一、存儲芯片的使用壽命多久

一般的存儲芯片使用5、6年沒(mei)有(you)問(wen)題，有(you)的用上十(shi)來年也(ye)(ye)照常使用，關鍵還是(shi)要看存(cun)(cun)儲芯(xin)片的使用方式，一(yi)旦過度使用，也(ye)(ye)是(shi)會出現問(wen)題的，嚴(yan)重的自然(ran)導致(zhi)存(cun)(cun)儲芯(xin)片壽命縮短(duan)。

存(cun)儲上的(de)(de)芯片壽命是(shi)(shi)(shi)存(cun)在(zai)磨損影響(xiang)的(de)(de)，每一次(ci)(ci)的(de)(de)寫入以(yi)及擦除，都是(shi)(shi)(shi)對存(cun)儲芯片的(de)(de)一次(ci)(ci)“物理傷害”，不說現在(zai)的(de)(de)SLC閃存(cun)芯片可進行(xing)100000次(ci)(ci)寫入擦除循環，如果這個要是(shi)(shi)(shi)在(zai)高強度(du)的(de)(de)使用狀態(tai)下，一般5、6年就報(bao)廢了，如果要是(shi)(shi)(shi)在(zai)服務(wu)器上使用的(de)(de)話，估(gu)計更短。

只是(shi)現在硬盤的(de)(de)主控(kong)芯(xin)片(pian)比較厲(li)害，對存儲的(de)(de)使用有著很好的(de)(de)調度，起到了保護硬盤的(de)(de)作用，所以大家(jia)的(de)(de)電腦或者手機，用上十來年也很常見(jian)。

二、存儲芯片怎么測好壞

存(cun)儲芯片的(de)好壞可以通(tong)過多種測試方法來確定。

1、首先(xian)是功能測試，通過讀寫數據來確保芯片(pian)的正(zheng)常工作。

2、其次是(shi)電(dian)氣測試，檢測芯片的(de)電(dian)壓(ya)、電(dian)流和功耗等(deng)參數，確(que)保(bao)符合規定(ding)的(de)范圍。

3、另外還可以(yi)進行高低溫測試和(he)振動測試，以(yi)確(que)保芯片在極(ji)端環(huan)境下也(ye)能正常(chang)工(gong)作。

4、此外，還可以進行X射線(xian)檢測或光(guang)刻檢測，以確(que)保(bao)芯(xin)片(pian)內(nei)部結構和元件沒有(you)缺(que)陷。

綜合利用這些測(ce)試方法可以(yi)全(quan)面評(ping)估存儲(chu)芯片的質量和性(xing)能。

三、如何判斷DRAM和SRAM的質量好壞

1、DRAM

（1）讀寫(xie)速度：通過(guo)專業測試工具檢(jian)測數(shu)據的(de)讀取和寫(xie)入速度，速度快(kuai)且穩定通常質量較好。

（2）數據穩(wen)定(ding)性：長時(shi)間運(yun)行(xing)后(hou)觀察數據是否容易(yi)丟失或出(chu)錯，穩(wen)定(ding)的保持數據是重要指標。

（3）兼容性(xing)：在不同的設(she)備(bei)和(he)系統中能良好兼容，不出(chu)現頻(pin)繁(fan)的故障或異常。

（4）制造工(gong)(gong)藝：先(xian)進的制造工(gong)(gong)藝一般(ban)能帶來更(geng)好的性能和可靠性。

2、SRAM

（1）速度性能：實際測試其讀寫的(de)響(xiang)應時(shi)間，越快越好。

（2）錯誤(wu)率：在(zai)大量讀(du)寫操作中統計錯誤(wu)出現(xian)的(de)頻率，低(di)錯誤(wu)率表明質量優。

（3）工(gong)作(zuo)溫度(du)范圍(wei)：能(neng)在較寬(kuan)的溫度(du)范圍(wei)內正常工(gong)作(zuo)且性能(neng)穩定。

（4）抗干(gan)擾能(neng)(neng)力：在復雜電磁環境(jing)等情(qing)況(kuang)下能(neng)(neng)穩定(ding)運行，抗干(gan)擾能(neng)(neng)力強(qiang)。

四、如何延長存儲芯片的壽命

1、避免持續高溫使用

持續高溫使用，無論是手機還是電腦，都會影響壽命，也都會影響到存儲芯片的壽命。

2、避免超頻使用

存儲芯片在設計的(de)(de)(de)時(shi)候，都是有著固定的(de)(de)(de)額定頻(pin)率來(lai)對(dui)應自身的(de)(de)(de)性能(neng)的(de)(de)(de)，同(tong)時(shi)也是對(dui)芯片的(de)(de)(de)一種保護(hu)，有些人為了提升(sheng)芯片的(de)(de)(de)性能(neng)而超頻(pin)使用，雖然性能(neng)提升(sheng)了，但是一定會損壞(huai)到(dao)芯片，且容易出現(xian)系(xi)統不穩定，結果就有可能(neng)燒壞(huai)芯片。

3、保持良好的散熱情況

存儲(chu)芯片在使用過程中會產生大量熱量，如果無法及時散熱，會導致芯片損壞和壽命縮短。因此，保持良好的散熱情況對于延長芯片壽命尤為重要。

4、注意靜電防護

靜電發生的時候往往會導致存儲芯片(pian)內(nei)部電路(lu)損壞(huai)，或者是絕緣防護層被(bei)擊穿，如果發生一次靜電，就有(you)可能導致芯片(pian)的(de)永久報(bao)廢。