一、掃描電鏡如何獲得高品質圖像?

掃描(miao)電鏡(jing)觀察的放大倍數在1萬以下，通常比其他類型顯微鏡(jing)所觀察到的圖像更富有立(li)體感，清(qing)晰度更高(gao)，層(ceng)次(ci)細(xi)節(jie)更分明和豐富。但在使用過程中(zhong)，也需要(yao)注(zhu)意一些(xie)地方，才能獲得高(gao)品質圖像：

1、制樣：成功(gong)制備出(chu)所要(yao)觀察(cha)的位置，樣品如果(guo)不導(dao)電，可(ke)能需要(yao)鍍金。

2、環境：電鏡(jing)處在無振動干(gan)擾和無磁場(chang)干(gan)擾的環境下。

3、設備：電(dian)鏡電(dian)子槍仍在合理的使用(yong)時(shi)間內(nei)。

4、拍攝：找到(dao)拍(pai)攝位置，選擇合適(shi)距離，選擇合適(shi)探頭→對中→調像散→聚(ju)焦，反復操(cao)作至最清晰即(ji)可。

二、掃描電鏡的圖怎么分析

掃描電(dian)鏡圖片分析的(de)方(fang)法是觀察SEM圖片的(de)整體(ti)形態和(he)結構，了解樣(yang)品(pin)的(de)形貌和(he)表面特征。確定需要(yao)分析的(de)區(qu)域，可以使用SEM軟件中(zhong)的(de)標(biao)記(ji)工具或者直(zhi)接在(zai)圖片上(shang)標(biao)記(ji)。測(ce)(ce)量(liang)樣(yang)品(pin)的(de)尺(chi)寸(cun)和(he)形態，可以使用SEM軟件中(zhong)的(de)測(ce)(ce)量(liang)工具進行測(ce)(ce)量(liang)。

如：分析樣品的(de)成分和結(jie)構(gou)，可以使用SEM配(pei)合(he)能譜儀（EDS）或者電子背散射（EBSD）等技術進(jin)行(xing)分析。根據分析結(jie)果，結(jie)合(he)SEM圖片的(de)形態和結(jie)構(gou)，對樣品進(jin)行(xing)進(jin)一步的(de)解釋(shi)和推斷。

需要注(zhu)意的是，SEM圖片的分(fen)析需要結(jie)合樣品(pin)的具體特(te)征(zheng)和(he)分(fen)析目的進行，不(bu)同的樣品(pin)和(he)分(fen)析目的可能需要不(bu)同的分(fen)析方(fang)法和(he)技術(shu)。