評價內存條的(de)性能指(zhi)標(biao)一共有(you)四個:
(1) 存(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)儲(chu)(chu)容(rong)量(liang):即(ji)一(yi)根內存(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)條可以(yi)容(rong)納(na)的(de)(de)(de)(de)二進制(zhi)信(xin)息量(liang),如常用的(de)(de)(de)(de)168線內存(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)條的(de)(de)(de)(de)存(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)儲(chu)(chu)容(rong)量(liang)一(yi)般多為(wei)32兆、64兆和128兆。而(er)DDRII3普(pu)遍為(wei)1GB到8GB。 (2) 存(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)取速度(存(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)儲(chu)(chu)周(zhou)期):即(ji)兩次獨立(li)的(de)(de)(de)(de)存(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)取操(cao)作之間(jian)(jian)(jian)所需(xu)的(de)(de)(de)(de)最短時間(jian)(jian)(jian),又稱為(wei)存(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)儲(chu)(chu)周(zhou)期,半導體(ti)存(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)儲(chu)(chu)器(qi)的(de)(de)(de)(de)存(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)取周(zhou)期一(yi)般為(wei)60納(na)秒至100納(na)秒。 (3) 存(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)儲(chu)(chu)器(qi)的(de)(de)(de)(de)可靠(kao)(kao)性:存(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)儲(chu)(chu)器(qi)的(de)(de)(de)(de)可靠(kao)(kao)性用平均故障(zhang)間(jian)(jian)(jian)隔時間(jian)(jian)(jian)來衡量(liang),可以(yi)理(li)解(jie)為(wei)兩次故障(zhang)之間(jian)(jian)(jian)的(de)(de)(de)(de)平均時間(jian)(jian)(jian)間(jian)(jian)(jian)隔。 (4)性能(neng)價格(ge)(ge)比:性能(neng)主要包括存(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)儲(chu)(chu)器(qi)容(rong)量(liang)、存(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)儲(chu)(chu)周(zhou)期和可靠(kao)(kao)性三項內容(rong),性能(neng)價格(ge)(ge)比是一(yi)個綜合性指標,對于不同的(de)(de)(de)(de)存(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)儲(chu)(chu)器(qi)有(you)不同的(de)(de)(de)(de)要求。