一、掃描電子顯微鏡的原理是什么

掃描電子顯微鏡已成為現代科學技術中不可缺少的重要工具，在正式使用之前，我們來看看掃描電子顯微鏡的原理是什么吧！

掃描(miao)電子顯微(wei)鏡（SEM）是(shi)一種(zhong)介(jie)于透射電子顯微(wei)鏡和(he)光學(xue)顯微(wei)鏡之間的一種(zhong)觀察手(shou)段。其原理是(shi)利用(yong)材(cai)料表(biao)面微(wei)區的特(te)征（如(ru)形貌(mao)、原子序數、化學(xue)成(cheng)分、或晶體結構等）的差異(yi)(yi)，在電子束作用(yong)下通(tong)過試樣不同(tong)區域產生不同(tong)的亮度差異(yi)(yi)，從而獲得(de)具有一定襯(chen)度的圖(tu)像(xiang)。

二、掃描電子顯微鏡有哪些用途

掃描電子(zi)顯微(wei)鏡可應用于(yu)陶瓷材(cai)料分(fen)(fen)析(xi)、金屬材(cai)料失效分(fen)(fen)析(xi)。在石油、地質、礦物領域(yu)，電子(zi)、半導體領域(yu)，醫學、生物學領域(yu)，化(hua)工、高分(fen)(fen)子(zi)材(cai)料領域(yu)，公安(an)刑偵工作領域(yu)，以及農、林業等方面都有廣(guang)泛應用。

掃描(miao)電子(zi)顯微鏡可進(jin)行(xing)顯微形貌分析(xi)，如果配(pei)備了其它分析(xi)儀器也可進(jin)行(xing)成分的常規微區分析(xi)，包(bao)括元素定(ding)量(liang)、定(ding)性成分分析(xi)。進(jin)行(xing)顯微形貌分析(xi)時，空間分辨率(lv)可達亞微米級；能夠(gou)(gou)進(jin)行(xing)晶(jing)界(jie)的狀態測量(liang)，或者晶(jing)體(ti)(ti)/晶(jing)粒的相鑒定(ding)，以及晶(jing)體(ti)(ti)、晶(jing)粒取向測量(liang)等；進(jin)行(xing)微區成分分析(xi)時，能夠(gou)(gou)通過快速的多(duo)元素面掃描(miao)和線掃描(miao)進(jin)行(xing)分布測量(liang)。

在(zai)現代產(chan)業(ye)化生(sheng)(sheng)產(chan)和科學研究中，掃描電子顯微(wei)鏡發(fa)(fa)展成為(wei)材料分析(xi)、監控(kong)工農業(ye)生(sheng)(sheng)產(chan)、保(bao)證產(chan)品質量(liang)、保(bao)障大生(sheng)(sheng)產(chan)流(liu)程安全高(gao)效的(de)必要手(shou)段；同時在(zai)生(sheng)(sheng)物、環保(bao)、醫學等有關人類(lei)的(de)生(sheng)(sheng)存、發(fa)(fa)展領域的(de)應用也日新月異(yi)；在(zai)軍事現代高(gao)科技(ji)方面的(de)發(fa)(fa)展（例如(ru)生(sheng)(sheng)物武(wu)器、化學武(wu)器戰爭、現場毒物檢測、生(sheng)(sheng)命保(bao)障任務等）發(fa)(fa)揮(hui)了(le)巨大的(de)作用。