芒果视频下载

一、探傷儀是干什么用的

探傷(shang)儀是一種(zhong)探測(ce)機器(qi)缺陷的(de)的(de)工(gong)程器(qi)械(xie)，它的(de)主要用途(tu)是探測(ce)機器(qi)加工(gong)件內部是否(fou)有缺陷，如裂紋、砂(sha)眼、氣孔、白點(dian)、夾雜(za)等，檢查(cha)焊縫是否(fou)合格，查(cha)找有無暗傷(shang)，進(jin)而判定工(gong)件合格與否(fou)。

探傷儀的(de)應用十分(fen)廣泛，目前探傷儀主要(yao)用在工(gong)業(ye)(ye)和醫療上，工(gong)業(ye)(ye)上用于檢測(ce)(ce)金屬材料中是(shi)否有傷痕、氣(qi)泡、裂縫等(deng)，醫學上用于檢測(ce)(ce)人體(ti)的(de)軟組織、血流等(deng)是(shi)否正常(chang)。

二、探傷儀的原理是什么

探傷(shang)(shang)儀(yi)檢測(ce)通常是(shi)(shi)(shi)對被(bei)測(ce)物(wu)(wu)體(ti)(ti)(ti)（比如工業材料、人體(ti)(ti)(ti)）發射(she)超(chao)聲(sheng)，然后(hou)利用(yong)(yong)其(qi)反射(she)、多普(pu)勒效應(ying)、透射(she)等來獲取被(bei)測(ce)物(wu)(wu)體(ti)(ti)(ti)內部的(de)信息并(bing)經過處(chu)理形成圖像。探傷(shang)(shang)儀(yi)其(qi)中多普(pu)勒效應(ying)法是(shi)(shi)(shi)利用(yong)(yong)超(chao)聲(sheng)在遇到運(yun)動的(de)物(wu)(wu)體(ti)(ti)(ti)時發生的(de)多普(pu)勒頻移(yi)效應(ying)來得出該物(wu)(wu)體(ti)(ti)(ti)的(de)運(yun)動方向和速度等特(te)性；透射(she)法則(ze)是(shi)(shi)(shi)通過分析超(chao)聲(sheng)穿透過被(bei)測(ce)物(wu)(wu)體(ti)(ti)(ti)之后(hou)的(de)變(bian)化而得出物(wu)(wu)體(ti)(ti)(ti)的(de)內部特(te)性的(de)，其(qi)應(ying)用(yong)(yong)還(huan)處(chu)于研制階段(duan)。

三、探傷儀怎么使用

探(tan)傷(shang)儀五大常規方法(fa)是指射(she)線探(tan)傷(shang)法(fa)、超聲波探(tan)傷(shang)法(fa)、磁粉探(tan)傷(shang)法(fa)、渦流探(tan)傷(shang)法(fa)和滲(shen)透探(tan)傷(shang)法(fa)。

