評(ping)價內存條(tiao)的性(xing)能(neng)指標一共有四(si)個:
(1) 存(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)儲(chu)(chu)(chu)(chu)容(rong)量:即一(yi)根內(nei)(nei)存(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)條可(ke)(ke)以(yi)容(rong)納的二進制信(xin)息(xi)量,如常用(yong)的168線內(nei)(nei)存(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)條的存(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)儲(chu)(chu)(chu)(chu)容(rong)量一(yi)般多為32兆(zhao)、64兆(zhao)和128兆(zhao)。而DDRII3普遍(bian)為1GB到8GB。 (2) 存(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)取速度(存(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)儲(chu)(chu)(chu)(chu)周(zhou)期(qi)):即兩次獨立的存(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)取操作之間所需的最短時(shi)(shi)(shi)間,又稱為存(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)儲(chu)(chu)(chu)(chu)周(zhou)期(qi),半導體存(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)儲(chu)(chu)(chu)(chu)器(qi)的存(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)取周(zhou)期(qi)一(yi)般為60納秒至100納秒。 (3) 存(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)儲(chu)(chu)(chu)(chu)器(qi)的可(ke)(ke)靠性(xing)(xing):存(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)儲(chu)(chu)(chu)(chu)器(qi)的可(ke)(ke)靠性(xing)(xing)用(yong)平均(jun)故障(zhang)間隔(ge)時(shi)(shi)(shi)間來衡量,可(ke)(ke)以(yi)理解為兩次故障(zhang)之間的平均(jun)時(shi)(shi)(shi)間間隔(ge)。 (4)性(xing)(xing)能價格(ge)比:性(xing)(xing)能主要包括存(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)儲(chu)(chu)(chu)(chu)器(qi)容(rong)量、存(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)儲(chu)(chu)(chu)(chu)周(zhou)期(qi)和可(ke)(ke)靠性(xing)(xing)三項內(nei)(nei)容(rong),性(xing)(xing)能價格(ge)比是(shi)一(yi)個(ge)綜合性(xing)(xing)指標(biao),對于不同的存(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)儲(chu)(chu)(chu)(chu)器(qi)有不同的要求(qiu)。