芒果视频下载

一、探傷儀是干什么用的

探(tan)傷(shang)儀是(shi)一種探(tan)測機器(qi)(qi)缺陷的的工(gong)程器(qi)(qi)械，它的主要用途是(shi)探(tan)測機器(qi)(qi)加工(gong)件(jian)內部(bu)是(shi)否(fou)(fou)有缺陷，如裂紋(wen)、砂眼(yan)、氣孔、白(bai)點、夾雜等，檢查(cha)焊縫是(shi)否(fou)(fou)合格，查(cha)找有無暗傷(shang)，進而判定工(gong)件(jian)合格與否(fou)(fou)。

探傷(shang)儀的(de)(de)應(ying)用十(shi)分廣(guang)泛，目前探傷(shang)儀主要用在工(gong)業和醫療上(shang)，工(gong)業上(shang)用于(yu)檢(jian)測(ce)金屬材料中是(shi)否(fou)有(you)傷(shang)痕、氣泡、裂縫等，醫學上(shang)用于(yu)檢(jian)測(ce)人體的(de)(de)軟組織(zhi)、血流(liu)等是(shi)否(fou)正常。

二、探傷儀的原理是什么

探傷(shang)儀(yi)檢測(ce)通(tong)常(chang)是對(dui)被測(ce)物體(ti)(ti)(ti)(ti)（比如工(gong)業材料、人(ren)體(ti)(ti)(ti)(ti)）發射(she)超聲(sheng)，然后利(li)用其反射(she)、多(duo)普勒效(xiao)應、透射(she)等來(lai)獲取被測(ce)物體(ti)(ti)(ti)(ti)內部的(de)信息并經過處理形成圖像。探傷(shang)儀(yi)其中多(duo)普勒效(xiao)應法是利(li)用超聲(sheng)在遇到運(yun)動的(de)物體(ti)(ti)(ti)(ti)時發生的(de)多(duo)普勒頻移效(xiao)應來(lai)得(de)出該物體(ti)(ti)(ti)(ti)的(de)運(yun)動方向(xiang)和速度等特(te)性；透射(she)法則是通(tong)過分(fen)析超聲(sheng)穿(chuan)透過被測(ce)物體(ti)(ti)(ti)(ti)之(zhi)后的(de)變化而(er)得(de)出物體(ti)(ti)(ti)(ti)的(de)內部特(te)性的(de)，其應用還處于研制階段。

三、探傷儀怎么使用

探傷(shang)儀五大常(chang)規(gui)方法(fa)(fa)是指射線探傷(shang)法(fa)(fa)、超(chao)聲波探傷(shang)法(fa)(fa)、磁粉(fen)探傷(shang)法(fa)(fa)、渦流探傷(shang)法(fa)(fa)和滲透探傷(shang)法(fa)(fa)。

