芒果视频下载

一、探傷儀是干什么用的

探傷儀是(shi)一(yi)種探測機器缺(que)陷的(de)的(de)工程器械，它的(de)主要用途是(shi)探測機器加工件(jian)內(nei)部是(shi)否(fou)(fou)有缺(que)陷，如裂(lie)紋、砂眼(yan)、氣孔、白點(dian)、夾雜(za)等，檢查(cha)焊縫是(shi)否(fou)(fou)合(he)格(ge)，查(cha)找有無暗(an)傷，進(jin)而判(pan)定(ding)工件(jian)合(he)格(ge)與否(fou)(fou)。

探(tan)傷(shang)儀的應(ying)用十分廣泛，目前(qian)探(tan)傷(shang)儀主(zhu)要用在工(gong)業(ye)(ye)和醫療上(shang)，工(gong)業(ye)(ye)上(shang)用于檢測金屬材料(liao)中是(shi)(shi)否有傷(shang)痕、氣泡、裂(lie)縫(feng)等，醫學上(shang)用于檢測人體的軟(ruan)組織(zhi)、血(xue)流等是(shi)(shi)否正常。

二、探傷儀的原理是什么

探傷(shang)儀(yi)檢測(ce)通常是(shi)(shi)對被測(ce)物體(ti)（比如工業材(cai)料(liao)、人體(ti)）發(fa)射超聲(sheng)(sheng)，然(ran)后(hou)利(li)用(yong)其(qi)(qi)反射、多(duo)(duo)普勒效應、透(tou)射等來獲取被測(ce)物體(ti)內部的(de)信(xin)息(xi)并經過(guo)處(chu)理形成圖像。探傷(shang)儀(yi)其(qi)(qi)中多(duo)(duo)普勒效應法是(shi)(shi)利(li)用(yong)超聲(sheng)(sheng)在遇到運動(dong)的(de)物體(ti)時發(fa)生的(de)多(duo)(duo)普勒頻移效應來得出該(gai)物體(ti)的(de)運動(dong)方向和速度等特(te)性；透(tou)射法則是(shi)(shi)通過(guo)分(fen)析超聲(sheng)(sheng)穿透(tou)過(guo)被測(ce)物體(ti)之后(hou)的(de)變化而得出物體(ti)的(de)內部特(te)性的(de)，其(qi)(qi)應用(yong)還(huan)處(chu)于研制階段(duan)。

三、探傷儀怎么使用

探(tan)傷(shang)(shang)儀五大(da)常規方法是指射線探(tan)傷(shang)(shang)法、超聲波探(tan)傷(shang)(shang)法、磁粉探(tan)傷(shang)(shang)法、渦流探(tan)傷(shang)(shang)法和滲(shen)透探(tan)傷(shang)(shang)法。

