電路板檢測方法有哪些

1、針床測試法

這種方法由帶有彈簧的探針連接到電路板上的(de)(de)(de)(de)(de)每一個(ge)檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)點。彈簧使每個(ge)探(tan)(tan)針(zhen)具有100-200g的(de)(de)(de)(de)(de)壓(ya)力，以保證每個(ge)檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)點接(jie)觸良好，這(zhe)樣(yang)的(de)(de)(de)(de)(de)探(tan)(tan)針(zhen)排(pai)列(lie)在(zai)一起被稱(cheng)為"針(zhen)床(chuang)"。在(zai)檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)軟件(jian)的(de)(de)(de)(de)(de)控制下，可(ke)以對檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)點和檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)信號進行(xing)(xing)編程。實際上只有那些需要(yao)測(ce)(ce)試的(de)(de)(de)(de)(de)測(ce)(ce)試點的(de)(de)(de)(de)(de)探(tan)(tan)針(zhen)是安裝了的(de)(de)(de)(de)(de)。盡管(guan)使用(yong)針(zhen)床(chuang)測(ce)(ce)試法可(ke)能同時在(zai)電(dian)路(lu)板(ban)的(de)(de)(de)(de)(de)兩面進行(xing)(xing)檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)，當設(she)計電(dian)路(lu)板(ban)時，還(huan)是應該使所有的(de)(de)(de)(de)(de)檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)點在(zai)電(dian)路(lu)板(ban)的(de)(de)(de)(de)(de)焊接(jie)面。針(zhen)床(chuang)測(ce)(ce)試儀設(she)備昂貴，且很難維修。針(zhen)頭依據其具體應用(yong)選不同排(pai)列(lie)的(de)(de)(de)(de)(de)探(tan)(tan)針(zhen)。

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一種(zhong)基本的(de)(de)(de)通用柵(zha)格處(chu)理(li)器由一個鉆孔(kong)的(de)(de)(de)板(ban)子構成，其上插針(zhen)的(de)(de)(de)中心間距為100、75或50mil。插針(zhen)起探針(zhen)的(de)(de)(de)作用，并利用電(dian)路板(ban)上的(de)(de)(de)電(dian)連(lian)接器或節(jie)點(dian)進行直接的(de)(de)(de)機械連(lian)接。如果電(dian)路板(ban)上的(de)(de)(de)焊盤(pan)與測(ce)(ce)試柵(zha)格相配，那么按照規范打孔(kong)的(de)(de)(de)聚醋薄(bo)膜就(jiu)(jiu)會被放置(zhi)在柵(zha)格和電(dian)路板(ban)之間，以便于設計特定的(de)(de)(de)探測(ce)(ce)。連(lian)續性(xing)檢測(ce)(ce)是通過訪問網格的(de)(de)(de)末端點(dian)（已被定義為焊盤(pan)的(de)(de)(de)x-y坐標）實(shi)現的(de)(de)(de)。既然電(dian)路板(ban)上的(de)(de)(de)每一個網絡(luo)都進行連(lian)續性(xing)檢測(ce)(ce)。這樣，一個獨立的(de)(de)(de)檢測(ce)(ce)就(jiu)(jiu)完成了。然而，探針(zhen)的(de)(de)(de)接近程度限(xian)制了針(zhen)床測(ce)(ce)試法的(de)(de)(de)效能。

2、電路板的觀測

電路(lu)(lu)板(ban)(ban)(ban)體積小，結(jie)構復雜(za)，因此對電路(lu)(lu)板(ban)(ban)(ban)的(de)(de)觀察也必須(xu)用(yong)到專(zhuan)業(ye)的(de)(de)觀測儀(yi)器。一般的(de)(de)，我(wo)們(men)采(cai)用(yong)便攜式(shi)(shi)視(shi)(shi)頻(pin)顯(xian)微鏡(jing)來(lai)觀察電路(lu)(lu)板(ban)(ban)(ban)的(de)(de)結(jie)構，通(tong)(tong)過視(shi)(shi)頻(pin)顯(xian)微攝像頭，可以(yi)清晰(xi)從顯(xian)微鏡(jing)看到非常直觀的(de)(de)電路(lu)(lu)板(ban)(ban)(ban)的(de)(de)顯(xian)微結(jie)構。通(tong)(tong)過這種(zhong)方(fang)式(shi)(shi)，我(wo)們(men)就比較容易(yi)進(jin)行電路(lu)(lu)板(ban)(ban)(ban)的(de)(de)設計(ji)和檢測了。現(xian)(xian)工廠現(xian)(xian)場采(cai)用(yong)的(de)(de)便攜式(shi)(shi)視(shi)(shi)頻(pin)顯(xian)微鏡(jing)，采(cai)用(yong)的(de)(de)便攜式(shi)(shi)視(shi)(shi)頻(pin)顯(xian)微鏡(jing)MSA200、VT101，因它可實現(xian)(xian)“隨(sui)時觀測、隨(sui)時檢測、多人討論”比傳統的(de)(de)顯(xian)微鏡(jing)更加方(fang)便！

