一、什么是鍍層測厚儀

鍍層測厚儀又稱涂層測厚儀、涂鍍層測厚儀，是一種測量鍍層等(deng)金屬薄(bo)膜的厚(hou)度的儀器，主要(yao)用于(yu)測量鋼(gang)、鐵等(deng)鐵磁質金屬基(ji)體上的非鐵磁性涂層、鍍層，其具有以下特點(dian)：

1、精度(du)高：鍍層(ceng)(ceng)測(ce)厚儀(yi)的測(ce)量精度(du)通(tong)常(chang)在(zai)±0.1μm范圍內(nei)，可以滿(man)足大多數表面鍍層(ceng)(ceng)或涂層(ceng)(ceng)的測(ce)量需求。

2、快速測量(liang)：鍍層測厚儀(yi)可以在短(duan)時間內快速測量(liang)大范(fan)圍(wei)的(de)表面，提高生產效率。

3、無損檢(jian)測：鍍層測厚儀(yi)不(bu)會對被測物(wu)體表面造成損傷，可以用于生產過程中的(de)質量(liang)控制和檢(jian)測。

4、操(cao)作簡(jian)(jian)單(dan)(dan)：鍍層測厚儀操(cao)作簡(jian)(jian)單(dan)(dan)，易于掌握(wo)，適合于不(bu)同領域(yu)的用戶使(shi)用。

二、鍍層測厚儀由什么組成

鍍層測厚儀一般由三部分(fen)組成：

1、傳感(gan)器：傳感(gan)器部(bu)分負責與物(wu)體表面(mian)接觸，并(bing)采集鍍(du)層或(huo)涂層的電阻值、電導率或(huo)磁場強度等參數(shu)。

2、測(ce)(ce)量電路：測(ce)(ce)量電路部分將傳(chuan)感器采集的信號進行處理(li)，計(ji)算(suan)出鍍(du)層(ceng)或涂層(ceng)的厚度。

3、顯示(shi)單(dan)元：計算出的厚度將顯示(shi)在(zai)顯示(shi)單(dan)元上(shang)。

三、鍍層測厚儀原理是什么

鍍層測厚(hou)儀用于測量鍍層厚(hou)度，主要有三(san)種原理：

1、磁吸型

永久磁(ci)鐵（測頭）與(yu)導磁(ci)鋼材(cai)之(zhi)間的(de)吸(xi)力大(da)小與(yu)處于(yu)這(zhe)兩(liang)者之(zhi)間的(de)距(ju)離(li)成一定比例關系(xi)，這(zhe)個距(ju)離(li)就是(shi)覆層的(de)厚(hou)度。利用這(zhe)一原理制成測厚(hou)儀(yi)，只要(yao)覆層與(yu)基材(cai)的(de)導磁(ci)率之(zhi)差足夠大(da)，就可進行測量。

這種測(ce)厚儀(yi)基本結構(gou)由磁鋼，接力(li)(li)簧，標尺及自停機構(gou)組成。磁鋼與被測(ce)物吸(xi)合后，將測(ce)量簧在其后逐漸拉長，拉力(li)(li)逐漸增大。當拉力(li)(li)剛(gang)好大于吸(xi)力(li)(li)，磁鋼脫離的一瞬間記錄(lu)下(xia)拉力(li)(li)的大小即可獲(huo)得(de)覆層厚度。

2、磁感應型

采用磁(ci)(ci)感應(ying)原理時(shi)，利用從(cong)測頭(tou)經過非鐵磁(ci)(ci)覆層(ceng)而流入鐵磁(ci)(ci)基體(ti)的磁(ci)(ci)通(tong)(tong)的大(da)(da)小，來測定(ding)覆層(ceng)厚度。也可(ke)以(yi)測定(ding)與之對應(ying)的磁(ci)(ci)阻的大(da)(da)小，來表(biao)示其覆層(ceng)厚度。覆層(ceng)越(yue)厚，則磁(ci)(ci)阻越(yue)大(da)(da)，磁(ci)(ci)通(tong)(tong)越(yue)小。

利用磁感應原(yuan)理的測厚儀，原(yuan)則(ze)上(shang)可(ke)以有(you)導磁基(ji)體(ti)上(shang)的非導磁覆層厚度，一般要求(qiu)基(ji)材導磁率(lv)在500以上(shang)，如果覆層材料也有(you)磁性，則(ze)要求(qiu)與(yu)基(ji)材的導磁率(lv)之差足夠大(da)（如鋼上(shang)鍍鎳）。

3、電渦流型

高頻交流(liu)信(xin)號在(zai)測(ce)頭(tou)線圈中(zhong)產生(sheng)電(dian)磁(ci)場，測(ce)頭(tou)靠近導(dao)體(ti)時，就在(zai)其中(zhong)形成渦流(liu)。測(ce)頭(tou)離導(dao)電(dian)基(ji)(ji)體(ti)愈(yu)近，則渦流(liu)愈(yu)大，反射阻抗(kang)也愈(yu)大。這個(ge)反饋作用量表(biao)征了測(ce)頭(tou)與導(dao)電(dian)基(ji)(ji)體(ti)之間距(ju)離的大小，也就是導(dao)電(dian)基(ji)(ji)體(ti)上非(fei)導(dao)電(dian)覆(fu)層(ceng)厚(hou)度的大小。

采用電渦流原理的測厚儀，原(yuan)則上(shang)對(dui)所(suo)有導(dao)電體上(shang)的(de)(de)非導(dao)電體覆層(ceng)均可測(ce)量，如航(hang)天(tian)航(hang)空器表(biao)面(mian)、車(che)輛、家電、鋁合(he)金(jin)門(men)窗及(ji)(ji)其它鋁制品表(biao)面(mian)的(de)(de)漆，塑料(liao)涂層(ceng)及(ji)(ji)陽極氧化(hua)膜(mo)。覆層(ceng)材料(liao)有一定的(de)(de)導(dao)電性(xing)，通過校(xiao)準同樣(yang)也可測(ce)量，但(dan)要求兩者的(de)(de)導(dao)電率之比至少(shao)相差3-5倍(bei)（如銅上(shang)鍍鉻）。