一、測厚儀怎么測厚度
測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)厚(hou)(hou)(hou)儀是(shi)一(yi)種測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)厚(hou)(hou)(hou)度(du)(du)的(de)儀器,可以(yi)(yi)用于(yu)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)工(gong)業產品表(biao)(biao)面(mian)(mian)(mian)涂(tu)(tu)(tu)層(ceng)(ceng)(ceng)的(de)厚(hou)(hou)(hou)度(du)(du),以(yi)(yi)保(bao)證(zheng)涂(tu)(tu)(tu)層(ceng)(ceng)(ceng)厚(hou)(hou)(hou)度(du)(du)符合(he)要(yao)求,它的(de)使(shi)用方(fang)(fang)法步驟如下(xia):1、準備:確(que)定(ding)要(yao)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)的(de)涂(tu)(tu)(tu)層(ceng)(ceng)(ceng)種類(lei)和(he)(he)(he)(he)材料(liao)(liao),并檢查(cha)涂(tu)(tu)(tu)層(ceng)(ceng)(ceng)的(de)質量(liang)(liang)(liang)和(he)(he)(he)(he)表(biao)(biao)面(mian)(mian)(mian)是(shi)否干(gan)凈整潔。確(que)保(bao)表(biao)(biao)面(mian)(mian)(mian)沒有任(ren)何灰塵或雜物,否則可能會影(ying)響(xiang)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)結果(guo)(guo)。2、計量(liang)(liang)(liang):根(gen)據(ju)涂(tu)(tu)(tu)層(ceng)(ceng)(ceng)種類(lei)和(he)(he)(he)(he)材料(liao)(liao),選擇相應(ying)的(de)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)方(fang)(fang)式(shi)和(he)(he)(he)(he)計量(liang)(liang)(liang)單(dan)位,確(que)保(bao)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)精度(du)(du)和(he)(he)(he)(he)準確(que)性。3、測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang):將涂(tu)(tu)(tu)層(ceng)(ceng)(ceng)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)厚(hou)(hou)(hou)儀放置(zhi)在需要(yao)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)的(de)表(biao)(biao)面(mian)(mian)(mian)區域上,以(yi)(yi)使(shi)傳感器與涂(tu)(tu)(tu)層(ceng)(ceng)(ceng)表(biao)(biao)面(mian)(mian)(mian)緊(jin)密接觸。按壓(ya)(ya)儀器,觸發測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)裝置(zhi),等待幾秒鐘(zhong),即(ji)可獲(huo)得涂(tu)(tu)(tu)層(ceng)(ceng)(ceng)的(de)厚(hou)(hou)(hou)度(du)(du)數值。涂(tu)(tu)(tu)層(ceng)(ceng)(ceng)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)儀的(de)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)方(fang)(fang)式(shi)有兩(liang)種:(1)單(dan)次(ci)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)方(fang)(fang)式(shi):測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)頭每(mei)接觸被(bei)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)件(jian)(jian) 1 次(ci),隨著一(yi)聲鳴(ming)響(xiang),顯示(shi)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)結果(guo)(guo)。如若再(zai)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang),須提起(qi)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)頭離開(kai)被(bei)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)件(jian)(jian),然后再(zai)壓(ya)(ya)下(xia)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)頭。