3、雙探針飛針測試法

飛(fei)針測(ce)試儀(yi)不依賴于(yu)安裝(zhuang)在夾具或支架(jia)上的(de)(de)插腳圖案。基于(yu)這種系統，兩個(ge)或更(geng)多的(de)(de)探(tan)針安裝(zhuang)在x-y平面上可(ke)自由移動(dong)的(de)(de)微小(xiao)磁(ci)頭上，測(ce)試點(dian)由CADI?Gerber數據直接控制。雙探(tan)針能在彼此相(xiang)距4mil的(de)(de)范圍(wei)內(nei)移動(dong)。探(tan)針能夠獨立(li)地(di)移動(dong)，并(bing)且沒有真(zhen)正(zheng)的(de)(de)限定它們(men)彼此靠(kao)近(jin)的(de)(de)程(cheng)度(du)。帶有兩個(ge)可(ke)來回移動(dong)的(de)(de)臂(bei)狀物的(de)(de)測(ce)試儀(yi)是(shi)以電(dian)(dian)容(rong)的(de)(de)測(ce)量為(wei)(wei)基礎的(de)(de)。將電(dian)(dian)路(lu)板(ban)緊壓著放在一塊(kuai)金(jin)屬板(ban)上的(de)(de)絕緣(yuan)層(ceng)上，作為(wei)(wei)電(dian)(dian)容(rong)器的(de)(de)另(ling)一個(ge)金(jin)屬板(ban)。假如在線路(lu)之間(jian)有一條短路(lu)，電(dian)(dian)容(rong)將比在一個(ge)確定的(de)(de)點(dian)上大。如果有-條斷路(lu)，電(dian)(dian)容(rong)將變小(xiao)。

測試速度是選擇測試儀的一個重要標準。針床測試儀能夠一次精確地測試數千個測試點，而飛針測試儀一次僅僅能測電路板試(shi)兩個或四(si)個測試(shi)點。另外，針(zhen)床測試(shi)儀進行單面測試(shi)時，可能僅(jin)僅(jin)花費20-30秒(miao)，這(zhe)要(yao)根據板子的(de)(de)(de)(de)復(fu)雜性而定，而飛針(zhen)測試(shi)儀則需要(yao)Ih或更多的(de)(de)(de)(de)時間(jian)完成(cheng)同(tong)樣的(de)(de)(de)(de)評估。Shipley（1991）解釋說，即使高產(chan)(chan)量(liang)印(yin)制電路(lu)板的(de)(de)(de)(de)生(sheng)產(chan)(chan)商認為移動的(de)(de)(de)(de)飛針(zhen)測試(shi)技術慢(man)，但是這(zhe)種(zhong)方法對于較低(di)產(chan)(chan)量(liang)的(de)(de)(de)(de)復(fu)雜電路(lu)板的(de)(de)(de)(de)生(sheng)產(chan)(chan)商來(lai)說還是不錯的(de)(de)(de)(de)選擇。

