一、什么是鍍層測厚儀

鍍層測厚儀又稱涂層測厚儀、涂鍍層測厚儀，是一種測(ce)量鍍(du)層(ceng)等(deng)金(jin)屬(shu)薄膜的(de)(de)厚(hou)度的(de)(de)儀器，主要用于測(ce)量鋼、鐵等(deng)鐵磁(ci)質金(jin)屬(shu)基體上的(de)(de)非鐵磁(ci)性涂層(ceng)、鍍(du)層(ceng)，其具有(you)以下(xia)特點(dian)：

1、精(jing)度高(gao)：鍍(du)層(ceng)(ceng)測厚(hou)儀(yi)的(de)測量(liang)精(jing)度通常在±0.1μm范圍內，可以滿(man)足大(da)多數表面(mian)鍍(du)層(ceng)(ceng)或涂層(ceng)(ceng)的(de)測量(liang)需(xu)求。

2、快速測量：鍍層測厚儀可以在短時間內快速測量大范圍的(de)表面，提高生產效率(lv)。

3、無損(sun)(sun)檢(jian)測：鍍層測厚儀不(bu)會對被測物體表面造(zao)成損(sun)(sun)傷，可(ke)以用于生(sheng)產過程中的(de)質量控制(zhi)和檢(jian)測。

4、操(cao)作簡(jian)單(dan)(dan)：鍍層測厚儀操(cao)作簡(jian)單(dan)(dan)，易于掌握(wo)，適(shi)合于不同領域的用戶使用。

二、鍍層測厚儀由什么組成

鍍層測厚儀(yi)一般由三(san)部分組成：

1、傳感器(qi)：傳感器(qi)部(bu)分負責(ze)與物(wu)體表(biao)面接觸(chu)，并采集鍍層(ceng)或涂層(ceng)的(de)電(dian)阻值、電(dian)導(dao)率或磁場強(qiang)度等(deng)參數(shu)。

2、測量電路(lu)：測量電路(lu)部分將傳感器(qi)采(cai)集的(de)信(xin)號進行處理(li)，計算出鍍層或涂層的(de)厚度(du)。

3、顯(xian)示(shi)單元：計算出的(de)厚度將(jiang)顯(xian)示(shi)在顯(xian)示(shi)單元上(shang)。

三、鍍層測厚儀原理是什么

鍍層(ceng)測(ce)厚(hou)儀(yi)用于測(ce)量鍍層(ceng)厚(hou)度，主要有三種原理：

1、磁吸型

永久磁鐵（測(ce)頭(tou)）與導磁鋼材之間的吸力大小(xiao)與處于這(zhe)兩者之間的距離成(cheng)一(yi)定(ding)比例關系，這(zhe)個距離就是覆層的厚度。利用這(zhe)一(yi)原理制成(cheng)測(ce)厚儀，只(zhi)要覆層與基材的導磁率之差足夠大，就可進(jin)行測(ce)量(liang)。

這(zhe)種測(ce)(ce)厚儀(yi)基本結構由磁鋼(gang)(gang)，接力(li)簧(huang)，標尺及自(zi)停(ting)機構組成。磁鋼(gang)(gang)與(yu)被(bei)測(ce)(ce)物吸(xi)合(he)后，將測(ce)(ce)量簧(huang)在其后逐漸拉長，拉力(li)逐漸增大。當拉力(li)剛好大于吸(xi)力(li)，磁鋼(gang)(gang)脫離的(de)一瞬間記錄下拉力(li)的(de)大小即可獲(huo)得覆(fu)層厚度。

2、磁感應型

采用(yong)磁(ci)(ci)(ci)感應原理時，利用(yong)從測頭經過非(fei)鐵(tie)磁(ci)(ci)(ci)覆(fu)層(ceng)而流入鐵(tie)磁(ci)(ci)(ci)基體的(de)(de)磁(ci)(ci)(ci)通的(de)(de)大(da)小(xiao)，來測定覆(fu)層(ceng)厚度(du)(du)。也可以測定與(yu)之對應的(de)(de)磁(ci)(ci)(ci)阻的(de)(de)大(da)小(xiao)，來表示其(qi)覆(fu)層(ceng)厚度(du)(du)。覆(fu)層(ceng)越(yue)厚，則磁(ci)(ci)(ci)阻越(yue)大(da)，磁(ci)(ci)(ci)通越(yue)小(xiao)。

利(li)用磁(ci)感應原理的(de)測厚(hou)儀，原則(ze)上可(ke)以有導(dao)磁(ci)基(ji)體上的(de)非導(dao)磁(ci)覆層(ceng)厚(hou)度，一般要(yao)求基(ji)材(cai)導(dao)磁(ci)率(lv)在500以上，如(ru)果(guo)覆層(ceng)材(cai)料(liao)也有磁(ci)性(xing)，則(ze)要(yao)求與基(ji)材(cai)的(de)導(dao)磁(ci)率(lv)之差足夠大（如(ru)鋼上鍍(du)鎳(nie)）。

3、電渦流型

高頻交流(liu)信號在測頭(tou)線圈中(zhong)產生電磁場(chang)，測頭(tou)靠近(jin)導體時(shi)，就在其中(zhong)形成渦流(liu)。測頭(tou)離(li)導電基體愈(yu)(yu)近(jin)，則渦流(liu)愈(yu)(yu)大，反射阻抗也愈(yu)(yu)大。這個反饋(kui)作用(yong)量表征了測頭(tou)與導電基體之間距離(li)的大小(xiao)，也就是導電基體上非(fei)導電覆層厚(hou)度的大小(xiao)。

采用電渦流原理的測厚儀，原則上對所有導(dao)電(dian)(dian)(dian)體(ti)上的(de)非導(dao)電(dian)(dian)(dian)體(ti)覆層(ceng)均可測(ce)(ce)量，如航天航空器表(biao)面、車輛(liang)、家(jia)電(dian)(dian)(dian)、鋁合金(jin)門窗及(ji)(ji)其它鋁制(zhi)品表(biao)面的(de)漆，塑料(liao)涂(tu)層(ceng)及(ji)(ji)陽極氧(yang)化膜。覆層(ceng)材(cai)料(liao)有一定的(de)導(dao)電(dian)(dian)(dian)性，通過校準同(tong)樣也可測(ce)(ce)量，但(dan)要求兩者的(de)導(dao)電(dian)(dian)(dian)率之比至少(shao)相差(cha)3-5倍（如銅上鍍鉻）。