一、掃描電鏡如何獲得高品質圖像?

掃描電鏡(jing)觀察(cha)的(de)放大倍數在1萬以(yi)下，通常比其他類型顯微鏡(jing)所觀察(cha)到的(de)圖像更富(fu)有立(li)體感，清晰度(du)更高(gao)(gao)，層(ceng)次細節更分明和豐富(fu)。但(dan)在使用(yong)過程中，也需要注意一些地方(fang)，才能獲得高(gao)(gao)品質圖像：

1、制樣：成(cheng)功制備出所要觀(guan)察的位(wei)置，樣(yang)品如果不導電(dian)，可能需要鍍金。

2、環境：電鏡處(chu)在(zai)無振動(dong)干(gan)擾和無磁場干(gan)擾的環境下。

3、設備：電鏡電子槍仍在合(he)理的(de)使用(yong)時間內。

4、拍攝：找(zhao)到拍攝位置，選(xuan)擇合(he)適距離，選(xuan)擇合(he)適探頭→對中(zhong)→調(diao)像散→聚焦，反復操作至最清晰(xi)即可。

二、掃描電鏡的圖怎么分析

掃描電鏡(jing)圖(tu)片分(fen)(fen)析的(de)方法是觀察SEM圖(tu)片的(de)整(zheng)體形態和結構，了(le)解樣品的(de)形貌(mao)和表(biao)面特征。確定(ding)需要分(fen)(fen)析的(de)區(qu)域，可以使(shi)用(yong)SEM軟件中的(de)標記工(gong)具或者直接在圖(tu)片上標記。測量樣品的(de)尺寸和形態，可以使(shi)用(yong)SEM軟件中的(de)測量工(gong)具進行測量。

如：分(fen)(fen)析樣品(pin)的成分(fen)(fen)和結(jie)(jie)(jie)構，可以使用(yong)SEM配合能譜儀（EDS）或者電子(zi)背(bei)散射（EBSD）等技術進(jin)行分(fen)(fen)析。根據分(fen)(fen)析結(jie)(jie)(jie)果，結(jie)(jie)(jie)合SEM圖片的形態(tai)和結(jie)(jie)(jie)構，對(dui)樣品(pin)進(jin)行進(jin)一步的解釋和推斷。

需(xu)(xu)要(yao)注意(yi)的(de)(de)是，SEM圖片的(de)(de)分析(xi)(xi)需(xu)(xu)要(yao)結(jie)合樣品的(de)(de)具體特征和(he)分析(xi)(xi)目的(de)(de)進行，不同(tong)的(de)(de)樣品和(he)分析(xi)(xi)目的(de)(de)可(ke)能(neng)需(xu)(xu)要(yao)不同(tong)的(de)(de)分析(xi)(xi)方法和(he)技術。