測試項目主要(yao)包括電(dian)磁兼容試驗、環境(jing)試驗、IC卡(ka)解鎖試驗、指紋解鎖試驗、密碼邏輯安全性和電(dian)路(lu)非正常試驗。

在此次試驗(yan)(yan)中，有14款(kuan)智能門鎖樣(yang)品宣稱(cheng)(cheng)采(cai)用活(huo)體(ti)指(zhi)紋檢(jian)(jian)測技術，對假指(zhi)紋可以進行防護，但檢(jian)(jian)測人員使(shi)用假指(zhi)紋進行試驗(yan)(yan)時，均被(bei)輕(qing)易解(jie)鎖。涉及標(biao)稱(cheng)(cheng)“固特”、“金點(dian)原(yuan)子”、“凱迪仕”等多個品牌的樣(yang)品。

本(ben)次試驗的(de)樣品中，有(you)26款(kuan)為IC卡解(jie)鎖。試驗結果顯示，有(you)24款(kuan)樣品的(de)IC卡可被破解(jie)、復(fu)制。

密碼設置是智能(neng)門鎖(suo)的主要功能(neng)之一，此(ci)次比較試(shi)驗從虛位密碼長(chang)度(du)、密碼有效長(chang)度(du)、允許輸入錯誤密碼次數和鎖(suo)屏時(shi)間四個方面對樣(yang)品(pin)進行(xing)了橫向比較。

專(zhuan)家(jia)介紹，智能門(men)鎖(suo)的(de)(de)密(mi)碼設置存(cun)在以(yi)下問題(ti)：一(yi)是(shi)密(mi)碼長度過(guo)短(duan)，有(you)的(de)(de)只有(you)四位(wei)；二是(shi)允(yun)許輸(shu)入錯誤密(mi)碼次數(shu)過(guo)多，有(you)的(de)(de)高達20次。

專家強調(diao)，所有電子產品(pin)都(dou)需要考慮在故(gu)障條件下(xia)產品(pin)的功能(neng)可靠性(xing)，單(dan)一故(gu)障不能(neng)造成核心功能(neng)的喪失。

在(zai)此次(ci)試驗中(zhong)，檢測人(ren)員(yuan)針對(dui)38款(kuan)智(zhi)能門(men)鎖施(shi)加了(le)單(dan)一(yi)故障(zhang)(zhang)，有30款(kuan)智(zhi)能門(men)鎖樣品在(zai)單(dan)一(yi)故障(zhang)(zhang)條件下(xia)出現(xian)解鎖異常或上鎖異常的情況，只有8款(kuan)智(zhi)能門(men)鎖樣品在(zai)此條件下(xia)不(bu)受(shou)影(ying)響。

當檢測(ce)人員(yuan)完成(cheng)所(suo)有單(dan)項(xiang)檢測(ce)，對(dui)數據進(jin)行匯總分(fen)析時，發(fa)現了一(yi)個讓(rang)人擔憂的事實：沒(mei)有任何一(yi)款智能門鎖(suo)通過所(suo)有項(xiang)目檢測(ce)。

檢(jian)測結果顯示，38款(kuan)智能(neng)門(men)鎖樣品均(jun)存(cun)在(zai)或(huo)多或(huo)少的安(an)全風險(xian)；超(chao)一半樣品存(cun)在(zai)三(san)項(xiang)或(huo)三(san)項(xiang)以(yi)上安(an)全風險(xian)；有8款(kuan)智能(neng)門(men)鎖樣品存(cun)在(zai)四(si)項(xiang)或(huo)四(si)項(xiang)以(yi)上的安(an)全風險(xian)。