一、手動探針臺和自動的區別在哪里 ?

自(zi)動(dong)探(tan)針臺(tai)(tai)可分為半自(zi)動(dong)探(tan)針臺(tai)(tai)和全自(zi)動(dong)探(tan)針，它們和手動(dong)探(tan)針臺(tai)(tai)在使用類型、功能、操作方式和價格等方面都有(you)所不同。

1、手動探針臺是一種手(shou)動控制的(de)(de)(de)探(tan)針(zhen)臺(tai)，通(tong)常用于沒有很多待測(ce)器(qi)件(jian)需(xu)要(yao)測(ce)量(liang)或(huo)數據需(xu)要(yao)收集的(de)(de)(de)情況下。該(gai)類探(tan)針(zhen)臺(tai)的(de)(de)(de)優點是靈活(huo)、可變性高，易(yi)于配置環境和轉換測(ce)試環境，并且不需(xu)要(yao)涉及額外(wai)培(pei)訓和設置時間的(de)(de)(de)電子設備、PC或(huo)軟件(jian)。手(shou)動探(tan)針(zhen)臺(tai)系統只需(xu)要(yao)少量(liang)的(de)(de)(de)培(pei)訓，因此非常適合研發人員使用。

2、半(ban)自動探針臺(tai)是(shi)一種(zhong)半(ban)自動控制的探針臺(tai)，可以在(zai)沒有很(hen)多待測器(qi)件需要測量(liang)或數據需要收集的情況下(xia)使用(yong)。與手(shou)動探針臺(tai)相(xiang)比，半(ban)自動探針臺(tai)的操(cao)作相(xiang)對簡單，但(dan)需要使用(yong)者(zhe)進(jin)行(xing)一些簡單的操(cao)作，如移(yi)動晶圓(yuan)載物臺(tai)、調整顯微鏡焦距等。半(ban)自動探針臺(tai)通常需要進(jin)行(xing)一些預設置，以便能夠適應不(bu)同的測試環(huan)境。

3、全(quan)自(zi)(zi)動(dong)探針(zhen)(zhen)臺(tai)是一種(zhong)全(quan)自(zi)(zi)動(dong)控(kong)制的(de)探針(zhen)(zhen)臺(tai)，可(ke)以在沒有(you)很多待測器件需(xu)要(yao)(yao)測量或(huo)(huo)數據需(xu)要(yao)(yao)收集的(de)情況下使(shi)用。相(xiang)比于(yu)半自(zi)(zi)動(dong)探針(zhen)(zhen)臺(tai)，全(quan)自(zi)(zi)動(dong)探針(zhen)(zhen)臺(tai)具有(you)更高的(de)精度和效(xiao)率，可(ke)以在短時間內完成(cheng)大量的(de)測試操作。全(quan)自(zi)(zi)動(dong)探針(zhen)(zhen)臺(tai)通常(chang)還配備有(you)晶圓材料處理(li)搬運單元（MHU）、模式識別（自(zi)(zi)動(dong)對準）等(deng)功能，以確保晶圓上的(de)晶粒依次與探針(zhen)(zhen)接觸并逐個(ge)測試。全(quan)自(zi)(zi)動(dong)探針(zhen)(zhen)臺(tai)通常(chang)用于(yu)芯片量產或(huo)(huo)有(you)一些特殊要(yao)(yao)求如處理(li)薄晶圓、封(feng)裝基板(ban)等(deng)。

二、手動探針臺和自動的哪個好

半自(zi)(zi)動(dong)和(he)全(quan)自(zi)(zi)動(dong)探針平臺(tai)(tai)提(ti)供了更(geng)高程(cheng)度(du)的(de)自(zi)(zi)動(dong)化。它們可以根據(ju)預設(she)程(cheng)序自(zi)(zi)動(dong)操(cao)作(zuo)探針臂和(he)探針，將其定位在(zai)待(dai)測(ce)(ce)物體(ti)上。用戶只需輸入(ru)指令來控制整個(ge)測(ce)(ce)試過程(cheng)。這些(xie)平臺(tai)(tai)還配備了圖(tu)像識別(bie)技術，能夠自(zi)(zi)動(dong)識別(bie)待(dai)測(ce)(ce)物體(ti)的(de)位置，提(ti)高測(ce)(ce)試的(de)準確性和(he)效率。與手(shou)動(dong)探針平臺(tai)(tai)相比(bi)，半自(zi)(zi)動(dong)和(he)全(quan)自(zi)(zi)動(dong)探針平臺(tai)(tai)系統(tong)更(geng)加高效、便捷，能夠節省大量(liang)的(de)人力和(he)時間(jian)成本，并提(ti)供更(geng)可靠的(de)測(ce)(ce)試結果。

但(dan)實際選擇時，手動探(tan)針(zhen)(zhen)臺適(shi)(shi)合(he)研發人員(yuan)(yuan)使(shi)用，半自(zi)動探(tan)針(zhen)(zhen)臺適(shi)(shi)合(he)初學(xue)者使(shi)用，而全自(zi)動探(tan)針(zhen)(zhen)臺適(shi)(shi)合(he)具有一定經驗的(de)測試人員(yuan)(yuan)使(shi)用。不同類型的(de)探(tan)針(zhen)(zhen)臺各有優缺(que)點，選擇何種探(tan)針(zhen)(zhen)臺主要取(qu)決于測試的(de)需求和個人的(de)技能水(shui)平。