一、覆層測厚儀和涂層測厚儀的區別在哪

覆層測厚儀是對材料覆蓋層厚度進行測量的儀器，它和涂層測厚儀實際上是(shi)(shi)一樣(yang)的，是(shi)(shi)兩種不同(tong)的稱(cheng)呼而已，如果非(fei)要說有(you)什么(me)區別的話，那就是(shi)(shi)覆層測厚儀(yi)是(shi)(shi)新(xin)研(yan)發的新(xin)產品，與之前涂層測厚儀(yi)相(xiang)比有(you)以下主要優點：

1、測量(liang)速度快：測量(liang)速度比普(pu)通涂層測厚儀快6倍。

2、精度高：產品(pin)校準后精度即可達到1-2%，比(bi)普(pu)通的涂層測厚儀(yi)精度更高。

3、穩定性(xing)(xing)：測量值的穩定性(xing)(xing)和使用穩定性(xing)(xing)優于涂層測厚儀。

4、功能、數據(ju)、操作、顯示(shi)全部是中文。

二、涂層測厚儀和超聲波測厚儀有什么區別

涂層測(ce)厚(hou)儀和超聲(sheng)波測(ce)厚(hou)儀相比，雖然都(dou)是測(ce)厚(hou)儀，但在以(yi)下幾個方面都(dou)存(cun)在區別：

1、測量范圍不同

作為無損檢(jian)測(ce)儀(yi)(yi)(yi)器，超聲(sheng)(sheng)波(bo)測(ce)厚(hou)(hou)(hou)儀(yi)(yi)(yi)和(he)(he)涂(tu)層(ceng)(ceng)測(ce)厚(hou)(hou)(hou)儀(yi)(yi)(yi)都有(you)卡尺和(he)(he)千分尺等(deng)測(ce)量儀(yi)(yi)(yi)器達不到的優勢，但(dan)是兩者(zhe)在測(ce)量范圍上還是有(you)區別的，涂(tu)層(ceng)(ceng)測(ce)厚(hou)(hou)(hou)儀(yi)(yi)(yi)主要用來表面覆層(ceng)(ceng)，而超聲(sheng)(sheng)波(bo)測(ce)厚(hou)(hou)(hou)儀(yi)(yi)(yi)側重(zhong)于(yu)壁厚(hou)(hou)(hou)和(he)(he)板厚(hou)(hou)(hou)的基材測(ce)量。

超聲波測(ce)厚(hou)儀的(de)具體測(ce)量范圍(wei)：超聲波測(ce)厚(hou)儀可以測(ce)量金屬材(cai)質、管(guan)道、壓力容器、板(ban)材(cai)（鋼板(ban)、鋁(lv)板(ban)）、塑料(liao)(liao)、鐵管(guan)、PVC管(guan)、玻璃(li)等(deng)其他(ta)特殊材(cai)料(liao)(liao)的(de)厚(hou)度；也(ye)可以測(ce)量工件表面油(you)漆層等(deng)帶涂(tu)層的(de)材(cai)料(liao)(liao)。

涂層(ceng)(ceng)測(ce)厚儀的具體(ti)測(ce)量范(fan)圍：主(zhu)要用于測(ce)量金屬上的涂層(ceng)(ceng)，防腐層(ceng)(ceng)，電鍍層(ceng)(ceng)，塑料，油漆，塑膠，陶(tao)瓷，琺瑯等(deng)覆蓋(gai)層(ceng)(ceng)的厚度(du)，也(ye)可以擴展應(ying)用到對(dui)紙張，薄膜，板(ban)材等(deng)的厚度(du)進(jin)行間接測(ce)量。

2、測量方法不同

（1）超聲波測厚儀的測量方法

①單(dan)點測(ce)量法：在(zai)被測(ce)體上任一(yi)點，利用探頭進行(xing)測(ce)量，顯示值即為厚度值。

②兩(liang)點測量(liang)法(fa)：在(zai)被測體的同一點用探(tan)頭(tou)進行兩(liang)次測量(liang)，在(zai)第二次測量(liang)中(zhong)，探(tan)頭(tou)的分割面成 90°，取(qu)兩(liang)次測量(liang)中(zhong)的較小值為(wei)厚度(du)值。

③多(duo)點(dian)測(ce)(ce)量(liang)法：當測(ce)(ce)量(liang)值不穩定時(shi)，以一個測(ce)(ce)定點(dian)為中心(xin)，在直(zhi)徑約為 30mm 的(de)圓內進行多(duo)次測(ce)(ce)量(liang)，取最小值為厚度(du)值。

④連續(xu)測量法：用單(dan)點測量法，沿(yan)指定線(xian)路連續(xu)測量，其間隔不小(xiao)于 5mm，取(qu)其中最小(xiao)值為厚度值。

（2）涂層測厚儀的測量方法

①磁(ci)性(xing)法：主要用于鐵基(ji)涂層(ceng)，當測量頭與(yu)覆蓋層(ceng)接觸時(shi)，測量頭和(he)磁(ci)性(xing)金(jin)屬基(ji)體構成一閉合磁(ci)路，由于非磁(ci)性(xing)覆蓋層(ceng)的存在(zai)，使磁(ci)路磁(ci)阻變化(hua)，通過測量其變化(hua)可導出覆蓋層(ceng)的厚度。

②渦流法：主要用于非鐵基涂(tu)層，用利用高頻(pin)交變電(dian)流在線圈中(zhong)產生一個電(dian)磁場，當測(ce)量頭與覆蓋層接觸時，金(jin)屬基體上產生電(dian)渦流，并對測(ce)量頭中(zhong)的線圈產生反饋(kui)作用，通過測(ce)量反饋(kui)作用的大小(xiao)可導(dao)出覆蓋層的厚度(du)。

3、測量精度不同

超聲波測厚儀的測量精度是0.5-600mm；涂層測厚儀的測(ce)量(liang)精度是：0-1250um（標配F1/N1探頭）00-10000um（選配F10/N10探頭）。