一、什么是鍍層測厚儀

鍍層測厚儀又稱涂層測厚儀、涂鍍層測厚儀，是一(yi)種測量鍍層等金(jin)屬薄膜的(de)(de)厚度(du)的(de)(de)儀器，主要用于測量鋼(gang)、鐵等鐵磁質(zhi)金(jin)屬基體上的(de)(de)非鐵磁性(xing)涂層、鍍層，其具(ju)有以下特點：

1、精度(du)(du)高：鍍(du)層測(ce)(ce)厚(hou)儀的(de)(de)測(ce)(ce)量精度(du)(du)通常在±0.1μm范圍內(nei)，可(ke)以滿(man)足大(da)多(duo)數(shu)表面鍍(du)層或涂層的(de)(de)測(ce)(ce)量需求(qiu)。

2、快(kuai)速測量：鍍層(ceng)測厚(hou)儀(yi)可以(yi)在短(duan)時間內快(kuai)速測量大范圍(wei)的表面，提高生產(chan)效率。

3、無損(sun)檢(jian)測：鍍層測厚(hou)儀不(bu)會對被測物(wu)體表(biao)面(mian)造成損(sun)傷，可以用于生產過程(cheng)中的(de)質量控制和檢(jian)測。

4、操作簡單：鍍層測(ce)厚儀操作簡單，易(yi)于(yu)掌握(wo)，適合于(yu)不同領域的(de)用戶使用。

二、鍍層測厚儀由什么組成

鍍層(ceng)測厚(hou)儀一般由三部分組成：

1、傳感(gan)器：傳感(gan)器部分負責與(yu)物體表(biao)面接觸，并采集鍍層(ceng)(ceng)或涂層(ceng)(ceng)的電阻(zu)值(zhi)、電導率或磁場強度等參數(shu)。

2、測(ce)量(liang)電路(lu)：測(ce)量(liang)電路(lu)部(bu)分將傳感器采集的信號進行處理，計算出鍍層(ceng)或涂層(ceng)的厚(hou)度。

3、顯示(shi)單元(yuan)：計算(suan)出(chu)的厚度將(jiang)顯示(shi)在顯示(shi)單元(yuan)上。

三、鍍層測厚儀原理是什么

鍍(du)層(ceng)測厚(hou)儀用于(yu)測量鍍(du)層(ceng)厚(hou)度，主要有三種原理：

1、磁吸型

永久磁鐵（測頭）與(yu)導磁鋼材(cai)之間的(de)(de)吸力大小與(yu)處于(yu)這兩者之間的(de)(de)距離(li)成一(yi)定比例關(guan)系，這個距離(li)就是(shi)覆層(ceng)的(de)(de)厚(hou)度。利用這一(yi)原(yuan)理(li)制成測厚(hou)儀(yi)，只要覆層(ceng)與(yu)基材(cai)的(de)(de)導磁率之差足夠(gou)大，就可(ke)進(jin)行測量。

這種測厚(hou)(hou)儀(yi)基本結構由磁(ci)鋼，接(jie)力(li)簧，標(biao)尺及自(zi)停機構組成。磁(ci)鋼與被測物吸(xi)(xi)合后(hou)，將測量(liang)簧在其后(hou)逐漸拉(la)(la)長，拉(la)(la)力(li)逐漸增大(da)。當拉(la)(la)力(li)剛好(hao)大(da)于(yu)吸(xi)(xi)力(li)，磁(ci)鋼脫離(li)的一瞬間記錄(lu)下拉(la)(la)力(li)的大(da)小即(ji)可獲得覆層厚(hou)(hou)度。

2、磁感應型

采用磁(ci)(ci)感應原理時，利用從測頭經過(guo)非(fei)鐵(tie)磁(ci)(ci)覆層而(er)流入鐵(tie)磁(ci)(ci)基體的磁(ci)(ci)通(tong)(tong)的大小，來測定覆層厚度。也可以測定與之對應的磁(ci)(ci)阻(zu)的大小，來表示其覆層厚度。覆層越(yue)厚，則磁(ci)(ci)阻(zu)越(yue)大，磁(ci)(ci)通(tong)(tong)越(yue)小。

利用磁(ci)(ci)感應原理的(de)測(ce)厚儀，原則(ze)上(shang)可以有(you)導(dao)磁(ci)(ci)基(ji)(ji)(ji)體上(shang)的(de)非導(dao)磁(ci)(ci)覆層(ceng)厚度，一般要求基(ji)(ji)(ji)材導(dao)磁(ci)(ci)率在500以上(shang)，如(ru)果(guo)覆層(ceng)材料也有(you)磁(ci)(ci)性，則(ze)要求與基(ji)(ji)(ji)材的(de)導(dao)磁(ci)(ci)率之差足(zu)夠(gou)大（如(ru)鋼上(shang)鍍鎳(nie)）。

3、電渦流型

高頻交流信號在測(ce)頭線(xian)圈中(zhong)(zhong)產(chan)生(sheng)電磁(ci)場(chang)，測(ce)頭靠近(jin)導(dao)(dao)體(ti)時，就在其(qi)中(zhong)(zhong)形成(cheng)渦流。測(ce)頭離導(dao)(dao)電基(ji)體(ti)愈近(jin)，則渦流愈大，反(fan)射阻抗也愈大。這個反(fan)饋作用量表(biao)征了測(ce)頭與導(dao)(dao)電基(ji)體(ti)之間(jian)距離的大小，也就是(shi)導(dao)(dao)電基(ji)體(ti)上非導(dao)(dao)電覆(fu)層厚度的大小。

采用電渦流原理的測厚儀，原則上(shang)對所(suo)有導(dao)電體(ti)上(shang)的(de)非導(dao)電體(ti)覆(fu)層均可測量(liang)，如航天航空器表(biao)面、車輛、家(jia)電、鋁合金門窗及(ji)其它鋁制品表(biao)面的(de)漆，塑料涂層及(ji)陽極氧化膜。覆(fu)層材(cai)料有一(yi)定的(de)導(dao)電性，通過(guo)校(xiao)準(zhun)同(tong)樣也(ye)可測量(liang)，但要(yao)求兩者的(de)導(dao)電率之比至少相差3-5倍（如銅(tong)上(shang)鍍(du)鉻）。