1、射線探傷方法

射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)探(tan)(tan)(tan)傷是(shi)利用(yong)射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)的(de)(de)(de)穿透性和(he)直(zhi)(zhi)線(xian)(xian)性來(lai)(lai)探(tan)(tan)(tan)傷的(de)(de)(de)方(fang)法(fa)。這些(xie)射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)雖然不(bu)(bu)會(hui)像可(ke)(ke)見光那樣憑(ping)肉眼就(jiu)能(neng)直(zhi)(zhi)接察知，但它(ta)可(ke)(ke)使照(zhao)(zhao)相底(di)片(pian)感(gan)(gan)光，也可(ke)(ke)用(yong)特殊(shu)的(de)(de)(de)接收(shou)器(qi)來(lai)(lai)接收(shou)。常用(yong)于(yu)(yu)探(tan)(tan)(tan)傷的(de)(de)(de)射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)有(you)(you)x光和(he)同位(wei)素(su)發(fa)(fa)出的(de)(de)(de)γ射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)，分別稱為x光探(tan)(tan)(tan)傷和(he)γ射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)探(tan)(tan)(tan)傷。當(dang)這些(xie)射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)穿過(guo)(guo)（照(zhao)(zhao)射(she)(she)(she)(she)(she)）物(wu)質(zhi)時，該(gai)物(wu)質(zhi)的(de)(de)(de)密(mi)(mi)度(du)(du)越大，射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)強(qiang)(qiang)度(du)(du)減弱得(de)(de)越多，即(ji)射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)能(neng)穿透過(guo)(guo)該(gai)物(wu)質(zhi)的(de)(de)(de)強(qiang)(qiang)度(du)(du)就(jiu)越小(xiao)。此(ci)時，若用(yong)照(zhao)(zhao)相底(di)片(pian)接收(shou)，則底(di)片(pian)的(de)(de)(de)感(gan)(gan)光量就(jiu)小(xiao)；若用(yong)儀(yi)器(qi)來(lai)(lai)接收(shou)，獲得(de)(de)的(de)(de)(de)信號就(jiu)弱。因(yin)(yin)此(ci)，用(yong)射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)來(lai)(lai)照(zhao)(zhao)射(she)(she)(she)(she)(she)待探(tan)(tan)(tan)傷的(de)(de)(de)零(ling)部件時，若其(qi)內(nei)部有(you)(you)氣(qi)孔(kong)、夾渣等缺(que)(que)陷，射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)穿過(guo)(guo)有(you)(you)缺(que)(que)陷的(de)(de)(de)路徑(jing)比沒有(you)(you)缺(que)(que)陷的(de)(de)(de)路徑(jing)所透過(guo)(guo)的(de)(de)(de)物(wu)質(zhi)密(mi)(mi)度(du)(du)要小(xiao)得(de)(de)多，其(qi)強(qiang)(qiang)度(du)(du)就(jiu)減弱得(de)(de)少些(xie)，即(ji)透過(guo)(guo)的(de)(de)(de)強(qiang)(qiang)度(du)(du)就(jiu)大些(xie)，若用(yong)底(di)片(pian)接收(shou)，則感(gan)(gan)光量就(jiu)大些(xie)，就(jiu)可(ke)(ke)以(yi)從(cong)底(di)片(pian)上(shang)反映(ying)(ying)出缺(que)(que)陷垂直(zhi)(zhi)于(yu)(yu)射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)方(fang)向(xiang)的(de)(de)(de)平面(mian)投影；若用(yong)其(qi)它(ta)接收(shou)器(qi)也同樣可(ke)(ke)以(yi)用(yong)儀(yi)表(biao)來(lai)(lai)反映(ying)(ying)缺(que)(que)陷垂直(zhi)(zhi)于(yu)(yu)射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)方(fang)向(xiang)的(de)(de)(de)平面(mian)投影和(he)射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)的(de)(de)(de)透過(guo)(guo)量。由此(ci)可(ke)(ke)見，一般情(qing)況下，射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)探(tan)(tan)(tan)傷是(shi)不(bu)(bu)易發(fa)(fa)現裂紋的(de)(de)(de)，或者說(shuo)，射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)探(tan)(tan)(tan)傷對裂紋是(shi)不(bu)(bu)敏感(gan)(gan)的(de)(de)(de)。因(yin)(yin)此(ci)，射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)探(tan)(tan)(tan)傷對氣(qi)孔(kong)、夾渣、未焊透等體積(ji)型缺(que)(que)陷最敏感(gan)(gan)。即(ji)射(she)(she)(she)(she)(she)線(xian)(xian)探(tan)(tan)(tan)傷適宜用(yong)于(yu)(yu)體積(ji)型缺(que)(que)陷探(tan)(tan)(tan)傷，而不(bu)(bu)適宜面(mian)積(ji)型缺(que)(que)陷探(tan)(tan)(tan)傷。