對于(yu)(yu)裸板(ban)測(ce)(ce)試(shi)(shi)來說，有專用(yong)的(de)(de)(de)測(ce)(ce)試(shi)(shi)儀(yi)(yi)(yi)器(qi)。一種成本(ben)更為優化(hua)的(de)(de)(de)方法(fa)是使(shi)用(yong)一個通(tong)(tong)用(yong)的(de)(de)(de)儀(yi)(yi)(yi)器(qi)，盡管這類儀(yi)(yi)(yi)器(qi)最初比專用(yong)的(de)(de)(de)儀(yi)(yi)(yi)器(qi)更昂貴，但(dan)它最初的(de)(de)(de)高費用(yong)將(jiang)被(bei)個別配置成本(ben)的(de)(de)(de)減少抵消。對于(yu)(yu)通(tong)(tong)用(yong)的(de)(de)(de)柵格(ge)(ge)，帶引腳元器(qi)件的(de)(de)(de)板(ban)子和表面貼(tie)裝設備的(de)(de)(de)標(biao)準(zhun)(zhun)柵格(ge)(ge)是2.5mm。此時測(ce)(ce)試(shi)(shi)焊盤(pan)應(ying)該大于(yu)(yu)或等于(yu)(yu)1.3mm。對于(yu)(yu)Imm的(de)(de)(de)柵格(ge)(ge)，測(ce)(ce)試(shi)(shi)焊盤(pan)設計得(de)要大于(yu)(yu)0.7mm。假(jia)如柵格(ge)(ge)較小，則(ze)測(ce)(ce)試(shi)(shi)針小而脆，并(bing)且(qie)容易損壞。因此，最好選(xuan)用(yong)大于(yu)(yu)2.5mm的(de)(de)(de)柵格(ge)(ge)。將(jiang)通(tong)(tong)用(yong)測(ce)(ce)試(shi)(shi)儀(yi)(yi)(yi)（標(biao)準(zhun)(zhun)的(de)(de)(de)柵格(ge)(ge)測(ce)(ce)試(shi)(shi)儀(yi)(yi)(yi)）和飛針測(ce)(ce)試(shi)(shi)儀(yi)(yi)(yi)聯合使(shi)用(yong)，可(ke)使(shi)高密度電路板(ban)的(de)(de)(de)檢(jian)測(ce)(ce)即精確(que)又經濟。他建議的(de)(de)(de)另外一種方法(fa)是使(shi)用(yong)導電橡膠測(ce)(ce)試(shi)(shi)儀(yi)(yi)(yi)，這種技術可(ke)以用(yong)來檢(jian)測(ce)(ce)偏離柵格(ge)(ge)的(de)(de)(de)點。然而，采用(yong)熱風整平處理的(de)(de)(de)焊盤(pan)高度不同，將(jiang)有礙測(ce)(ce)試(shi)(shi)點的(de)(de)(de)連接。

電路板怎么快速檢測出故障

1、看元件的狀態

拿到(dao)一塊出故障(zhang)的(de)電(dian)(dian)路(lu)板，首先觀察電(dian)(dian)路(lu)板有沒有明顯(xian)的(de)元(yuan)件損(sun)壞，如電(dian)(dian)解(jie)電(dian)(dian)容燒毀(hui)和鼓脹、電(dian)(dian)阻燒壞以及功率器件的(de)燒損(sun)等(deng)。

2、看電路板的焊接

如印制(zhi)電(dian)(dian)路(lu)板有沒(mei)有變形(xing)翹曲；有沒(mei)有焊點(dian)脫落、明顯(xian)虛焊；電(dian)(dian)路(lu)板覆(fu)銅皮有沒(mei)有翹起(qi)、燒糊變黑。

3、觀察元件的插件

如集(ji)成電(dian)路、二極管(guan)、電(dian)路板電(dian)源變壓(ya)器等方向(xiang)有(you)沒插錯(cuo)。

4、電阻電容電感的簡單測試

使用(yong)萬用(yong)表對量程內的電(dian)阻、電(dian)容、電(dian)感(gan)等可懷疑元件進行簡單的測(ce)試，測(ce)試有否電(dian)阻阻值變大、電(dian)容短路、開路和(he)容值變化、電(dian)感(gan)短路和(he)開路等現象(xiang)。

5、上電測試

經過上述簡(jian)單觀察和測(ce)試后(hou)，無法排除故障，可(ke)進行(xing)上電測(ce)試。首先測(ce)試電路板(ban)供(gong)電是否正(zheng)常(chang)(chang)。如電路板(ban)的交流電源是否異常(chang)(chang)、穩壓(ya)器(qi)輸(shu)出是否異常(chang)(chang)、開關(guan)電源輸(shu)出和波形是否異常(chang)(chang)等

6、刷程序

對(dui)于(yu)有單片機(ji)、DSP、CPLD等可編程(cheng)元件(jian)，可考慮重新(xin)刷一遍程(cheng)序(xu)，排除程(cheng)序(xu)運行異常造(zao)成的(de)電路(lu)故障。

7、按照功能模塊維修

如果按照以上步驟仍不能維修好電路板，就需要根據電路故障(zhang)，確(que)定(ding)可能(neng)出問(wen)題的電路模塊，根據設計圖紙進行進一步維修了。