1、射線探傷方法

射(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)探(tan)傷(shang)(shang)是利用(yong)射(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)的(de)(de)(de)(de)穿(chuan)(chuan)透性和(he)(he)(he)直(zhi)(zhi)(zhi)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)性來探(tan)傷(shang)(shang)的(de)(de)(de)(de)方(fang)法(fa)。這些射(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)雖然(ran)不會像可(ke)(ke)(ke)見(jian)光(guang)(guang)那樣憑肉眼就(jiu)能(neng)直(zhi)(zhi)(zhi)接(jie)察知，但它(ta)可(ke)(ke)(ke)使照(zhao)相底(di)(di)片(pian)(pian)感(gan)光(guang)(guang)，也可(ke)(ke)(ke)用(yong)特殊的(de)(de)(de)(de)接(jie)收器來接(jie)收。常用(yong)于(yu)(yu)(yu)探(tan)傷(shang)(shang)的(de)(de)(de)(de)射(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)有(you)x光(guang)(guang)和(he)(he)(he)同位(wei)素發(fa)出的(de)(de)(de)(de)γ射(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)，分別稱為x光(guang)(guang)探(tan)傷(shang)(shang)和(he)(he)(he)γ射(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)探(tan)傷(shang)(shang)。當這些射(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)穿(chuan)(chuan)過（照(zhao)射(she)）物(wu)質時(shi)，該物(wu)質的(de)(de)(de)(de)密度(du)(du)越大(da)(da)，射(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)強度(du)(du)減弱(ruo)得越多，即(ji)射(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)能(neng)穿(chuan)(chuan)透過該物(wu)質的(de)(de)(de)(de)強度(du)(du)就(jiu)越小(xiao)。此(ci)時(shi)，若(ruo)(ruo)用(yong)照(zhao)相底(di)(di)片(pian)(pian)接(jie)收，則(ze)底(di)(di)片(pian)(pian)的(de)(de)(de)(de)感(gan)光(guang)(guang)量(liang)就(jiu)小(xiao)；若(ruo)(ruo)用(yong)儀器來接(jie)收，獲(huo)得的(de)(de)(de)(de)信號(hao)就(jiu)弱(ruo)。因此(ci)，用(yong)射(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)來照(zhao)射(she)待(dai)探(tan)傷(shang)(shang)的(de)(de)(de)(de)零部件時(shi)，若(ruo)(ruo)其(qi)(qi)內部有(you)氣孔、夾(jia)(jia)渣等缺(que)(que)陷，射(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)穿(chuan)(chuan)過有(you)缺(que)(que)陷的(de)(de)(de)(de)路(lu)(lu)徑比(bi)沒有(you)缺(que)(que)陷的(de)(de)(de)(de)路(lu)(lu)徑所透過的(de)(de)(de)(de)物(wu)質密度(du)(du)要小(xiao)得多，其(qi)(qi)強度(du)(du)就(jiu)減弱(ruo)得少些，即(ji)透過的(de)(de)(de)(de)強度(du)(du)就(jiu)大(da)(da)些，若(ruo)(ruo)用(yong)底(di)(di)片(pian)(pian)接(jie)收，則(ze)感(gan)光(guang)(guang)量(liang)就(jiu)大(da)(da)些，就(jiu)可(ke)(ke)(ke)以從(cong)底(di)(di)片(pian)(pian)上反映出缺(que)(que)陷垂直(zhi)(zhi)(zhi)于(yu)(yu)(yu)射(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)方(fang)向(xiang)的(de)(de)(de)(de)平(ping)面投影(ying)(ying)；若(ruo)(ruo)用(yong)其(qi)(qi)它(ta)接(jie)收器也同樣可(ke)(ke)(ke)以用(yong)儀表來反映缺(que)(que)陷垂直(zhi)(zhi)(zhi)于(yu)(yu)(yu)射(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)方(fang)向(xiang)的(de)(de)(de)(de)平(ping)面投影(ying)(ying)和(he)(he)(he)射(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)的(de)(de)(de)(de)透過量(liang)。由此(ci)可(ke)(ke)(ke)見(jian)，一(yi)般(ban)情況(kuang)下，射(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)探(tan)傷(shang)(shang)是不易發(fa)現裂紋(wen)的(de)(de)(de)(de)，或者說，射(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)探(tan)傷(shang)(shang)對裂紋(wen)是不敏感(gan)的(de)(de)(de)(de)。因此(ci)，射(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)探(tan)傷(shang)(shang)對氣孔、夾(jia)(jia)渣、未焊透等體(ti)積型(xing)缺(que)(que)陷最敏感(gan)。即(ji)射(she)線(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)(xian)探(tan)傷(shang)(shang)適宜用(yong)于(yu)(yu)(yu)體(ti)積型(xing)缺(que)(que)陷探(tan)傷(shang)(shang)，而不適宜面積型(xing)缺(que)(que)陷探(tan)傷(shang)(shang)。

