電路板檢測方法有哪些

1、針床測試法

這種方法由帶有彈簧的探針連接到電路板上的(de)每(mei)一個(ge)檢測(ce)(ce)點(dian)。彈簧使(shi)每(mei)個(ge)探針(zhen)具(ju)有100-200g的(de)壓力，以保證每(mei)個(ge)檢測(ce)(ce)點(dian)接觸良(liang)好，這(zhe)樣的(de)探針(zhen)排列在一起被稱為"針(zhen)床(chuang)"。在檢測(ce)(ce)軟件的(de)控制下，可(ke)以對檢測(ce)(ce)點(dian)和檢測(ce)(ce)信號進(jin)行(xing)(xing)編(bian)程。實際上只(zhi)有那些需要測(ce)(ce)試的(de)測(ce)(ce)試點(dian)的(de)探針(zhen)是(shi)安裝(zhuang)了的(de)。盡管(guan)使(shi)用(yong)針(zhen)床(chuang)測(ce)(ce)試法可(ke)能同(tong)時在電(dian)(dian)路板(ban)的(de)兩面進(jin)行(xing)(xing)檢測(ce)(ce)，當設計電(dian)(dian)路板(ban)時，還是(shi)應(ying)該使(shi)所(suo)有的(de)檢測(ce)(ce)點(dian)在電(dian)(dian)路板(ban)的(de)焊接面。針(zhen)床(chuang)測(ce)(ce)試儀(yi)設備昂貴(gui)，且很難維修。針(zhen)頭依據其具(ju)體應(ying)用(yong)選不同(tong)排列的(de)探針(zhen)。

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一(yi)種基本(ben)的(de)(de)(de)通(tong)用(yong)柵格(ge)處理(li)器由(you)一(yi)個(ge)(ge)鉆孔(kong)的(de)(de)(de)板(ban)(ban)(ban)子構成，其上(shang)插(cha)針(zhen)的(de)(de)(de)中心(xin)間距(ju)為(wei)100、75或(huo)50mil。插(cha)針(zhen)起探(tan)針(zhen)的(de)(de)(de)作用(yong)，并利用(yong)電(dian)(dian)路(lu)(lu)板(ban)(ban)(ban)上(shang)的(de)(de)(de)電(dian)(dian)連(lian)(lian)接器或(huo)節點(dian)進(jin)(jin)行(xing)直接的(de)(de)(de)機械連(lian)(lian)接。如果電(dian)(dian)路(lu)(lu)板(ban)(ban)(ban)上(shang)的(de)(de)(de)焊盤(pan)與測(ce)(ce)試柵格(ge)相配，那么按照規范打孔(kong)的(de)(de)(de)聚醋薄膜(mo)就(jiu)會被(bei)放(fang)置在柵格(ge)和電(dian)(dian)路(lu)(lu)板(ban)(ban)(ban)之(zhi)間，以便于設(she)計特定的(de)(de)(de)探(tan)測(ce)(ce)。連(lian)(lian)續性(xing)檢測(ce)(ce)是通(tong)過訪問(wen)網(wang)(wang)格(ge)的(de)(de)(de)末端(duan)點(dian)（已被(bei)定義為(wei)焊盤(pan)的(de)(de)(de)x-y坐標）實現的(de)(de)(de)。既然(ran)電(dian)(dian)路(lu)(lu)板(ban)(ban)(ban)上(shang)的(de)(de)(de)每一(yi)個(ge)(ge)網(wang)(wang)絡都(dou)進(jin)(jin)行(xing)連(lian)(lian)續性(xing)檢測(ce)(ce)。這樣，一(yi)個(ge)(ge)獨立的(de)(de)(de)檢測(ce)(ce)就(jiu)完成了(le)。然(ran)而，探(tan)針(zhen)的(de)(de)(de)接近程度限(xian)制了(le)針(zhen)床測(ce)(ce)試法的(de)(de)(de)效能。

2、電路板的觀測

電路(lu)(lu)板(ban)(ban)體積小，結(jie)構(gou)復雜，因(yin)此對電路(lu)(lu)板(ban)(ban)的(de)(de)(de)觀(guan)察也(ye)必須用(yong)(yong)到(dao)專業的(de)(de)(de)觀(guan)測(ce)儀器。一般的(de)(de)(de)，我(wo)們采(cai)用(yong)(yong)便(bian)攜(xie)式(shi)(shi)視頻(pin)顯微鏡(jing)(jing)來觀(guan)察電路(lu)(lu)板(ban)(ban)的(de)(de)(de)結(jie)構(gou)，通過(guo)視頻(pin)顯微攝像頭，可以清晰從顯微鏡(jing)(jing)看到(dao)非(fei)常直觀(guan)的(de)(de)(de)電路(lu)(lu)板(ban)(ban)的(de)(de)(de)顯微結(jie)構(gou)。通過(guo)這種方式(shi)(shi)，我(wo)們就比較(jiao)容易(yi)進行電路(lu)(lu)板(ban)(ban)的(de)(de)(de)設計和(he)檢(jian)(jian)測(ce)了。現(xian)工廠現(xian)場采(cai)用(yong)(yong)的(de)(de)(de)便(bian)攜(xie)式(shi)(shi)視頻(pin)顯微鏡(jing)(jing)，采(cai)用(yong)(yong)的(de)(de)(de)便(bian)攜(xie)式(shi)(shi)視頻(pin)顯微鏡(jing)(jing)MSA200、VT101，因(yin)它可實(shi)現(xian)“隨(sui)時(shi)觀(guan)測(ce)、隨(sui)時(shi)檢(jian)(jian)測(ce)、多人(ren)討論”比傳統的(de)(de)(de)顯微鏡(jing)(jing)更(geng)加方便(bian)！

