一、什么是鍍層測厚儀

鍍層測厚儀又稱涂層測厚儀、涂鍍層測厚儀，是一種測(ce)量鍍層(ceng)等金(jin)屬(shu)薄膜的(de)厚(hou)度(du)的(de)儀器，主要用于測(ce)量鋼、鐵等鐵磁質金(jin)屬(shu)基體上的(de)非鐵磁性(xing)涂層(ceng)、鍍層(ceng)，其具有以下特(te)點：

1、精度高(gao)：鍍(du)層(ceng)測(ce)(ce)厚儀的測(ce)(ce)量精度通常在±0.1μm范(fan)圍內，可以滿足大多數表面鍍(du)層(ceng)或涂(tu)層(ceng)的測(ce)(ce)量需求。

2、快速測(ce)量：鍍層測(ce)厚(hou)儀可以在短時間內快速測(ce)量大范圍(wei)的表面(mian)，提(ti)高(gao)生(sheng)產(chan)效率。

3、無損檢測(ce)(ce)：鍍層測(ce)(ce)厚儀不會對被測(ce)(ce)物體(ti)表面造成損傷，可以用于生產過程(cheng)中(zhong)的質量控制和檢測(ce)(ce)。

4、操作簡單：鍍層(ceng)測厚儀(yi)操作簡單，易于掌握，適(shi)合于不(bu)同領域的用(yong)戶使用(yong)。

二、鍍層測厚儀由什么組成

鍍層(ceng)測厚儀一般由(you)三部分(fen)組成(cheng)：

1、傳感器：傳感器部(bu)分負責(ze)與物體表面(mian)接觸(chu)，并采(cai)集鍍層或(huo)涂層的電(dian)阻值、電(dian)導率或(huo)磁場強度等參數(shu)。

2、測(ce)量電路：測(ce)量電路部分將傳感(gan)器(qi)采集的(de)信(xin)號進(jin)行(xing)處理，計算出鍍(du)層或涂層的(de)厚度(du)。

3、顯(xian)示單(dan)元：計算出的厚度(du)將顯(xian)示在(zai)顯(xian)示單(dan)元上。

三、鍍層測厚儀原理是什么

鍍層測厚(hou)(hou)儀用于(yu)測量鍍層厚(hou)(hou)度，主要(yao)有(you)三種原(yuan)理：

1、磁吸型

永久磁(ci)(ci)鐵（測頭）與導(dao)磁(ci)(ci)鋼(gang)材之間的(de)吸力(li)大(da)小與處于這(zhe)兩者之間的(de)距離成(cheng)一定比例關(guan)系，這(zhe)個距離就是覆層的(de)厚(hou)(hou)度。利用這(zhe)一原(yuan)理制成(cheng)測厚(hou)(hou)儀，只要覆層與基(ji)材的(de)導(dao)磁(ci)(ci)率之差足夠大(da)，就可進行測量。

這種測厚(hou)儀(yi)基本結(jie)構由磁鋼，接力簧(huang)，標尺及(ji)自(zi)停(ting)機(ji)構組成。磁鋼與被測物吸(xi)合后，將測量簧(huang)在其后逐漸(jian)拉長，拉力逐漸(jian)增大(da)。當拉力剛好大(da)于吸(xi)力，磁鋼脫離的一(yi)瞬(shun)間記錄下拉力的大(da)小(xiao)即(ji)可(ke)獲得覆層厚(hou)度。

2、磁感應型

采用(yong)磁(ci)(ci)(ci)感應(ying)(ying)原理時，利用(yong)從測(ce)頭(tou)經過非鐵磁(ci)(ci)(ci)覆(fu)層(ceng)而(er)流入鐵磁(ci)(ci)(ci)基體的(de)磁(ci)(ci)(ci)通的(de)大(da)小，來測(ce)定覆(fu)層(ceng)厚(hou)度(du)。也可以測(ce)定與(yu)之對應(ying)(ying)的(de)磁(ci)(ci)(ci)阻的(de)大(da)小，來表示其(qi)覆(fu)層(ceng)厚(hou)度(du)。覆(fu)層(ceng)越(yue)厚(hou)，則磁(ci)(ci)(ci)阻越(yue)大(da)，磁(ci)(ci)(ci)通越(yue)小。

利用磁感應原理的測厚儀，原則(ze)上(shang)可以(yi)有(you)導磁基(ji)體上(shang)的非導磁覆層厚度，一般要求基(ji)材(cai)(cai)導磁率(lv)在(zai)500以(yi)上(shang)，如(ru)(ru)果覆層材(cai)(cai)料(liao)也有(you)磁性，則(ze)要求與(yu)基(ji)材(cai)(cai)的導磁率(lv)之差足夠(gou)大（如(ru)(ru)鋼上(shang)鍍鎳）。

3、電渦流型

高頻交流信號在測(ce)頭(tou)(tou)線圈中產生(sheng)電磁(ci)場，測(ce)頭(tou)(tou)靠近導(dao)體時(shi)，就在其中形成渦流。測(ce)頭(tou)(tou)離(li)導(dao)電基(ji)(ji)體愈近，則渦流愈大(da)，反射(she)阻抗也(ye)愈大(da)。這個反饋作用量表(biao)征(zheng)了測(ce)頭(tou)(tou)與導(dao)電基(ji)(ji)體之間(jian)距離(li)的大(da)小(xiao)，也(ye)就是導(dao)電基(ji)(ji)體上(shang)非導(dao)電覆層厚度的大(da)小(xiao)。

采用電渦流原理的測厚儀，原則上對所有導(dao)(dao)電(dian)(dian)體上的非(fei)導(dao)(dao)電(dian)(dian)體覆層(ceng)均(jun)可測(ce)(ce)量，如航天航空器表(biao)面、車輛(liang)、家電(dian)(dian)、鋁合金門窗及其它(ta)鋁制(zhi)品表(biao)面的漆，塑料涂層(ceng)及陽極氧化膜。覆層(ceng)材料有一(yi)定的導(dao)(dao)電(dian)(dian)性，通過校準同(tong)樣也可測(ce)(ce)量，但要求兩者的導(dao)(dao)電(dian)(dian)率之比至少相差3-5倍（如銅上鍍(du)鉻(ge)）。