測(ce)試(shi)項目(mu)主(zhu)要包括(kuo)電磁(ci)兼容試(shi)驗(yan)、環境試(shi)驗(yan)、IC卡解鎖試(shi)驗(yan)、指紋解鎖試(shi)驗(yan)、密(mi)碼邏輯安全性和電路(lu)非正常試(shi)驗(yan)。

在此次試(shi)驗(yan)中，有14款智能門鎖樣品(pin)宣稱采用(yong)活體指(zhi)(zhi)紋(wen)(wen)檢(jian)測技(ji)術，對(dui)假指(zhi)(zhi)紋(wen)(wen)可以進行(xing)防護，但檢(jian)測人(ren)員使用(yong)假指(zhi)(zhi)紋(wen)(wen)進行(xing)試(shi)驗(yan)時，均被輕易解鎖。涉及(ji)標稱“固特”、“金點原子”、“凱迪(di)仕(shi)”等(deng)多個(ge)品(pin)牌(pai)的(de)樣品(pin)。

本次試(shi)驗(yan)的樣品中，有26款為(wei)IC卡(ka)解鎖。試(shi)驗(yan)結果顯(xian)示，有24款樣品的IC卡(ka)可被破解、復制。

密碼(ma)設(she)置(zhi)是智能門(men)鎖的主要功能之一，此次(ci)比較(jiao)試驗從(cong)虛(xu)位(wei)密碼(ma)長度、密碼(ma)有效(xiao)長度、允許輸(shu)入(ru)錯誤密碼(ma)次(ci)數和(he)鎖屏時間四個方(fang)面對樣品進行了橫向比較(jiao)。

專家(jia)介紹，智能門(men)鎖的(de)(de)密碼設置(zhi)存在以下問題：一是密碼長度過短，有(you)(you)的(de)(de)只有(you)(you)四位(wei)；二是允許輸入錯誤密碼次數(shu)過多，有(you)(you)的(de)(de)高達20次。

專家強調，所有電子產品(pin)都(dou)需要考慮在故障條件下產品(pin)的(de)功(gong)能(neng)可靠性，單一故障不能(neng)造成核(he)心功(gong)能(neng)的(de)喪失。

在(zai)(zai)此次試驗中(zhong)，檢測人員針對38款(kuan)智(zhi)能門(men)鎖(suo)(suo)(suo)施加了單(dan)一故(gu)障，有30款(kuan)智(zhi)能門(men)鎖(suo)(suo)(suo)樣品(pin)在(zai)(zai)單(dan)一故(gu)障條(tiao)件下(xia)出現解鎖(suo)(suo)(suo)異常或上鎖(suo)(suo)(suo)異常的情況，只有8款(kuan)智(zhi)能門(men)鎖(suo)(suo)(suo)樣品(pin)在(zai)(zai)此條(tiao)件下(xia)不受影響。

當(dang)檢(jian)測人員完成所有(you)單項檢(jian)測，對數據進行匯總分析(xi)時，發現了一個讓人擔憂的事(shi)實：沒有(you)任(ren)何(he)一款智能門鎖通(tong)過(guo)所有(you)項目檢(jian)測。

檢測結(jie)果顯示，38款(kuan)智能門鎖(suo)樣(yang)品均(jun)存在或(huo)多(duo)或(huo)少的(de)(de)安(an)全風險(xian)；超一(yi)半(ban)樣(yang)品存在三項(xiang)(xiang)或(huo)三項(xiang)(xiang)以上安(an)全風險(xian)；有8款(kuan)智能門鎖(suo)樣(yang)品存在四項(xiang)(xiang)或(huo)四項(xiang)(xiang)以上的(de)(de)安(an)全風險(xian)。