(2)連續(xu)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)方(fang)(fang)式(shi):不提起(qi)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)頭測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang),測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)過程(cheng)中不伴鳴(ming)響(xiang),顯示(shi)屏連續(xu)顯示(shi)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)結果(guo)(guo)。4、記(ji)錄(lu):將測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)結果(guo)(guo)記(ji)錄(lu)在記(ji)錄(lu)表(biao)(biao)上,包(bao)括(kuo)涂(tu)(tu)(tu)層(ceng)(ceng)(ceng)種類(lei)、材料(liao)(liao)和(he)(he)(he)(he)厚(hou)(hou)(hou)度(du)(du)信息。在處理涂(tu)(tu)(tu)層(ceng)(ceng)(ceng)厚(hou)(hou)(hou)度(du)(du)數據(ju)時,最好進行統計和(he)(he)(he)(he)分析,以(yi)(yi)及繪制相關圖表(biao)(biao)和(he)(he)(he)(he)圖像,以(yi)(yi)便于(yu)觀察涂(tu)(tu)(tu)層(ceng)(ceng)(ceng)厚(hou)(hou)(hou)度(du)(du)變化(hua)的(de)規(gui)律和(he)(he)(he)(he)趨勢(shi)。
二、測厚儀原理有哪些
1、超(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)波原(yuan)(yuan)理:超(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)波在各種(zhong)介(jie)質(zhi)中(zhong)(zhong)的(de)(de)聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)速是(shi)不(bu)同(tong)(tong)(tong)的(de)(de),但在同(tong)(tong)(tong)一介(jie)質(zhi)中(zhong)(zhong)聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)速是(shi)一常數(shu)。超(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)波在介(jie)質(zhi)中(zhong)(zhong)傳播遇到第二(er)種(zhong)介(jie)質(zhi)時會被(bei)反(fan)射(she),測(ce)(ce)(ce)量超(chao)聲(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)波脈沖從發(fa)射(she)至接收的(de)(de)間(jian)(jian)(jian)隔時間(jian)(jian)(jian),即(ji)可(ke)將這間(jian)(jian)(jian)隔時間(jian)(jian)(jian)換算(suan)成厚(hou)度(du)(du)(du)。2、磁(ci)性測(ce)(ce)(ce)厚(hou)原(yuan)(yuan)理:在測(ce)(ce)(ce)定(ding)各種(zhong)導磁(ci)材料的(de)(de)磁(ci)阻(zu)時,測(ce)(ce)(ce)定(ding)值(zhi)(zhi)會因其表面(mian)(mian)(mian)(mian)非導磁(ci)覆(fu)(fu)蓋(gai)層厚(hou)度(du)(du)(du)的(de)(de)不(bu)同(tong)(tong)(tong)而發(fa)生(sheng)(sheng)(sheng)變化(hua)(hua),利(li)用(yong)這種(zhong)變化(hua)(hua)即(ji)可(ke)測(ce)(ce)(ce)知(zhi)覆(fu)(fu)蓋(gai)層厚(hou)度(du)(du)(du)值(zhi)(zhi)。3、渦(wo)流測(ce)(ce)(ce)厚(hou)原(yuan)(yuan)理:當載有高(gao)(gao)頻電流的(de)(de)探(tan)頭(tou)(tou)線(xian)(xian)圈(quan)置于(yu)被(bei)測(ce)(ce)(ce)金屬表面(mian)(mian)(mian)(mian)時,由于(yu)高(gao)(gao)頻磁(ci)場(chang)的(de)(de)作用(yong)而使金屬體內產生(sheng)(sheng)(sheng)渦(wo)流,此渦(wo)流產生(sheng)(sheng)(sheng)的(de)(de)磁(ci)場(chang)又反(fan)作用(yong)于(yu)探(tan)頭(tou)(tou)線(xian)(xian)圈(quan),使其阻(zu)抗(kang)發(fa)生(sheng)(sheng)(sheng)變化(hua)(hua),此變化(hua)(hua)量與探(tan)頭(tou)(tou)線(xian)(xian)圈(quan)離金屬表面(mian)(mian)(mian)(mian)的(de)(de)距離(即(ji)覆(fu)(fu)蓋(gai)層的(de)(de)厚(hou)度(du)(du)(du))有關,因而根據(ju)探(tan)頭(tou)(tou)線(xian)(xian)圈(quan)阻(zu)抗(kang)的(de)(de)變化(hua)(hua)可(ke)間(jian)(jian)(jian)接測(ce)(ce)(ce)量金屬表面(mian)(mian)(mian)(mian)覆(fu)(fu)蓋(gai)層的(de)(de)厚(hou)度(du)(du)(du)。