一、手動探針臺和自動的區別在哪里 ?

自動(dong)(dong)探(tan)針臺可分為半自動(dong)(dong)探(tan)針臺和(he)(he)全自動(dong)(dong)探(tan)針，它們和(he)(he)手動(dong)(dong)探(tan)針臺在使用類型、功能、操作方式和(he)(he)價格(ge)等方面都有所不同。

1、手動探針臺是一種手(shou)動(dong)(dong)控制(zhi)的探(tan)針臺，通常用(yong)于沒有很多(duo)待測器(qi)件(jian)需(xu)要測量或數據需(xu)要收集的情況(kuang)下。該類探(tan)針臺的優點是靈活、可(ke)變性高，易(yi)于配置環(huan)境(jing)和(he)轉換測試環(huan)境(jing)，并且(qie)不需(xu)要涉(she)及額外培(pei)訓和(he)設(she)置時間的電子(zi)設(she)備(bei)、PC或軟件(jian)。手(shou)動(dong)(dong)探(tan)針臺系統只需(xu)要少量的培(pei)訓，因此非常適合(he)研發人員使用(yong)。

2、半(ban)自(zi)動探針(zhen)臺(tai)是(shi)一(yi)種(zhong)半(ban)自(zi)動控制的(de)探針(zhen)臺(tai)，可以在沒(mei)有很多待測(ce)器(qi)件需(xu)要(yao)測(ce)量(liang)或數(shu)據(ju)需(xu)要(yao)收集的(de)情況下使用(yong)。與手(shou)動探針(zhen)臺(tai)相比，半(ban)自(zi)動探針(zhen)臺(tai)的(de)操(cao)作相對簡單，但需(xu)要(yao)使用(yong)者進(jin)行一(yi)些簡單的(de)操(cao)作，如移動晶圓載物臺(tai)、調整顯微鏡焦距等(deng)。半(ban)自(zi)動探針(zhen)臺(tai)通常需(xu)要(yao)進(jin)行一(yi)些預設置，以便能夠適應不同的(de)測(ce)試(shi)環(huan)境。

3、全(quan)自(zi)動探針(zhen)(zhen)(zhen)(zhen)(zhen)臺(tai)是一種全(quan)自(zi)動控制的(de)探針(zhen)(zhen)(zhen)(zhen)(zhen)臺(tai)，可以(yi)在沒(mei)有(you)(you)很(hen)多待測器件需要(yao)測量(liang)或數(shu)據需要(yao)收集的(de)情(qing)況下使用。相比于半自(zi)動探針(zhen)(zhen)(zhen)(zhen)(zhen)臺(tai)，全(quan)自(zi)動探針(zhen)(zhen)(zhen)(zhen)(zhen)臺(tai)具(ju)有(you)(you)更高的(de)精度和效(xiao)率(lv)，可以(yi)在短時間內完成(cheng)大量(liang)的(de)測試(shi)操作。全(quan)自(zi)動探針(zhen)(zhen)(zhen)(zhen)(zhen)臺(tai)通常(chang)(chang)還配備有(you)(you)晶(jing)圓材(cai)料(liao)處理搬運單元（MHU）、模式識別(bie)（自(zi)動對準(zhun)）等功能，以(yi)確(que)保(bao)晶(jing)圓上的(de)晶(jing)粒依次(ci)與探針(zhen)(zhen)(zhen)(zhen)(zhen)接觸并逐個測試(shi)。全(quan)自(zi)動探針(zhen)(zhen)(zhen)(zhen)(zhen)臺(tai)通常(chang)(chang)用于芯片量(liang)產或有(you)(you)一些特殊要(yao)求如處理薄(bo)晶(jing)圓、封裝基板(ban)等。

二、手動探針臺和自動的哪個好

半自動和(he)(he)全自動探(tan)針(zhen)(zhen)平(ping)(ping)臺(tai)(tai)提供(gong)了(le)更高程(cheng)(cheng)度的(de)自動化。它們可以根據預設程(cheng)(cheng)序自動操作(zuo)探(tan)針(zhen)(zhen)臂和(he)(he)探(tan)針(zhen)(zhen)，將其(qi)定(ding)位在待測(ce)(ce)(ce)(ce)物(wu)體(ti)上。用戶只需輸(shu)入(ru)指令來控制整(zheng)個(ge)測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)過程(cheng)(cheng)。這(zhe)些平(ping)(ping)臺(tai)(tai)還(huan)配備了(le)圖(tu)像識別技術，能夠自動識別待測(ce)(ce)(ce)(ce)物(wu)體(ti)的(de)位置，提高測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)的(de)準確性(xing)和(he)(he)效(xiao)率(lv)。與手(shou)動探(tan)針(zhen)(zhen)平(ping)(ping)臺(tai)(tai)相比(bi)，半自動和(he)(he)全自動探(tan)針(zhen)(zhen)平(ping)(ping)臺(tai)(tai)系統更加高效(xiao)、便捷，能夠節省大量的(de)人力和(he)(he)時(shi)間成本，并提供(gong)更可靠的(de)測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)結果。

但實(shi)際選擇時，手動探針(zhen)臺適(shi)合研發人(ren)員(yuan)使(shi)(shi)用(yong)，半自動探針(zhen)臺適(shi)合初學(xue)者使(shi)(shi)用(yong)，而全自動探針(zhen)臺適(shi)合具有一定經驗(yan)的(de)(de)測(ce)試(shi)人(ren)員(yuan)使(shi)(shi)用(yong)。不同類型的(de)(de)探針(zhen)臺各有優缺點，選擇何種探針(zhen)臺主要取決于測(ce)試(shi)的(de)(de)需求(qiu)和個(ge)人(ren)的(de)(de)技(ji)能(neng)水平(ping)。