一、掃描電鏡如何獲得高品質圖像?

掃(sao)描(miao)電(dian)鏡觀察的放大倍數在1萬以下(xia)，通常比其他類型顯微鏡所(suo)觀察到的圖(tu)像更富有立(li)體感，清晰(xi)度更高，層次細節更分(fen)明和(he)豐富。但在使用過(guo)程中，也需要注意一些地(di)方，才能(neng)獲得高品質(zhi)圖(tu)像：

1、制樣：成功制(zhi)備出所要觀察的位(wei)置，樣品如果不導電，可(ke)能需要鍍金。

2、環境：電(dian)鏡處在(zai)無(wu)振動干擾和無(wu)磁場干擾的(de)環境下(xia)。

3、設備：電(dian)鏡電(dian)子槍仍(reng)在合理的使用時間內(nei)。

4、拍攝：找到(dao)拍攝(she)位置，選(xuan)擇合適距離(li)，選(xuan)擇合適探頭→對(dui)中→調(diao)像散(san)→聚焦，反復操作(zuo)至最(zui)清晰(xi)即(ji)可。

二、掃描電鏡的圖怎么分析

掃描電鏡圖(tu)片分(fen)析的方法(fa)是(shi)觀察SEM圖(tu)片的整(zheng)體形(xing)態和(he)(he)(he)結(jie)構，了解樣品(pin)的形(xing)貌和(he)(he)(he)表面特(te)征。確定需(xu)要(yao)分(fen)析的區域，可以使用SEM軟件(jian)中的標(biao)記工具或(huo)者直接在圖(tu)片上(shang)標(biao)記。測量(liang)樣品(pin)的尺(chi)寸和(he)(he)(he)形(xing)態，可以使用SEM軟件(jian)中的測量(liang)工具進行測量(liang)。

如：分(fen)(fen)析(xi)樣(yang)品的成分(fen)(fen)和結(jie)構(gou)，可以使(shi)用SEM配合能譜儀（EDS）或者電子背散(san)射(she)（EBSD）等技術進行(xing)分(fen)(fen)析(xi)。根據分(fen)(fen)析(xi)結(jie)果(guo)，結(jie)合SEM圖片的形(xing)態和結(jie)構(gou)，對樣(yang)品進行(xing)進一步的解釋和推斷(duan)。

需(xu)要(yao)注意的(de)是，SEM圖片的(de)分(fen)析需(xu)要(yao)結合樣品(pin)的(de)具(ju)體特征和分(fen)析目(mu)的(de)進行(xing)，不(bu)同的(de)樣品(pin)和分(fen)析目(mu)的(de)可能(neng)需(xu)要(yao)不(bu)同的(de)分(fen)析方(fang)法和技術。