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什么是貼片光耦 貼片光耦怎么測量好壞

本文章由注冊用戶 荊湖酒徒 上傳提供 2024-05-17 評論 0
摘要:貼片光耦是將光耦芯片封裝制成的產品,和傳統的DIP光耦相比,貼片光耦體積更小,可以更好實現緊湊的系統設計,并且能提高產品的可靠性和壽命。貼片光耦一般可以通過在路測量正反向電阻來判斷好壞,也可以采用比較法、數字萬用表檢測法和光電效應判斷法來測量。下面一起來了解一下什么是貼片光耦以及貼片光耦怎么測量好壞吧。

一、什么是貼片光耦

?貼(tie)片光耦(ou)(ou)(ou)是將(jiang)光耦(ou)(ou)(ou)芯片和外部(bu)電路部(bu)件進行(xing)集成(cheng)和封(feng)裝,實現(xian)(xian)信號隔離、調制(zhi)、放大、控(kong)制(zhi)等(deng)多種功能的(de)光耦(ou)(ou)(ou),具有小(xiao)尺寸、高可靠(kao)性(xing)等(deng)特(te)點。相(xiang)比(bi)傳統(tong)的(de)DIP光耦(ou)(ou)(ou),貼(tie)片光耦(ou)(ou)(ou)的(de)體積(ji)更小(xiao),可以(yi)方便地集成(cheng)到PCB板上,從而實現(xian)(xian)緊湊的(de)系統(tong)設(she)計。同(tong)時,由(you)于封(feng)裝內部(bu)采(cai)用無鉛(qian)焊(han)接方式,減少(shao)了焊(han)接溫(wen)度(du)的(de)影響,降低了焊(han)接過程中的(de)應力和熱膨脹(zhang),從而提高了產品的(de)可靠(kao)性(xing)和壽命(ming)。

貼(tie)片光(guang)(guang)耦不(bu)僅可(ke)以(yi)滿足工業自動化(hua)、通(tong)信、醫療等(deng)行業的(de)需求,還可(ke)以(yi)應用(yong)于(yu)汽(qi)車(che)、航空航天等(deng)領(ling)域(yu)。在汽(qi)車(che)電(dian)子系統(tong)中,貼(tie)片光(guang)(guang)耦可(ke)以(yi)用(yong)于(yu)ESP、ABS等(deng)安全(quan)控制系統(tong)中;在航空航天領(ling)域(yu),貼(tie)片光(guang)(guang)耦可(ke)用(yong)于(yu)飛機的(de)引導(dao)(dao)、導(dao)(dao)航、通(tong)信等(deng)方(fang)面。隨著技術的(de)不(bu)斷發展和應用(yong)需求的(de)不(bu)斷增加(jia),貼(tie)片光(guang)(guang)耦封裝有望進一步推動光(guang)(guang)電(dian)技術的(de)發展,為各行業提供更加(jia)高(gao)效、穩定的(de)解決方(fang)案。

二、貼片光耦怎么測量好壞

貼(tie)片(pian)光耦的(de)好壞(huai)判斷,一般可以(yi)通過在(zai)路測量其(qi)內部二(er)極(ji)管和(he)三(san)極(ji)管的(de)正反向電(dian)阻來(lai)確定,如果想獲(huo)得更可靠的(de)檢(jian)測結果,可以(yi)采取下面(mian)三(san)種(zhong)檢(jian)測方法:

1、比較法

拆下懷(huai)疑有(you)問題的(de)光耦(ou),用萬用表(biao)測量其(qi)內部(bu)二極管(guan)、三極管(guan)的(de)正反向電阻(zu)值(zhi),用其(qi)與好的(de)光耦(ou)對應腳的(de)測量值(zhi)進行比較(jiao),若阻(zu)值(zhi)相差較(jiao)大,則說明(ming)光耦(ou)已損壞。

2、數字萬用表檢測法

將(jiang)光(guang)耦內(nei)(nei)接(jie)二極管的(de)+端{1}腳和-端{2}腳分別插入數字萬(wan)用表(biao)的(de)Hfe 的(de)c、e插孔內(nei)(nei),此時數字萬(wan)用表(biao)應置于(yu)NPN擋(dang);然(ran)后將(jiang)光(guang)耦內(nei)(nei)接(jie)光(guang)電三極管C極{5}腳接(jie)指(zhi)(zhi)針(zhen)(zhen)式萬(wan)用表(biao)的(de)黑表(biao)筆,e極{4}腳接(jie)紅表(biao)筆,并將(jiang)指(zhi)(zhi)針(zhen)(zhen)式萬(wan)用表(biao)撥在RX1k擋(dang)。這樣就(jiu)能通過指(zhi)(zhi)針(zhen)(zhen)式萬(wan)用表(biao)指(zhi)(zhi)針(zhen)(zhen)的(de)偏轉(zhuan)角度——實際上是光(guang)電流的(de)變化(hua),來判(pan)斷光(guang)耦的(de)情況。指(zhi)(zhi)針(zhen)(zhen)向右偏轉(zhuan)角度越(yue)大,說明(ming)光(guang)耦的(de)光(guang)電轉(zhuan)換效率越(yue)高,即傳(chuan)輸比越(yue)高,反之越(yue)低;若表(biao)針(zhen)(zhen)不(bu)動,則說明(ming)光(guang)耦已(yi)損壞。

3、光電效應判斷法

將萬用表置于RX1k電阻擋,兩表筆分別接在光耦的(de)(de)輸出端{4}、{5}腳(jiao);然后用一節(jie)1.5V的(de)(de)電(dian)池與一只50~100Ω的(de)(de)電(dian)阻串接(jie)后,電(dian)池的(de)(de)正極(ji)端接(jie)EL817的(de)(de){1}腳(jiao),負極(ji)端碰接(jie){2}腳(jiao),或(huo)者正極(ji)端碰接(jie){1}腳(jiao),負極(ji)端接(jie){2}腳(jiao),這(zhe)時觀(guan)察接(jie)在輸出端萬用表(biao)的(de)(de)指針(zhen)偏轉(zhuan)(zhuan)情況。如果指針(zhen)擺動(dong)(dong),說明(ming)(ming)光(guang)耦是好的(de)(de),如果不擺動(dong)(dong),則(ze)說明(ming)(ming)光(guang)耦已損(sun)壞。萬用表(biao)指針(zhen)擺動(dong)(dong)偏轉(zhuan)(zhuan)角度越大,表(biao)明(ming)(ming)光(guang)電(dian)轉(zhuan)(zhuan)換靈(ling)敏度越高(gao)。

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