一、掃描電子顯微鏡的原理是什么

掃描電子顯微鏡已成為現代科學技術中不可缺少的重要工具，在正式使用之前，我們來看看掃描電子顯微鏡的原理是什么吧！

掃描電(dian)子顯(xian)(xian)微鏡（SEM）是一種(zhong)介于透射電(dian)子顯(xian)(xian)微鏡和(he)光(guang)學顯(xian)(xian)微鏡之間(jian)的(de)一種(zhong)觀察手(shou)段。其原理是利用材料(liao)表面微區(qu)的(de)特征（如形(xing)貌(mao)、原子序數、化學成(cheng)分、或晶體結構等）的(de)差(cha)異(yi)，在電(dian)子束(shu)作用下通(tong)過試樣不(bu)同區(qu)域(yu)產(chan)生不(bu)同的(de)亮度(du)差(cha)異(yi)，從而獲得具有一定襯(chen)度(du)的(de)圖像。

二、掃描電子顯微鏡有哪些用途

掃(sao)描電子顯(xian)微鏡可應用(yong)于陶瓷材(cai)(cai)料分(fen)(fen)析、金屬材(cai)(cai)料失效(xiao)分(fen)(fen)析。在石(shi)油、地質(zhi)、礦物領域(yu)，電子、半導體領域(yu)，醫學、生物學領域(yu)，化工、高(gao)分(fen)(fen)子材(cai)(cai)料領域(yu)，公安(an)刑偵工作領域(yu)，以及農(nong)、林(lin)業等方(fang)面(mian)都有廣泛應用(yong)。

掃描(miao)電(dian)子顯(xian)微(wei)(wei)鏡可進(jin)(jin)行(xing)顯(xian)微(wei)(wei)形貌分析(xi)，如果配備了(le)其它分析(xi)儀器也(ye)可進(jin)(jin)行(xing)成分的常規(gui)微(wei)(wei)區分析(xi)，包(bao)括元素定量、定性成分分析(xi)。進(jin)(jin)行(xing)顯(xian)微(wei)(wei)形貌分析(xi)時(shi)，空間分辨率可達亞微(wei)(wei)米級(ji)；能夠進(jin)(jin)行(xing)晶(jing)界的狀態測量，或(huo)者晶(jing)體(ti)(ti)/晶(jing)粒(li)的相鑒(jian)定，以及晶(jing)體(ti)(ti)、晶(jing)粒(li)取向(xiang)測量等；進(jin)(jin)行(xing)微(wei)(wei)區成分分析(xi)時(shi)，能夠通過快速的多元素面(mian)掃描(miao)和線掃描(miao)進(jin)(jin)行(xing)分布測量。

在現代產業化生(sheng)產和(he)科學研究中，掃描電子顯微鏡發(fa)展(zhan)成(cheng)為材料分析、監(jian)控工農業生(sheng)產、保(bao)證(zheng)產品質(zhi)量、保(bao)障(zhang)大(da)生(sheng)產流程(cheng)安全高(gao)效的(de)必要手段；同時在生(sheng)物、環(huan)保(bao)、醫(yi)學等有關人類的(de)生(sheng)存、發(fa)展(zhan)領域的(de)應用也日新月異；在軍事現代高(gao)科技方面的(de)發(fa)展(zhan)（例如生(sheng)物武器(qi)、化學武器(qi)戰爭、現場毒物檢測、生(sheng)命保(bao)障(zhang)任務等）發(fa)揮了(le)巨大(da)的(de)作用。