一、覆層測厚儀和涂層測厚儀的區別在哪

覆層測厚儀是對材料覆蓋層厚度進行測量的儀器，它和涂層測厚儀實(shi)際上是(shi)一樣的(de)，是(shi)兩種不同(tong)的(de)稱呼而已(yi)，如果(guo)非要說有什么區別的(de)話，那就是(shi)覆層測厚儀是(shi)新研發的(de)新產(chan)品，與之前涂層測厚儀相比有以下(xia)主要優點：

1、測(ce)量(liang)速度(du)快(kuai)：測(ce)量(liang)速度(du)比普(pu)通(tong)涂層測(ce)厚儀快(kuai)6倍。

2、精度高(gao)(gao)：產品校(xiao)準后精度即可達到1-2%，比普通的涂層(ceng)測厚儀精度更高(gao)(gao)。

3、穩定性：測量值的(de)穩定性和使(shi)用穩定性優于涂層測厚儀。

4、功能(neng)、數(shu)據、操作、顯示全部是(shi)中文。

二、涂層測厚儀和超聲波測厚儀有什么區別

涂(tu)層測厚(hou)儀和超聲波(bo)測厚(hou)儀相比，雖(sui)然(ran)都是(shi)測厚(hou)儀，但在以下幾個方面都存在區(qu)別：

1、測量范圍不同

作為(wei)無損檢測(ce)(ce)儀(yi)(yi)器(qi)(qi)，超聲波測(ce)(ce)厚儀(yi)(yi)和(he)涂層測(ce)(ce)厚儀(yi)(yi)都(dou)有(you)卡尺和(he)千分尺等測(ce)(ce)量儀(yi)(yi)器(qi)(qi)達(da)不(bu)到(dao)的優勢，但(dan)是兩者在測(ce)(ce)量范圍上還是有(you)區別的，涂層測(ce)(ce)厚儀(yi)(yi)主要用來表(biao)面覆層，而(er)超聲波測(ce)(ce)厚儀(yi)(yi)側重于(yu)壁厚和(he)板厚的基材測(ce)(ce)量。

超聲波(bo)測(ce)厚(hou)儀的(de)具體測(ce)量范(fan)圍：超聲波(bo)測(ce)厚(hou)儀可(ke)以測(ce)量金屬材質、管(guan)道、壓力容器、板(ban)材（鋼(gang)板(ban)、鋁板(ban)）、塑料(liao)(liao)(liao)、鐵管(guan)、PVC管(guan)、玻璃(li)等其他(ta)特(te)殊材料(liao)(liao)(liao)的(de)厚(hou)度；也可(ke)以測(ce)量工件(jian)表面(mian)油漆層等帶涂(tu)層的(de)材料(liao)(liao)(liao)。

涂(tu)層(ceng)(ceng)測(ce)厚儀的(de)具體測(ce)量范(fan)圍：主要用(yong)于測(ce)量金屬上(shang)的(de)涂(tu)層(ceng)(ceng)，防(fang)腐層(ceng)(ceng)，電鍍層(ceng)(ceng)，塑料(liao)，油漆(qi)，塑膠，陶瓷，琺(fa)瑯等覆蓋層(ceng)(ceng)的(de)厚度(du)，也可以擴展應(ying)用(yong)到對紙張，薄膜，板(ban)材等的(de)厚度(du)進行間接(jie)測(ce)量。

2、測量方法不同

（1）超聲波測厚儀的測量方法

①單(dan)點測量法：在被測體上(shang)任一點，利用探頭(tou)進行測量，顯示值即(ji)為(wei)厚度(du)值。

②兩點(dian)測(ce)量法：在(zai)被測(ce)體的同一(yi)點(dian)用探頭(tou)進行(xing)兩次(ci)測(ce)量，在(zai)第二次(ci)測(ce)量中(zhong)，探頭(tou)的分割面成 90°，取兩次(ci)測(ce)量中(zhong)的較小值為厚度值。

③多點測量(liang)法：當測量(liang)值(zhi)不穩定(ding)時，以一個測定(ding)點為(wei)中心，在(zai)直徑約為(wei) 30mm 的圓內(nei)進行多次測量(liang)，取(qu)最(zui)小值(zhi)為(wei)厚度(du)值(zhi)。

④連續(xu)測量(liang)法：用單點測量(liang)法，沿指定線路連續(xu)測量(liang)，其間隔不(bu)小(xiao)于(yu) 5mm，取其中最小(xiao)值為厚度(du)值。

（2）涂層測厚儀的測量方法

①磁(ci)性(xing)(xing)法：主要用(yong)于鐵基涂(tu)層(ceng)，當測量頭與覆(fu)蓋(gai)(gai)層(ceng)接觸(chu)時，測量頭和(he)磁(ci)性(xing)(xing)金屬(shu)基體構成一閉合磁(ci)路，由于非磁(ci)性(xing)(xing)覆(fu)蓋(gai)(gai)層(ceng)的(de)存(cun)在，使磁(ci)路磁(ci)阻變(bian)化，通過測量其變(bian)化可(ke)導(dao)出覆(fu)蓋(gai)(gai)層(ceng)的(de)厚度。

②渦(wo)流法：主要用于非鐵基涂(tu)層，用利用高(gao)頻交變(bian)電流在線圈(quan)(quan)中產生(sheng)一個電磁場，當測(ce)量頭(tou)與覆蓋層接觸時，金(jin)屬基體上產生(sheng)電渦(wo)流，并對測(ce)量頭(tou)中的(de)線圈(quan)(quan)產生(sheng)反饋作(zuo)用，通過測(ce)量反饋作(zuo)用的(de)大(da)小可導(dao)出覆蓋層的(de)厚度。

3、測量精度不同

超聲波測厚儀的測量精度是0.5-600mm；涂層測厚儀的測量(liang)精度(du)是(shi)：0-1250um（標配(pei)F1/N1探(tan)頭）00-10000um（選配(pei)F10/N10探(tan)頭）。