一、電芯k值如何計算

電芯的(de)K值(zhi)是(shi)一個(ge)重要的(de)性能指標，它反映了電(dian)池的(de)老化速度和(he)容量。具體來(lai)說，K值(zhi)是(shi)通過測量電(dian)池充(chong)滿后達到的(de)飽和(he)電(dian)量與其實際放(fang)電(dian)電(dian)流的(de)比值(zhi)計(ji)算得出的(de)，也被稱為額定充(chong)放(fang)電(dian)倍(bei)率。具體計(ji)算方式如下：

K=電(dian)(dian)(dian)池充(chong)(chong)放(fang)電(dian)(dian)(dian)電(dian)(dian)(dian)壓或電(dian)(dian)(dian)流上、下限值(zhi)的(de)最(zui)大正弦波幅(fu)值(zhi)差與標(biao)稱值(zhi)的(de)百分(fen)比，即K=（Umax-Umin）%÷UN×100%。其中(zhong)，K代表偏差系數(shu)；UN為(wei)標(biao)準規定輸入(ru)/輸出直(zhi)流母(mu)線額定電(dian)(dian)(dian)壓（V）；Umax為(wei)在(zai)某工(gong)況下的(de)最(zui)高測(ce)(ce)試(shi)(shi)點對(dui)應(ying)的(de)充(chong)(chong)、放(fang)電(dian)(dian)(dian)壓；Umin為(wei)在(zai)某工(gong)況下的(de)最(zui)低測(ce)(ce)試(shi)(shi)點對(dui)應(ying)的(de)充(chong)(chong)、放(fang)電(dian)(dian)(dian)壓。這些數(shu)據需(xu)要在(zai)實(shi)際測(ce)(ce)量中(zhong)獲取。

二、影響電芯k值的因素有什么

1、正負極材料、電解液種類、隔膜厚度種類

由于(yu)自放電(dian)很大(da)(da)程度上是(shi)發生于(yu)材料(liao)之間，因(yin)此材料(liao)的(de)性能對(dui)自放電(dian)有(you)(you)很大(da)(da)的(de)影響。有(you)(you)人曾做實驗得(de)知三元材料(liao)比鈷酸(suan)鋰電(dian)池自放電(dian)更高。

2、存儲的時間

存儲時間(jian)(jian)變長，一方(fang)面是(shi)使壓降的(de)絕對(dui)值增大(da)，另一方(fang)面則變相的(de)減少(shao)了“儀器絕對(dui)誤差/壓降值”，從而使結(jie)果更為準確(que)。但儲存時間(jian)(jian)過(guo)長也會使正負極之(zhi)間(jian)(jian)容量(liang)的(de)平衡逐漸被打(da)破并深化，電解液的(de)分解也會累計一些不可逆容量(liang)損(sun)失，使自(zi)放電變大(da)。

3、存儲的條件

存儲溫度(du)和濕度(du)的(de)增(zeng)加，會增(zeng)大(da)自(zi)放電程度(du)。

4、保護板自耗

與電芯保護板(ban)自耗電也有一定關(guan)系。

5、測試的初始電壓

初始(shi)電壓（或者說一(yi)次電壓）不同，所(suo)得(de)K值差(cha)別明顯。一(yi)般初始(shi)電壓過高，自放電率越大。

嚴格的說，自放電用容量的衰減來表示，只是沒有合適的設備在不讓電芯放(fang)電(dian)的(de)情(qing)況下直接(jie)測(ce)(ce)出其剩余容量(liang)，而只(zhi)能(neng)是通過測(ce)(ce)量(liang)其電(dian)壓(ya)來間接(jie)的(de)衡(heng)量(liang)其自(zi)放(fang)電(dian)，也就是所說的(de)K值(zhi)，所以(yi)如(ru)果環境條件的(de)改變引起(qi)測(ce)(ce)試電(dian)壓(ya)的(de)偏差(cha)(cha)可能(neng)導致K值(zhi)的(de)測(ce)(ce)量(liang)誤差(cha)(cha)，我(wo)們在實(shi)際(ji)測(ce)(ce)量(liang)時甚至得到了K為負值(zhi)的(de)情(qing)況，這顯(xian)然(ran)與自(zi)放(fang)電(dian)本身的(de)意(yi)義相矛(mao)盾，因此需要(yao)對設備經(jing)常進(jin)行校驗，測(ce)(ce)量(liang)環境保持一致。