一、什么是鍍層測厚儀

鍍層測厚儀又稱涂層測厚儀、涂鍍層測厚儀，是一種測量(liang)鍍(du)層(ceng)等金(jin)屬薄(bo)膜的厚度的儀器，主要用于測量(liang)鋼、鐵(tie)(tie)(tie)等鐵(tie)(tie)(tie)磁質金(jin)屬基體上的非鐵(tie)(tie)(tie)磁性涂層(ceng)、鍍(du)層(ceng)，其具有以(yi)下特點：

1、精度高(gao)：鍍層(ceng)測(ce)厚儀的測(ce)量(liang)精度通常在±0.1μm范圍(wei)內，可以滿足大(da)多數表面鍍層(ceng)或(huo)涂層(ceng)的測(ce)量(liang)需求(qiu)。

2、快(kuai)速測(ce)(ce)量(liang)(liang)：鍍層測(ce)(ce)厚儀可(ke)以在短時(shi)間內(nei)快(kuai)速測(ce)(ce)量(liang)(liang)大范圍(wei)的表面(mian)，提高(gao)生產效(xiao)率。

3、無損(sun)檢(jian)測(ce)：鍍層測(ce)厚儀不會(hui)對被測(ce)物體(ti)表面造(zao)成損(sun)傷，可(ke)以用于生產(chan)過程中(zhong)的(de)質量控制(zhi)和檢(jian)測(ce)。

4、操作簡(jian)單：鍍(du)層測厚(hou)儀(yi)操作簡(jian)單，易(yi)于掌握，適合于不同領域的用戶使用。

二、鍍層測厚儀由什么組成

鍍層測厚儀一(yi)般(ban)由三(san)部(bu)分(fen)組成：

1、傳感(gan)器(qi)：傳感(gan)器(qi)部分負責與物體(ti)表(biao)面接觸(chu)，并采集(ji)鍍層或涂層的電阻值、電導率或磁(ci)場強度等參數。

2、測(ce)量電路(lu)：測(ce)量電路(lu)部分將傳感器采集的信號進行處理，計(ji)算出鍍層(ceng)或涂層(ceng)的厚度。

3、顯(xian)(xian)示單元(yuan)(yuan)：計算(suan)出(chu)的厚(hou)度(du)將顯(xian)(xian)示在顯(xian)(xian)示單元(yuan)(yuan)上。

三、鍍層測厚儀原理是什么

鍍層測(ce)厚儀用于測(ce)量鍍層厚度，主要(yao)有三(san)種(zhong)原理：

1、磁吸型

永久磁(ci)鐵（測頭(tou)）與(yu)導磁(ci)鋼材之(zhi)間的(de)吸力(li)大小(xiao)與(yu)處于這(zhe)(zhe)兩者之(zhi)間的(de)距(ju)離成(cheng)一定比例關系，這(zhe)(zhe)個距(ju)離就(jiu)是覆(fu)層(ceng)的(de)厚度。利用這(zhe)(zhe)一原(yuan)理制成(cheng)測厚儀，只(zhi)要覆(fu)層(ceng)與(yu)基材的(de)導磁(ci)率之(zhi)差(cha)足夠(gou)大，就(jiu)可進行測量(liang)。

這(zhe)種(zhong)測厚儀(yi)基本結構(gou)由磁(ci)鋼，接力簧，標(biao)尺及自停機構(gou)組成。磁(ci)鋼與被(bei)測物吸合后(hou)(hou)，將測量簧在(zai)其后(hou)(hou)逐(zhu)漸(jian)拉長(chang)，拉力逐(zhu)漸(jian)增大。當拉力剛(gang)好大于吸力，磁(ci)鋼脫離(li)的一(yi)瞬間(jian)記錄下(xia)拉力的大小即可獲得覆層厚度。

2、磁感應型

采用磁感應原理時，利用從(cong)測(ce)(ce)頭經過(guo)非鐵磁覆(fu)層(ceng)而流入鐵磁基體(ti)的磁通的大小，來測(ce)(ce)定覆(fu)層(ceng)厚(hou)度(du)。也可以測(ce)(ce)定與之對應的磁阻的大小，來表示其覆(fu)層(ceng)厚(hou)度(du)。覆(fu)層(ceng)越厚(hou)，則磁阻越大，磁通越小。

利用磁(ci)感應原理(li)的測厚儀，原則上(shang)可(ke)以有導(dao)(dao)磁(ci)基(ji)體(ti)上(shang)的非(fei)導(dao)(dao)磁(ci)覆層(ceng)厚度，一(yi)般要(yao)求基(ji)材(cai)(cai)導(dao)(dao)磁(ci)率在500以上(shang)，如果覆層(ceng)材(cai)(cai)料也有磁(ci)性，則要(yao)求與基(ji)材(cai)(cai)的導(dao)(dao)磁(ci)率之(zhi)差足夠(gou)大（如鋼上(shang)鍍鎳(nie)）。

3、電渦流型

高頻交流信號在(zai)測頭(tou)線圈中(zhong)(zhong)產生電磁場，測頭(tou)靠近導體時，就(jiu)在(zai)其中(zhong)(zhong)形成渦(wo)流。測頭(tou)離(li)導電基體愈近，則(ze)渦(wo)流愈大(da)，反射阻抗也(ye)愈大(da)。這個反饋(kui)作用量表征了測頭(tou)與導電基體之(zhi)間距離(li)的(de)大(da)小(xiao)，也(ye)就(jiu)是(shi)導電基體上非導電覆層厚度(du)的(de)大(da)小(xiao)。

采用電渦流原理的測厚儀，原則上對(dui)所有導電(dian)(dian)體(ti)上的(de)(de)非導電(dian)(dian)體(ti)覆(fu)(fu)層(ceng)(ceng)均(jun)可測量(liang)，如(ru)航(hang)天(tian)航(hang)空器表(biao)面、車輛、家電(dian)(dian)、鋁合(he)金門窗及其它鋁制品表(biao)面的(de)(de)漆(qi)，塑料(liao)涂(tu)層(ceng)(ceng)及陽(yang)極氧化(hua)膜(mo)。覆(fu)(fu)層(ceng)(ceng)材(cai)料(liao)有一(yi)定的(de)(de)導電(dian)(dian)性，通(tong)過校準同(tong)樣也可測量(liang)，但要求兩者的(de)(de)導電(dian)(dian)率之比至少(shao)相差3-5倍（如(ru)銅上鍍鉻）。