評價內存條的性能(neng)指標(biao)一共有四個(ge):
(1) 存(cun)儲(chu)(chu)容(rong)量:即一根內存(cun)條可以(yi)(yi)容(rong)納的(de)二進制信(xin)息量,如常用(yong)(yong)的(de)168線內存(cun)條的(de)存(cun)儲(chu)(chu)容(rong)量一般多為32兆、64兆和128兆。而(er)DDRII3普遍為1GB到(dao)8GB。 (2) 存(cun)取速度(存(cun)儲(chu)(chu)周期(qi)):即兩(liang)次(ci)獨立的(de)存(cun)取操作之間(jian)(jian)所(suo)需的(de)最短時間(jian)(jian),又稱為存(cun)儲(chu)(chu)周期(qi),半導體存(cun)儲(chu)(chu)器(qi)(qi)(qi)的(de)存(cun)取周期(qi)一般為60納秒(miao)至100納秒(miao)。 (3) 存(cun)儲(chu)(chu)器(qi)(qi)(qi)的(de)可靠(kao)性(xing):存(cun)儲(chu)(chu)器(qi)(qi)(qi)的(de)可靠(kao)性(xing)用(yong)(yong)平均故障間(jian)(jian)隔時間(jian)(jian)來衡量,可以(yi)(yi)理解為兩(liang)次(ci)故障之間(jian)(jian)的(de)平均時間(jian)(jian)間(jian)(jian)隔。 (4)性(xing)能價(jia)格(ge)(ge)比:性(xing)能主要包括存(cun)儲(chu)(chu)器(qi)(qi)(qi)容(rong)量、存(cun)儲(chu)(chu)周期(qi)和可靠(kao)性(xing)三(san)項內容(rong),性(xing)能價(jia)格(ge)(ge)比是一個(ge)綜(zong)合性(xing)指標,對于不同(tong)的(de)存(cun)儲(chu)(chu)器(qi)(qi)(qi)有不同(tong)的(de)要求(qiu)。