一、什么是鍍層測厚儀

鍍層測厚儀又稱涂層測厚儀、涂鍍層測厚儀，是一種測(ce)(ce)量(liang)(liang)鍍層等金(jin)屬(shu)薄膜的(de)厚度的(de)儀器(qi)，主(zhu)要用(yong)于測(ce)(ce)量(liang)(liang)鋼、鐵(tie)等鐵(tie)磁質金(jin)屬(shu)基體(ti)上的(de)非鐵(tie)磁性涂層、鍍層，其具(ju)有以下(xia)特(te)點：

1、精(jing)(jing)度(du)高：鍍(du)層測厚儀的測量精(jing)(jing)度(du)通常(chang)在±0.1μm范圍(wei)內(nei)，可以滿足大多數表面鍍(du)層或涂層的測量需(xu)求。

2、快速(su)測(ce)量：鍍層(ceng)測(ce)厚儀可以(yi)在短時(shi)間內快速(su)測(ce)量大范圍的表面(mian)，提高生產效率。

3、無損檢測(ce)：鍍層測(ce)厚(hou)儀不會對(dui)被測(ce)物體表面造成損傷，可以(yi)用于(yu)生產過程(cheng)中的質量控制和檢測(ce)。

4、操(cao)作(zuo)簡(jian)單：鍍層測厚(hou)儀操(cao)作(zuo)簡(jian)單，易于(yu)掌握，適合(he)于(yu)不同領(ling)域的用戶使用。

二、鍍層測厚儀由什么組成

鍍(du)層測厚(hou)儀一般由三部分組成(cheng)：

1、傳(chuan)(chuan)感(gan)器：傳(chuan)(chuan)感(gan)器部分(fen)負責與物體表面接觸，并采集鍍層或(huo)涂層的電阻值、電導率或(huo)磁場強度等參數。

2、測(ce)量電路：測(ce)量電路部分將(jiang)傳感器(qi)采集的信號(hao)進(jin)行處(chu)理，計算出鍍(du)層或涂(tu)層的厚度。

3、顯示(shi)單(dan)元：計算出的厚度將顯示(shi)在(zai)顯示(shi)單(dan)元上。

三、鍍層測厚儀原理是什么

鍍層(ceng)測(ce)厚(hou)儀用于測(ce)量鍍層(ceng)厚(hou)度，主(zhu)要有三種原理：

1、磁吸型

永久磁鐵（測頭）與(yu)導磁鋼材之(zhi)間(jian)的(de)吸力大小與(yu)處于這兩者之(zhi)間(jian)的(de)距(ju)離成一(yi)定比例關系，這個距(ju)離就是覆(fu)層(ceng)的(de)厚度。利用這一(yi)原理制成測厚儀，只(zhi)要(yao)覆(fu)層(ceng)與(yu)基材的(de)導磁率之(zhi)差足夠大，就可(ke)進行測量。

這種(zhong)測厚儀基本結構(gou)由磁鋼，接(jie)力(li)(li)(li)簧，標尺(chi)及自停(ting)機(ji)構(gou)組成。磁鋼與(yu)被測物吸合后，將測量簧在(zai)其后逐漸拉(la)長(chang)，拉(la)力(li)(li)(li)逐漸增(zeng)大。當(dang)拉(la)力(li)(li)(li)剛好大于吸力(li)(li)(li)，磁鋼脫離的一(yi)瞬(shun)間記錄下(xia)拉(la)力(li)(li)(li)的大小(xiao)即可獲得覆層厚度。

2、磁感應型

采用(yong)磁(ci)感(gan)應原理(li)時，利用(yong)從測(ce)頭經過非鐵(tie)磁(ci)覆(fu)(fu)層(ceng)而流入鐵(tie)磁(ci)基體的磁(ci)通的大(da)小，來(lai)測(ce)定覆(fu)(fu)層(ceng)厚度。也可以測(ce)定與(yu)之對(dui)應的磁(ci)阻的大(da)小，來(lai)表(biao)示其覆(fu)(fu)層(ceng)厚度。覆(fu)(fu)層(ceng)越厚，則磁(ci)阻越大(da)，磁(ci)通越小。

利(li)用磁(ci)感應原理的(de)測厚(hou)儀，原則上(shang)(shang)(shang)(shang)可以有導磁(ci)基體上(shang)(shang)(shang)(shang)的(de)非導磁(ci)覆層(ceng)厚(hou)度(du)，一(yi)般要求(qiu)基材導磁(ci)率(lv)在(zai)500以上(shang)(shang)(shang)(shang)，如果覆層(ceng)材料也有磁(ci)性，則要求(qiu)與(yu)基材的(de)導磁(ci)率(lv)之差(cha)足(zu)夠大(da)（如鋼上(shang)(shang)(shang)(shang)鍍鎳）。

3、電渦流型

高頻交流(liu)信號在(zai)測(ce)頭(tou)線圈中產生電(dian)磁場，測(ce)頭(tou)靠(kao)近(jin)導體(ti)(ti)時，就(jiu)在(zai)其中形成渦流(liu)。測(ce)頭(tou)離導電(dian)基體(ti)(ti)愈(yu)近(jin)，則渦流(liu)愈(yu)大(da)，反射阻抗也(ye)愈(yu)大(da)。這個反饋作用量表征了測(ce)頭(tou)與導電(dian)基體(ti)(ti)之間距離的(de)大(da)小，也(ye)就(jiu)是(shi)導電(dian)基體(ti)(ti)上非導電(dian)覆層厚度的(de)大(da)小。

采用電渦流原理的測厚儀，原(yuan)則上(shang)(shang)對(dui)所有導(dao)電(dian)體上(shang)(shang)的(de)非導(dao)電(dian)體覆(fu)層均可測量，如航天(tian)航空器表面(mian)(mian)、車輛、家電(dian)、鋁合金門窗(chuang)及其它鋁制品表面(mian)(mian)的(de)漆，塑(su)料(liao)(liao)涂(tu)層及陽(yang)極氧化膜。覆(fu)層材(cai)料(liao)(liao)有一定的(de)導(dao)電(dian)性，通過校準同(tong)樣也可測量，但要求兩者(zhe)的(de)導(dao)電(dian)率之(zhi)比至少相差(cha)3-5倍（如銅上(shang)(shang)鍍(du)鉻）。