lie)紋(wen),由于(yu)(yu)(yu)(yu)該液(ye)(ye)體的(de)(de)(de)(de)(de)滲(shen)(shen)透(tou)(tou)(tou)性很(hen)強,它將沿著裂(lie)(lie)(lie)紋(wen)滲(shen)(shen)透(tou)(tou)(tou)到其根部。然后將表(biao)面的(de)(de)(de)(de)(de)滲(shen)(shen)透(tou)(tou)(tou)液(ye)(ye)洗去,再涂上(shang)對(dui)比度較大(da)的(de)(de)(de)(de)(de)顯示液(ye)(ye)(常(chang)(chang)為白色(se))。放(fang)置片刻后,由于(yu)(yu)(yu)(yu)裂(lie)(lie)(lie)紋(wen)很(hen)窄(zhai),毛細現象作用(yong)顯著,原滲(shen)(shen)透(tou)(tou)(tou)到裂(lie)(lie)(lie)紋(wen)內的(de)(de)(de)(de)(de)滲(shen)(shen)透(tou)(tou)(tou)液(ye)(ye)將上(shang)升到表(biao)面并擴(kuo)散,在白色(se)的(de)(de)(de)(de)(de)襯底上(shang)顯出較粗的(de)(de)(de)(de)(de)紅(hong)線(xian),從而顯示出裂(lie)(lie)(lie)紋(wen)露(lu)于(yu)(yu)(yu)(yu)表(biao)面的(de)(de)(de)(de)(de)形狀,因此(ci),常(chang)(chang)稱(cheng)為著色(se)探傷(shang)(shang)。若滲(shen)(shen)透(tou)(tou)(tou)液(ye)(ye)采用(yong)的(de)(de)(de)(de)(de)是(shi)帶熒光(guang)(guang)的(de)(de)(de)(de)(de)液(ye)(ye)體,由毛細現象上(shang)升到表(biao)面的(de)(de)(de)(de)(de)液(ye)(ye)體,則會在紫外(wai)燈照射下發出熒光(guang)(guang),從而更能顯示出裂(lie)(lie)(lie)紋(wen)露(lu)于(yu)(yu)(yu)(yu)表(biao)面的(de)(de)(de)(de)(de)形狀,故(gu)常(chang)(chang)常(chang)(chang)又將此(ci)時的(de)(de)(de)(de)(de)滲(shen)(shen)透(tou)(tou)(tou)探傷(shang)(shang)直接(jie)稱(cheng)為熒光(guang)(guang)探傷(shang)(shang)。此(ci)探傷(shang)(shang)方法(fa)也可用(yong)于(yu)(yu)(yu)(yu)金屬和非(fei)金屬表(biao)面探傷(shang)(shang)。其使用(yong)的(de)(de)(de)(de)(de)探傷(shang)(shang)液(ye)(ye)劑有(you)較大(da)氣味,常(chang)(chang)有(you)一(yi)定毒(du)性。
探傷儀除以(yi)上五大常規方(fang)(fang)法外,近年來又有了紅外、聲發射等一(yi)些新的探傷(shang)方(fang)(fang)法。