測試(shi)(shi)項目主(zhu)要包括電磁兼(jian)容試(shi)(shi)驗(yan)、環境(jing)試(shi)(shi)驗(yan)、IC卡解鎖試(shi)(shi)驗(yan)、指紋(wen)解鎖試(shi)(shi)驗(yan)、密(mi)碼邏輯安全性和電路(lu)非正常試(shi)(shi)驗(yan)。

在此(ci)次試(shi)驗中，有14款智能門鎖(suo)樣品(pin)宣稱(cheng)采用活(huo)體指紋檢測技術(shu)，對假指紋可以進行防(fang)護，但檢測人(ren)員使(shi)用假指紋進行試(shi)驗時，均被輕易(yi)解鎖(suo)。涉及標稱(cheng)“固(gu)特”、“金(jin)點原子”、“凱迪仕”等多個(ge)品(pin)牌的(de)樣品(pin)。

本次試(shi)驗(yan)的(de)樣品中(zhong)，有26款(kuan)為IC卡解鎖。試(shi)驗(yan)結(jie)果顯示，有24款(kuan)樣品的(de)IC卡可被破解、復制。

密(mi)碼(ma)設(she)置是智能(neng)門鎖(suo)的主要(yao)功能(neng)之一，此次比(bi)較試驗從虛位密(mi)碼(ma)長(chang)度、密(mi)碼(ma)有(you)效長(chang)度、允許輸入錯(cuo)誤密(mi)碼(ma)次數和鎖(suo)屏時間四(si)個方(fang)面對(dui)樣品進行了(le)橫向比(bi)較。

專家介紹，智能門鎖的(de)密(mi)碼設置(zhi)存在(zai)以(yi)下問(wen)題(ti)：一是(shi)密(mi)碼長度過短，有的(de)只有四位；二是(shi)允(yun)許輸入錯誤(wu)密(mi)碼次(ci)數過多，有的(de)高達20次(ci)。

專家(jia)強調，所有(you)電(dian)子產品都需要考慮在故障(zhang)條件(jian)下產品的功能可靠(kao)性，單(dan)一故障(zhang)不能造成(cheng)核心功能的喪(sang)失。

在此次試驗中，檢(jian)測人員針對(dui)38款(kuan)智(zhi)能(neng)門鎖(suo)(suo)施加了單一故障，有(you)30款(kuan)智(zhi)能(neng)門鎖(suo)(suo)樣品在單一故障條(tiao)件下出(chu)現(xian)解鎖(suo)(suo)異常或上鎖(suo)(suo)異常的情況，只有(you)8款(kuan)智(zhi)能(neng)門鎖(suo)(suo)樣品在此條(tiao)件下不受影(ying)響。

當檢測人(ren)員(yuan)完(wan)成(cheng)所有單項(xiang)檢測，對(dui)數據(ju)進行(xing)匯(hui)總(zong)分析時，發(fa)現(xian)了一(yi)個讓人(ren)擔(dan)憂的事實：沒有任何一(yi)款智(zhi)能門鎖通過所有項(xiang)目檢測。

檢測(ce)結果顯(xian)示，38款智能門鎖樣(yang)品均存在或(huo)多或(huo)少的安全(quan)風險(xian)；超一半樣(yang)品存在三項(xiang)或(huo)三項(xiang)以上安全(quan)風險(xian)；有8款智能門鎖樣(yang)品存在四項(xiang)或(huo)四項(xiang)以上的安全(quan)風險(xian)。