一、電芯k值如何計算

電芯的(de)(de)K值(zhi)(zhi)是一個(ge)重要的(de)(de)性能指標(biao)，它反映了電(dian)池(chi)的(de)(de)老化速度(du)和容量(liang)。具(ju)體來說(shuo)，K值(zhi)(zhi)是通過測量(liang)電(dian)池(chi)充滿后達到(dao)的(de)(de)飽和電(dian)量(liang)與其實際放電(dian)電(dian)流的(de)(de)比(bi)值(zhi)(zhi)計算(suan)得(de)出的(de)(de)，也被稱(cheng)為額定充放電(dian)倍(bei)率。具(ju)體計算(suan)方式如下：

K=電(dian)(dian)池充放(fang)(fang)電(dian)(dian)電(dian)(dian)壓(ya)或電(dian)(dian)流上、下限值(zhi)的最(zui)大正弦波幅值(zhi)差(cha)與標稱值(zhi)的百分(fen)比，即K=（Umax-Umin）%÷UN×100%。其中(zhong)，K代表偏差(cha)系數；UN為標準規定(ding)輸(shu)入/輸(shu)出直流母線額定(ding)電(dian)(dian)壓(ya)（V）；Umax為在某(mou)工況下的最(zui)高測試(shi)點對應(ying)的充、放(fang)(fang)電(dian)(dian)壓(ya)；Umin為在某(mou)工況下的最(zui)低測試(shi)點對應(ying)的充、放(fang)(fang)電(dian)(dian)壓(ya)。這些(xie)數據(ju)需要(yao)在實際測量(liang)中(zhong)獲取。

二、影響電芯k值的因素有什么

1、正負極材料、電解液種類、隔膜厚度種類

由(you)于自(zi)放(fang)電(dian)很大程度上是發(fa)生于材(cai)料之間，因(yin)此材(cai)料的(de)性能對自(zi)放(fang)電(dian)有(you)很大的(de)影響。有(you)人曾做實驗得(de)知三(san)元(yuan)材(cai)料比鈷酸鋰電(dian)池自(zi)放(fang)電(dian)更高。

2、存儲的時間

存儲時間變(bian)(bian)長，一方(fang)面(mian)是使壓(ya)(ya)降的絕對值增大(da)，另一方(fang)面(mian)則變(bian)(bian)相的減少了“儀器(qi)絕對誤差/壓(ya)(ya)降值”，從而使結果更為準(zhun)確。但儲存時間過長也(ye)(ye)會使正負極之間容(rong)量(liang)的平(ping)衡(heng)逐漸被打(da)破并深化，電(dian)解液的分解也(ye)(ye)會累(lei)計一些不可逆容(rong)量(liang)損失，使自放(fang)電(dian)變(bian)(bian)大(da)。

3、存儲的條件

存儲溫度(du)和濕度(du)的增加，會增大(da)自放(fang)電程度(du)。

4、保護板自耗

與電芯保護(hu)板自耗電也有一(yi)定關系。

5、測試的初始電壓

初始電(dian)(dian)壓(ya)（或者說(shuo)一次電(dian)(dian)壓(ya)）不同，所(suo)得K值差別明顯。一般初始電(dian)(dian)壓(ya)過高，自(zi)放電(dian)(dian)率越大。

嚴格的說，自放電用容量的衰減來表示，只是沒有合適的設備在不讓電芯放(fang)電(dian)(dian)的情況下直接測(ce)(ce)出其(qi)剩余容量(liang)，而(er)只能(neng)是通過測(ce)(ce)量(liang)其(qi)電(dian)(dian)壓來間接的衡量(liang)其(qi)自放(fang)電(dian)(dian)，也(ye)就(jiu)是所(suo)說的K值(zhi)(zhi)，所(suo)以如果環境條(tiao)件的改變(bian)引起(qi)測(ce)(ce)試電(dian)(dian)壓的偏差(cha)(cha)可能(neng)導致K值(zhi)(zhi)的測(ce)(ce)量(liang)誤差(cha)(cha)，我們在實際測(ce)(ce)量(liang)時甚至得到(dao)了K為負值(zhi)(zhi)的情況，這顯然(ran)與自放(fang)電(dian)(dian)本(ben)身的意義相(xiang)矛盾，因此需要對(dui)設備(bei)經(jing)常進行校驗(yan)，測(ce)(ce)量(liang)環境保持(chi)一致。