2、超聲波探傷方法

人們的(de)(de)(de)(de)耳朵能直(zhi)(zhi)接(jie)接(jie)收(shou)到的(de)(de)(de)(de)聲(sheng)波(bo)的(de)(de)(de)(de)頻(pin)率(lv)范圍通常是20Hz到20kHz，即音（聲(sheng)）頻(pin)。頻(pin)率(lv)低于(yu)20Hz的(de)(de)(de)(de)稱為次聲(sheng)波(bo)，高于(yu)20 kHz的(de)(de)(de)(de)稱為超(chao)(chao)(chao)聲(sheng)波(bo)。工(gong)(gong)業(ye)上常用(yong)數(shu)兆(zhao)赫(he)茲超(chao)(chao)(chao)聲(sheng)波(bo)來(lai)(lai)探(tan)傷。超(chao)(chao)(chao)聲(sheng)波(bo)頻(pin)率(lv)高，則(ze)傳(chuan)播的(de)(de)(de)(de)直(zhi)(zhi)線性強，又(you)易于(yu)在固體中傳(chuan)播，并且遇到兩種不同(tong)介質形成的(de)(de)(de)(de)界面(mian)(mian)時(shi)(shi)易于(yu)反(fan)射(she)(she)(she)(she)，這樣就(jiu)可(ke)以用(yong)它來(lai)(lai)探(tan)傷。通常用(yong)超(chao)(chao)(chao)聲(sheng)波(bo)探(tan)頭與待探(tan)工(gong)(gong)件(jian)(jian)(jian)表(biao)面(mian)(mian)良(liang)好的(de)(de)(de)(de)接(jie)觸，探(tan)頭則(ze)可(ke)有(you)效(xiao)地(di)向(xiang)工(gong)(gong)件(jian)(jian)(jian)發(fa)射(she)(she)(she)(she)超(chao)(chao)(chao)聲(sheng)波(bo)，并能接(jie)收(shou)（缺(que)(que)陷(xian)）界面(mian)(mian)反(fan)射(she)(she)(she)(she)來(lai)(lai)的(de)(de)(de)(de)超(chao)(chao)(chao)聲(sheng)波(bo)，同(tong)時(shi)(shi)轉換成電信號，再傳(chuan)輸給(gei)儀器(qi)進(jin)行處理。根據超(chao)(chao)(chao)聲(sheng)波(bo)在介質中傳(chuan)播的(de)(de)(de)(de)速度(du)（常稱聲(sheng)速）和傳(chuan)播的(de)(de)(de)(de)時(shi)(shi)間，就(jiu)可(ke)知(zhi)道缺(que)(que)陷(xian)的(de)(de)(de)(de)位置(zhi)。當(dang)缺(que)(que)陷(xian)越大(da)，反(fan)射(she)(she)(she)(she)面(mian)(mian)則(ze)越大(da)，其反(fan)射(she)(she)(she)(she)的(de)(de)(de)(de)能量也就(jiu)越大(da)，故(gu)可(ke)根據反(fan)射(she)(she)(she)(she)能量的(de)(de)(de)(de)大(da)小(xiao)(xiao)來(lai)(lai)查知(zhi)各缺(que)(que)陷(xian)（當(dang)量）的(de)(de)(de)(de)大(da)小(xiao)(xiao)。常用(yong)的(de)(de)(de)(de)探(tan)傷波(bo)形有(you)縱(zong)波(bo)、橫波(bo)、表(biao)面(mian)(mian)波(bo)等，前(qian)二者(zhe)適(shi)用(yong)于(yu)探(tan)測內部缺(que)(que)陷(xian)，后者(zhe)適(shi)宜于(yu)探(tan)測表(biao)面(mian)(mian)缺(que)(que)陷(xian)，但對表(biao)面(mian)(mian)的(de)(de)(de)(de)條件(jian)(jian)(jian)要(yao)求高。

3、磁粉探傷方法

磁(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)探(tan)(tan)傷是(shi)建立在漏磁(ci)(ci)(ci)原理基礎上(shang)的(de)一(yi)種磁(ci)(ci)(ci)力探(tan)(tan)傷方(fang)法(fa)。當磁(ci)(ci)(ci)力線穿(chuan)過鐵磁(ci)(ci)(ci)材(cai)料(liao)及(ji)其制(zhi)品(pin)(pin)時(shi)，在其（磁(ci)(ci)(ci)性）不(bu)連續(xu)處將產(chan)(chan)生漏磁(ci)(ci)(ci)場，形(xing)成磁(ci)(ci)(ci)極(ji)。此(ci)時(shi)撒上(shang)干磁(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)或澆上(shang)磁(ci)(ci)(ci)懸液，磁(ci)(ci)(ci)極(ji)就(jiu)會吸附磁(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)，產(chan)(chan)生用(yong)肉(rou)眼能直(zhi)接(jie)(jie)觀察(cha)的(de)明顯磁(ci)(ci)(ci)痕。因此(ci)，可(ke)借助于(yu)該磁(ci)(ci)(ci)痕來顯示鐵磁(ci)(ci)(ci)材(cai)料(liao)及(ji)其制(zhi)品(pin)(pin)的(de)缺(que)陷(xian)(xian)情(qing)況。磁(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)探(tan)(tan)傷法(fa)可(ke)探(tan)(tan)測露(lu)出表(biao)面(mian)，用(yong)肉(rou)眼或借助于(yu)放(fang)大(da)鏡也不(bu)能直(zhi)接(jie)(jie)觀察(cha)到的(de)微(wei)小缺(que)陷(xian)(xian)，也可(ke)探(tan)(tan)測未露(lu)出表(biao)面(mian)，而(er)是(shi)埋(mai)藏在表(biao)面(mian)下(xia)幾毫(hao)米的(de)近表(biao)面(mian)缺(que)陷(xian)(xian)。用(yong)這種方(fang)法(fa)雖然(ran)也能探(tan)(tan)查(cha)氣孔、夾雜、未焊(han)透等體積型缺(que)陷(xian)(xian)，但(dan)對面(mian)積型缺(que)陷(xian)(xian)更靈敏，更適于(yu)檢查(cha)因淬火、軋制(zhi)、鍛(duan)造、鑄造、焊(han)接(jie)(jie)、電鍍、磨削(xue)、疲勞等引起的(de)裂(lie)紋。

磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)力(li)探(tan)(tan)傷(shang)中(zhong)對(dui)缺陷的顯示方法(fa)有(you)多(duo)種，有(you)用磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)顯示的，也有(you)不(bu)用磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)顯示的。用磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)顯示的稱(cheng)為磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)探(tan)(tan)傷(shang)，因它顯示直(zhi)觀(guan)、操(cao)作簡單、人們樂于(yu)使用，故它是(shi)最常(chang)用的方法(fa)之(zhi)一。不(bu)用磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)顯示的，習慣(guan)上稱(cheng)為漏(lou)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)探(tan)(tan)傷(shang)，它常(chang)借助于(yu)感應線圈、磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)敏管、霍爾元(yuan)件等來反映缺陷，它比磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)探(tan)(tan)傷(shang)更衛生(sheng)，但不(bu)如前者(zhe)直(zhi)觀(guan)。由于(yu)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)力(li)探(tan)(tan)傷(shang)主要用磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)來顯示缺陷，因此，人們有(you)時把磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)探(tan)(tan)傷(shang)直(zhi)接稱(cheng)為磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)力(li)探(tan)(tan)傷(shang)，其設備(bei)稱(cheng)為磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)力(li)探(tan)(tan)傷(shang)設備(bei)。

4、渦流探傷方法

渦流(liu)探(tan)傷是(shi)由交流(liu)電(dian)流(liu)產生的交變磁(ci)場作用于(yu)待探(tan)傷的導電(dian)材(cai)料(liao)(liao)，感應(ying)出(chu)(chu)電(dian)渦流(liu)。如果材(cai)料(liao)(liao)中(zhong)有缺(que)陷，它將干(gan)擾(rao)(rao)所產生的電(dian)渦流(liu)，即形成干(gan)擾(rao)(rao)信(xin)(xin)號(hao)(hao)。用渦流(liu)探(tan)傷儀檢測出(chu)(chu)其(qi)干(gan)擾(rao)(rao)信(xin)(xin)號(hao)(hao)，就可知道缺(que)陷的狀況(kuang)。影(ying)響渦流(liu)的因素(su)很多(duo)，即是(shi)說(shuo)渦流(liu)中(zhong)載有豐富的信(xin)(xin)號(hao)(hao)，這些信(xin)(xin)號(hao)(hao)與材(cai)料(liao)(liao)的很多(duo)因素(su)有關，如何(he)將其(qi)中(zhong)有用的信(xin)(xin)號(hao)(hao)從諸多(duo)的信(xin)(xin)號(hao)(hao)中(zhong)一一分離(li)出(chu)(chu)來，是(shi)渦流(liu)研究工作者(zhe)的難題，多(duo)年來已經取得了一些進展，在一定條件(jian)下可解決一些問題，但(dan)還遠(yuan)不能滿足現場的要求(qiu)，有待于(yu)大力發展。

渦(wo)流(liu)探傷的(de)顯著特點(dian)是(shi)對(dui)導電材料(liao)(liao)就能起作用，而不(bu)一定是(shi)鐵磁(ci)材料(liao)(liao)，但對(dui)鐵磁(ci)材料(liao)(liao)的(de)效果(guo)較差。其(qi)次，待探工件表面的(de)光潔度(du)、平整度(du)、邊介等(deng)對(dui)渦(wo)流(liu)探傷都有(you)較大影(ying)響，因此(ci)常將渦(wo)流(liu)探傷用于形狀較規則、表面較光潔的(de)銅管(guan)等(deng)非鐵磁(ci)性(xing)工件探傷。

