測(ce)試(shi)項目主要包括電磁(ci)兼容試(shi)驗(yan)、環境試(shi)驗(yan)、IC卡(ka)解鎖試(shi)驗(yan)、指紋解鎖試(shi)驗(yan)、密碼邏輯安全性和電路非正常(chang)試(shi)驗(yan)。

在此次試(shi)驗中，有14款(kuan)智能門鎖樣品(pin)宣稱(cheng)采(cai)用活體指(zhi)紋檢(jian)測(ce)技(ji)術，對假指(zhi)紋可以進(jin)行防護，但檢(jian)測(ce)人員(yuan)使用假指(zhi)紋進(jin)行試(shi)驗時，均被輕易解鎖。涉及標稱(cheng)“固(gu)特”、“金點原子”、“凱迪仕”等(deng)多個(ge)品(pin)牌的(de)樣品(pin)。

本次試驗(yan)的(de)樣(yang)品中，有26款為IC卡解鎖。試驗(yan)結果顯示，有24款樣(yang)品的(de)IC卡可(ke)被破解、復制。

密碼設置是智能(neng)門鎖的主(zhu)要功(gong)能(neng)之(zhi)一，此(ci)次(ci)(ci)比較(jiao)試驗從虛位密碼長度(du)、密碼有效(xiao)長度(du)、允許輸入錯誤密碼次(ci)(ci)數和鎖屏時間四個方面對樣品進(jin)行了橫向比較(jiao)。

專家介紹，智能門鎖的(de)密(mi)碼設置(zhi)存在以下問題：一是(shi)密(mi)碼長度過短，有的(de)只有四(si)位；二是(shi)允許輸(shu)入錯誤(wu)密(mi)碼次(ci)數過多，有的(de)高(gao)達(da)20次(ci)。

專家強調，所有(you)電子(zi)產品(pin)都需要考慮在(zai)故障條件下產品(pin)的(de)功能(neng)可(ke)靠性，單一故障不能(neng)造(zao)成核心(xin)功能(neng)的(de)喪(sang)失(shi)。

在(zai)此次試(shi)驗中，檢(jian)測人員針(zhen)對38款智(zhi)能(neng)門(men)鎖施加(jia)了單一故障(zhang)，有30款智(zhi)能(neng)門(men)鎖樣(yang)品(pin)在(zai)單一故障(zhang)條(tiao)件下出(chu)現解鎖異常或(huo)上鎖異常的情況，只有8款智(zhi)能(neng)門(men)鎖樣(yang)品(pin)在(zai)此條(tiao)件下不(bu)受影響。

當檢測人員(yuan)完成所有(you)單項(xiang)檢測，對數據進行(xing)匯總分析時，發現了一個(ge)讓(rang)人擔憂的事實：沒(mei)有(you)任何一款智能(neng)門(men)鎖通過(guo)所有(you)項(xiang)目檢測。

檢測結(jie)果(guo)顯示，38款(kuan)智能門(men)鎖樣品(pin)均存在或(huo)(huo)多或(huo)(huo)少的安全(quan)風險；超一半(ban)樣品(pin)存在三項(xiang)或(huo)(huo)三項(xiang)以上(shang)安全(quan)風險；有8款(kuan)智能門(men)鎖樣品(pin)存在四項(xiang)或(huo)(huo)四項(xiang)以上(shang)的安全(quan)風險。