一、涂鍍層測厚儀有幾種類型
涂(tu)鍍層測厚(hou)儀就是用來(lai)測量(liang)涂(tu)層、鍍層厚(hou)度的儀器,它的種類(lei)眾多(duo),一般按照原理不同(tong),可分(fen)為以下幾(ji)大(da)類(lei)型:
1、超聲波測厚儀
超(chao)聲波在各(ge)種介(jie)質中的聲速是不同(tong)的,但在同(tong)一介(jie)質中聲速是一常數。超(chao)聲波在介(jie)質中傳播遇到第二種介(jie)質時(shi)會被反射,測(ce)量超(chao)聲波脈沖從發射至接收的間(jian)隔(ge)時(shi)間(jian),即可(ke)將這間(jian)隔(ge)時(shi)間(jian)換算成厚(hou)度。在電(dian)力工(gong)業中應(ying)用(yong)最廣的就是這類(lei)測(ce)厚(hou)儀。常用(yong)于測(ce)定鍋(guo)爐鍋(guo)筒、受(shou)熱面管(guan)子、管(guan)道等的厚(hou)度,也用(yong)于校核工(gong)件結構尺寸(cun)等。
這類測厚(hou)儀多是攜帶式(shi)的(de),體(ti)積與小(xiao)型半導體(ti)收音機相(xiang)近,厚(hou)度值的(de)顯示(shi)多是數字(zi)式(shi)的(de)。對于鋼材,最大(da)測定厚(hou)度達2000 mm左右(you),精(jing)度在±0.01~±0.1 mm之間。
2、磁性測厚儀
磁性(xing)測厚(hou)儀在測定(ding)各種導(dao)磁材(cai)料的(de)磁阻時,測定(ding)值(zhi)(zhi)會因其表面非導(dao)磁覆(fu)蓋層(ceng)(ceng)(ceng)厚(hou)度(du)的(de)不(bu)同而(er)發生變化,利用(yong)這種變化即可測知覆(fu)蓋層(ceng)(ceng)(ceng)厚(hou)度(du)值(zhi)(zhi),常用(yong)于測定(ding)鐵磁金屬表面上(shang)的(de)噴鋁層(ceng)(ceng)(ceng)、塑料層(ceng)(ceng)(ceng)、電鍍層(ceng)(ceng)(ceng)、磷化層(ceng)(ceng)(ceng)、油漆層(ceng)(ceng)(ceng)等的(de)厚(hou)度(du)。
3、渦流測厚儀
渦流測(ce)(ce)厚(hou)(hou)儀是(shi)利用(yong)電渦流原理進(jin)行測(ce)(ce)量的(de)(de)(de),當載有高頻(pin)電流的(de)(de)(de)探頭線(xian)圈置于被(bei)測(ce)(ce)金屬(shu)表(biao)面時,由于高頻(pin)磁場的(de)(de)(de)作用(yong)而使金屬(shu)體內產(chan)生渦流,此(ci)(ci)渦流產(chan)生的(de)(de)(de)磁場又反(fan)作用(yong)于探頭線(xian)圈,使其阻抗發生變化(hua)(hua),此(ci)(ci)變化(hua)(hua)量與探頭線(xian)圈離金屬(shu)表(biao)面的(de)(de)(de)距(ju)離(即(ji)覆(fu)蓋(gai)層的(de)(de)(de)厚(hou)(hou)度(du))有關,因而根(gen)據(ju)探頭線(xian)圈阻抗的(de)(de)(de)變化(hua)(hua)可間(jian)接(jie)測(ce)(ce)量金屬(shu)表(biao)面覆(fu)蓋(gai)層的(de)(de)(de)厚(hou)(hou)度(du)。這種(zhong)測(ce)(ce)厚(hou)(hou)儀常用(yong)于測(ce)(ce)定鋁(lv)材上的(de)(de)(de)氧化(hua)(hua)膜(mo)或鋁(lv)、銅表(biao)面上其他(ta)絕(jue)緣覆(fu)蓋(gai)層的(de)(de)(de)厚(hou)(hou)度(du)。
4、同位素測厚儀
同(tong)(tong)(tong)位素測(ce)(ce)厚儀是利(li)用(yong)物質厚度(du)不同(tong)(tong)(tong)對輻射的(de)吸收與散射不同(tong)(tong)(tong)的(de)原理工作的(de),可以(yi)測(ce)(ce)定薄(bo)鋼板(ban)、薄(bo)銅板(ban)、薄(bo)鋁板(ban)、硅(gui)鋼片、合金片等(deng)(deng)金屬材料及橡膠片,塑料膜(mo),紙張等(deng)(deng)的(de)厚度(du),常用(yong)的(de)同(tong)(tong)(tong)位素射線有γ射線、β射線等(deng)(deng)。
5、激光測厚儀
激(ji)光測(ce)厚(hou)儀(yi)是(shi)利(li)用激(ji)光的(de)(de)反射原理,根據(ju)光切(qie)法測(ce)量(liang)和觀(guan)察機(ji)械制造中零件加(jia)工(gong)表面的(de)(de)微(wei)觀(guan)幾何(he)形狀(zhuang)來(lai)測(ce)量(liang)產品的(de)(de)厚(hou)度,它是(shi)一(yi)種非接(jie)觸式的(de)(de)動態測(ce)量(liang)儀(yi)器,可直接(jie)輸出數(shu)字(zi)信號與工(gong)業計算機(ji)相連接(jie),并(bing)迅速處理數(shu)據(ju)并(bing)輸出偏差值到各種工(gong)業設備。
二、什么樣的測厚儀好用
測厚儀的種類眾多,選擇時主要是根據測量需要選擇合適的測厚儀,不管選的哪種測厚儀,要達到好用的標準,都應符合以(yi)下(xia)幾(ji)個條件:
1、準(zhun): 測量值精準(zhun)。
2、穩:測(ce)出來(lai)的值穩定(ding),不跳。
3、快(kuai):測(ce)(ce)值(zhi)顯示數值(zhi)反應快(kuai),1秒內即可顯示測(ce)(ce)量值(zhi)。
4、高:分辨力高,相差0.1mm也可真正分辨出來。
5、低:功耗低, 可連續(xu)工(gong)作較(jiao)長時間。