一、覆層測厚儀和涂層測厚儀的區別在哪

覆層測厚儀是對材料覆蓋層厚度進行測量的儀器，它和涂層測厚儀實際上是(shi)(shi)一樣(yang)的(de)(de)，是(shi)(shi)兩(liang)種不同的(de)(de)稱呼而已，如果非要(yao)說有什么區(qu)別的(de)(de)話(hua)，那就是(shi)(shi)覆層測厚儀(yi)是(shi)(shi)新研發(fa)的(de)(de)新產(chan)品，與之(zhi)前涂層測厚儀(yi)相(xiang)比有以(yi)下(xia)主要(yao)優點：

1、測量(liang)速(su)度快：測量(liang)速(su)度比普通涂層測厚儀快6倍。

2、精(jing)度高(gao)：產(chan)品校準后(hou)精(jing)度即可(ke)達到1-2%，比普通的(de)涂層測厚儀精(jing)度更(geng)高(gao)。

3、穩定(ding)性(xing)：測量值(zhi)的穩定(ding)性(xing)和使用穩定(ding)性(xing)優于涂層測厚(hou)儀。

4、功能(neng)、數據(ju)、操作(zuo)、顯(xian)示全部是中文。

二、涂層測厚儀和超聲波測厚儀有什么區別

涂層測厚(hou)儀(yi)和(he)超聲波測厚(hou)儀(yi)相比(bi)，雖然都是測厚(hou)儀(yi)，但(dan)在以下(xia)幾個方面都存在區別：

1、測量范圍不同

作為(wei)無損檢測(ce)(ce)儀(yi)器(qi)，超聲波測(ce)(ce)厚(hou)儀(yi)和涂(tu)層測(ce)(ce)厚(hou)儀(yi)都有卡尺(chi)和千分尺(chi)等(deng)測(ce)(ce)量(liang)儀(yi)器(qi)達不到的優(you)勢，但是(shi)兩者在測(ce)(ce)量(liang)范圍(wei)上還是(shi)有區別(bie)的，涂(tu)層測(ce)(ce)厚(hou)儀(yi)主要用來表(biao)面覆層，而超聲波測(ce)(ce)厚(hou)儀(yi)側重于壁厚(hou)和板厚(hou)的基材測(ce)(ce)量(liang)。

超聲波測厚儀的具體(ti)測量(liang)范圍(wei)：超聲波測厚儀可以測量(liang)金屬材(cai)質、管(guan)道、壓(ya)力容(rong)器、板(ban)材(cai)（鋼板(ban)、鋁板(ban)）、塑(su)料(liao)、鐵管(guan)、PVC管(guan)、玻璃等其他(ta)特殊材(cai)料(liao)的厚度；也(ye)可以測量(liang)工件表(biao)面油漆層等帶涂層的材(cai)料(liao)。

涂(tu)層測(ce)厚(hou)(hou)儀的(de)具體測(ce)量(liang)范圍：主要用(yong)于測(ce)量(liang)金屬上(shang)的(de)涂(tu)層，防腐層，電鍍層，塑料，油漆，塑膠，陶瓷，琺瑯等(deng)(deng)覆(fu)蓋層的(de)厚(hou)(hou)度，也可以(yi)擴展應用(yong)到對紙張，薄膜，板材等(deng)(deng)的(de)厚(hou)(hou)度進(jin)行間接測(ce)量(liang)。

2、測量方法不同

（1）超聲波測厚儀的測量方法

①單點測(ce)量法：在被測(ce)體上任一點，利用(yong)探(tan)頭進行測(ce)量，顯(xian)示(shi)值即為厚度(du)值。

②兩(liang)(liang)點測量(liang)法：在(zai)被測體(ti)的同一點用(yong)探頭(tou)進行兩(liang)(liang)次測量(liang)，在(zai)第二次測量(liang)中，探頭(tou)的分割面(mian)成 90°，取(qu)兩(liang)(liang)次測量(liang)中的較小值為厚(hou)度值。

③多(duo)點(dian)測(ce)量法：當測(ce)量值(zhi)不穩定時，以(yi)一個測(ce)定點(dian)為中心，在(zai)直徑(jing)約為 30mm 的圓(yuan)內進行多(duo)次測(ce)量，取最小(xiao)值(zhi)為厚度值(zhi)。

④連(lian)續測(ce)量(liang)法：用單(dan)點(dian)測(ce)量(liang)法，沿(yan)指(zhi)定線路連(lian)續測(ce)量(liang)，其間隔不小于(yu) 5mm，取其中最小值為厚度值。

（2）涂層測厚儀的測量方法

①磁(ci)性(xing)法：主要用于(yu)鐵(tie)基涂層(ceng)，當測(ce)量頭與覆蓋(gai)層(ceng)接觸時，測(ce)量頭和磁(ci)性(xing)金屬基體(ti)構成一閉合磁(ci)路(lu)，由于(yu)非磁(ci)性(xing)覆蓋(gai)層(ceng)的(de)存在，使磁(ci)路(lu)磁(ci)阻變化，通過測(ce)量其變化可導(dao)出(chu)覆蓋(gai)層(ceng)的(de)厚度。

②渦流法：主(zhu)要(yao)用于非鐵基涂層(ceng)，用利(li)用高頻(pin)交變電(dian)(dian)(dian)流在(zai)線圈中產(chan)生一個電(dian)(dian)(dian)磁場，當測量(liang)頭(tou)與覆蓋(gai)層(ceng)接觸(chu)時，金屬基體(ti)上(shang)產(chan)生電(dian)(dian)(dian)渦流，并對測量(liang)頭(tou)中的(de)線圈產(chan)生反饋(kui)(kui)作用，通過測量(liang)反饋(kui)(kui)作用的(de)大小(xiao)可(ke)導出覆蓋(gai)層(ceng)的(de)厚度。

3、測量精度不同

超聲波測厚儀的測量精度是0.5-600mm；涂層測厚儀的(de)測量精度是：0-1250um（標配F1/N1探(tan)頭）00-10000um（選配F10/N10探(tan)頭）。