3、雙探針飛針測試法

飛針(zhen)測(ce)試(shi)儀(yi)不依賴于(yu)(yu)安裝在夾(jia)具或支架上的(de)(de)(de)插腳圖案。基(ji)于(yu)(yu)這種系統，兩(liang)個(ge)(ge)或更(geng)多的(de)(de)(de)探(tan)針(zhen)安裝在x-y平面上可(ke)自由移(yi)動的(de)(de)(de)微小(xiao)磁頭(tou)上，測(ce)試(shi)點(dian)由CADI?Gerber數據直(zhi)接(jie)控制。雙探(tan)針(zhen)能在彼(bi)此相距4mil的(de)(de)(de)范圍內(nei)移(yi)動。探(tan)針(zhen)能夠獨立地(di)移(yi)動，并且沒(mei)有(you)真(zhen)正的(de)(de)(de)限定它(ta)們彼(bi)此靠近的(de)(de)(de)程度。帶有(you)兩(liang)個(ge)(ge)可(ke)來(lai)回(hui)移(yi)動的(de)(de)(de)臂狀物的(de)(de)(de)測(ce)試(shi)儀(yi)是以電容(rong)的(de)(de)(de)測(ce)量為基(ji)礎的(de)(de)(de)。將(jiang)電路板緊壓著放在一塊(kuai)金屬板上的(de)(de)(de)絕緣層上，作為電容(rong)器(qi)的(de)(de)(de)另一個(ge)(ge)金屬板。假如(ru)在線路之(zhi)間有(you)一條短(duan)路，電容(rong)將(jiang)比在一個(ge)(ge)確定的(de)(de)(de)點(dian)上大。如(ru)果有(you)-條斷路，電容(rong)將(jiang)變小(xiao)。

測試速度是選擇測試儀的一個重要標準。針床測試儀能夠一次精確地測試數千個測試點，而飛針測試儀一次僅僅能測電路板試(shi)(shi)(shi)兩個或四個測(ce)試(shi)(shi)(shi)點。另(ling)外，針(zhen)(zhen)床(chuang)測(ce)試(shi)(shi)(shi)儀進行單面測(ce)試(shi)(shi)(shi)時，可能僅(jin)僅(jin)花(hua)費20-30秒，這(zhe)要根據板子的(de)(de)復雜性而(er)定，而(er)飛針(zhen)(zhen)測(ce)試(shi)(shi)(shi)儀則需要Ih或更多的(de)(de)時間(jian)完成同樣的(de)(de)評估(gu)。Shipley（1991）解釋說，即使高產(chan)量(liang)印制電路(lu)板的(de)(de)生產(chan)商認為移(yi)動的(de)(de)飛針(zhen)(zhen)測(ce)試(shi)(shi)(shi)技(ji)術慢，但是這(zhe)種(zhong)方法(fa)對(dui)于(yu)較低產(chan)量(liang)的(de)(de)復雜電路(lu)板的(de)(de)生產(chan)商來說還是不錯的(de)(de)選(xuan)擇(ze)。