1、射線探傷方法

射(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)是利用(yong)射(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)的(de)(de)(de)(de)穿透(tou)(tou)(tou)性(xing)和(he)(he)直(zhi)(zhi)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)性(xing)來探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)的(de)(de)(de)(de)方(fang)法(fa)。這些(xie)射(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)雖然不會(hui)像(xiang)可(ke)見(jian)光那樣憑(ping)肉眼就能直(zhi)(zhi)接察知(zhi)，但它可(ke)使照(zhao)相(xiang)底(di)片感(gan)光，也可(ke)用(yong)特殊的(de)(de)(de)(de)接收(shou)器(qi)來接收(shou)。常(chang)用(yong)于(yu)探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)的(de)(de)(de)(de)射(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)有(you)x光和(he)(he)同(tong)位素發(fa)(fa)出的(de)(de)(de)(de)γ射(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)，分別稱為x光探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)和(he)(he)γ射(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)。當這些(xie)射(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)穿過(guo)（照(zhao)射(she)）物(wu)(wu)質(zhi)(zhi)(zhi)時(shi)(shi)，該物(wu)(wu)質(zhi)(zhi)(zhi)的(de)(de)(de)(de)密度(du)越大(da)，射(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)強度(du)減弱(ruo)得(de)越多，即射(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)能穿透(tou)(tou)(tou)過(guo)該物(wu)(wu)質(zhi)(zhi)(zhi)的(de)(de)(de)(de)強度(du)就越小(xiao)(xiao)。此時(shi)(shi)，若(ruo)用(yong)照(zhao)相(xiang)底(di)片接收(shou)，則底(di)片的(de)(de)(de)(de)感(gan)光量就小(xiao)(xiao)；若(ruo)用(yong)儀(yi)器(qi)來接收(shou)，獲得(de)的(de)(de)(de)(de)信號(hao)就弱(ruo)。因此，用(yong)射(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)來照(zhao)射(she)待探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)的(de)(de)(de)(de)零部件(jian)時(shi)(shi)，若(ruo)其內部有(you)氣孔(kong)、夾渣(zha)等(deng)缺(que)陷(xian)，射(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)穿過(guo)有(you)缺(que)陷(xian)的(de)(de)(de)(de)路徑比(bi)沒有(you)缺(que)陷(xian)的(de)(de)(de)(de)路徑所(suo)透(tou)(tou)(tou)過(guo)的(de)(de)(de)(de)物(wu)(wu)質(zhi)(zhi)(zhi)密度(du)要(yao)小(xiao)(xiao)得(de)多，其強度(du)就減弱(ruo)得(de)少些(xie)，即透(tou)(tou)(tou)過(guo)的(de)(de)(de)(de)強度(du)就大(da)些(xie)，若(ruo)用(yong)底(di)片接收(shou)，則感(gan)光量就大(da)些(xie)，就可(ke)以從底(di)片上反映出缺(que)陷(xian)垂直(zhi)(zhi)于(yu)射(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)方(fang)向(xiang)的(de)(de)(de)(de)平面投(tou)影；若(ruo)用(yong)其它接收(shou)器(qi)也同(tong)樣可(ke)以用(yong)儀(yi)表來反映缺(que)陷(xian)垂直(zhi)(zhi)于(yu)射(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)方(fang)向(xiang)的(de)(de)(de)(de)平面投(tou)影和(he)(he)射(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)的(de)(de)(de)(de)透(tou)(tou)(tou)過(guo)量。由(you)此可(ke)見(jian)，一(yi)般情況(kuang)下(xia)，射(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)是不易發(fa)(fa)現裂紋的(de)(de)(de)(de)，或者說，射(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)對裂紋是不敏(min)感(gan)的(de)(de)(de)(de)。因此，射(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)對氣孔(kong)、夾渣(zha)、未焊透(tou)(tou)(tou)等(deng)體積型缺(que)陷(xian)最敏(min)感(gan)。即射(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)適宜(yi)用(yong)于(yu)體積型缺(que)陷(xian)探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)，而不適宜(yi)面積型缺(que)陷(xian)探(tan)(tan)(tan)(tan)傷(shang)(shang)。

