評價內存(cun)條的性能(neng)指標一(yi)共有(you)四個:
(1) 存(cun)(cun)(cun)儲(chu)(chu)(chu)容量(liang):即(ji)一(yi)根(gen)內(nei)存(cun)(cun)(cun)條可(ke)以容納(na)的(de)二進制信(xin)息量(liang),如常用的(de)168線(xian)內(nei)存(cun)(cun)(cun)條的(de)存(cun)(cun)(cun)儲(chu)(chu)(chu)容量(liang)一(yi)般多為(wei)32兆、64兆和(he)128兆。而DDRII3普(pu)遍為(wei)1GB到8GB。 (2) 存(cun)(cun)(cun)取(qu)速(su)度(存(cun)(cun)(cun)儲(chu)(chu)(chu)周(zhou)(zhou)期(qi)(qi)):即(ji)兩次獨立(li)的(de)存(cun)(cun)(cun)取(qu)操作(zuo)之間(jian)所(suo)需的(de)最短時(shi)間(jian),又稱為(wei)存(cun)(cun)(cun)儲(chu)(chu)(chu)周(zhou)(zhou)期(qi)(qi),半導體存(cun)(cun)(cun)儲(chu)(chu)(chu)器(qi)的(de)存(cun)(cun)(cun)取(qu)周(zhou)(zhou)期(qi)(qi)一(yi)般為(wei)60納(na)秒至100納(na)秒。 (3) 存(cun)(cun)(cun)儲(chu)(chu)(chu)器(qi)的(de)可(ke)靠(kao)性:存(cun)(cun)(cun)儲(chu)(chu)(chu)器(qi)的(de)可(ke)靠(kao)性用平均(jun)故障(zhang)間(jian)隔時(shi)間(jian)來衡量(liang),可(ke)以理解為(wei)兩次故障(zhang)之間(jian)的(de)平均(jun)時(shi)間(jian)間(jian)隔。 (4)性能價(jia)格(ge)比(bi):性能主要(yao)包括存(cun)(cun)(cun)儲(chu)(chu)(chu)器(qi)容量(liang)、存(cun)(cun)(cun)儲(chu)(chu)(chu)周(zhou)(zhou)期(qi)(qi)和(he)可(ke)靠(kao)性三項內(nei)容,性能價(jia)格(ge)比(bi)是一(yi)個綜合(he)性指標(biao),對于不同的(de)存(cun)(cun)(cun)儲(chu)(chu)(chu)器(qi)有(you)不同的(de)要(yao)求。