對(dui)于(yu)裸板(ban)測(ce)(ce)試(shi)來(lai)(lai)說(shuo)，有(you)專用(yong)(yong)(yong)(yong)的(de)(de)(de)(de)(de)測(ce)(ce)試(shi)儀(yi)(yi)(yi)器(qi)(qi)。一種(zhong)成(cheng)本更為優化(hua)的(de)(de)(de)(de)(de)方(fang)法(fa)(fa)是(shi)使(shi)用(yong)(yong)(yong)(yong)一個(ge)通(tong)(tong)用(yong)(yong)(yong)(yong)的(de)(de)(de)(de)(de)儀(yi)(yi)(yi)器(qi)(qi)，盡管這類儀(yi)(yi)(yi)器(qi)(qi)最(zui)初(chu)比專用(yong)(yong)(yong)(yong)的(de)(de)(de)(de)(de)儀(yi)(yi)(yi)器(qi)(qi)更昂貴，但(dan)它最(zui)初(chu)的(de)(de)(de)(de)(de)高費用(yong)(yong)(yong)(yong)將被(bei)個(ge)別配(pei)置成(cheng)本的(de)(de)(de)(de)(de)減少抵消(xiao)。對(dui)于(yu)通(tong)(tong)用(yong)(yong)(yong)(yong)的(de)(de)(de)(de)(de)柵(zha)格(ge)，帶引腳(jiao)元器(qi)(qi)件的(de)(de)(de)(de)(de)板(ban)子和(he)表(biao)面(mian)貼裝(zhuang)設備的(de)(de)(de)(de)(de)標準柵(zha)格(ge)是(shi)2.5mm。此(ci)(ci)時測(ce)(ce)試(shi)焊(han)盤應該大(da)(da)于(yu)或等于(yu)1.3mm。對(dui)于(yu)Imm的(de)(de)(de)(de)(de)柵(zha)格(ge)，測(ce)(ce)試(shi)焊(han)盤設計得要(yao)大(da)(da)于(yu)0.7mm。假如柵(zha)格(ge)較小(xiao)(xiao)，則測(ce)(ce)試(shi)針(zhen)小(xiao)(xiao)而(er)脆，并且容易損壞。因此(ci)(ci)，最(zui)好選用(yong)(yong)(yong)(yong)大(da)(da)于(yu)2.5mm的(de)(de)(de)(de)(de)柵(zha)格(ge)。將通(tong)(tong)用(yong)(yong)(yong)(yong)測(ce)(ce)試(shi)儀(yi)(yi)(yi)（標準的(de)(de)(de)(de)(de)柵(zha)格(ge)測(ce)(ce)試(shi)儀(yi)(yi)(yi)）和(he)飛針(zhen)測(ce)(ce)試(shi)儀(yi)(yi)(yi)聯合使(shi)用(yong)(yong)(yong)(yong)，可使(shi)高密度(du)電(dian)路板(ban)的(de)(de)(de)(de)(de)檢測(ce)(ce)即精確又經(jing)濟。他建議(yi)的(de)(de)(de)(de)(de)另(ling)外一種(zhong)方(fang)法(fa)(fa)是(shi)使(shi)用(yong)(yong)(yong)(yong)導(dao)電(dian)橡膠測(ce)(ce)試(shi)儀(yi)(yi)(yi)，這種(zhong)技術可以(yi)用(yong)(yong)(yong)(yong)來(lai)(lai)檢測(ce)(ce)偏(pian)離柵(zha)格(ge)的(de)(de)(de)(de)(de)點。然而(er)，采用(yong)(yong)(yong)(yong)熱風整平處理(li)的(de)(de)(de)(de)(de)焊(han)盤高度(du)不同(tong)，將有(you)礙測(ce)(ce)試(shi)點的(de)(de)(de)(de)(de)連接。

電路板怎么快速檢測出故障

1、看元件的狀態

拿(na)到(dao)一(yi)塊出故障的電(dian)路板(ban)(ban)，首先(xian)觀(guan)察電(dian)路板(ban)(ban)有(you)沒有(you)明顯的元件(jian)(jian)損壞(huai)，如電(dian)解電(dian)容燒(shao)毀和鼓脹、電(dian)阻(zu)燒(shao)壞(huai)以及功率器件(jian)(jian)的燒(shao)損等。

2、看電路板的焊接

如印制電(dian)路(lu)板有(you)(you)沒有(you)(you)變形(xing)翹(qiao)曲；有(you)(you)沒有(you)(you)焊點脫落、明顯虛焊；電(dian)路(lu)板覆銅皮有(you)(you)沒有(you)(you)翹(qiao)起、燒(shao)糊變黑(hei)。

3、觀察元件的插件

如集成電路、二(er)極(ji)管、電路板電源變(bian)壓器(qi)等(deng)方向有沒(mei)插錯。

4、電阻電容電感的簡單測試

使用萬用表對量程(cheng)內的電(dian)(dian)阻、電(dian)(dian)容、電(dian)(dian)感等可(ke)懷疑元件進行簡單的測試(shi)，測試(shi)有否電(dian)(dian)阻阻值變大、電(dian)(dian)容短路、開路和(he)容值變化、電(dian)(dian)感短路和(he)開路等現(xian)象。

5、上電測試

經過上述簡單觀(guan)察(cha)和(he)測試后，無法排除(chu)故障(zhang)，可進行上電(dian)測試。首先測試電(dian)路(lu)板供電(dian)是否(fou)(fou)正常(chang)。如(ru)電(dian)路(lu)板的交流電(dian)源是否(fou)(fou)異(yi)(yi)常(chang)、穩壓器輸出(chu)是否(fou)(fou)異(yi)(yi)常(chang)、開關(guan)電(dian)源輸出(chu)和(he)波形是否(fou)(fou)異(yi)(yi)常(chang)等

6、刷程序

對(dui)于(yu)有單(dan)片(pian)機、DSP、CPLD等(deng)可(ke)編(bian)程元件，可(ke)考慮重(zhong)新刷一遍程序，排(pai)除程序運行(xing)異常造成的電路故障。

7、按照功能模塊維修

如果按照以上步驟仍不能維修好電路板，就需要根(gen)據電(dian)(dian)路故障，確定可能出(chu)問題的(de)電(dian)(dian)路模塊，根(gen)據設計(ji)圖紙進行進一步維修了。