2、超聲波探傷方法

人們的(de)(de)(de)(de)(de)耳朵(duo)能直接接收到的(de)(de)(de)(de)(de)聲(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)的(de)(de)(de)(de)(de)頻(pin)率范(fan)圍通(tong)常(chang)是20Hz到20kHz，即音(yin)（聲(sheng)(sheng)）頻(pin)。頻(pin)率低于20Hz的(de)(de)(de)(de)(de)稱(cheng)為次聲(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)，高(gao)于20 kHz的(de)(de)(de)(de)(de)稱(cheng)為超(chao)聲(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)。工(gong)(gong)業(ye)上常(chang)用(yong)數兆赫茲超(chao)聲(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)來(lai)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)。超(chao)聲(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)頻(pin)率高(gao)，則(ze)傳(chuan)(chuan)(chuan)播的(de)(de)(de)(de)(de)直線性強(qiang)，又易于在固體中傳(chuan)(chuan)(chuan)播，并且遇到兩種不同介質(zhi)形成的(de)(de)(de)(de)(de)界(jie)面(mian)時(shi)易于反(fan)射(she)，這樣就可以用(yong)它來(lai)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)。通(tong)常(chang)用(yong)超(chao)聲(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)探(tan)(tan)(tan)頭與待探(tan)(tan)(tan)工(gong)(gong)件表面(mian)良好的(de)(de)(de)(de)(de)接觸，探(tan)(tan)(tan)頭則(ze)可有(you)效地向工(gong)(gong)件發射(she)超(chao)聲(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)，并能接收（缺(que)(que)陷(xian)(xian)）界(jie)面(mian)反(fan)射(she)來(lai)的(de)(de)(de)(de)(de)超(chao)聲(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)，同時(shi)轉換(huan)成電信號，再傳(chuan)(chuan)(chuan)輸給儀(yi)器進(jin)行處理。根據超(chao)聲(sheng)(sheng)波(bo)(bo)(bo)在介質(zhi)中傳(chuan)(chuan)(chuan)播的(de)(de)(de)(de)(de)速度（常(chang)稱(cheng)聲(sheng)(sheng)速）和(he)傳(chuan)(chuan)(chuan)播的(de)(de)(de)(de)(de)時(shi)間，就可知(zhi)道缺(que)(que)陷(xian)(xian)的(de)(de)(de)(de)(de)位置。當(dang)缺(que)(que)陷(xian)(xian)越(yue)大(da)，反(fan)射(she)面(mian)則(ze)越(yue)大(da)，其反(fan)射(she)的(de)(de)(de)(de)(de)能量也就越(yue)大(da)，故(gu)可根據反(fan)射(she)能量的(de)(de)(de)(de)(de)大(da)小(xiao)來(lai)查知(zhi)各缺(que)(que)陷(xian)(xian)（當(dang)量）的(de)(de)(de)(de)(de)大(da)小(xiao)。常(chang)用(yong)的(de)(de)(de)(de)(de)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)波(bo)(bo)(bo)形有(you)縱波(bo)(bo)(bo)、橫波(bo)(bo)(bo)、表面(mian)波(bo)(bo)(bo)等，前二者適用(yong)于探(tan)(tan)(tan)測內(nei)部缺(que)(que)陷(xian)(xian)，后者適宜于探(tan)(tan)(tan)測表面(mian)缺(que)(que)陷(xian)(xian)，但對表面(mian)的(de)(de)(de)(de)(de)條件要求高(gao)。

3、磁粉探傷方法

磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)探(tan)傷是建立在(zai)漏磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)原理基礎上的一種磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)力探(tan)傷方法。當磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)力線穿過鐵磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)材料(liao)及其(qi)制品(pin)時(shi)，在(zai)其(qi)（磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)性(xing)）不連續處將(jiang)產生漏磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)場，形成(cheng)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)極。此時(shi)撒上干磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)或(huo)澆上磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)懸液，磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)極就會吸附磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)，產生用肉眼能(neng)直接(jie)觀察(cha)(cha)的明顯(xian)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)痕。因(yin)此，可借助(zhu)于(yu)該(gai)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)痕來顯(xian)示(shi)鐵磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)材料(liao)及其(qi)制品(pin)的缺陷(xian)(xian)情況(kuang)。磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)探(tan)傷法可探(tan)測(ce)露出(chu)表面(mian)，用肉眼或(huo)借助(zhu)于(yu)放大鏡(jing)也(ye)不能(neng)直接(jie)觀察(cha)(cha)到(dao)的微(wei)小缺陷(xian)(xian)，也(ye)可探(tan)測(ce)未露出(chu)表面(mian)，而是埋藏在(zai)表面(mian)下幾毫米的近表面(mian)缺陷(xian)(xian)。用這(zhe)種方法雖然也(ye)能(neng)探(tan)查氣孔、夾(jia)雜、未焊(han)透等體積型缺陷(xian)(xian)，但對(dui)面(mian)積型缺陷(xian)(xian)更靈敏，更適于(yu)檢查因(yin)淬(cui)火、軋(ya)制、鍛造、鑄造、焊(han)接(jie)、電鍍、磨削、疲勞等引起的裂紋。

磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)力(li)(li)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)中(zhong)對缺陷的(de)(de)顯(xian)(xian)示(shi)(shi)(shi)方法有(you)多種(zhong)，有(you)用磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)顯(xian)(xian)示(shi)(shi)(shi)的(de)(de)，也有(you)不用磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)顯(xian)(xian)示(shi)(shi)(shi)的(de)(de)。用磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)顯(xian)(xian)示(shi)(shi)(shi)的(de)(de)稱(cheng)(cheng)為(wei)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)，因(yin)(yin)它(ta)顯(xian)(xian)示(shi)(shi)(shi)直觀(guan)、操(cao)作(zuo)簡單、人們樂于使用，故它(ta)是最常用的(de)(de)方法之一(yi)。不用磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)顯(xian)(xian)示(shi)(shi)(shi)的(de)(de)，習慣(guan)上稱(cheng)(cheng)為(wei)漏磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)，它(ta)常借助于感應線(xian)圈、磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)敏管、霍爾元件等來(lai)反映缺陷，它(ta)比磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)更衛生，但不如前者直觀(guan)。由于磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)力(li)(li)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)主要用磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)來(lai)顯(xian)(xian)示(shi)(shi)(shi)缺陷，因(yin)(yin)此，人們有(you)時把磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)粉(fen)(fen)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)直接稱(cheng)(cheng)為(wei)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)力(li)(li)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)，其設備稱(cheng)(cheng)為(wei)磁(ci)(ci)(ci)(ci)(ci)力(li)(li)探(tan)(tan)(tan)傷(shang)設備。

4、渦流探傷方法

渦流(liu)探(tan)傷(shang)是由交(jiao)流(liu)電流(liu)產(chan)生的(de)(de)交(jiao)變磁(ci)場作用于待探(tan)傷(shang)的(de)(de)導電材(cai)料，感應出電渦流(liu)。如果材(cai)料中有缺(que)陷(xian)，它(ta)將干擾所產(chan)生的(de)(de)電渦流(liu)，即形成干擾信號(hao)。用渦流(liu)探(tan)傷(shang)儀(yi)檢測(ce)出其(qi)干擾信號(hao)，就可知道缺(que)陷(xian)的(de)(de)狀(zhuang)況。影(ying)響渦流(liu)的(de)(de)因(yin)素(su)很多，即是說(shuo)渦流(liu)中載有豐富的(de)(de)信號(hao)，這些信號(hao)與材(cai)料的(de)(de)很多因(yin)素(su)有關，如何將其(qi)中有用的(de)(de)信號(hao)從諸多的(de)(de)信號(hao)中一一分離(li)出來，是渦流(liu)研究工作者的(de)(de)難題，多年來已(yi)經取得了一些進展，在一定條件下可解決一些問題，但(dan)還遠不能滿足現場的(de)(de)要求，有待于大力發展。

渦流(liu)(liu)(liu)探(tan)傷的(de)(de)顯著特點是(shi)對(dui)導(dao)電(dian)材料就能起作用(yong)，而不(bu)一定(ding)是(shi)鐵(tie)磁材料，但對(dui)鐵(tie)磁材料的(de)(de)效果較(jiao)差。其次(ci)，待探(tan)工件表(biao)面(mian)的(de)(de)光潔(jie)度(du)、平(ping)整(zheng)度(du)、邊介等對(dui)渦流(liu)(liu)(liu)探(tan)傷都(dou)有較(jiao)大影響(xiang)，因此常(chang)將(jiang)渦流(liu)(liu)(liu)探(tan)傷用(yong)于形狀較(jiao)規則(ze)、表(biao)面(mian)較(jiao)光潔(jie)的(de)(de)銅管等非鐵(tie)磁性工件探(tan)傷。

