評價內存條(tiao)的性能指標(biao)一(yi)共有四個:
(1) 存(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)儲(chu)(chu)(chu)(chu)容(rong)(rong)量(liang):即一(yi)(yi)根內存(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)條可以(yi)(yi)容(rong)(rong)納的(de)(de)(de)(de)二進制信息量(liang),如(ru)常用的(de)(de)(de)(de)168線內存(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)條的(de)(de)(de)(de)存(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)儲(chu)(chu)(chu)(chu)容(rong)(rong)量(liang)一(yi)(yi)般多為(wei)32兆、64兆和128兆。而(er)DDRII3普遍為(wei)1GB到8GB。 (2) 存(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)取(qu)(qu)速度(存(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)儲(chu)(chu)(chu)(chu)周期(qi)):即兩次(ci)獨立的(de)(de)(de)(de)存(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)取(qu)(qu)操作之(zhi)間所需的(de)(de)(de)(de)最短(duan)時(shi)間,又稱為(wei)存(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)儲(chu)(chu)(chu)(chu)周期(qi),半導體存(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)儲(chu)(chu)(chu)(chu)器(qi)的(de)(de)(de)(de)存(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)取(qu)(qu)周期(qi)一(yi)(yi)般為(wei)60納秒至100納秒。 (3) 存(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)儲(chu)(chu)(chu)(chu)器(qi)的(de)(de)(de)(de)可靠性(xing)(xing)(xing)(xing):存(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)儲(chu)(chu)(chu)(chu)器(qi)的(de)(de)(de)(de)可靠性(xing)(xing)(xing)(xing)用平均故障間隔時(shi)間來衡量(liang),可以(yi)(yi)理(li)解為(wei)兩次(ci)故障之(zhi)間的(de)(de)(de)(de)平均時(shi)間間隔。 (4)性(xing)(xing)(xing)(xing)能(neng)價格比:性(xing)(xing)(xing)(xing)能(neng)主要包(bao)括存(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)儲(chu)(chu)(chu)(chu)器(qi)容(rong)(rong)量(liang)、存(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)儲(chu)(chu)(chu)(chu)周期(qi)和可靠性(xing)(xing)(xing)(xing)三項內容(rong)(rong),性(xing)(xing)(xing)(xing)能(neng)價格比是一(yi)(yi)個綜合性(xing)(xing)(xing)(xing)指標,對于不同的(de)(de)(de)(de)存(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)(cun)儲(chu)(chu)(chu)(chu)器(qi)有(you)不同的(de)(de)(de)(de)要求。