5、滲透探傷方法

滲(shen)透(tou)(tou)(tou)(tou)探傷(shang)(shang)是利用毛細(xi)(xi)現(xian)象(xiang)(xiang)來進行探傷(shang)(shang)的(de)(de)(de)(de)(de)方法。對(dui)于(yu)(yu)表(biao)(biao)(biao)面光滑(hua)而清潔的(de)(de)(de)(de)(de)零部(bu)件，用一種帶色(se)(se)（常為(wei)紅(hong)色(se)(se)）或帶有熒(ying)光的(de)(de)(de)(de)(de)、滲(shen)透(tou)(tou)(tou)(tou)性很強的(de)(de)(de)(de)(de)液(ye)體(ti)(ti)，涂覆(fu)于(yu)(yu)待(dai)探零部(bu)件的(de)(de)(de)(de)(de)表(biao)(biao)(biao)面。若(ruo)表(biao)(biao)(biao)面有肉(rou)眼(yan)不能直接察知的(de)(de)(de)(de)(de)微裂(lie)紋(wen)，由于(yu)(yu)該液(ye)體(ti)(ti)的(de)(de)(de)(de)(de)滲(shen)透(tou)(tou)(tou)(tou)性很強，它將(jiang)(jiang)沿著(zhu)(zhu)裂(lie)紋(wen)滲(shen)透(tou)(tou)(tou)(tou)到其(qi)(qi)根部(bu)。然后將(jiang)(jiang)表(biao)(biao)(biao)面的(de)(de)(de)(de)(de)滲(shen)透(tou)(tou)(tou)(tou)液(ye)洗去，再涂上(shang)(shang)對(dui)比度較大(da)的(de)(de)(de)(de)(de)顯(xian)(xian)示(shi)(shi)液(ye)（常為(wei)白色(se)(se)）。放置片刻后，由于(yu)(yu)裂(lie)紋(wen)很窄，毛細(xi)(xi)現(xian)象(xiang)(xiang)作用顯(xian)(xian)著(zhu)(zhu)，原滲(shen)透(tou)(tou)(tou)(tou)到裂(lie)紋(wen)內的(de)(de)(de)(de)(de)滲(shen)透(tou)(tou)(tou)(tou)液(ye)將(jiang)(jiang)上(shang)(shang)升到表(biao)(biao)(biao)面并擴(kuo)散，在(zai)白色(se)(se)的(de)(de)(de)(de)(de)襯底(di)上(shang)(shang)顯(xian)(xian)出較粗的(de)(de)(de)(de)(de)紅(hong)線，從(cong)(cong)而顯(xian)(xian)示(shi)(shi)出裂(lie)紋(wen)露(lu)于(yu)(yu)表(biao)(biao)(biao)面的(de)(de)(de)(de)(de)形狀，因此(ci)，常稱(cheng)(cheng)為(wei)著(zhu)(zhu)色(se)(se)探傷(shang)(shang)。若(ruo)滲(shen)透(tou)(tou)(tou)(tou)液(ye)采用的(de)(de)(de)(de)(de)是帶熒(ying)光的(de)(de)(de)(de)(de)液(ye)體(ti)(ti)，由毛細(xi)(xi)現(xian)象(xiang)(xiang)上(shang)(shang)升到表(biao)(biao)(biao)面的(de)(de)(de)(de)(de)液(ye)體(ti)(ti)，則會在(zai)紫外燈照射下(xia)發出熒(ying)光，從(cong)(cong)而更能顯(xian)(xian)示(shi)(shi)出裂(lie)紋(wen)露(lu)于(yu)(yu)表(biao)(biao)(biao)面的(de)(de)(de)(de)(de)形狀，故(gu)常常又將(jiang)(jiang)此(ci)時的(de)(de)(de)(de)(de)滲(shen)透(tou)(tou)(tou)(tou)探傷(shang)(shang)直接稱(cheng)(cheng)為(wei)熒(ying)光探傷(shang)(shang)。此(ci)探傷(shang)(shang)方法也可用于(yu)(yu)金(jin)屬(shu)和(he)非(fei)金(jin)屬(shu)表(biao)(biao)(biao)面探傷(shang)(shang)。其(qi)(qi)使用的(de)(de)(de)(de)(de)探傷(shang)(shang)液(ye)劑有較大(da)氣(qi)味，常有一定毒性。

探傷儀除(chu)以上五大常規(gui)方(fang)法外(wai)，近年(nian)來(lai)又有(you)了紅外(wai)、聲發射等一些新(xin)的探(tan)傷方(fang)法。