5、滲透探傷方法

滲(shen)透(tou)(tou)探傷(shang)是(shi)利用毛(mao)細(xi)現象來進行(xing)探傷(shang)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)方法(fa)。對于(yu)(yu)表面(mian)光(guang)滑而清潔(jie)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)零部(bu)(bu)(bu)件，用一(yi)種帶(dai)色(se)(se)（常(chang)為(wei)紅色(se)(se)）或帶(dai)有(you)熒(ying)光(guang)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)、滲(shen)透(tou)(tou)性(xing)很(hen)強的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)液(ye)(ye)(ye)體(ti)，涂覆于(yu)(yu)待探零部(bu)(bu)(bu)件的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)表面(mian)。若(ruo)表面(mian)有(you)肉眼不能(neng)直接(jie)察知的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)微裂(lie)紋(wen)(wen)(wen)，由(you)(you)于(yu)(yu)該(gai)液(ye)(ye)(ye)體(ti)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)滲(shen)透(tou)(tou)性(xing)很(hen)強，它將(jiang)沿著裂(lie)紋(wen)(wen)(wen)滲(shen)透(tou)(tou)到其根(gen)部(bu)(bu)(bu)。然后將(jiang)表面(mian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)滲(shen)透(tou)(tou)液(ye)(ye)(ye)洗去，再涂上(shang)對比度較(jiao)大的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)顯(xian)示(shi)液(ye)(ye)(ye)（常(chang)為(wei)白色(se)(se)）。放置片刻(ke)后，由(you)(you)于(yu)(yu)裂(lie)紋(wen)(wen)(wen)很(hen)窄，毛(mao)細(xi)現象作用顯(xian)著，原滲(shen)透(tou)(tou)到裂(lie)紋(wen)(wen)(wen)內的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)滲(shen)透(tou)(tou)液(ye)(ye)(ye)將(jiang)上(shang)升(sheng)到表面(mian)并(bing)擴散，在白色(se)(se)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)襯底(di)上(shang)顯(xian)出(chu)(chu)(chu)較(jiao)粗的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)紅線，從而顯(xian)示(shi)出(chu)(chu)(chu)裂(lie)紋(wen)(wen)(wen)露于(yu)(yu)表面(mian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)形(xing)狀(zhuang)，因此，常(chang)稱為(wei)著色(se)(se)探傷(shang)。若(ruo)滲(shen)透(tou)(tou)液(ye)(ye)(ye)采用的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)是(shi)帶(dai)熒(ying)光(guang)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)液(ye)(ye)(ye)體(ti)，由(you)(you)毛(mao)細(xi)現象上(shang)升(sheng)到表面(mian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)液(ye)(ye)(ye)體(ti)，則(ze)會在紫外燈(deng)照射下發出(chu)(chu)(chu)熒(ying)光(guang)，從而更能(neng)顯(xian)示(shi)出(chu)(chu)(chu)裂(lie)紋(wen)(wen)(wen)露于(yu)(yu)表面(mian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)形(xing)狀(zhuang)，故常(chang)常(chang)又將(jiang)此時的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)滲(shen)透(tou)(tou)探傷(shang)直接(jie)稱為(wei)熒(ying)光(guang)探傷(shang)。此探傷(shang)方法(fa)也可(ke)用于(yu)(yu)金(jin)屬(shu)和非金(jin)屬(shu)表面(mian)探傷(shang)。其使用的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)探傷(shang)液(ye)(ye)(ye)劑有(you)較(jiao)大氣味，常(chang)有(you)一(yi)定毒性(xing)。

探傷儀除以上五(wu)大(da)常(chang)規方(fang)(fang)法外，近年來又有了紅外、聲發(fa)射等一些新(xin)的探傷方(fang)(fang)法。