一、渦流探傷和超聲波探傷的區別
1、原理不同
超聲波探傷：是(shi)利用超聲能透入金屬材料的(de)深(shen)處，并由(you)一(yi)截面進入另一(yi)截面時，在(zai)界面邊緣發生反射(she)的(de)特點來檢查零件缺(que)陷的(de)一(yi)種方法，當超聲波(bo)(bo)束自零件表面由(you)探(tan)頭通至金屬內部，遇(yu)到缺(que)陷與(yu)零件底面時就分別(bie)發生反射(she)波(bo)(bo)來，在(zai)熒光屏上形成脈沖波(bo)(bo)形，根據這些脈沖波(bo)(bo)形來判斷缺(que)陷位置和大小。
渦(wo)(wo)流探(tan)傷：用(yong)激(ji)磁線(xian)圈使導電(dian)構件(jian)內產生(sheng)渦(wo)(wo)電(dian)流，借助探(tan)測線(xian)圈測定渦(wo)(wo)電(dian)流的變化量，從而獲得構件(jian)缺陷的有關信(xin)息。
2、用途不同
超(chao)聲(sheng)波探傷：既(ji)可(ke)(ke)以用于實驗室，也可(ke)(ke)以用于野外(wai)工程現場。超(chao)聲(sheng)波探傷儀能夠快速便捷、無(wu)損傷、精確地(di)對金(jin)屬(shu)材料(liao)及(ji)非金(jin)屬(shu)材料(liao)進(jin)行工件內部(bu)(bu)多(duo)種缺陷(xian)，如金(jin)屬(shu)材料(liao)內部(bu)(bu)氣(qi)孔、砂眼、夾(jia)雜、折疊、裂紋、焊縫(feng)的(de)未熔合(he)和(he)未焊透等的(de)檢測、定位、評估及(ji)診斷，同時具有軸類(lei)、筒類(lei)、無(wu)縫(feng)鋼管、直縫(feng)焊管等工件外(wai)圓周向探傷功能。廣泛應用于科研、電力、石化、冶金(jin)、鑄造、汽車、機械、軍工、鋼結構、鍋(guo)爐、管道、壓力容(rong)器、航(hang)空航(hang)天、鐵路交通等諸多(duo)領域的(de)制(zhi)造、生(sheng)產(chan)、質(zhi)控環節上，受到了客戶的(de)一致(zhi)好評，實現了良好的(de)經濟(ji)效(xiao)益和(he)社會效(xiao)益。
渦流(liu)探傷：僅適(shi)用于導電(dian)材料，只(zhi)能(neng)檢測表面(mian)或近表面(mian)層的缺陷(xian)，不便使用于形狀(zhuang)復雜的構件。在火力(li)發電(dian)廠(chang)中主要應用于檢測凝(ning)汽(qi)器管、汽(qi)輪(lun)機(ji)葉片(pian)、汽(qi)輪(lun)機(ji)轉子中心(xin)孔(kong)和焊(han)縫(feng)等。
3、分類不同
超聲波探(tan)傷(shang)(shang)：分為縱(zong)波探(tan)傷(shang)(shang)、橫波探(tan)傷(shang)(shang)、表面波探(tan)傷(shang)(shang)和(he)板波探(tan)傷(shang)(shang)。
渦流探傷：可分(fen)為穿過式(shi)(shi)（用于(yu)線材(cai)、棒材(cai)和(he)管材(cai)的(de)(de)檢(jian)測(ce)(ce)）、探頭式(shi)(shi)（用于(yu)構(gou)件表面的(de)(de)局部(bu)檢(jian)測(ce)(ce)）和(he)插入式(shi)(shi)（用于(yu)管孔的(de)(de)內部(bu)檢(jian)測(ce)(ce)）三種。
總(zong)結：綜合以上三點(dian)，現場探(tan)(tan)傷時(shi)選擇超聲波還是渦流(liu)，需要根(gen)據(ju)被(bei)測(ce)產品的檢驗要求來確定(ding)，如檢測(ce)管道(dao)，需要知道(dao)管道(dao)大(da)小，規格(ge)，材(cai)質等(deng)。超聲波探(tan)(tan)傷對于(yu)管道(dao)一般需要大(da)一點(dian)的管道(dao)直徑，厚度不能(neng)太薄(bo)，至少需要3mm以上厚度等(deng)；渦流(liu)探(tan)(tan)傷用(yong)來檢測(ce)一些表面(mian)或(huo)者近表面(mian)缺陷比如空氣冷卻(que)器(qi)管束，換(huan)熱器(qi)等(deng)；當然材(cai)質也是很重要的參數。
二、渦流探傷儀的優缺點
優點：
1、對小(xiao)裂(lie)紋和其(qi)它(ta)缺陷的敏感性。
2、檢測表(biao)面和近表(biao)面缺陷速度快(kuai)，靈敏度高。
3、檢驗(yan)結果是即(ji)時性的。
4、設(she)備接口性好。
5、僅需要(yao)做很少的準備工作(zuo)。
6、測試探(tan)頭不需要接觸被(bei)測物。
7、可檢查形狀尺寸(cun)復(fu)雜的導(dao)體。
缺點：
1、對(dui)象必須是導(dao)電材料，只適用(yong)于檢測金屬(shu)表面(mian)缺(que)陷。
2、檢(jian)測深度與檢(jian)測靈(ling)敏(min)度是(shi)相互矛盾(dun)的，對一(yi)種材料進行ET時，須根據材質、表(biao)面狀(zhuang)態(tai)、檢(jian)驗標(biao)準作綜合考慮，然(ran)后在確定(ding)檢(jian)測方案與技術參數。
3、采(cai)用穿(chuan)過式線圈進(jin)行ET時，對缺陷所處圓(yuan)周上的具體位置無法判定。
4、旋(xuan)轉探(tan)頭式ET可定位，但檢測速度慢。
