一、掃描電鏡如何獲得高品質圖像?

掃描電鏡(jing)觀(guan)察(cha)(cha)的放大倍(bei)數(shu)在1萬以下(xia)，通常比其(qi)他類型顯(xian)微鏡(jing)所觀(guan)察(cha)(cha)到的圖(tu)像更(geng)富有立(li)體(ti)感，清晰(xi)度更(geng)高，層次(ci)細(xi)節更(geng)分明和豐富。但在使用過程中，也需(xu)要注(zhu)意(yi)一些地方，才(cai)能獲得高品(pin)質圖(tu)像：

1、制樣：成功(gong)制(zhi)備出所要(yao)觀察的位置，樣品如果不導(dao)電，可能需要(yao)鍍金。

2、環境：電鏡處在無(wu)振動干擾(rao)和無(wu)磁場(chang)干擾(rao)的環境(jing)下。

3、設備：電(dian)鏡電(dian)子槍仍在合理的使用時間內。

4、拍攝：找到拍攝位置，選擇合(he)(he)適距離，選擇合(he)(he)適探(tan)頭→對中→調像散→聚(ju)焦，反復操作至最清晰即可。

二、掃描電鏡的圖怎么分析

掃描(miao)電鏡圖(tu)片分(fen)析的(de)(de)方(fang)法是觀察(cha)SEM圖(tu)片的(de)(de)整體形態(tai)和結構，了(le)解樣(yang)品(pin)的(de)(de)形貌(mao)和表面特(te)征。確定需要分(fen)析的(de)(de)區(qu)域(yu)，可以使(shi)(shi)用SEM軟件中(zhong)的(de)(de)標記工具(ju)或者直(zhi)接在圖(tu)片上標記。測(ce)量(liang)樣(yang)品(pin)的(de)(de)尺寸(cun)和形態(tai)，可以使(shi)(shi)用SEM軟件中(zhong)的(de)(de)測(ce)量(liang)工具(ju)進行測(ce)量(liang)。

如：分析樣(yang)品(pin)的(de)成分和(he)結(jie)(jie)構，可以使用SEM配合能(neng)譜儀(yi)（EDS）或(huo)者電子背散射（EBSD）等技術進行分析。根據分析結(jie)(jie)果，結(jie)(jie)合SEM圖片(pian)的(de)形(xing)態和(he)結(jie)(jie)構，對樣(yang)品(pin)進行進一步的(de)解釋和(he)推斷。

需(xu)要注意的(de)(de)(de)(de)是，SEM圖片的(de)(de)(de)(de)分(fen)析需(xu)要結合樣(yang)品(pin)的(de)(de)(de)(de)具體特征和分(fen)析目(mu)的(de)(de)(de)(de)進行，不(bu)同(tong)的(de)(de)(de)(de)樣(yang)品(pin)和分(fen)析目(mu)的(de)(de)(de)(de)可能需(xu)要不(bu)同(tong)的(de)(de)(de)(de)分(fen)析方(fang)法和技(ji)術。