一、覆層測厚儀和涂層測厚儀的區別在哪

覆層測厚儀是對材料覆蓋層厚度進行測量的儀器，它和涂層測厚儀實際上(shang)是一樣的(de)，是兩種不(bu)同的(de)稱(cheng)呼而(er)已，如果非要(yao)說有(you)什么(me)區(qu)別的(de)話，那就是覆層(ceng)(ceng)測厚儀是新研發的(de)新產品(pin)，與(yu)之前涂層(ceng)(ceng)測厚儀相比有(you)以(yi)下主要(yao)優點：

1、測(ce)(ce)量速度快(kuai)：測(ce)(ce)量速度比普通涂(tu)層(ceng)測(ce)(ce)厚儀快(kuai)6倍。

2、精(jing)度(du)(du)高：產品校準后精(jing)度(du)(du)即可達(da)到1-2%，比普通的涂層(ceng)測厚(hou)儀精(jing)度(du)(du)更高。

3、穩(wen)定性：測(ce)量(liang)值的穩(wen)定性和使用穩(wen)定性優于涂(tu)層(ceng)測(ce)厚儀。

4、功能、數(shu)據、操作、顯示全部是中文。

二、涂層測厚儀和超聲波測厚儀有什么區別

涂(tu)層(ceng)測厚(hou)儀和超聲波測厚(hou)儀相(xiang)比，雖然都(dou)是測厚(hou)儀，但在以下幾個方面都(dou)存在區別：

1、測量范圍不同

作為無損檢(jian)測(ce)儀器，超聲波測(ce)厚(hou)(hou)(hou)儀和(he)涂層(ceng)測(ce)厚(hou)(hou)(hou)儀都(dou)有卡尺和(he)千分尺等測(ce)量(liang)儀器達不到的優勢(shi)，但是兩者在測(ce)量(liang)范圍(wei)上(shang)還(huan)是有區別的，涂層(ceng)測(ce)厚(hou)(hou)(hou)儀主要用來表面覆層(ceng)，而超聲波測(ce)厚(hou)(hou)(hou)儀側重于壁厚(hou)(hou)(hou)和(he)板(ban)厚(hou)(hou)(hou)的基(ji)材測(ce)量(liang)。

超聲波測(ce)厚(hou)儀的(de)具體(ti)測(ce)量范圍：超聲波測(ce)厚(hou)儀可以(yi)測(ce)量金(jin)屬材質(zhi)、管(guan)道、壓力容(rong)器、板(ban)(ban)材（鋼板(ban)(ban)、鋁板(ban)(ban)）、塑料、鐵(tie)管(guan)、PVC管(guan)、玻璃等其他特殊材料的(de)厚(hou)度；也可以(yi)測(ce)量工件表面油(you)漆層等帶涂(tu)層的(de)材料。

涂層測(ce)厚(hou)儀的(de)(de)具體(ti)測(ce)量(liang)范圍：主要用(yong)于測(ce)量(liang)金屬上(shang)的(de)(de)涂層，防腐層，電鍍層，塑料，油(you)漆(qi)，塑膠，陶瓷，琺瑯等覆蓋(gai)層的(de)(de)厚(hou)度，也可以擴(kuo)展(zhan)應用(yong)到對紙張，薄膜，板(ban)材(cai)等的(de)(de)厚(hou)度進行間接測(ce)量(liang)。

2、測量方法不同

（1）超聲波測厚儀的測量方法

①單點(dian)測(ce)量法：在被測(ce)體上任一點(dian)，利用探頭進(jin)行測(ce)量，顯(xian)示值即為(wei)厚度值。

②兩(liang)(liang)點測(ce)量(liang)法：在被測(ce)體的同一點用探(tan)頭進(jin)行兩(liang)(liang)次測(ce)量(liang)，在第二次測(ce)量(liang)中(zhong)，探(tan)頭的分割(ge)面成(cheng) 90°，取兩(liang)(liang)次測(ce)量(liang)中(zhong)的較小值(zhi)為(wei)厚度值(zhi)。

③多點測量(liang)法(fa)：當測量(liang)值(zhi)(zhi)不穩定時，以一個測定點為中(zhong)心，在直徑約為 30mm 的(de)圓內進行多次(ci)測量(liang)，取(qu)最小(xiao)值(zhi)(zhi)為厚度值(zhi)(zhi)。

④連(lian)續測量法(fa)：用單點測量法(fa)，沿指定(ding)線路連(lian)續測量，其(qi)間隔不小于(yu) 5mm，取其(qi)中最小值為厚度(du)值。

（2）涂層測厚儀的測量方法

①磁性(xing)法：主要用于鐵基(ji)涂(tu)層，當(dang)測(ce)量(liang)頭與覆蓋層接觸時，測(ce)量(liang)頭和磁性(xing)金(jin)屬基(ji)體(ti)構成一閉合磁路(lu)，由于非磁性(xing)覆蓋層的存在，使磁路(lu)磁阻變(bian)(bian)化，通過測(ce)量(liang)其(qi)變(bian)(bian)化可導出(chu)覆蓋層的厚(hou)度。

②渦(wo)(wo)流(liu)(liu)法(fa)：主要(yao)用(yong)(yong)于非(fei)鐵基(ji)涂層(ceng)(ceng)，用(yong)(yong)利(li)用(yong)(yong)高頻交變電流(liu)(liu)在線(xian)圈(quan)中產(chan)生(sheng)一個電磁場，當測(ce)量(liang)(liang)頭與覆蓋(gai)層(ceng)(ceng)接觸時，金屬基(ji)體上產(chan)生(sheng)電渦(wo)(wo)流(liu)(liu)，并對測(ce)量(liang)(liang)頭中的線(xian)圈(quan)產(chan)生(sheng)反(fan)饋作用(yong)(yong)，通過測(ce)量(liang)(liang)反(fan)饋作用(yong)(yong)的大小可導出覆蓋(gai)層(ceng)(ceng)的厚度。

3、測量精度不同

超聲波測厚儀的測量精度是0.5-600mm；涂層測厚儀的(de)測量精度是：0-1250um（標配F1/N1探頭）00-10000um（選(xuan)配F10/N10探頭）。