一、什么是鍍層測厚儀
鍍層測厚儀又稱涂層測厚儀、涂鍍層測厚儀,是一種測量(liang)鍍(du)(du)層等金屬薄膜的厚度的儀器(qi),主(zhu)要用于測量(liang)鋼、鐵等鐵磁質金屬基(ji)體上的非鐵磁性涂層、鍍(du)(du)層,其具(ju)有以下特點(dian):
1、精(jing)度高:鍍層(ceng)(ceng)測厚儀的(de)測量(liang)精(jing)度通常在±0.1μm范圍(wei)內,可以(yi)滿(man)足大多數表(biao)面鍍層(ceng)(ceng)或(huo)涂層(ceng)(ceng)的(de)測量(liang)需求。
2、快速(su)測(ce)量(liang)(liang):鍍層測(ce)厚儀可以在(zai)短(duan)時間(jian)內(nei)快速(su)測(ce)量(liang)(liang)大范圍的表面(mian),提高(gao)生產效率。
3、無損檢測:鍍層(ceng)測厚儀不會對被測物(wu)體表面造成損傷,可以用于生產過(guo)程中的質量控制和(he)檢測。
4、操(cao)作簡(jian)單:鍍層(ceng)測厚(hou)儀操(cao)作簡(jian)單,易于(yu)掌(zhang)握,適合于(yu)不(bu)同領域的用戶(hu)使(shi)用。
二、鍍層測厚儀由什么組成
鍍層測厚儀一般由(you)三部分組成:
1、傳感器(qi):傳感器(qi)部(bu)分負責與物體表(biao)面接觸(chu),并(bing)采集鍍(du)層(ceng)(ceng)或涂層(ceng)(ceng)的電阻值(zhi)、電導率(lv)或磁場強度等參數(shu)。
2、測(ce)量電(dian)(dian)路(lu):測(ce)量電(dian)(dian)路(lu)部(bu)分將傳感器采(cai)集的信號(hao)進行(xing)處理,計算(suan)出(chu)鍍層(ceng)或涂層(ceng)的厚度。
3、顯(xian)示單(dan)元(yuan):計算出的(de)厚度將(jiang)顯(xian)示在顯(xian)示單(dan)元(yuan)上(shang)。
三、鍍層測厚儀原理是什么
鍍層(ceng)測厚(hou)儀用(yong)于測量鍍層(ceng)厚(hou)度,主要有三種原理:
1、磁吸型
永久磁鐵(測頭)與(yu)(yu)導磁鋼材之間的吸力大(da)小與(yu)(yu)處于(yu)這(zhe)兩者之間的距(ju)離(li)成一(yi)定比例關系(xi),這(zhe)個(ge)距(ju)離(li)就是(shi)覆層的厚(hou)度。利用(yong)這(zhe)一(yi)原理(li)制成測厚(hou)儀(yi),只要覆層與(yu)(yu)基材的導磁率之差足夠大(da),就可進行測量。
這種測(ce)厚儀基(ji)本結構(gou)(gou)由(you)磁(ci)鋼(gang),接力簧,標(biao)尺(chi)及(ji)自停機構(gou)(gou)組成。磁(ci)鋼(gang)與被測(ce)物吸合后,將(jiang)測(ce)量(liang)簧在其后逐(zhu)漸(jian)拉(la)長,拉(la)力逐(zhu)漸(jian)增大(da)。當拉(la)力剛好大(da)于吸力,磁(ci)鋼(gang)脫(tuo)離的一瞬間(jian)記錄(lu)下拉(la)力的大(da)小即可獲得覆(fu)層厚度。
2、磁感應型
采(cai)用磁(ci)(ci)感應(ying)原(yuan)理時(shi),利用從測(ce)頭經過非(fei)鐵磁(ci)(ci)覆層(ceng)而(er)流入鐵磁(ci)(ci)基體的磁(ci)(ci)通的大小,來(lai)測(ce)定(ding)覆層(ceng)厚(hou)(hou)度。也(ye)可以測(ce)定(ding)與之對應(ying)的磁(ci)(ci)阻的大小,來(lai)表示其覆層(ceng)厚(hou)(hou)度。覆層(ceng)越(yue)厚(hou)(hou),則(ze)磁(ci)(ci)阻越(yue)大,磁(ci)(ci)通越(yue)小。
利用(yong)磁(ci)感應原理的(de)(de)測厚儀(yi),原則(ze)上可(ke)以有導(dao)(dao)磁(ci)基(ji)(ji)體上的(de)(de)非導(dao)(dao)磁(ci)覆層(ceng)(ceng)厚度,一般要(yao)求(qiu)基(ji)(ji)材(cai)導(dao)(dao)磁(ci)率在500以上,如果覆層(ceng)(ceng)材(cai)料也(ye)有磁(ci)性,則(ze)要(yao)求(qiu)與(yu)基(ji)(ji)材(cai)的(de)(de)導(dao)(dao)磁(ci)率之差(cha)足夠大(如鋼上鍍鎳)。
3、電渦流型
高頻交(jiao)流信號在(zai)測(ce)頭(tou)線圈(quan)中(zhong)產生電(dian)磁場,測(ce)頭(tou)靠近導體時,就在(zai)其中(zhong)形成(cheng)渦流。測(ce)頭(tou)離導電(dian)基(ji)體愈近,則渦流愈大(da)(da),反射阻抗也愈大(da)(da)。這個反饋作用(yong)量表征了(le)測(ce)頭(tou)與(yu)導電(dian)基(ji)體之間(jian)距(ju)離的(de)大(da)(da)小,也就是導電(dian)基(ji)體上非導電(dian)覆層(ceng)厚度(du)的(de)大(da)(da)小。
采用電渦流原理的測厚儀,原則上對(dui)所有(you)導(dao)電體(ti)(ti)上的非導(dao)電體(ti)(ti)覆層(ceng)(ceng)均(jun)可測量,如航(hang)天航(hang)空器表(biao)面(mian)、車(che)輛、家(jia)電、鋁合(he)金門窗及其它鋁制品表(biao)面(mian)的漆,塑料涂層(ceng)(ceng)及陽極氧化(hua)膜。覆層(ceng)(ceng)材(cai)料有(you)一定的導(dao)電性,通過校(xiao)準同樣也可測量,但(dan)要求兩者的導(dao)電率(lv)之(zhi)比至少相差3-5倍(如銅上鍍鉻)。