一、覆層測厚儀和涂層測厚儀的區別在哪

覆層測厚儀是對材料覆蓋層厚度進行測量的儀器，它和涂層測厚儀實際上是(shi)一樣(yang)的(de)，是(shi)兩(liang)種(zhong)不同的(de)稱呼而已，如(ru)果非要說有(you)什么區別(bie)的(de)話，那就是(shi)覆(fu)層測厚儀(yi)(yi)是(shi)新(xin)研發的(de)新(xin)產品，與之前涂層測厚儀(yi)(yi)相比(bi)有(you)以下主要優(you)點：

1、測(ce)(ce)量速度快：測(ce)(ce)量速度比普通(tong)涂層測(ce)(ce)厚儀(yi)快6倍。

2、精度高(gao)：產品校準后精度即可達到1-2%，比普通的涂層測厚儀精度更高(gao)。

3、穩定(ding)性(xing)：測量值的穩定(ding)性(xing)和(he)使用穩定(ding)性(xing)優(you)于(yu)涂層測厚儀。

4、功能、數據、操作、顯示全(quan)部是中文。

二、涂層測厚儀和超聲波測厚儀有什么區別

涂層測(ce)厚(hou)儀和(he)超(chao)聲波測(ce)厚(hou)儀相比(bi)，雖然都(dou)是測(ce)厚(hou)儀，但(dan)在以下幾個方(fang)面都(dou)存在區(qu)別：

1、測量范圍不同

作為無損(sun)檢測(ce)儀(yi)(yi)器，超聲波測(ce)厚(hou)儀(yi)(yi)和涂層(ceng)測(ce)厚(hou)儀(yi)(yi)都有卡尺(chi)和千分尺(chi)等(deng)測(ce)量儀(yi)(yi)器達(da)不到(dao)的(de)優勢(shi)，但(dan)是兩者在測(ce)量范圍上還是有區別(bie)的(de)，涂層(ceng)測(ce)厚(hou)儀(yi)(yi)主要用來表面覆(fu)層(ceng)，而超聲波測(ce)厚(hou)儀(yi)(yi)側重于壁(bi)厚(hou)和板厚(hou)的(de)基材測(ce)量。

超聲波測(ce)(ce)(ce)厚儀的(de)具(ju)體測(ce)(ce)(ce)量范圍：超聲波測(ce)(ce)(ce)厚儀可(ke)以(yi)測(ce)(ce)(ce)量金(jin)屬材質、管(guan)道、壓力容器、板(ban)材（鋼(gang)板(ban)、鋁板(ban)）、塑料(liao)(liao)(liao)、鐵(tie)管(guan)、PVC管(guan)、玻璃等(deng)其他特殊材料(liao)(liao)(liao)的(de)厚度(du)；也可(ke)以(yi)測(ce)(ce)(ce)量工件表面油(you)漆層等(deng)帶涂層的(de)材料(liao)(liao)(liao)。

涂層(ceng)(ceng)測(ce)厚(hou)儀(yi)的(de)具體(ti)測(ce)量(liang)范(fan)圍：主要用于(yu)測(ce)量(liang)金屬上的(de)涂層(ceng)(ceng)，防腐層(ceng)(ceng)，電(dian)鍍層(ceng)(ceng)，塑(su)料(liao)，油漆，塑(su)膠，陶瓷(ci)，琺(fa)瑯等覆蓋層(ceng)(ceng)的(de)厚(hou)度(du)，也可以擴展應用到對紙張(zhang)，薄膜，板(ban)材等的(de)厚(hou)度(du)進行(xing)間接測(ce)量(liang)。

2、測量方法不同

（1）超聲波測厚儀的測量方法

①單(dan)點(dian)測量(liang)法(fa)：在被測體上(shang)任一點(dian)，利(li)用探頭(tou)進行測量(liang)，顯示值即(ji)為厚度值。

②兩點測量(liang)法：在被測體的(de)(de)同一點用探(tan)頭進行兩次(ci)(ci)測量(liang)，在第(di)二(er)次(ci)(ci)測量(liang)中(zhong)，探(tan)頭的(de)(de)分割(ge)面(mian)成 90°，取兩次(ci)(ci)測量(liang)中(zhong)的(de)(de)較小值(zhi)為(wei)厚度值(zhi)。

③多點測量(liang)法：當測量(liang)值(zhi)不穩定時，以一(yi)個測定點為(wei)中心，在直徑約(yue)為(wei) 30mm 的(de)圓內進行多次測量(liang)，取最(zui)小值(zhi)為(wei)厚度值(zhi)。

④連(lian)續測量法：用(yong)單點測量法，沿指定線路連(lian)續測量，其間(jian)隔(ge)不小于 5mm，取其中最小值為厚度值。

（2）涂層測厚儀的測量方法

①磁(ci)(ci)(ci)性(xing)(xing)法：主要用于鐵(tie)基涂層，當測(ce)量頭與(yu)覆(fu)蓋(gai)(gai)層接觸時(shi)，測(ce)量頭和(he)磁(ci)(ci)(ci)性(xing)(xing)金屬基體(ti)構(gou)成一閉合磁(ci)(ci)(ci)路(lu)，由于非磁(ci)(ci)(ci)性(xing)(xing)覆(fu)蓋(gai)(gai)層的(de)存(cun)在，使磁(ci)(ci)(ci)路(lu)磁(ci)(ci)(ci)阻變化(hua)，通過測(ce)量其變化(hua)可導出覆(fu)蓋(gai)(gai)層的(de)厚度(du)。

②渦流(liu)(liu)法(fa)：主(zhu)要用(yong)(yong)(yong)于非鐵基(ji)(ji)涂層，用(yong)(yong)(yong)利用(yong)(yong)(yong)高頻交變(bian)電流(liu)(liu)在線圈中(zhong)產生(sheng)一個電磁場，當測(ce)量頭與覆(fu)蓋層接觸時(shi)，金屬(shu)基(ji)(ji)體上產生(sheng)電渦流(liu)(liu)，并對(dui)測(ce)量頭中(zhong)的(de)線圈產生(sheng)反饋作用(yong)(yong)(yong)，通過測(ce)量反饋作用(yong)(yong)(yong)的(de)大(da)小可導出(chu)覆(fu)蓋層的(de)厚度。

3、測量精度不同

超聲波測厚儀的測量精度是0.5-600mm；涂層測厚儀的(de)測量精度是：0-1250um（標配F1/N1探頭）00-10000um（選配F10/N10探頭）。