2、超聲波探傷方法

人們的(de)(de)(de)(de)(de)(de)耳朵能(neng)(neng)(neng)直(zhi)接接收到(dao)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)聲波(bo)(bo)(bo)(bo)(bo)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)頻(pin)率(lv)范圍通常是20Hz到(dao)20kHz，即(ji)音（聲）頻(pin)。頻(pin)率(lv)低于20Hz的(de)(de)(de)(de)(de)(de)稱(cheng)(cheng)為(wei)(wei)次聲波(bo)(bo)(bo)(bo)(bo)，高(gao)于20 kHz的(de)(de)(de)(de)(de)(de)稱(cheng)(cheng)為(wei)(wei)超(chao)(chao)(chao)聲波(bo)(bo)(bo)(bo)(bo)。工業上常用(yong)(yong)數兆赫茲超(chao)(chao)(chao)聲波(bo)(bo)(bo)(bo)(bo)來(lai)探(tan)傷。超(chao)(chao)(chao)聲波(bo)(bo)(bo)(bo)(bo)頻(pin)率(lv)高(gao)，則(ze)傳(chuan)播的(de)(de)(de)(de)(de)(de)直(zhi)線性強，又易于在固體中(zhong)傳(chuan)播，并且遇到(dao)兩(liang)種不同介質(zhi)(zhi)形成(cheng)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)界(jie)面(mian)(mian)時(shi)易于反射(she)(she)，這樣(yang)就(jiu)可(ke)以用(yong)(yong)它(ta)來(lai)探(tan)傷。通常用(yong)(yong)超(chao)(chao)(chao)聲波(bo)(bo)(bo)(bo)(bo)探(tan)頭與待探(tan)工件(jian)(jian)表面(mian)(mian)良好的(de)(de)(de)(de)(de)(de)接觸(chu)，探(tan)頭則(ze)可(ke)有效地向工件(jian)(jian)發射(she)(she)超(chao)(chao)(chao)聲波(bo)(bo)(bo)(bo)(bo)，并能(neng)(neng)(neng)接收（缺(que)(que)(que)陷(xian)）界(jie)面(mian)(mian)反射(she)(she)來(lai)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)超(chao)(chao)(chao)聲波(bo)(bo)(bo)(bo)(bo)，同時(shi)轉換成(cheng)電信號，再傳(chuan)輸給儀器進行處理。根據(ju)超(chao)(chao)(chao)聲波(bo)(bo)(bo)(bo)(bo)在介質(zhi)(zhi)中(zhong)傳(chuan)播的(de)(de)(de)(de)(de)(de)速度（常稱(cheng)(cheng)聲速）和傳(chuan)播的(de)(de)(de)(de)(de)(de)時(shi)間，就(jiu)可(ke)知道缺(que)(que)(que)陷(xian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)位置(zhi)。當缺(que)(que)(que)陷(xian)越(yue)大，反射(she)(she)面(mian)(mian)則(ze)越(yue)大，其反射(she)(she)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)能(neng)(neng)(neng)量也就(jiu)越(yue)大，故可(ke)根據(ju)反射(she)(she)能(neng)(neng)(neng)量的(de)(de)(de)(de)(de)(de)大小來(lai)查知各缺(que)(que)(que)陷(xian)（當量）的(de)(de)(de)(de)(de)(de)大小。常用(yong)(yong)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)探(tan)傷波(bo)(bo)(bo)(bo)(bo)形有縱波(bo)(bo)(bo)(bo)(bo)、橫波(bo)(bo)(bo)(bo)(bo)、表面(mian)(mian)波(bo)(bo)(bo)(bo)(bo)等，前二(er)者適用(yong)(yong)于探(tan)測內部缺(que)(que)(que)陷(xian)，后(hou)者適宜(yi)于探(tan)測表面(mian)(mian)缺(que)(que)(que)陷(xian)，但對表面(mian)(mian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)條件(jian)(jian)要求(qiu)高(gao)。

