一、覆層測厚儀和涂層測厚儀的區別在哪

覆層測厚儀是對材料覆蓋層厚度進行測量的儀器，它和涂層測厚儀實際(ji)上(shang)是(shi)(shi)一樣的(de)，是(shi)(shi)兩種不同的(de)稱(cheng)呼而(er)已，如(ru)果非(fei)要(yao)說有(you)(you)什么區別的(de)話(hua)，那(nei)就是(shi)(shi)覆(fu)層測厚儀是(shi)(shi)新研發的(de)新產品，與之前涂層測厚儀相比有(you)(you)以(yi)下主要(yao)優(you)點：

1、測量速度快：測量速度比普通涂層(ceng)測厚儀快6倍。

2、精(jing)度(du)高：產品校準后精(jing)度(du)即(ji)可達到1-2%，比普通的(de)涂層(ceng)測厚儀精(jing)度(du)更高。

3、穩(wen)定(ding)性：測量值的穩(wen)定(ding)性和使(shi)用穩(wen)定(ding)性優(you)于涂(tu)層(ceng)測厚儀。

4、功能、數據、操作、顯示全部是中文。

二、涂層測厚儀和超聲波測厚儀有什么區別

涂(tu)層測厚(hou)儀(yi)和超聲(sheng)波測厚(hou)儀(yi)相(xiang)比(bi)，雖然都是測厚(hou)儀(yi)，但在(zai)以下幾(ji)個方面都存在(zai)區別：

1、測量范圍不同

作為無損檢測(ce)儀器，超聲(sheng)波(bo)測(ce)厚(hou)儀和涂層(ceng)測(ce)厚(hou)儀都有(you)卡尺和千(qian)分尺等測(ce)量儀器達不到的(de)優(you)勢，但是兩(liang)者在(zai)測(ce)量范(fan)圍上還(huan)是有(you)區別(bie)的(de)，涂層(ceng)測(ce)厚(hou)儀主要用來表面覆層(ceng)，而超聲(sheng)波(bo)測(ce)厚(hou)儀側重于壁(bi)厚(hou)和板(ban)厚(hou)的(de)基(ji)材測(ce)量。

超聲波(bo)測(ce)(ce)厚(hou)儀(yi)的具體測(ce)(ce)量(liang)范圍：超聲波(bo)測(ce)(ce)厚(hou)儀(yi)可(ke)以(yi)測(ce)(ce)量(liang)金屬材(cai)質、管(guan)道(dao)、壓(ya)力容(rong)器、板(ban)材(cai)（鋼板(ban)、鋁板(ban)）、塑料(liao)、鐵(tie)管(guan)、PVC管(guan)、玻璃等其他特殊材(cai)料(liao)的厚(hou)度；也可(ke)以(yi)測(ce)(ce)量(liang)工件表面油漆層等帶涂(tu)層的材(cai)料(liao)。

涂層測(ce)厚(hou)儀的具體(ti)測(ce)量范(fan)圍(wei)：主(zhu)要用于(yu)測(ce)量金屬上的涂層，防(fang)腐(fu)層，電鍍層，塑料，油(you)漆(qi)，塑膠，陶(tao)瓷，琺(fa)瑯等覆蓋(gai)層的厚(hou)度，也(ye)可以(yi)擴(kuo)展應用到對紙張(zhang)，薄膜，板材等的厚(hou)度進(jin)行間接(jie)測(ce)量。

2、測量方法不同

（1）超聲波測厚儀的測量方法

①單點測量法：在被測體上任(ren)一(yi)點，利用探頭進行測量，顯示值即為厚度值。

②兩點(dian)測量(liang)法：在(zai)(zai)被(bei)測體的(de)同一點(dian)用探(tan)頭進行(xing)兩次(ci)(ci)測量(liang)，在(zai)(zai)第(di)二(er)次(ci)(ci)測量(liang)中，探(tan)頭的(de)分(fen)割(ge)面成(cheng) 90°，取(qu)兩次(ci)(ci)測量(liang)中的(de)較小值(zhi)為厚(hou)度(du)值(zhi)。

③多點測(ce)(ce)量法：當測(ce)(ce)量值(zhi)不穩(wen)定時，以(yi)一個(ge)測(ce)(ce)定點為中(zhong)心，在直(zhi)徑約為 30mm 的圓(yuan)內進行多次測(ce)(ce)量，取最小(xiao)值(zhi)為厚度值(zhi)。

④連續測量(liang)法：用單點測量(liang)法，沿指定(ding)線(xian)路連續測量(liang)，其間隔不(bu)小于 5mm，取其中最小值為厚(hou)度值。

（2）涂層測厚儀的測量方法

①磁(ci)性(xing)(xing)法(fa)：主要用于(yu)鐵(tie)基涂層(ceng)，當測(ce)量(liang)頭與覆蓋(gai)層(ceng)接(jie)觸時，測(ce)量(liang)頭和磁(ci)性(xing)(xing)金屬基體構成一閉合(he)磁(ci)路，由于(yu)非磁(ci)性(xing)(xing)覆蓋(gai)層(ceng)的(de)存在(zai)，使磁(ci)路磁(ci)阻變化，通(tong)過(guo)測(ce)量(liang)其變化可導(dao)出(chu)覆蓋(gai)層(ceng)的(de)厚度。

②渦流法：主(zhu)要用于(yu)非鐵基涂層，用利(li)用高(gao)頻交變電流在線圈(quan)中產(chan)生一(yi)個電磁場，當測(ce)量頭與覆蓋層接觸時，金屬基體上(shang)產(chan)生電渦流，并對測(ce)量頭中的(de)線圈(quan)產(chan)生反饋(kui)(kui)作用，通過測(ce)量反饋(kui)(kui)作用的(de)大小(xiao)可導出覆蓋層的(de)厚(hou)度。

3、測量精度不同

超聲波測厚儀的測量精度是0.5-600mm；涂層測厚儀的測(ce)量精度(du)是：0-1250um（標(biao)配F1/N1探頭）00-10000um（選配F10/N10探頭）。