一、掃描電鏡如何獲得高品質圖像?

掃描電鏡觀(guan)察的放大倍數在1萬以下，通常比其(qi)他類型顯微鏡所觀(guan)察到的圖(tu)像更(geng)富有立(li)體感(gan)，清(qing)晰度(du)更(geng)高，層(ceng)次細(xi)節更(geng)分明(ming)和(he)豐富。但在使用過程中，也需要注意一些地方(fang)，才能獲(huo)得高品質(zhi)圖(tu)像：

1、制樣：成(cheng)功制(zhi)備出所要觀察的位置，樣(yang)品如果不導電，可能需要鍍金(jin)。

2、環境：電鏡處(chu)在無(wu)振動干(gan)(gan)擾(rao)和無(wu)磁場干(gan)(gan)擾(rao)的(de)環(huan)境下。

3、設備：電鏡電子槍仍在(zai)合(he)理的使用時間內。

4、拍攝：找到(dao)拍攝位置，選(xuan)擇(ze)合(he)適(shi)距離，選(xuan)擇(ze)合(he)適(shi)探頭→對中(zhong)→調像(xiang)散→聚焦，反(fan)復操(cao)作至最(zui)清晰(xi)即(ji)可。

二、掃描電鏡的圖怎么分析

掃(sao)描電(dian)鏡圖(tu)(tu)片分析的(de)(de)方法是觀察SEM圖(tu)(tu)片的(de)(de)整體形(xing)態和(he)結構，了解樣(yang)(yang)品(pin)的(de)(de)形(xing)貌和(he)表面特征。確定需要分析的(de)(de)區域，可以(yi)使用SEM軟件中的(de)(de)標記工(gong)具或者直接在圖(tu)(tu)片上標記。測(ce)量樣(yang)(yang)品(pin)的(de)(de)尺寸和(he)形(xing)態，可以(yi)使用SEM軟件中的(de)(de)測(ce)量工(gong)具進行測(ce)量。

如：分(fen)析樣(yang)品(pin)的(de)成分(fen)和結構(gou)(gou)，可(ke)以(yi)使用(yong)SEM配合能譜儀（EDS）或者(zhe)電子背散射(she)（EBSD）等(deng)技術進行分(fen)析。根據分(fen)析結果，結合SEM圖片的(de)形態(tai)和結構(gou)(gou)，對(dui)樣(yang)品(pin)進行進一步的(de)解釋和推斷。

需要(yao)注意的是，SEM圖片(pian)的分析(xi)(xi)需要(yao)結合樣品的具體特征和分析(xi)(xi)目(mu)的進(jin)行(xing)，不(bu)同的樣品和分析(xi)(xi)目(mu)的可能需要(yao)不(bu)同的分析(xi)(xi)方法和技術。