評價內存條的(de)性能指標一共(gong)有四個(ge):
(1) 存(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)儲(chu)(chu)容(rong)(rong)量(liang):即一(yi)根內(nei)存(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)條可(ke)(ke)以容(rong)(rong)納(na)的(de)(de)二進制(zhi)信息量(liang),如常用的(de)(de)168線內(nei)存(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)條的(de)(de)存(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)儲(chu)(chu)容(rong)(rong)量(liang)一(yi)般多為32兆(zhao)、64兆(zhao)和128兆(zhao)。而DDRII3普遍為1GB到8GB。 (2) 存(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)取速(su)度(存(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)儲(chu)(chu)周(zhou)期):即兩次(ci)獨立(li)的(de)(de)存(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)取操作之間(jian)(jian)所需的(de)(de)最短(duan)時(shi)間(jian)(jian),又(you)稱為存(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)儲(chu)(chu)周(zhou)期,半導體存(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)儲(chu)(chu)器的(de)(de)存(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)取周(zhou)期一(yi)般為60納(na)秒至100納(na)秒。 (3) 存(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)儲(chu)(chu)器的(de)(de)可(ke)(ke)靠性:存(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)儲(chu)(chu)器的(de)(de)可(ke)(ke)靠性用平均故障間(jian)(jian)隔時(shi)間(jian)(jian)來(lai)衡量(liang),可(ke)(ke)以理解為兩次(ci)故障之間(jian)(jian)的(de)(de)平均時(shi)間(jian)(jian)間(jian)(jian)隔。 (4)性能價(jia)格(ge)比(bi):性能主要包括(kuo)存(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)儲(chu)(chu)器容(rong)(rong)量(liang)、存(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)儲(chu)(chu)周(zhou)期和可(ke)(ke)靠性三項內(nei)容(rong)(rong),性能價(jia)格(ge)比(bi)是(shi)一(yi)個(ge)綜合性指標(biao),對于不同(tong)的(de)(de)存(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)儲(chu)(chu)器有不同(tong)的(de)(de)要求。