一、覆層測厚儀和涂層測厚儀的區別在哪

覆層測厚儀是對材料覆蓋層厚度進行測量的儀器，它和涂層測厚儀實際上(shang)是(shi)(shi)一樣的(de)(de)(de)，是(shi)(shi)兩種不同的(de)(de)(de)稱呼而已，如果非要(yao)說有什么(me)區別的(de)(de)(de)話，那(nei)就(jiu)是(shi)(shi)覆層測厚儀是(shi)(shi)新研發的(de)(de)(de)新產品，與之前涂層測厚儀相比有以(yi)下(xia)主要(yao)優點：

1、測(ce)(ce)(ce)量速(su)度快：測(ce)(ce)(ce)量速(su)度比(bi)普通涂層(ceng)測(ce)(ce)(ce)厚儀快6倍。

2、精(jing)度高：產品校準(zhun)后精(jing)度即(ji)可達到1-2%，比普(pu)通的涂層測厚儀(yi)精(jing)度更高。

3、穩(wen)定(ding)性：測(ce)量值的(de)穩(wen)定(ding)性和使(shi)用(yong)穩(wen)定(ding)性優于(yu)涂層(ceng)測(ce)厚儀(yi)。

4、功能、數據、操作、顯示全部是中(zhong)文。

二、涂層測厚儀和超聲波測厚儀有什么區別

涂層測厚儀(yi)和(he)超聲波測厚儀(yi)相比，雖然(ran)都是測厚儀(yi)，但在(zai)以下幾個方面都存(cun)在(zai)區(qu)別(bie)：

1、測量范圍不同

作為無損檢測(ce)儀器(qi)，超(chao)聲(sheng)波測(ce)厚(hou)(hou)儀和(he)涂層測(ce)厚(hou)(hou)儀都有卡尺和(he)千分尺等測(ce)量(liang)儀器(qi)達不到的優(you)勢，但(dan)是(shi)兩者在測(ce)量(liang)范圍(wei)上還(huan)是(shi)有區別的，涂層測(ce)厚(hou)(hou)儀主要用來表面(mian)覆層，而超(chao)聲(sheng)波測(ce)厚(hou)(hou)儀側重于(yu)壁厚(hou)(hou)和(he)板厚(hou)(hou)的基材測(ce)量(liang)。

超聲波測(ce)(ce)厚(hou)(hou)(hou)儀(yi)的具體測(ce)(ce)量范(fan)圍：超聲波測(ce)(ce)厚(hou)(hou)(hou)儀(yi)可(ke)以測(ce)(ce)量金屬(shu)材質、管道(dao)、壓力(li)容器(qi)、板材（鋼板、鋁板）、塑料(liao)、鐵(tie)管、PVC管、玻璃等其他(ta)特殊材料(liao)的厚(hou)(hou)(hou)度(du)；也(ye)可(ke)以測(ce)(ce)量工件表面(mian)油漆(qi)層(ceng)等帶涂層(ceng)的材料(liao)。

涂層(ceng)測(ce)厚(hou)儀的具體測(ce)量范圍：主要用于測(ce)量金屬上的涂層(ceng)，防腐層(ceng)，電鍍層(ceng)，塑料，油漆，塑膠，陶(tao)瓷，琺(fa)瑯等覆蓋(gai)層(ceng)的厚(hou)度，也(ye)可以擴展應用到對(dui)紙張，薄膜(mo)，板材等的厚(hou)度進行間(jian)接測(ce)量。

2、測量方法不同

（1）超聲波測厚儀的測量方法

①單點測(ce)量法：在(zai)被測(ce)體上任一點，利用探頭進行測(ce)量，顯(xian)示值即(ji)為厚度值。

②兩(liang)點(dian)(dian)測(ce)(ce)量法：在被(bei)測(ce)(ce)體的同一點(dian)(dian)用探頭進(jin)行兩(liang)次(ci)測(ce)(ce)量，在第(di)二次(ci)測(ce)(ce)量中，探頭的分割面成 90°，取(qu)兩(liang)次(ci)測(ce)(ce)量中的較小值為厚度值。

③多(duo)點(dian)測量法：當測量值不穩定時(shi)，以(yi)一個測定點(dian)為(wei)中心，在直徑(jing)約為(wei) 30mm 的(de)圓內進行多(duo)次測量，取最小(xiao)值為(wei)厚度值。

④連續(xu)測(ce)量法：用單點測(ce)量法，沿指定線(xian)路(lu)連續(xu)測(ce)量，其(qi)間隔(ge)不小于 5mm，取(qu)其(qi)中最小值為厚度值。

（2）涂層測厚儀的測量方法

①磁性法(fa)：主要用于(yu)鐵基涂層，當(dang)測(ce)量(liang)頭與覆蓋(gai)層接觸時，測(ce)量(liang)頭和磁性金屬基體(ti)構成一閉合(he)磁路，由于(yu)非磁性覆蓋(gai)層的存(cun)在，使磁路磁阻變(bian)化，通過測(ce)量(liang)其(qi)變(bian)化可(ke)導出覆蓋(gai)層的厚(hou)度。

②渦(wo)流法：主要用于非鐵基(ji)涂層(ceng)，用利(li)用高頻交變電流在線(xian)(xian)圈(quan)中產生一個(ge)電磁場，當測(ce)量頭與覆(fu)蓋層(ceng)接(jie)觸時，金屬基(ji)體上產生電渦(wo)流，并對測(ce)量頭中的(de)線(xian)(xian)圈(quan)產生反饋作用，通過(guo)測(ce)量反饋作用的(de)大小可導出覆(fu)蓋層(ceng)的(de)厚度。

3、測量精度不同

超聲波測厚儀的測量精度是0.5-600mm；涂層測厚儀的測量精(jing)度(du)是：0-1250um（標(biao)配F1/N1探(tan)頭(tou)）00-10000um（選配F10/N10探(tan)頭(tou)）。