4、同(tong)(tong)(tong)位(wei)素(su)測(ce)(ce)(ce)厚(hou)原(yuan)(yuan)理:利(li)用(yong)物質(zhi)厚(hou)度(du)(du)(du)不(bu)同(tong)(tong)(tong)對輻射(she)的(de)(de)吸收與散射(she)不(bu)同(tong)(tong)(tong)的(de)(de)原(yuan)(yuan)理,可(ke)以測(ce)(ce)(ce)定(ding)薄鋼(gang)板(ban)、薄銅板(ban)、薄鋁板(ban)等材質(zhi)的(de)(de)厚(hou)度(du)(du)(du),常用(yong)的(de)(de)同(tong)(tong)(tong)位(wei)素(su)射(she)線(xian)(xian)有γ射(she)線(xian)(xian)、β射(she)線(xian)(xian)等。5、激(ji)光(guang)測(ce)(ce)(ce)厚(hou)原(yuan)(yuan)理:利(li)用(yong)激(ji)光(guang)的(de)(de)反(fan)射(she)原(yuan)(yuan)理,根據(ju)光(guang)切法測(ce)(ce)(ce)量和觀(guan)察機械制造中(zhong)(zhong)零件加(jia)工表面(mian)(mian)(mian)(mian)的(de)(de)微觀(guan)幾何形狀來測(ce)(ce)(ce)量產品的(de)(de)厚(hou)度(du)(du)(du)。
三、測厚儀的價格是多少
測厚儀作為一種精密儀器,其價格主要受到品牌、型號、原理、精度、測量范圍等多方面因素的影響,從兩三百元一臺到上萬元一臺都有,有些精度高的漆膜測厚儀售價可達幾萬元一臺甚至更高,選購測厚儀時,要根據測量需要來選合適類型的測厚儀,綜合考慮測量范圍、精度和分辨率、適應性和靈活性、用戶友好性、數據記錄和分析功能、可靠性和耐用性以及成本效益等多個方面。如果您需要購買一臺測厚儀,可以先來看看測厚儀十大品牌。
四、測厚儀怎么校準
1、選用與被(bei)測(ce)(ce)物的(de)(de)(de)(de)(de)材料、聲(sheng)(sheng)速及曲率一(yi)(yi)樣的(de)(de)(de)(de)(de)兩個標(biao)準(zhun)(zhun)(zhun)(zhun)試塊,其中(zhong)一(yi)(yi)個試塊的(de)(de)(de)(de)(de)厚(hou)(hou)(hou)(hou)度(du)等于或略高于測(ce)(ce)量(liang)(liang)范圍的(de)(de)(de)(de)(de)上(shang)(shang)限,另一(yi)(yi)個試塊的(de)(de)(de)(de)(de)厚(hou)(hou)(hou)(hou)度(du)盡(jin)能夠接近(jin)測(ce)(ce)量(liang)(liang)范圍的(de)(de)(de)(de)(de)下(xia)(xia)限,實(shi)行(xing)二點(dian)校(xiao)(xiao)準(zhun)(zhun)(zhun)(zhun)可(ke)以(yi)提升測(ce)(ce)量(liang)(liang)精度(du)。2、超聲(sheng)(sheng)波測(ce)(ce)厚(hou)(hou)(hou)(hou)儀(yi)實(shi)行(xing)兩點(dian)校(xiao)(xiao)準(zhun)(zhun)(zhun)(zhun)之前應先關掉最小值(zhi)捕獲功能,并一(yi)(yi)定要刪除以(yi)前的(de)(de)(de)(de)(de)校(xiao)(xiao)準(zhun)(zhun)(zhun)(zhun)數據(ju),操作如下(xia)(xia):選用功能菜單存儲(chu)管制中(zhong)的(de)(de)(de)(de)(de)刪除校(xiao)(xiao)準(zhun)(zhun)(zhun)(zhun)數據(ju),然后將兩點(dian)校(xiao)(xiao)準(zhun)(zhun)(zhun)(zhun)功能打開。3、關上(shang)(shang)兩點(dian)校(xiao)(xiao)準(zhun)(zhun)(zhun)(zhun)功能,按(an)(an)(an)鍵(jian)返回(hui)到(dao)主顯示(shi)界面,超聲(sheng)(sheng)波測(ce)(ce)厚(hou)(hou)(hou)(hou)儀(yi)在測(ce)(ce)量(liang)(liang)厚(hou)(hou)(hou)(hou)度(du)的(de)(de)(de)(de)(de)情(qing)況下(xia)(xia)按(an)(an)(an)進(jin)入兩點(dian)校(xiao)(xiao)準(zhun)(zhun)(zhun)(zhun)方式,屏幕提示(shi)校(xiao)(xiao)準(zhun)(zhun)(zhun)(zhun)薄片(pian)(pian)ThinCalibration。4、測(ce)(ce)量(liang)(liang)薄片(pian)(pian),調整(zheng)(zheng)測(ce)(ce)量(liang)(liang)值(zhi)到(dao)標(biao)準(zhun)(zhun)(zhun)(zhun)值(zhi),而后按(an)(an)(an)鍵(jian)屏幕提示(shi)校(xiao)(xiao)準(zhun)(zhun)(zhun)(zhun)厚(hou)(hou)(hou)(hou)片(pian)(pian)ThickCalibration。5、測(ce)(ce)量(liang)(liang)厚(hou)(hou)(hou)(hou)片(pian)(pian),調整(zheng)(zheng)測(ce)(ce)量(liang)(liang)值(zhi)到(dao)規(gui)范值(zhi),超聲(sheng)(sheng)波測(ce)(ce)厚(hou)(hou)(hou)(hou)儀(yi)按(an)(an)(an)鍵(jian)兩點(dian)校(xiao)(xiao)準(zhun)(zhun)(zhun)(zhun)好了,即可(ke)實(shi)行(xing)測(ce)(ce)量(liang)(liang)狀態(tai)。