3、磁粉探傷方法

磁(ci)(ci)(ci)(ci)粉探(tan)(tan)(tan)傷是建立(li)在(zai)(zai)漏磁(ci)(ci)(ci)(ci)原理基礎上(shang)的(de)一種磁(ci)(ci)(ci)(ci)力探(tan)(tan)(tan)傷方法。當(dang)磁(ci)(ci)(ci)(ci)力線穿(chuan)過鐵磁(ci)(ci)(ci)(ci)材(cai)料(liao)(liao)及其制品時，在(zai)(zai)其（磁(ci)(ci)(ci)(ci)性）不(bu)連續處將(jiang)產(chan)生漏磁(ci)(ci)(ci)(ci)場，形成磁(ci)(ci)(ci)(ci)極(ji)。此(ci)時撒上(shang)干磁(ci)(ci)(ci)(ci)粉或澆(jiao)上(shang)磁(ci)(ci)(ci)(ci)懸液(ye)，磁(ci)(ci)(ci)(ci)極(ji)就會吸附磁(ci)(ci)(ci)(ci)粉，產(chan)生用(yong)肉眼(yan)能(neng)直接觀察的(de)明顯(xian)磁(ci)(ci)(ci)(ci)痕(hen)。因此(ci)，可借助(zhu)(zhu)于(yu)該磁(ci)(ci)(ci)(ci)痕(hen)來顯(xian)示(shi)鐵磁(ci)(ci)(ci)(ci)材(cai)料(liao)(liao)及其制品的(de)缺(que)(que)(que)陷(xian)(xian)(xian)情況。磁(ci)(ci)(ci)(ci)粉探(tan)(tan)(tan)傷法可探(tan)(tan)(tan)測露出表面(mian)，用(yong)肉眼(yan)或借助(zhu)(zhu)于(yu)放大鏡(jing)也不(bu)能(neng)直接觀察到(dao)的(de)微小缺(que)(que)(que)陷(xian)(xian)(xian)，也可探(tan)(tan)(tan)測未(wei)露出表面(mian)，而是埋藏在(zai)(zai)表面(mian)下幾(ji)毫米的(de)近表面(mian)缺(que)(que)(que)陷(xian)(xian)(xian)。用(yong)這種方法雖然也能(neng)探(tan)(tan)(tan)查氣孔、夾雜、未(wei)焊透(tou)等體(ti)積型缺(que)(que)(que)陷(xian)(xian)(xian)，但對面(mian)積型缺(que)(que)(que)陷(xian)(xian)(xian)更靈敏，更適于(yu)檢查因淬火、軋(ya)制、鍛造(zao)、鑄造(zao)、焊接、電鍍、磨(mo)削、疲(pi)勞等引起的(de)裂紋。

磁力(li)探(tan)傷(shang)(shang)(shang)(shang)中對缺陷(xian)的(de)(de)顯示(shi)(shi)方法有(you)多(duo)種，有(you)用磁粉顯示(shi)(shi)的(de)(de)，也有(you)不(bu)用磁粉顯示(shi)(shi)的(de)(de)。用磁粉顯示(shi)(shi)的(de)(de)稱(cheng)為(wei)磁粉探(tan)傷(shang)(shang)(shang)(shang)，因它顯示(shi)(shi)直(zhi)(zhi)觀、操作簡單(dan)、人們樂于(yu)使用，故它是最常用的(de)(de)方法之一。不(bu)用磁粉顯示(shi)(shi)的(de)(de)，習(xi)慣(guan)上稱(cheng)為(wei)漏磁探(tan)傷(shang)(shang)(shang)(shang)，它常借助于(yu)感應(ying)線(xian)圈、磁敏(min)管、霍爾(er)元件等來反(fan)映缺陷(xian)，它比磁粉探(tan)傷(shang)(shang)(shang)(shang)更衛生，但不(bu)如前者(zhe)直(zhi)(zhi)觀。由于(yu)磁力(li)探(tan)傷(shang)(shang)(shang)(shang)主(zhu)要用磁粉來顯示(shi)(shi)缺陷(xian)，因此，人們有(you)時把(ba)磁粉探(tan)傷(shang)(shang)(shang)(shang)直(zhi)(zhi)接稱(cheng)為(wei)磁力(li)探(tan)傷(shang)(shang)(shang)(shang)，其設(she)備稱(cheng)為(wei)磁力(li)探(tan)傷(shang)(shang)(shang)(shang)設(she)備。

