一、手動探針臺和自動的區別在哪里 ?

自(zi)動(dong)(dong)探(tan)針(zhen)臺可分為半自(zi)動(dong)(dong)探(tan)針(zhen)臺和全(quan)自(zi)動(dong)(dong)探(tan)針(zhen)，它們和手動(dong)(dong)探(tan)針(zhen)臺在使用(yong)類型、功能、操作方式和價格(ge)等方面都有所不同。

1、手動探針臺是(shi)(shi)一種手動(dong)控制的探針臺(tai)，通常(chang)用(yong)于沒有很多待(dai)測器(qi)件需要(yao)(yao)測量(liang)(liang)或(huo)(huo)數據需要(yao)(yao)收集的情況下。該類探針臺(tai)的優點(dian)是(shi)(shi)靈活、可變性(xing)高(gao)，易于配置環(huan)境和(he)轉換測試環(huan)境，并且不需要(yao)(yao)涉及(ji)額(e)外培(pei)訓和(he)設置時間的電子(zi)設備、PC或(huo)(huo)軟件。手動(dong)探針臺(tai)系(xi)統只需要(yao)(yao)少(shao)量(liang)(liang)的培(pei)訓，因此非(fei)常(chang)適合研發人員使用(yong)。

2、半(ban)(ban)自動(dong)(dong)(dong)探(tan)針(zhen)臺是(shi)一種(zhong)半(ban)(ban)自動(dong)(dong)(dong)控制(zhi)的探(tan)針(zhen)臺，可(ke)以在沒有很多待(dai)測器件需要測量或數據需要收集(ji)的情況下使用(yong)。與手動(dong)(dong)(dong)探(tan)針(zhen)臺相比(bi)，半(ban)(ban)自動(dong)(dong)(dong)探(tan)針(zhen)臺的操(cao)作相對簡單，但需要使用(yong)者進(jin)行(xing)一些簡單的操(cao)作，如移動(dong)(dong)(dong)晶圓載物臺、調整顯微鏡焦距(ju)等。半(ban)(ban)自動(dong)(dong)(dong)探(tan)針(zhen)臺通常需要進(jin)行(xing)一些預設置(zhi)，以便能夠適(shi)應不同的測試環(huan)境。

3、全(quan)(quan)自(zi)動(dong)(dong)探(tan)(tan)(tan)(tan)針(zhen)臺(tai)是(shi)一(yi)種全(quan)(quan)自(zi)動(dong)(dong)控制的(de)探(tan)(tan)(tan)(tan)針(zhen)臺(tai)，可(ke)以在沒有(you)很多待測(ce)器(qi)件需要(yao)測(ce)量或數(shu)據需要(yao)收集的(de)情況下(xia)使用(yong)。相比(bi)于半自(zi)動(dong)(dong)探(tan)(tan)(tan)(tan)針(zhen)臺(tai)，全(quan)(quan)自(zi)動(dong)(dong)探(tan)(tan)(tan)(tan)針(zhen)臺(tai)具(ju)有(you)更(geng)高的(de)精度和(he)效率，可(ke)以在短(duan)時(shi)間內(nei)完成大量的(de)測(ce)試(shi)操(cao)作。全(quan)(quan)自(zi)動(dong)(dong)探(tan)(tan)(tan)(tan)針(zhen)臺(tai)通(tong)常(chang)(chang)還配備有(you)晶(jing)(jing)圓材料(liao)處(chu)理搬運單元（MHU）、模式識別（自(zi)動(dong)(dong)對準）等功能，以確保晶(jing)(jing)圓上(shang)的(de)晶(jing)(jing)粒依次與探(tan)(tan)(tan)(tan)針(zhen)接觸并逐(zhu)個測(ce)試(shi)。全(quan)(quan)自(zi)動(dong)(dong)探(tan)(tan)(tan)(tan)針(zhen)臺(tai)通(tong)常(chang)(chang)用(yong)于芯片量產或有(you)一(yi)些(xie)特殊(shu)要(yao)求如處(chu)理薄晶(jing)(jing)圓、封裝基板等。

二、手動探針臺和自動的哪個好

半自(zi)(zi)動和(he)(he)全(quan)自(zi)(zi)動探(tan)針(zhen)(zhen)(zhen)平臺提(ti)供了更高程度的(de)自(zi)(zi)動化。它們可以根據預設程序自(zi)(zi)動操(cao)作探(tan)針(zhen)(zhen)(zhen)臂和(he)(he)探(tan)針(zhen)(zhen)(zhen)，將其(qi)定位在待(dai)測物體上。用戶只需(xu)輸入指(zhi)令來控制整個測試(shi)過程。這些平臺還配(pei)備了圖像識(shi)別技術，能夠自(zi)(zi)動識(shi)別待(dai)測物體的(de)位置，提(ti)高測試(shi)的(de)準確性和(he)(he)效率。與(yu)手動探(tan)針(zhen)(zhen)(zhen)平臺相比，半自(zi)(zi)動和(he)(he)全(quan)自(zi)(zi)動探(tan)針(zhen)(zhen)(zhen)平臺系統(tong)更加(jia)高效、便捷，能夠節省大(da)量的(de)人力和(he)(he)時(shi)間(jian)成本(ben)，并提(ti)供更可靠的(de)測試(shi)結果。

但實際選擇(ze)時，手動(dong)探(tan)針(zhen)臺(tai)適合(he)(he)研發人(ren)員使用(yong)，半自動(dong)探(tan)針(zhen)臺(tai)適合(he)(he)初學者使用(yong)，而全自動(dong)探(tan)針(zhen)臺(tai)適合(he)(he)具有(you)一定經驗的(de)測試人(ren)員使用(yong)。不同(tong)類型的(de)探(tan)針(zhen)臺(tai)各(ge)有(you)優缺(que)點，選擇(ze)何種(zhong)探(tan)針(zhen)臺(tai)主(zhu)要取決于測試的(de)需(xu)求和個人(ren)的(de)技能水平。