一、什么是鍍層測厚儀

鍍層測厚儀又稱涂層測厚儀、涂鍍層測厚儀，是(shi)一(yi)種測(ce)量(liang)鍍(du)層(ceng)(ceng)等(deng)金(jin)屬薄膜的(de)厚度(du)的(de)儀器(qi)，主要用(yong)于(yu)測(ce)量(liang)鋼、鐵(tie)等(deng)鐵(tie)磁質(zhi)金(jin)屬基體上的(de)非鐵(tie)磁性涂層(ceng)(ceng)、鍍(du)層(ceng)(ceng)，其具有(you)以下特點：

1、精度(du)高：鍍(du)層(ceng)(ceng)測(ce)厚(hou)儀的測(ce)量精度(du)通常在(zai)±0.1μm范(fan)圍內，可以滿足大多數表(biao)面鍍(du)層(ceng)(ceng)或涂層(ceng)(ceng)的測(ce)量需(xu)求。

2、快速測量：鍍層測厚儀可以在短(duan)時間內(nei)快速測量大(da)范圍的(de)表面，提高生產效率。

3、無(wu)損(sun)檢測：鍍(du)層測厚儀(yi)不會對被測物體(ti)表面造(zao)成(cheng)損(sun)傷(shang)，可以用(yong)于生產(chan)過程中(zhong)的質量控制和(he)檢測。

4、操作簡單：鍍層測厚(hou)儀操作簡單，易于掌握，適合(he)于不同領域的用(yong)戶使(shi)用(yong)。

二、鍍層測厚儀由什么組成

鍍層(ceng)測厚儀一般由三部分組成(cheng)：

1、傳感(gan)器：傳感(gan)器部分(fen)負責與(yu)物(wu)體(ti)表面(mian)接觸，并采(cai)集鍍(du)層或涂層的電阻值(zhi)、電導率(lv)或磁場強度等參數。

2、測量電路(lu)：測量電路(lu)部分將傳感器采集的信號(hao)進行(xing)處理，計(ji)算(suan)出(chu)鍍層或涂層的厚度。

3、顯(xian)示單元：計算出的厚度將顯(xian)示在顯(xian)示單元上。

三、鍍層測厚儀原理是什么

鍍(du)層測厚(hou)(hou)儀用(yong)于測量(liang)鍍(du)層厚(hou)(hou)度，主要(yao)有三種原理：

1、磁吸型

永久磁(ci)鐵(tie)（測頭(tou)）與(yu)導磁(ci)鋼材之間的(de)吸力大小與(yu)處于這兩者之間的(de)距離成(cheng)一(yi)定(ding)比例關系，這個距離就(jiu)是覆層的(de)厚(hou)度。利用這一(yi)原理制成(cheng)測厚(hou)儀，只要(yao)覆層與(yu)基材的(de)導磁(ci)率之差足夠大，就(jiu)可進行(xing)測量(liang)。

這種測(ce)厚儀基本結構由磁鋼(gang)，接力(li)簧，標(biao)尺及自停機(ji)構組成。磁鋼(gang)與被(bei)測(ce)物吸(xi)合后，將測(ce)量簧在其后逐(zhu)漸拉長(chang)，拉力(li)逐(zhu)漸增大。當拉力(li)剛好大于吸(xi)力(li)，磁鋼(gang)脫離的一瞬間記錄下拉力(li)的大小即可獲得覆(fu)層厚度。

2、磁感應型

采用磁(ci)(ci)感應原理(li)時，利用從測(ce)(ce)頭經過非鐵磁(ci)(ci)覆(fu)(fu)層(ceng)而流(liu)入鐵磁(ci)(ci)基體的(de)磁(ci)(ci)通的(de)大小(xiao)，來測(ce)(ce)定覆(fu)(fu)層(ceng)厚(hou)度(du)。也可(ke)以測(ce)(ce)定與之對應的(de)磁(ci)(ci)阻(zu)(zu)的(de)大小(xiao)，來表示其覆(fu)(fu)層(ceng)厚(hou)度(du)。覆(fu)(fu)層(ceng)越厚(hou)，則磁(ci)(ci)阻(zu)(zu)越大，磁(ci)(ci)通越小(xiao)。

利用磁(ci)感應原(yuan)理(li)的(de)測厚(hou)儀，原(yuan)則(ze)上(shang)可以有導(dao)磁(ci)基(ji)體上(shang)的(de)非導(dao)磁(ci)覆層厚(hou)度，一般要(yao)求基(ji)材導(dao)磁(ci)率(lv)在500以上(shang)，如果(guo)覆層材料也有磁(ci)性，則(ze)要(yao)求與(yu)基(ji)材的(de)導(dao)磁(ci)率(lv)之(zhi)差足(zu)夠(gou)大（如鋼上(shang)鍍鎳）。

3、電渦流型

高頻交流信號在測(ce)頭(tou)線圈(quan)中(zhong)產生電(dian)磁(ci)場(chang)，測(ce)頭(tou)靠近導(dao)體(ti)(ti)(ti)時，就(jiu)在其中(zhong)形(xing)成(cheng)渦流。測(ce)頭(tou)離導(dao)電(dian)基體(ti)(ti)(ti)愈近，則渦流愈大(da)(da)，反射阻抗也愈大(da)(da)。這(zhe)個(ge)反饋作用量表征(zheng)了測(ce)頭(tou)與導(dao)電(dian)基體(ti)(ti)(ti)之間距離的大(da)(da)小，也就(jiu)是導(dao)電(dian)基體(ti)(ti)(ti)上非(fei)導(dao)電(dian)覆(fu)層(ceng)厚度的大(da)(da)小。

采用電渦流原理的測厚儀，原則上(shang)對所(suo)有導(dao)(dao)電(dian)體上(shang)的(de)非導(dao)(dao)電(dian)體覆層(ceng)均可(ke)測量，如航(hang)(hang)天航(hang)(hang)空器表面、車(che)輛、家電(dian)、鋁合(he)金(jin)門窗及其它鋁制品表面的(de)漆，塑(su)料涂層(ceng)及陽(yang)極氧化膜。覆層(ceng)材(cai)料有一定的(de)導(dao)(dao)電(dian)性，通過校準(zhun)同樣(yang)也可(ke)測量，但要求兩者(zhe)的(de)導(dao)(dao)電(dian)率之比至少(shao)相差3-5倍（如銅上(shang)鍍(du)鉻）。