4、渦流探傷方法

渦(wo)(wo)(wo)(wo)流(liu)(liu)(liu)(liu)探傷是(shi)由(you)交(jiao)流(liu)(liu)(liu)(liu)電(dian)流(liu)(liu)(liu)(liu)產生(sheng)的(de)(de)(de)(de)交(jiao)變磁場作(zuo)用(yong)于(yu)待(dai)探傷的(de)(de)(de)(de)導電(dian)材料(liao)，感(gan)應出電(dian)渦(wo)(wo)(wo)(wo)流(liu)(liu)(liu)(liu)。如果材料(liao)中有(you)(you)(you)缺(que)陷(xian)，它將干擾所產生(sheng)的(de)(de)(de)(de)電(dian)渦(wo)(wo)(wo)(wo)流(liu)(liu)(liu)(liu)，即(ji)形成(cheng)干擾信(xin)號(hao)(hao)。用(yong)渦(wo)(wo)(wo)(wo)流(liu)(liu)(liu)(liu)探傷儀(yi)檢測出其干擾信(xin)號(hao)(hao)，就可(ke)知道缺(que)陷(xian)的(de)(de)(de)(de)狀(zhuang)況(kuang)。影(ying)響渦(wo)(wo)(wo)(wo)流(liu)(liu)(liu)(liu)的(de)(de)(de)(de)因素(su)很(hen)多(duo)，即(ji)是(shi)說渦(wo)(wo)(wo)(wo)流(liu)(liu)(liu)(liu)中載(zai)有(you)(you)(you)豐富的(de)(de)(de)(de)信(xin)號(hao)(hao)，這(zhe)些(xie)信(xin)號(hao)(hao)與材料(liao)的(de)(de)(de)(de)很(hen)多(duo)因素(su)有(you)(you)(you)關，如何將其中有(you)(you)(you)用(yong)的(de)(de)(de)(de)信(xin)號(hao)(hao)從諸多(duo)的(de)(de)(de)(de)信(xin)號(hao)(hao)中一(yi)一(yi)分離出來，是(shi)渦(wo)(wo)(wo)(wo)流(liu)(liu)(liu)(liu)研究(jiu)工作(zuo)者(zhe)的(de)(de)(de)(de)難(nan)題(ti)(ti)，多(duo)年來已經取得了一(yi)些(xie)進展(zhan)，在一(yi)定條件下可(ke)解決一(yi)些(xie)問題(ti)(ti)，但還遠(yuan)不能(neng)滿足現場的(de)(de)(de)(de)要求，有(you)(you)(you)待(dai)于(yu)大(da)力發(fa)展(zhan)。

渦(wo)流探(tan)(tan)傷的顯著(zhu)特點(dian)是對導(dao)電材(cai)(cai)料就能(neng)起作用(yong)，而不一定是鐵(tie)磁(ci)(ci)材(cai)(cai)料，但對鐵(tie)磁(ci)(ci)材(cai)(cai)料的效果較(jiao)差。其(qi)次，待探(tan)(tan)工(gong)件(jian)(jian)表面(mian)的光(guang)潔(jie)度、平(ping)整(zheng)度、邊(bian)介等對渦(wo)流探(tan)(tan)傷都有(you)較(jiao)大影響，因(yin)此(ci)常將渦(wo)流探(tan)(tan)傷用(yong)于形狀較(jiao)規則、表面(mian)較(jiao)光(guang)潔(jie)的銅管(guan)等非鐵(tie)磁(ci)(ci)性工(gong)件(jian)(jian)探(tan)(tan)傷。

