一、什么是鍍層測厚儀

鍍層測厚儀又稱涂層測厚儀、涂鍍層測厚儀，是(shi)一種測量鍍層(ceng)等(deng)金屬薄(bo)膜的(de)厚(hou)度的(de)儀器，主要用于測量鋼、鐵等(deng)鐵磁質金屬基(ji)體上的(de)非鐵磁性涂(tu)層(ceng)、鍍層(ceng)，其具有以下特點(dian)：

1、精度高：鍍層測(ce)厚儀的(de)測(ce)量精度通常在±0.1μm范圍(wei)內，可以滿足(zu)大多數表面(mian)鍍層或(huo)涂層的(de)測(ce)量需求。

2、快速測(ce)量(liang)：鍍層測(ce)厚儀可以在(zai)短時(shi)間(jian)內快速測(ce)量(liang)大范圍(wei)的表(biao)面，提高生產效(xiao)率。

3、無(wu)損(sun)(sun)檢測(ce)：鍍層測(ce)厚儀不會對被測(ce)物(wu)體(ti)表面(mian)造成損(sun)(sun)傷，可以(yi)用于生產過程中的(de)質量控(kong)制和檢測(ce)。

4、操(cao)作簡(jian)單：鍍(du)層測厚(hou)儀操(cao)作簡(jian)單，易于掌握，適合于不同領(ling)域的(de)用(yong)戶使用(yong)。

二、鍍層測厚儀由什么組成

鍍(du)層測厚儀一般由三部分(fen)組成：

1、傳感(gan)器(qi)：傳感(gan)器(qi)部分負責與物體表(biao)面接(jie)觸，并采集鍍層(ceng)或(huo)涂(tu)層(ceng)的電(dian)阻值、電(dian)導率或(huo)磁場強度等參數。

2、測量(liang)電路：測量(liang)電路部(bu)分將傳感器采集的(de)(de)信(xin)號進行處理(li)，計算(suan)出(chu)鍍層或涂層的(de)(de)厚(hou)度。

3、顯示(shi)(shi)單(dan)元：計算出(chu)的厚度將(jiang)顯示(shi)(shi)在顯示(shi)(shi)單(dan)元上。

三、鍍層測厚儀原理是什么

鍍層測(ce)厚(hou)儀用于(yu)測(ce)量鍍層厚(hou)度，主要有三種原理：

1、磁吸型

永久磁鐵（測(ce)頭）與導(dao)磁鋼(gang)材(cai)之(zhi)間的(de)吸力大小與處于這(zhe)兩者之(zhi)間的(de)距離(li)成一(yi)定比例(li)關(guan)系，這(zhe)個距離(li)就是(shi)覆層的(de)厚度。利(li)用這(zhe)一(yi)原理制成測(ce)厚儀(yi)，只要(yao)覆層與基材(cai)的(de)導(dao)磁率之(zhi)差足夠大，就可進行測(ce)量。

這種測厚儀基本結構由磁(ci)鋼，接力(li)簧，標尺及(ji)自停機(ji)構組成(cheng)。磁(ci)鋼與被測物(wu)吸合后，將測量簧在(zai)其后逐(zhu)漸(jian)拉(la)長，拉(la)力(li)逐(zhu)漸(jian)增(zeng)大。當拉(la)力(li)剛好大于吸力(li)，磁(ci)鋼脫離的(de)一(yi)瞬間記(ji)錄下拉(la)力(li)的(de)大小即(ji)可獲(huo)得(de)覆層厚度。

2、磁感應型

采用(yong)磁(ci)感應原(yuan)理時，利用(yong)從測(ce)頭經(jing)過(guo)非鐵磁(ci)覆(fu)(fu)層(ceng)(ceng)(ceng)而流入鐵磁(ci)基體的磁(ci)通的大(da)小，來(lai)測(ce)定覆(fu)(fu)層(ceng)(ceng)(ceng)厚(hou)度(du)。也(ye)可以(yi)測(ce)定與之(zhi)對應的磁(ci)阻的大(da)小，來(lai)表示其覆(fu)(fu)層(ceng)(ceng)(ceng)厚(hou)度(du)。覆(fu)(fu)層(ceng)(ceng)(ceng)越(yue)(yue)厚(hou)，則磁(ci)阻越(yue)(yue)大(da)，磁(ci)通越(yue)(yue)小。

利用磁(ci)(ci)(ci)(ci)感應原理(li)的(de)測厚儀，原則上(shang)可以有(you)導磁(ci)(ci)(ci)(ci)基體上(shang)的(de)非導磁(ci)(ci)(ci)(ci)覆(fu)層厚度，一般要(yao)求基材導磁(ci)(ci)(ci)(ci)率(lv)在500以上(shang)，如(ru)(ru)果覆(fu)層材料也(ye)有(you)磁(ci)(ci)(ci)(ci)性(xing)，則要(yao)求與基材的(de)導磁(ci)(ci)(ci)(ci)率(lv)之差足夠大（如(ru)(ru)鋼(gang)上(shang)鍍鎳）。

3、電渦流型

高頻交流(liu)(liu)信(xin)號在(zai)測(ce)頭線圈中產生電磁場，測(ce)頭靠(kao)近導體(ti)時，就在(zai)其(qi)中形成渦流(liu)(liu)。測(ce)頭離導電基(ji)體(ti)愈(yu)近，則渦流(liu)(liu)愈(yu)大，反射阻(zu)抗也(ye)愈(yu)大。這個反饋作用量(liang)表征了測(ce)頭與導電基(ji)體(ti)之間距離的大小，也(ye)就是導電基(ji)體(ti)上非導電覆(fu)層(ceng)厚度的大小。

采用電渦流原理的測厚儀，原則上(shang)對所有(you)導電(dian)(dian)體上(shang)的非導電(dian)(dian)體覆層均可測(ce)量，如航(hang)天航(hang)空器(qi)表面(mian)、車輛(liang)、家(jia)電(dian)(dian)、鋁(lv)合金門(men)窗(chuang)及其它鋁(lv)制品(pin)表面(mian)的漆，塑料涂層及陽(yang)極氧化膜。覆層材料有(you)一定(ding)的導電(dian)(dian)性，通過校(xiao)準(zhun)同樣也可測(ce)量，但要求兩者的導電(dian)(dian)率之比至少相差3-5倍（如銅上(shang)鍍鉻(ge)）。