一、覆層測厚儀和涂層測厚儀的區別在哪

覆層測厚儀是對材料覆蓋層厚度進行測量的儀器，它和涂層測厚儀實際(ji)上是一(yi)樣(yang)的(de)，是兩種不同(tong)的(de)稱呼而已，如(ru)果非(fei)要說有什(shen)么區別的(de)話，那就是覆(fu)層測(ce)厚儀是新研(yan)發的(de)新產品，與之(zhi)前涂層測(ce)厚儀相比有以下主要優點：

1、測量(liang)速(su)度(du)快：測量(liang)速(su)度(du)比普通涂層測厚儀快6倍。

2、精度(du)(du)高(gao)：產(chan)品校準后精度(du)(du)即可達到1-2%，比(bi)普通的涂層測厚儀(yi)精度(du)(du)更(geng)高(gao)。

3、穩定性(xing)：測(ce)量值的穩定性(xing)和(he)使用穩定性(xing)優于(yu)涂層(ceng)測(ce)厚儀。

4、功能、數據、操作、顯示全部是中文(wen)。

二、涂層測厚儀和超聲波測厚儀有什么區別

涂層測(ce)厚儀(yi)和超聲(sheng)波測(ce)厚儀(yi)相比，雖然都(dou)是(shi)測(ce)厚儀(yi)，但在以下幾個方面都(dou)存(cun)在區別：

1、測量范圍不同

作為無損檢測(ce)儀(yi)器，超(chao)聲波測(ce)厚儀(yi)和涂(tu)層測(ce)厚儀(yi)都(dou)有卡(ka)尺(chi)和千分尺(chi)等測(ce)量儀(yi)器達不到的優(you)勢，但是兩者(zhe)在測(ce)量范圍上還(huan)是有區別的，涂(tu)層測(ce)厚儀(yi)主要(yao)用來表面覆層，而超(chao)聲波測(ce)厚儀(yi)側重于壁厚和板厚的基材測(ce)量。

超聲波測(ce)厚儀(yi)的(de)具體測(ce)量范圍：超聲波測(ce)厚儀(yi)可(ke)以(yi)測(ce)量金屬材(cai)(cai)質(zhi)、管(guan)道(dao)、壓(ya)力容(rong)器、板(ban)材(cai)(cai)（鋼板(ban)、鋁板(ban)）、塑(su)料、鐵管(guan)、PVC管(guan)、玻璃(li)等其他特殊材(cai)(cai)料的(de)厚度；也(ye)可(ke)以(yi)測(ce)量工件表(biao)面(mian)油漆層等帶涂層的(de)材(cai)(cai)料。

涂(tu)層測厚儀的(de)具體測量(liang)范圍：主要用于測量(liang)金屬(shu)上的(de)涂(tu)層，防(fang)腐層，電鍍層，塑料，油漆，塑膠(jiao)，陶瓷，琺瑯等覆蓋層的(de)厚度(du)，也可以擴展應用到對紙張(zhang)，薄膜(mo)，板(ban)材等的(de)厚度(du)進(jin)行(xing)間(jian)接測量(liang)。

2、測量方法不同

（1）超聲波測厚儀的測量方法

①單點(dian)測(ce)量法(fa)：在被測(ce)體上任一點(dian)，利(li)用探(tan)頭進行(xing)測(ce)量，顯(xian)示(shi)值即為厚(hou)度值。

②兩(liang)點(dian)測(ce)量(liang)法：在(zai)被測(ce)體的同(tong)一點(dian)用探(tan)頭進(jin)行兩(liang)次(ci)測(ce)量(liang)，在(zai)第(di)二次(ci)測(ce)量(liang)中(zhong)，探(tan)頭的分割面成 90°，取(qu)兩(liang)次(ci)測(ce)量(liang)中(zhong)的較小(xiao)值為厚(hou)度(du)值。

③多點測(ce)(ce)量法(fa)：當測(ce)(ce)量值(zhi)不穩(wen)定(ding)時(shi)，以一(yi)個測(ce)(ce)定(ding)點為(wei)中(zhong)心(xin)，在直(zhi)徑約為(wei) 30mm 的圓內進行多次測(ce)(ce)量，取最小值(zhi)為(wei)厚(hou)度值(zhi)。

④連續測量法(fa)：用單點(dian)測量法(fa)，沿指定(ding)線路連續測量，其間隔不小于(yu) 5mm，取其中最(zui)小值(zhi)為厚(hou)度值(zhi)。

（2）涂層測厚儀的測量方法

①磁(ci)性(xing)(xing)法(fa)：主(zhu)要用(yong)于鐵(tie)基涂(tu)層(ceng)(ceng)，當測量頭與覆(fu)蓋層(ceng)(ceng)接(jie)觸時，測量頭和磁(ci)性(xing)(xing)金屬基體構成一閉合磁(ci)路(lu)，由于非磁(ci)性(xing)(xing)覆(fu)蓋層(ceng)(ceng)的存在，使磁(ci)路(lu)磁(ci)阻(zu)變化，通過測量其變化可導(dao)出覆(fu)蓋層(ceng)(ceng)的厚(hou)度。

②渦(wo)流(liu)法：主要用于非鐵(tie)基涂層(ceng)(ceng)，用利用高頻交變電流(liu)在線圈中(zhong)產(chan)生一個(ge)電磁(ci)場(chang)，當測量頭(tou)與(yu)覆蓋(gai)層(ceng)(ceng)接觸時，金屬基體上產(chan)生電渦(wo)流(liu)，并對測量頭(tou)中(zhong)的線圈產(chan)生反饋作(zuo)用，通(tong)過(guo)測量反饋作(zuo)用的大小可導(dao)出覆蓋(gai)層(ceng)(ceng)的厚度。

3、測量精度不同

超聲波測厚儀的測量精度是0.5-600mm；涂層測厚儀的(de)測量精度是：0-1250um（標配(pei)F1/N1探(tan)頭）00-10000um（選配(pei)F10/N10探(tan)頭）。