一、覆層測厚儀和涂層測厚儀的區別在哪

覆層測厚儀是對材料覆蓋層厚度進行測量的儀器，它和涂層測厚儀實(shi)際上是(shi)(shi)一(yi)樣的，是(shi)(shi)兩種(zhong)不同的稱呼而已，如果(guo)非要說有什么區別的話，那(nei)就是(shi)(shi)覆層(ceng)測厚儀(yi)是(shi)(shi)新研(yan)發的新產品，與之前涂層(ceng)測厚儀(yi)相比有以(yi)下主要優點：

1、測量速(su)(su)度快(kuai)：測量速(su)(su)度比普通涂層測厚儀快(kuai)6倍(bei)。

2、精度(du)高：產品校準后精度(du)即(ji)可達到1-2%，比(bi)普通的涂層測厚儀精度(du)更高。

3、穩定(ding)性(xing)(xing)：測(ce)量值的穩定(ding)性(xing)(xing)和使用穩定(ding)性(xing)(xing)優于涂層測(ce)厚儀。

4、功能、數據、操作、顯示全部是中文。

二、涂層測厚儀和超聲波測厚儀有什么區別

涂層測厚(hou)儀(yi)和(he)超(chao)聲波測厚(hou)儀(yi)相比(bi)，雖然都(dou)是測厚(hou)儀(yi)，但在(zai)以下幾(ji)個方(fang)面都(dou)存在(zai)區別：

1、測量范圍不同

作為無損檢測(ce)儀(yi)器(qi)(qi)，超(chao)聲波測(ce)厚(hou)(hou)儀(yi)和涂層(ceng)(ceng)測(ce)厚(hou)(hou)儀(yi)都有卡(ka)尺(chi)和千(qian)分尺(chi)等測(ce)量(liang)儀(yi)器(qi)(qi)達(da)不到(dao)的(de)優勢，但是(shi)兩者在測(ce)量(liang)范圍(wei)上還(huan)是(shi)有區別的(de)，涂層(ceng)(ceng)測(ce)厚(hou)(hou)儀(yi)主(zhu)要用來表(biao)面覆層(ceng)(ceng)，而超(chao)聲波測(ce)厚(hou)(hou)儀(yi)側重于壁厚(hou)(hou)和板厚(hou)(hou)的(de)基材測(ce)量(liang)。

超(chao)聲(sheng)(sheng)波測(ce)(ce)厚(hou)儀的具體(ti)測(ce)(ce)量范(fan)圍：超(chao)聲(sheng)(sheng)波測(ce)(ce)厚(hou)儀可以測(ce)(ce)量金屬(shu)材(cai)質、管(guan)(guan)道、壓力容器、板材(cai)（鋼板、鋁(lv)板）、塑(su)料、鐵管(guan)(guan)、PVC管(guan)(guan)、玻璃等其他特殊材(cai)料的厚(hou)度；也(ye)可以測(ce)(ce)量工件(jian)表面油(you)漆層(ceng)等帶(dai)涂(tu)層(ceng)的材(cai)料。

涂層測厚(hou)儀的(de)具體測量(liang)范圍(wei)：主要用(yong)于測量(liang)金屬上的(de)涂層，防腐(fu)層，電鍍層，塑(su)料，油漆，塑(su)膠，陶瓷，琺瑯等覆(fu)蓋(gai)層的(de)厚(hou)度，也可以擴展應(ying)用(yong)到對紙張，薄(bo)膜，板(ban)材等的(de)厚(hou)度進行間接測量(liang)。

2、測量方法不同

（1）超聲波測厚儀的測量方法

①單點(dian)測量法：在(zai)被測體(ti)上任一(yi)點(dian)，利(li)用探(tan)頭(tou)進行測量，顯示值即為厚度值。

②兩點測(ce)量(liang)法：在被測(ce)體的(de)同(tong)一點用探頭進行兩次測(ce)量(liang)，在第二次測(ce)量(liang)中，探頭的(de)分(fen)割面成 90°，取兩次測(ce)量(liang)中的(de)較(jiao)小(xiao)值為厚度值。

③多點測量(liang)法：當測量(liang)值(zhi)不穩定時，以(yi)一(yi)個測定點為中心(xin)，在直徑約為 30mm 的圓內進(jin)行多次(ci)測量(liang)，取最小值(zhi)為厚度值(zhi)。

④連續(xu)(xu)測量法：用(yong)單點測量法，沿指定線路連續(xu)(xu)測量，其間隔不小(xiao)(xiao)于 5mm，取其中(zhong)最(zui)小(xiao)(xiao)值(zhi)為厚(hou)度值(zhi)。

（2）涂層測厚儀的測量方法

①磁(ci)性法：主(zhu)要用于鐵基(ji)涂層(ceng)，當測(ce)(ce)量(liang)頭與覆蓋層(ceng)接觸(chu)時(shi)，測(ce)(ce)量(liang)頭和磁(ci)性金屬基(ji)體構成一閉合磁(ci)路，由(you)于非磁(ci)性覆蓋層(ceng)的(de)存在，使(shi)磁(ci)路磁(ci)阻變化(hua)，通過測(ce)(ce)量(liang)其變化(hua)可導出覆蓋層(ceng)的(de)厚(hou)度(du)。

②渦(wo)(wo)流(liu)法(fa)：主要用(yong)于非鐵基(ji)涂(tu)層，用(yong)利用(yong)高頻交變電流(liu)在線圈中產生一(yi)個(ge)電磁場(chang)，當測量(liang)頭(tou)與覆蓋層接(jie)觸時，金屬基(ji)體上產生電渦(wo)(wo)流(liu)，并對測量(liang)頭(tou)中的(de)線圈產生反饋作用(yong)，通過測量(liang)反饋作用(yong)的(de)大小可導出覆蓋層的(de)厚度。

3、測量精度不同

超聲波測厚儀的測量精度是0.5-600mm；涂層測厚儀的測量精度是：0-1250um（標配F1/N1探(tan)頭(tou)）00-10000um（選(xuan)配F10/N10探(tan)頭(tou)）。