一、什么是鍍層測厚儀

鍍層測厚儀又稱涂層測厚儀、涂鍍層測厚儀，是一種測量(liang)鍍層等(deng)金屬(shu)薄膜的(de)(de)厚(hou)度的(de)(de)儀器，主要用于測量(liang)鋼、鐵(tie)等(deng)鐵(tie)磁質金屬(shu)基體上的(de)(de)非鐵(tie)磁性涂(tu)層、鍍層，其具有以(yi)下特點：

1、精(jing)度(du)高：鍍層(ceng)測(ce)(ce)(ce)厚儀的(de)測(ce)(ce)(ce)量精(jing)度(du)通常在±0.1μm范(fan)圍內，可(ke)以滿(man)足大多(duo)數表(biao)面(mian)鍍層(ceng)或(huo)涂層(ceng)的(de)測(ce)(ce)(ce)量需求。

2、快(kuai)速測量：鍍層測厚儀可以在短時間內(nei)快(kuai)速測量大(da)范(fan)圍(wei)的表面，提(ti)高生(sheng)產(chan)效率。

3、無損檢測(ce)：鍍(du)層測(ce)厚儀不會對(dui)被測(ce)物體表面造成損傷，可以用于生產過程中的質量(liang)控制和檢測(ce)。

4、操作(zuo)簡(jian)(jian)單(dan)(dan)：鍍層測厚儀操作(zuo)簡(jian)(jian)單(dan)(dan)，易(yi)于掌握，適合于不同(tong)領域(yu)的用戶(hu)使用。

二、鍍層測厚儀由什么組成

鍍層測厚(hou)儀一般由三(san)部分組成：

1、傳感(gan)器：傳感(gan)器部分負責與物體(ti)表面(mian)接(jie)觸，并(bing)采集鍍(du)層或涂層的(de)電阻值(zhi)、電導率或磁(ci)場強度(du)等參(can)數。

2、測(ce)量電路：測(ce)量電路部分將傳感器采集的信號進行處理，計算出鍍層或涂層的厚度。

3、顯(xian)示單(dan)元：計算出的(de)厚(hou)度將(jiang)顯(xian)示在顯(xian)示單(dan)元上。

三、鍍層測厚儀原理是什么

鍍層測(ce)厚儀用于測(ce)量(liang)鍍層厚度，主要有三種原理(li)：

1、磁吸型

永(yong)久磁鐵（測頭）與(yu)導(dao)(dao)磁鋼材之(zhi)間的吸力大小與(yu)處于這(zhe)(zhe)兩(liang)者(zhe)之(zhi)間的距離(li)成一定比(bi)例(li)關系，這(zhe)(zhe)個距離(li)就(jiu)是(shi)覆層的厚度。利用(yong)這(zhe)(zhe)一原理制(zhi)成測厚儀，只要(yao)覆層與(yu)基材的導(dao)(dao)磁率(lv)之(zhi)差足夠大，就(jiu)可進行(xing)測量。

這種測(ce)(ce)(ce)厚(hou)儀基本結構(gou)由磁(ci)鋼(gang)，接力簧(huang)，標(biao)尺(chi)及(ji)自停(ting)機構(gou)組成。磁(ci)鋼(gang)與(yu)被測(ce)(ce)(ce)物(wu)吸合后，將測(ce)(ce)(ce)量簧(huang)在其后逐漸(jian)拉(la)(la)長，拉(la)(la)力逐漸(jian)增大。當拉(la)(la)力剛好(hao)大于(yu)吸力，磁(ci)鋼(gang)脫離的一瞬(shun)間記錄(lu)下拉(la)(la)力的大小即(ji)可(ke)獲得覆層厚(hou)度。

2、磁感應型

采用磁(ci)(ci)感應原理時，利用從測(ce)頭經過非鐵磁(ci)(ci)覆層(ceng)而流入鐵磁(ci)(ci)基體的磁(ci)(ci)通的大(da)(da)(da)小(xiao)，來測(ce)定覆層(ceng)厚(hou)度(du)。也可以測(ce)定與之(zhi)對應的磁(ci)(ci)阻(zu)的大(da)(da)(da)小(xiao)，來表(biao)示(shi)其(qi)覆層(ceng)厚(hou)度(du)。覆層(ceng)越厚(hou)，則磁(ci)(ci)阻(zu)越大(da)(da)(da)，磁(ci)(ci)通越小(xiao)。

利用磁(ci)(ci)感應原理的(de)(de)測厚(hou)儀，原則上可以(yi)有導(dao)(dao)磁(ci)(ci)基(ji)體上的(de)(de)非(fei)導(dao)(dao)磁(ci)(ci)覆層(ceng)(ceng)厚(hou)度，一般要求基(ji)材(cai)(cai)導(dao)(dao)磁(ci)(ci)率(lv)在(zai)500以(yi)上，如(ru)果覆層(ceng)(ceng)材(cai)(cai)料也有磁(ci)(ci)性，則要求與基(ji)材(cai)(cai)的(de)(de)導(dao)(dao)磁(ci)(ci)率(lv)之差(cha)足夠大(da)（如(ru)鋼(gang)上鍍鎳(nie)）。

3、電渦流型

高頻交流(liu)信號(hao)在測(ce)頭線圈中產生(sheng)電磁場，測(ce)頭靠近導(dao)體(ti)時，就在其中形(xing)成渦流(liu)。測(ce)頭離(li)導(dao)電基(ji)體(ti)愈(yu)近，則渦流(liu)愈(yu)大(da)，反射阻抗也愈(yu)大(da)。這個反饋作用量表征了測(ce)頭與導(dao)電基(ji)體(ti)之間距離(li)的大(da)小，也就是導(dao)電基(ji)體(ti)上非導(dao)電覆層厚度的大(da)小。

采用電渦流原理的測厚儀，原則上對(dui)所有導電(dian)體(ti)上的(de)(de)非導電(dian)體(ti)覆層均(jun)可(ke)測(ce)量，如(ru)航(hang)天航(hang)空器表面、車輛、家電(dian)、鋁(lv)合(he)金門窗及其它鋁(lv)制品表面的(de)(de)漆(qi)，塑料涂層及陽(yang)極氧化膜。覆層材料有一定的(de)(de)導電(dian)性，通過校準同樣也可(ke)測(ce)量，但要求兩(liang)者(zhe)的(de)(de)導電(dian)率之比至(zhi)少相差3-5倍（如(ru)銅上鍍鉻(ge)）。