一、什么是鍍層測厚儀

鍍層測厚儀又稱涂層測厚儀、涂鍍層測厚儀，是一種測(ce)量鍍層等金屬薄(bo)膜的(de)厚度(du)的(de)儀器，主(zhu)要用于測(ce)量鋼、鐵等鐵磁(ci)(ci)質金屬基體(ti)上的(de)非鐵磁(ci)(ci)性(xing)涂層、鍍層，其具有以下特點：

1、精度高：鍍(du)層測厚儀的(de)測量(liang)精度通常在±0.1μm范圍內(nei)，可(ke)以滿足大多數表(biao)面(mian)鍍(du)層或涂層的(de)測量(liang)需求(qiu)。

2、快速(su)測(ce)量：鍍(du)層測(ce)厚儀(yi)可(ke)以(yi)在短(duan)時間內(nei)快速(su)測(ce)量大范圍的表(biao)面，提高生產效率。

3、無損檢測(ce)：鍍(du)層測(ce)厚儀不會對被(bei)測(ce)物體(ti)表面造(zao)成損傷，可以用于生產過(guo)程(cheng)中的質量控制和(he)檢測(ce)。

4、操作簡(jian)單：鍍層測厚儀操作簡(jian)單，易(yi)于掌握，適合于不同(tong)領域的用戶(hu)使用。

二、鍍層測厚儀由什么組成

鍍層測厚儀一般由三部分組成：

1、傳感(gan)器：傳感(gan)器部分負責與物體表面接觸，并采集鍍層或涂層的電阻值(zhi)、電導率或磁場強度等(deng)參(can)數。

2、測(ce)量電路：測(ce)量電路部分將傳感器采集的信號進行處(chu)理，計(ji)算(suan)出鍍層(ceng)或(huo)涂層(ceng)的厚度(du)。

3、顯(xian)示(shi)(shi)單(dan)元(yuan)：計算(suan)出的厚度將顯(xian)示(shi)(shi)在顯(xian)示(shi)(shi)單(dan)元(yuan)上。

三、鍍層測厚儀原理是什么

鍍層測厚儀用(yong)于測量鍍層厚度(du)，主要有三種原理：

1、磁吸型

永久磁鐵（測頭）與導磁鋼材(cai)之間的(de)吸(xi)力大小(xiao)與處于(yu)這兩者之間的(de)距(ju)離成(cheng)(cheng)一定比例關系，這個距(ju)離就(jiu)是(shi)覆層(ceng)(ceng)的(de)厚(hou)度。利用這一原理制成(cheng)(cheng)測厚(hou)儀，只(zhi)要(yao)覆層(ceng)(ceng)與基材(cai)的(de)導磁率之差足(zu)夠大，就(jiu)可進(jin)行測量。

這(zhe)種測厚儀基本結構由磁鋼，接力(li)(li)簧(huang)，標尺及自停機(ji)構組成。磁鋼與被測物吸(xi)合(he)后，將測量簧(huang)在其(qi)后逐(zhu)漸拉(la)(la)長(chang)，拉(la)(la)力(li)(li)逐(zhu)漸增大(da)(da)。當拉(la)(la)力(li)(li)剛好(hao)大(da)(da)于吸(xi)力(li)(li)，磁鋼脫離的一瞬間記錄(lu)下拉(la)(la)力(li)(li)的大(da)(da)小即可獲得覆層厚度(du)。

2、磁感應型

采(cai)用磁(ci)感應(ying)(ying)原理時(shi)，利用從(cong)測頭經過非鐵磁(ci)覆層(ceng)(ceng)而流入(ru)鐵磁(ci)基體的(de)磁(ci)通的(de)大(da)小(xiao)，來(lai)測定覆層(ceng)(ceng)厚度(du)。也(ye)可以測定與(yu)之對應(ying)(ying)的(de)磁(ci)阻(zu)的(de)大(da)小(xiao)，來(lai)表示(shi)其覆層(ceng)(ceng)厚度(du)。覆層(ceng)(ceng)越(yue)(yue)厚，則磁(ci)阻(zu)越(yue)(yue)大(da)，磁(ci)通越(yue)(yue)小(xiao)。

利用磁(ci)感應原(yuan)理(li)的測厚儀，原(yuan)則上(shang)可以有導磁(ci)基(ji)體上(shang)的非導磁(ci)覆(fu)(fu)層厚度，一般要(yao)求基(ji)材(cai)(cai)導磁(ci)率在500以上(shang)，如果覆(fu)(fu)層材(cai)(cai)料(liao)也有磁(ci)性，則要(yao)求與基(ji)材(cai)(cai)的導磁(ci)率之差足夠大（如鋼上(shang)鍍(du)鎳）。

3、電渦流型

高頻交(jiao)流信(xin)號在測(ce)頭線圈中產(chan)生電(dian)(dian)磁(ci)場，測(ce)頭靠近導體時(shi)，就在其中形成渦流。測(ce)頭離導電(dian)(dian)基體愈近，則渦流愈大(da)，反射阻抗也(ye)愈大(da)。這(zhe)個反饋作用量表(biao)征了測(ce)頭與導電(dian)(dian)基體之(zhi)間距離的(de)大(da)小，也(ye)就是(shi)導電(dian)(dian)基體上(shang)非導電(dian)(dian)覆層(ceng)厚度(du)的(de)大(da)小。

采用電渦流原理的測厚儀，原則上(shang)對所有(you)導(dao)電(dian)體(ti)上(shang)的(de)非導(dao)電(dian)體(ti)覆(fu)層均可測量，如航(hang)天(tian)航(hang)空器(qi)表(biao)面、車輛(liang)、家電(dian)、鋁(lv)(lv)合(he)金門(men)窗及其它(ta)鋁(lv)(lv)制(zhi)品表(biao)面的(de)漆，塑料(liao)涂層及陽極氧化膜。覆(fu)層材料(liao)有(you)一定的(de)導(dao)電(dian)性，通過(guo)校(xiao)準同樣也可測量，但要求兩(liang)者的(de)導(dao)電(dian)率(lv)之比至少相差(cha)3-5倍（如銅上(shang)鍍鉻）。