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手動探針臺和自動的區別在哪里 手動探針臺和自動的哪個好

本文章由注冊用戶 時代工業園 上傳提供 2025-01-17 評論 0
摘要:手動探針臺是一種輔助執行機構,主要用于半導體芯片的電參數測試。測試人員將需要量測的芯片放置在探針臺載物臺上,通過X-Y移動,配合顯微鏡,找到需要探測的位置。然后,通過旋轉探針座上的X-Y-Z三向旋鈕,控制前部探針扎到被測點,使信號線與外部測試機導通,通過測試機測試人員可以得到所需要的電性能參數。那么手動探針臺和自動的區別在哪里以及手動探針臺和自動的哪個好呢?一起來看看吧!

一、手動探針臺和自動的區別在哪里 ?

自動探針(zhen)(zhen)(zhen)臺(tai)可(ke)分為(wei)半自動探針(zhen)(zhen)(zhen)臺(tai)和全自動探針(zhen)(zhen)(zhen),它(ta)們和手動探針(zhen)(zhen)(zhen)臺(tai)在使用類型、功能、操作(zuo)方(fang)(fang)式和價格(ge)等方(fang)(fang)面都有所不同。

1、手動探針臺是一(yi)種手(shou)動控制的(de)探針臺(tai),通常用于(yu)沒有很多(duo)待測器(qi)件需(xu)要(yao)測量或(huo)數據需(xu)要(yao)收集的(de)情況下。該類探針臺(tai)的(de)優點是靈活(huo)、可變性高,易于(yu)配置環(huan)境和(he)轉(zhuan)換(huan)測試(shi)環(huan)境,并且不需(xu)要(yao)涉及(ji)額外(wai)培訓和(he)設(she)置時間的(de)電子設(she)備、PC或(huo)軟件。手(shou)動探針臺(tai)系統只需(xu)要(yao)少量的(de)培訓,因此非常適合(he)研發(fa)人員使用。

2、半自(zi)動(dong)探針(zhen)臺(tai)是(shi)一種半自(zi)動(dong)控制(zhi)的(de)(de)(de)(de)探針(zhen)臺(tai),可(ke)以在沒有很多待測(ce)器件需(xu)要(yao)(yao)測(ce)量(liang)或(huo)數據需(xu)要(yao)(yao)收集(ji)的(de)(de)(de)(de)情(qing)況(kuang)下(xia)使(shi)用。與(yu)手動(dong)探針(zhen)臺(tai)相比(bi),半自(zi)動(dong)探針(zhen)臺(tai)的(de)(de)(de)(de)操作相對簡單,但需(xu)要(yao)(yao)使(shi)用者進行一些簡單的(de)(de)(de)(de)操作,如移動(dong)晶圓載(zai)物(wu)臺(tai)、調整顯微鏡焦距等。半自(zi)動(dong)探針(zhen)臺(tai)通常需(xu)要(yao)(yao)進行一些預設(she)置(zhi),以便能夠適應(ying)不同(tong)的(de)(de)(de)(de)測(ce)試環境。

3、全(quan)(quan)自(zi)動(dong)(dong)探(tan)針臺(tai)是(shi)一(yi)種全(quan)(quan)自(zi)動(dong)(dong)控制的探(tan)針臺(tai),可以在沒有很多待測器件需(xu)要(yao)(yao)測量(liang)或數據(ju)需(xu)要(yao)(yao)收集的情況(kuang)下使用。相比于半自(zi)動(dong)(dong)探(tan)針臺(tai),全(quan)(quan)自(zi)動(dong)(dong)探(tan)針臺(tai)具有更高(gao)的精度和效率(lv),可以在短(duan)時間(jian)內(nei)完成大量(liang)的測試操作。全(quan)(quan)自(zi)動(dong)(dong)探(tan)針臺(tai)通常還配備有晶圓(yuan)材料處理(li)搬運單(dan)元(MHU)、模式識別(自(zi)動(dong)(dong)對準(zhun))等功能,以確保晶圓(yuan)上的晶粒依次與探(tan)針接觸(chu)并逐個測試。全(quan)(quan)自(zi)動(dong)(dong)探(tan)針臺(tai)通常用于芯(xin)片量(liang)產或有一(yi)些特殊要(yao)(yao)求如(ru)處理(li)薄晶圓(yuan)、封裝(zhuang)基板等。

二、手動探針臺和自動的哪個好

半自(zi)(zi)動(dong)和(he)全自(zi)(zi)動(dong)探針(zhen)平(ping)臺提(ti)(ti)供(gong)了更高程度的(de)自(zi)(zi)動(dong)化。它們(men)可以(yi)根據預設程序自(zi)(zi)動(dong)操作探針(zhen)臂和(he)探針(zhen),將其(qi)定位在(zai)待測(ce)物體上。用(yong)戶只需輸入指令來控(kong)制整個測(ce)試過(guo)程。這些平(ping)臺還配備(bei)了圖像識別(bie)技術,能(neng)夠自(zi)(zi)動(dong)識別(bie)待測(ce)物體的(de)位置,提(ti)(ti)高測(ce)試的(de)準確性和(he)效率(lv)。與手動(dong)探針(zhen)平(ping)臺相比,半自(zi)(zi)動(dong)和(he)全自(zi)(zi)動(dong)探針(zhen)平(ping)臺系統更加高效、便捷,能(neng)夠節省大量(liang)的(de)人力和(he)時間成本,并提(ti)(ti)供(gong)更可靠的(de)測(ce)試結果(guo)。

但(dan)實際選擇(ze)時,手動探(tan)針(zhen)(zhen)臺(tai)(tai)適合(he)研發人(ren)員(yuan)使用(yong),半(ban)自動探(tan)針(zhen)(zhen)臺(tai)(tai)適合(he)初學者(zhe)使用(yong),而全自動探(tan)針(zhen)(zhen)臺(tai)(tai)適合(he)具有一定經驗(yan)的測(ce)試人(ren)員(yuan)使用(yong)。不同類型的探(tan)針(zhen)(zhen)臺(tai)(tai)各有優缺點,選擇(ze)何種探(tan)針(zhen)(zhen)臺(tai)(tai)主(zhu)要取決于測(ce)試的需求(qiu)和個人(ren)的技能水平。

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