一、覆層測厚儀和涂層測厚儀的區別在哪

覆層測厚儀是對材料覆蓋層厚度進行測量的儀器，它和涂層測厚儀實(shi)際(ji)上是(shi)一(yi)樣(yang)的(de)(de)，是(shi)兩種不同的(de)(de)稱呼而已(yi)，如果非要(yao)說有什(shen)么(me)區別的(de)(de)話，那(nei)就是(shi)覆層(ceng)測(ce)厚(hou)(hou)儀是(shi)新研發的(de)(de)新產品，與(yu)之前涂層(ceng)測(ce)厚(hou)(hou)儀相(xiang)比有以下(xia)主要(yao)優點(dian)：

1、測量速度(du)(du)快：測量速度(du)(du)比(bi)普通(tong)涂層測厚(hou)儀快6倍。

2、精(jing)度高(gao)：產品校準(zhun)后精(jing)度即(ji)可達到1-2%，比普(pu)通(tong)的(de)涂層測(ce)厚儀精(jing)度更高(gao)。

3、穩定性(xing)：測量值的穩定性(xing)和使用(yong)穩定性(xing)優于(yu)涂層測厚儀。

4、功(gong)能、數據(ju)、操(cao)作、顯(xian)示全部是中文。

二、涂層測厚儀和超聲波測厚儀有什么區別

涂層測厚儀和超(chao)聲波(bo)測厚儀相比，雖然都是測厚儀，但在以(yi)下幾個方面都存在區別：

1、測量范圍不同

作為(wei)無損檢測(ce)(ce)儀(yi)器，超(chao)(chao)聲波測(ce)(ce)厚(hou)(hou)儀(yi)和涂(tu)層測(ce)(ce)厚(hou)(hou)儀(yi)都有(you)卡尺和千分尺等測(ce)(ce)量儀(yi)器達(da)不到的優勢(shi)，但是(shi)兩者在測(ce)(ce)量范圍上(shang)還是(shi)有(you)區別(bie)的，涂(tu)層測(ce)(ce)厚(hou)(hou)儀(yi)主要用來表面覆層，而超(chao)(chao)聲波測(ce)(ce)厚(hou)(hou)儀(yi)側(ce)重(zhong)于壁厚(hou)(hou)和板(ban)厚(hou)(hou)的基材測(ce)(ce)量。

超聲波測厚(hou)儀的具(ju)體測量(liang)范圍：超聲波測厚(hou)儀可(ke)以測量(liang)金(jin)屬材(cai)質、管(guan)道(dao)、壓力容器、板(ban)材(cai)（鋼板(ban)、鋁板(ban)）、塑料、鐵管(guan)、PVC管(guan)、玻璃等其他特殊(shu)材(cai)料的厚(hou)度；也(ye)可(ke)以測量(liang)工(gong)件表(biao)面油漆層等帶涂層的材(cai)料。

涂(tu)層(ceng)(ceng)(ceng)測(ce)厚儀的具體測(ce)量范(fan)圍：主要用于測(ce)量金(jin)屬上(shang)的涂(tu)層(ceng)(ceng)(ceng)，防腐(fu)層(ceng)(ceng)(ceng)，電鍍層(ceng)(ceng)(ceng)，塑(su)料，油漆，塑(su)膠，陶瓷(ci)，琺(fa)瑯等(deng)覆蓋層(ceng)(ceng)(ceng)的厚度，也可(ke)以擴展應用到對紙張，薄膜，板材等(deng)的厚度進行間接(jie)測(ce)量。

2、測量方法不同

（1）超聲波測厚儀的測量方法

①單點測量法：在被測體上(shang)任一點，利用(yong)探頭進行測量，顯示值即為厚度值。

②兩點測(ce)(ce)量(liang)(liang)法(fa)：在(zai)(zai)被測(ce)(ce)體的同一點用探頭進(jin)行兩次(ci)(ci)測(ce)(ce)量(liang)(liang)，在(zai)(zai)第二次(ci)(ci)測(ce)(ce)量(liang)(liang)中，探頭的分割面成(cheng) 90°，取兩次(ci)(ci)測(ce)(ce)量(liang)(liang)中的較小值為厚度值。

③多(duo)點測量法：當測量值不穩定時(shi)，以一個測定點為中(zhong)心(xin)，在直(zhi)徑約(yue)為 30mm 的圓(yuan)內進行(xing)多(duo)次測量，取最小值為厚(hou)度值。

④連續測(ce)量(liang)法(fa)：用單點(dian)測(ce)量(liang)法(fa)，沿指(zhi)定線路連續測(ce)量(liang)，其(qi)間隔不小(xiao)于 5mm，取其(qi)中最小(xiao)值為厚度值。

（2）涂層測厚儀的測量方法

①磁性法：主要用于鐵(tie)基涂層，當測(ce)量(liang)(liang)頭與(yu)覆蓋(gai)層接觸時，測(ce)量(liang)(liang)頭和磁性金屬基體構成一閉合磁路，由于非磁性覆蓋(gai)層的存在(zai)，使(shi)磁路磁阻變(bian)化，通(tong)過測(ce)量(liang)(liang)其變(bian)化可導(dao)出覆蓋(gai)層的厚度。

②渦流(liu)法(fa)：主(zhu)要用于非鐵基涂層(ceng)，用利用高頻(pin)交變電(dian)(dian)流(liu)在線(xian)圈中產(chan)生一個(ge)電(dian)(dian)磁場，當測量頭(tou)與覆蓋層(ceng)接(jie)觸時，金屬基體(ti)上產(chan)生電(dian)(dian)渦流(liu)，并對測量頭(tou)中的(de)線(xian)圈產(chan)生反饋作用，通過(guo)測量反饋作用的(de)大小可導出覆蓋層(ceng)的(de)厚度。

3、測量精度不同

超聲波測厚儀的測量精度是0.5-600mm；涂層測厚儀的測量精度是：0-1250um（標配F1/N1探頭）00-10000um（選配F10/N10探頭）。