5、滲透探傷方法

滲(shen)(shen)透(tou)(tou)探(tan)傷(shang)是利用(yong)(yong)毛細現象來進行探(tan)傷(shang)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)方法。對(dui)于表(biao)(biao)面(mian)光(guang)(guang)(guang)滑(hua)而(er)清潔的(de)(de)(de)(de)(de)(de)零部件，用(yong)(yong)一(yi)種(zhong)帶(dai)色（常(chang)(chang)為紅(hong)(hong)色）或帶(dai)有(you)熒(ying)光(guang)(guang)(guang)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)、滲(shen)(shen)透(tou)(tou)性很強的(de)(de)(de)(de)(de)(de)液(ye)(ye)體(ti)，涂覆于待探(tan)零部件的(de)(de)(de)(de)(de)(de)表(biao)(biao)面(mian)。若(ruo)表(biao)(biao)面(mian)有(you)肉眼不(bu)能直接(jie)察(cha)知的(de)(de)(de)(de)(de)(de)微裂紋，由(you)于該(gai)液(ye)(ye)體(ti)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)滲(shen)(shen)透(tou)(tou)性很強，它將(jiang)(jiang)沿(yan)著裂紋滲(shen)(shen)透(tou)(tou)到(dao)其根部。然后將(jiang)(jiang)表(biao)(biao)面(mian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)滲(shen)(shen)透(tou)(tou)液(ye)(ye)洗去，再涂上(shang)(shang)對(dui)比度較(jiao)大的(de)(de)(de)(de)(de)(de)顯(xian)(xian)示(shi)(shi)液(ye)(ye)（常(chang)(chang)為白色）。放置片(pian)刻后，由(you)于裂紋很窄，毛細現象作用(yong)(yong)顯(xian)(xian)著，原滲(shen)(shen)透(tou)(tou)到(dao)裂紋內的(de)(de)(de)(de)(de)(de)滲(shen)(shen)透(tou)(tou)液(ye)(ye)將(jiang)(jiang)上(shang)(shang)升到(dao)表(biao)(biao)面(mian)并擴散，在白色的(de)(de)(de)(de)(de)(de)襯底上(shang)(shang)顯(xian)(xian)出(chu)較(jiao)粗的(de)(de)(de)(de)(de)(de)紅(hong)(hong)線，從而(er)顯(xian)(xian)示(shi)(shi)出(chu)裂紋露(lu)于表(biao)(biao)面(mian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)形(xing)狀，因此，常(chang)(chang)稱為著色探(tan)傷(shang)。若(ruo)滲(shen)(shen)透(tou)(tou)液(ye)(ye)采用(yong)(yong)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)是帶(dai)熒(ying)光(guang)(guang)(guang)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)液(ye)(ye)體(ti)，由(you)毛細現象上(shang)(shang)升到(dao)表(biao)(biao)面(mian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)液(ye)(ye)體(ti)，則會(hui)在紫外燈照射(she)下發出(chu)熒(ying)光(guang)(guang)(guang)，從而(er)更能顯(xian)(xian)示(shi)(shi)出(chu)裂紋露(lu)于表(biao)(biao)面(mian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)形(xing)狀，故(gu)常(chang)(chang)常(chang)(chang)又將(jiang)(jiang)此時(shi)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)滲(shen)(shen)透(tou)(tou)探(tan)傷(shang)直接(jie)稱為熒(ying)光(guang)(guang)(guang)探(tan)傷(shang)。此探(tan)傷(shang)方法也可用(yong)(yong)于金屬和非(fei)金屬表(biao)(biao)面(mian)探(tan)傷(shang)。其使用(yong)(yong)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)探(tan)傷(shang)液(ye)(ye)劑有(you)較(jiao)大氣味，常(chang)(chang)有(you)一(yi)定毒(du)性。

探傷儀除以(yi)上五(wu)大(da)常規方(fang)法(fa)外(wai)，近年來又有了(le)紅(hong)外(wai)、聲發射(she)等(deng)一(yi)些(xie)新的探傷方(fang)法(fa)。