一、掃描電鏡如何獲得高品質圖像?

掃描電鏡觀(guan)察的(de)放大倍數在1萬以下，通常比其他類型顯微鏡所觀(guan)察到的(de)圖像(xiang)更富有立(li)體感，清(qing)晰度更高，層次細節更分(fen)明和豐富。但在使(shi)用過程(cheng)中，也需要注(zhu)意(yi)一(yi)些地方，才能獲得(de)高品(pin)質圖像(xiang)：

1、制樣：成功制備出所要觀察的位(wei)置，樣品如果不導電，可能需要鍍金。

2、環境：電(dian)鏡處(chu)在無振動干擾(rao)和無磁場干擾(rao)的環境(jing)下。

3、設備：電鏡電子槍仍在合理(li)的使用(yong)時間內。

4、拍攝：找(zhao)到拍攝(she)位置，選擇合(he)(he)適距離，選擇合(he)(he)適探頭→對中(zhong)→調像散→聚(ju)焦，反復操作至最清晰即可。

二、掃描電鏡的圖怎么分析

掃描電鏡圖(tu)片(pian)分(fen)析的方法是觀(guan)察SEM圖(tu)片(pian)的整體形(xing)態和(he)(he)結構，了(le)解樣(yang)(yang)品(pin)(pin)的形(xing)貌(mao)和(he)(he)表(biao)面(mian)特征。確(que)定需要分(fen)析的區域，可以使用SEM軟件(jian)中的標記工具或者直接在圖(tu)片(pian)上標記。測(ce)量(liang)樣(yang)(yang)品(pin)(pin)的尺寸和(he)(he)形(xing)態，可以使用SEM軟件(jian)中的測(ce)量(liang)工具進行測(ce)量(liang)。

如：分(fen)析樣(yang)品的(de)成分(fen)和(he)結(jie)構，可(ke)以使用SEM配合能譜儀（EDS）或者電子背散射（EBSD）等(deng)技(ji)術進(jin)(jin)行(xing)分(fen)析。根據(ju)分(fen)析結(jie)果，結(jie)合SEM圖片的(de)形態和(he)結(jie)構，對樣(yang)品進(jin)(jin)行(xing)進(jin)(jin)一步的(de)解(jie)釋(shi)和(he)推斷(duan)。

需要注意(yi)的(de)(de)(de)(de)是，SEM圖(tu)片的(de)(de)(de)(de)分析需要結(jie)合(he)樣品的(de)(de)(de)(de)具體特(te)征(zheng)和分析目的(de)(de)(de)(de)進行，不同的(de)(de)(de)(de)樣品和分析目的(de)(de)(de)(de)可(ke)能需要不同的(de)(de)(de)(de)分析方法和技術。