一、掃描電鏡如何獲得高品質圖像?

掃(sao)描(miao)電鏡觀察的放大倍數在1萬以下，通(tong)常(chang)比其他類型顯微(wei)鏡所觀察到的圖像(xiang)(xiang)更(geng)富有立體感，清晰度更(geng)高(gao)，層次細(xi)節更(geng)分明(ming)和豐富。但在使用過程中，也需要(yao)注(zhu)意一(yi)些地方(fang)，才(cai)能獲得高(gao)品質圖像(xiang)(xiang)：

1、制樣：成(cheng)功制備出(chu)所要觀察的位置，樣(yang)品如果不導電，可能需要鍍金。

2、環境：電(dian)鏡處(chu)在無振動干擾和無磁(ci)場干擾的環(huan)境下。

3、設備：電(dian)鏡電(dian)子槍仍在合理的使(shi)用時間內(nei)。

4、拍攝：找到拍(pai)攝(she)位置(zhi)，選擇合適(shi)距離，選擇合適(shi)探頭→對中(zhong)→調像(xiang)散(san)→聚焦(jiao)，反(fan)復操作至(zhi)最清晰即可。

二、掃描電鏡的圖怎么分析

掃描電(dian)鏡圖片分(fen)析的方法是觀察SEM圖片的整(zheng)體形(xing)態(tai)和(he)結構，了解樣品的形(xing)貌和(he)表面特征。確定需要(yao)分(fen)析的區域(yu)，可(ke)以使用(yong)SEM軟件中的標記(ji)工具或(huo)者直接在圖片上標記(ji)。測量(liang)樣品的尺寸和(he)形(xing)態(tai)，可(ke)以使用(yong)SEM軟件中的測量(liang)工具進(jin)行測量(liang)。

如：分(fen)析(xi)樣品(pin)的成分(fen)和結(jie)(jie)構，可(ke)以使用SEM配合(he)能譜儀（EDS）或者電子背散射(she)（EBSD）等技術進(jin)(jin)行分(fen)析(xi)。根據(ju)分(fen)析(xi)結(jie)(jie)果，結(jie)(jie)合(he)SEM圖片的形態和結(jie)(jie)構，對樣品(pin)進(jin)(jin)行進(jin)(jin)一步的解釋和推(tui)斷。

需要注(zhu)意的(de)是，SEM圖(tu)片的(de)分析(xi)需要結合樣(yang)品的(de)具體(ti)特征和(he)分析(xi)目的(de)進行，不同(tong)的(de)樣(yang)品和(he)分析(xi)目的(de)可能需要不同(tong)的(de)分析(xi)方法和(he)技術。