測試項目主要(yao)包括電磁兼容試驗(yan)、環境試驗(yan)、IC卡解鎖(suo)試驗(yan)、指紋解鎖(suo)試驗(yan)、密碼邏輯(ji)安全性(xing)和電路非正常試驗(yan)。

在此次(ci)試驗中，有14款(kuan)智能門鎖樣品(pin)宣(xuan)稱采用活(huo)體指(zhi)紋檢測(ce)技術，對假(jia)指(zhi)紋可以進行(xing)防護，但(dan)檢測(ce)人員(yuan)使用假(jia)指(zhi)紋進行(xing)試驗時(shi)，均被輕易解鎖。涉(she)及標稱“固特(te)”、“金點原子”、“凱迪(di)仕”等(deng)多個(ge)品(pin)牌的樣品(pin)。

本次(ci)試驗的樣(yang)品中，有26款為IC卡解鎖。試驗結果顯示(shi)，有24款樣(yang)品的IC卡可被破解、復制。

密(mi)(mi)碼(ma)(ma)(ma)設(she)置是智能(neng)門鎖(suo)(suo)的主要功能(neng)之(zhi)一(yi)，此次(ci)比(bi)(bi)較(jiao)(jiao)試(shi)驗從(cong)虛位(wei)密(mi)(mi)碼(ma)(ma)(ma)長度(du)、密(mi)(mi)碼(ma)(ma)(ma)有(you)效長度(du)、允許輸入錯(cuo)誤密(mi)(mi)碼(ma)(ma)(ma)次(ci)數和鎖(suo)(suo)屏時間四(si)個方面對樣品(pin)進行(xing)了橫向比(bi)(bi)較(jiao)(jiao)。

專家介紹(shao)，智(zhi)能門鎖的(de)密(mi)碼設置存(cun)在以下(xia)問題：一是(shi)密(mi)碼長(chang)度過短，有(you)的(de)只(zhi)有(you)四位(wei)；二(er)是(shi)允(yun)許輸(shu)入錯誤密(mi)碼次數過多，有(you)的(de)高達20次。

專(zhuan)家強調，所有電(dian)子產品都需要考(kao)慮在故障條(tiao)件下產品的(de)功能可靠性，單一故障不(bu)能造成核心功能的(de)喪失。

在(zai)(zai)此次試驗(yan)中，檢(jian)測人員針對38款(kuan)智(zhi)能門(men)鎖(suo)施加(jia)了(le)單一故(gu)障，有(you)30款(kuan)智(zhi)能門(men)鎖(suo)樣(yang)品在(zai)(zai)單一故(gu)障條(tiao)件下出現(xian)解鎖(suo)異常(chang)或上鎖(suo)異常(chang)的(de)情(qing)況，只有(you)8款(kuan)智(zhi)能門(men)鎖(suo)樣(yang)品在(zai)(zai)此條(tiao)件下不受影響(xiang)。

當檢(jian)(jian)測(ce)人員完成所(suo)有單項檢(jian)(jian)測(ce)，對(dui)數據進(jin)行匯總分析(xi)時，發現了一個讓人擔憂的(de)事實：沒有任何一款智能門鎖通過所(suo)有項目檢(jian)(jian)測(ce)。

檢測結果顯示，38款(kuan)智(zhi)能門鎖樣品均存在或(huo)多或(huo)少的安全(quan)(quan)風險；超(chao)一半樣品存在三項或(huo)三項以上安全(quan)(quan)風險；有8款(kuan)智(zhi)能門鎖樣品存在四項或(huo)四項以上的安全(quan)(quan)風險。