一、掃描電子顯微鏡的原理是什么

掃描電子顯微鏡已成為現代科學技術中不可缺少的重要工具，在正式使用之前，我們來看看掃描電子顯微鏡的原理是什么吧！

掃描電子顯(xian)微鏡（SEM）是一(yi)種介于透射電子顯(xian)微鏡和光學顯(xian)微鏡之間(jian)的(de)一(yi)種觀(guan)察手段。其原(yuan)理是利用材料(liao)表面(mian)微區的(de)特征（如(ru)形貌、原(yuan)子序數、化(hua)學成分、或晶體結構等(deng)）的(de)差異，在(zai)電子束作(zuo)用下通過試樣不同區域產(chan)生不同的(de)亮度差異，從(cong)而獲(huo)得具(ju)有一(yi)定襯(chen)度的(de)圖像。

二、掃描電子顯微鏡有哪些用途

掃描電子(zi)顯微鏡(jing)可應用于(yu)陶瓷材料(liao)分析、金屬材料(liao)失效分析。在石油(you)、地質、礦(kuang)物領域(yu)，電子(zi)、半導(dao)體領域(yu)，醫(yi)學(xue)、生物學(xue)領域(yu)，化工(gong)、高分子(zi)材料(liao)領域(yu)，公安刑偵工(gong)作(zuo)領域(yu)，以及(ji)農(nong)、林業等方面都有廣泛應用。

掃描(miao)(miao)電子顯(xian)微鏡可(ke)進(jin)(jin)行顯(xian)微形(xing)貌分(fen)(fen)析(xi)，如果配(pei)備了其它分(fen)(fen)析(xi)儀器也(ye)可(ke)進(jin)(jin)行成(cheng)分(fen)(fen)的常規微區(qu)分(fen)(fen)析(xi)，包括元(yuan)素定(ding)量(liang)、定(ding)性成(cheng)分(fen)(fen)分(fen)(fen)析(xi)。進(jin)(jin)行顯(xian)微形(xing)貌分(fen)(fen)析(xi)時(shi)，空間分(fen)(fen)辨率可(ke)達亞微米級；能夠進(jin)(jin)行晶界(jie)的狀態(tai)測(ce)(ce)量(liang)，或者晶體(ti)/晶粒的相(xiang)鑒(jian)定(ding)，以(yi)及晶體(ti)、晶粒取向(xiang)測(ce)(ce)量(liang)等；進(jin)(jin)行微區(qu)成(cheng)分(fen)(fen)分(fen)(fen)析(xi)時(shi)，能夠通(tong)過快(kuai)速(su)的多元(yuan)素面掃描(miao)(miao)和線(xian)掃描(miao)(miao)進(jin)(jin)行分(fen)(fen)布(bu)測(ce)(ce)量(liang)。

在(zai)(zai)現代產業(ye)化生(sheng)產和科學研(yan)究中，掃(sao)描電子(zi)顯微鏡發(fa)展成(cheng)為材料分析(xi)、監(jian)控工農業(ye)生(sheng)產、保證(zheng)產品質(zhi)量、保障大(da)生(sheng)產流程安(an)全高(gao)效的必要手段；同時在(zai)(zai)生(sheng)物(wu)、環保、醫學等(deng)有(you)關人類(lei)的生(sheng)存、發(fa)展領域的應用也日(ri)新月異；在(zai)(zai)軍事現代高(gao)科技(ji)方面的發(fa)展（例如生(sheng)物(wu)武器、化學武器戰(zhan)爭、現場毒(du)物(wu)檢測、生(sheng)命(ming)保障任務等(deng)）發(fa)揮了巨(ju)大(da)的作用。