一、渦流探傷和超聲波探傷的區別
1、原理不同
超聲波探傷：是利用超聲能透(tou)入金(jin)屬材料的(de)深處，并(bing)由一(yi)截(jie)(jie)面進入另一(yi)截(jie)(jie)面時，在界面邊緣發(fa)生反射的(de)特點來檢查零件缺陷(xian)的(de)一(yi)種方法，當(dang)超聲波(bo)(bo)束(shu)自零件表面由探頭通(tong)至(zhi)金(jin)屬內部(bu)，遇到缺陷(xian)與零件底面時就分別發(fa)生反射波(bo)(bo)來，在熒(ying)光屏上形(xing)成脈沖波(bo)(bo)形(xing)，根據這(zhe)些脈沖波(bo)(bo)形(xing)來判(pan)斷缺陷(xian)位置和大小。
渦流(liu)(liu)(liu)探傷(shang)：用激(ji)磁線圈使(shi)導(dao)電構(gou)件內產生(sheng)渦電流(liu)(liu)(liu)，借助探測(ce)線圈測(ce)定渦電流(liu)(liu)(liu)的變化量，從(cong)而獲得構(gou)件缺陷的有關信息。
2、用途不同
超聲(sheng)波探傷：既可(ke)以(yi)用(yong)于實(shi)驗室，也可(ke)以(yi)用(yong)于野(ye)外工(gong)程現(xian)場(chang)。超聲(sheng)波探傷儀能夠快速便(bian)捷、無損傷、精確地對金屬材料(liao)及(ji)非金屬材料(liao)進行工(gong)件內(nei)部多種缺陷(xian)，如金屬材料(liao)內(nei)部氣(qi)孔、砂(sha)眼、夾雜(za)、折(zhe)疊、裂紋、焊(han)縫(feng)的未熔合和(he)未焊(han)透等的檢(jian)測、定(ding)位(wei)、評估及(ji)診斷，同時具有(you)軸類、筒類、無縫(feng)鋼管(guan)、直(zhi)縫(feng)焊(han)管(guan)等工(gong)件外圓周向探傷功能。廣泛應用(yong)于科研、電力、石(shi)化、冶金、鑄造(zao)、汽車、機械、軍(jun)工(gong)、鋼結構、鍋爐、管(guan)道(dao)、壓力容器、航空航天、鐵路交(jiao)通等諸(zhu)多領域的制造(zao)、生(sheng)產、質控環節上，受(shou)到(dao)了客戶的一致好評，實(shi)現(xian)了良好的經濟效益(yi)和(he)社(she)會效益(yi)。
渦(wo)流探傷：僅適用于(yu)導(dao)電材料，只能檢測表面(mian)或近表面(mian)層的缺陷，不便(bian)使用于(yu)形狀復雜的構件。在(zai)火力發(fa)電廠(chang)中主(zhu)要應用于(yu)檢測凝汽器管、汽輪機葉片、汽輪機轉子(zi)中心孔和(he)焊(han)縫等。
3、分類不同
超聲(sheng)波(bo)探(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)：分為(wei)縱波(bo)探(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)、橫(heng)波(bo)探(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)、表面波(bo)探(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)和板波(bo)探(tan)(tan)傷(shang)(shang)(shang)。
渦流探(tan)傷：可分為穿過式（用于線材(cai)、棒材(cai)和管材(cai)的檢測）、探(tan)頭式（用于構件表面(mian)的局部(bu)檢測）和插入(ru)式（用于管孔(kong)的內部(bu)檢測）三種(zhong)。
總(zong)結：綜合以(yi)上三點(dian)，現場探(tan)傷時選擇(ze)超聲波還是渦流，需要根據被測產(chan)品的檢驗要求來確(que)定，如檢測管(guan)(guan)道，需要知道管(guan)(guan)道大小，規格，材質等。超聲波探(tan)傷對于(yu)管(guan)(guan)道一般需要大一點(dian)的管(guan)(guan)道直(zhi)徑，厚度不能(neng)太薄，至少(shao)需要3mm以(yi)上厚度等；渦流探(tan)傷用來檢測一些表(biao)面或者近表(biao)面缺(que)陷比如空(kong)氣冷卻器管(guan)(guan)束，換熱器等；當然材質也是很重要的參數。
二、渦流探傷儀的優缺點
優點：
1、對小裂紋和其它缺陷的(de)敏感性。
2、檢(jian)測表(biao)面和近(jin)表(biao)面缺陷速度快，靈敏(min)度高。
3、檢(jian)驗結果(guo)是即時(shi)性的。
4、設備接口性好。
5、僅需要做(zuo)很少的(de)準備工作(zuo)。
6、測(ce)試探(tan)頭(tou)不需要接觸被測(ce)物。
7、可檢查形狀尺(chi)寸復雜的導體。
缺點：
1、對象(xiang)必須是導電材料(liao)，只適用于檢測金屬表(biao)面(mian)缺陷。
2、檢測(ce)深度(du)(du)與檢測(ce)靈敏度(du)(du)是相(xiang)互矛盾的，對(dui)一種材料進行ET時，須根據材質(zhi)、表(biao)面狀態、檢驗(yan)標準作綜(zong)合考(kao)慮，然后(hou)在確定(ding)檢測(ce)方案與技(ji)術參數(shu)。
3、采用穿過式線圈進行ET時，對缺(que)陷所處(chu)圓周上的具體位置無(wu)法判定。
4、旋(xuan)轉探(tan)頭式ET可定位，但檢測速度慢。
