一、磁性測厚儀和渦流測厚儀的區別是什么

1、什么是磁性測厚儀

磁性測(ce)厚儀在測(ce)定(ding)各(ge)種(zhong)導(dao)磁材(cai)料(liao)的(de)磁阻時，測(ce)定(ding)值會(hui)因其表面(mian)非(fei)導(dao)磁覆蓋(gai)(gai)層(ceng)厚度的(de)不同而發生變(bian)化。利用這種(zhong)變(bian)化即可測(ce)知覆蓋(gai)(gai)層(ceng)厚度值。常用于測(ce)定(ding)鐵磁金(jin)屬表面(mian)上的(de)噴鋁層(ceng)、塑料(liao)層(ceng)、電(dian)鍍層(ceng)、磷化層(ceng)、油(you)漆層(ceng)等(deng)的(de)厚度。

2、什么是渦流測厚儀

渦流(liu)(liu)測厚(hou)儀(yi)也是測厚(hou)儀(yi)的(de)(de)(de)一(yi)種，當(dang)載有(you)高頻(pin)電流(liu)(liu)的(de)(de)(de)探頭線(xian)(xian)圈(quan)置(zhi)于(yu)被測金屬(shu)(shu)(shu)表(biao)(biao)面(mian)時，由于(yu)高頻(pin)磁(ci)場(chang)的(de)(de)(de)作(zuo)用而使金屬(shu)(shu)(shu)體內(nei)產生(sheng)渦流(liu)(liu)，此渦流(liu)(liu)產生(sheng)的(de)(de)(de)磁(ci)場(chang)又(you)反作(zuo)用于(yu)探頭線(xian)(xian)圈(quan)，使其阻抗(kang)發生(sheng)變(bian)化(hua)(hua)，此變(bian)化(hua)(hua)量與探頭線(xian)(xian)圈(quan)離金屬(shu)(shu)(shu)表(biao)(biao)面(mian)的(de)(de)(de)距離（即覆(fu)蓋(gai)(gai)層的(de)(de)(de)厚(hou)度(du)）有(you)關，因而根據(ju)探頭線(xian)(xian)圈(quan)阻抗(kang)的(de)(de)(de)變(bian)化(hua)(hua)可間接測量金屬(shu)(shu)(shu)表(biao)(biao)面(mian)覆(fu)蓋(gai)(gai)層的(de)(de)(de)厚(hou)度(du)。常用于(yu)測定鋁材上(shang)的(de)(de)(de)氧化(hua)(hua)膜或(huo)鋁、銅表(biao)(biao)面(mian)上(shang)其他絕緣(yuan)覆(fu)蓋(gai)(gai)層的(de)(de)(de)厚(hou)度(du)。

3、渦流測厚儀和磁性測厚儀的區別

磁性(xing)測厚(hou)儀和(he)渦流測厚(hou)儀都可(ke)以用來測量涂層厚(hou)度，二者的主要區別就是測量原理不同：

（1）磁性測厚儀原理

磁(ci)(ci)性(xing)測(ce)厚(hou)儀采用磁(ci)(ci)性(xing)法對覆層(ceng)實行測(ce)厚(hou)，磁(ci)(ci)性(xing)法原理分為兩種(zhong)，因而(er)磁(ci)(ci)性(xing)測(ce)厚(hou)儀也分為了磁(ci)(ci)吸(xi)力涂層(ceng)測(ce)厚(hou)儀和磁(ci)(ci)感應涂層(ceng)測(ce)厚(hou)儀。

磁(ci)(ci)吸(xi)力(li)涂層測(ce)厚(hou)(hou)儀可以(yi)經過(guo)測(ce)頭內的(de)永(yong)恒(heng)磁(ci)(ci)鐵與磁(ci)(ci)性金屬基材之間(jian)磁(ci)(ci)吸(xi)力(li)大小來判別(bie)涂層的(de)厚(hou)(hou)度，這種測(ce)厚(hou)(hou)儀由竭力(li)簧(huang)，磁(ci)(ci)鋼，標尺(chi)以(yi)及自停(ting)機構等個別(bie)組(zu)成，被測(ce)的(de)磁(ci)(ci)性金屬基材與磁(ci)(ci)鋼吸(xi)合后，接力(li)彈簧(huang)被逐(zhu)步(bu)拉長，當拉力(li)逐(zhu)步(bu)增大到剛好大于(yu)吸(xi)力(li)時，磁(ci)(ci)鋼會脫(tuo)離磁(ci)(ci)性金屬基材，脫(tuo)離的(de)霎時拉力(li)的(de)大小就可以(yi)被記(ji)載下，再經過(guo)一定的(de)比例關系就可以(yi)測(ce)量出覆層的(de)厚(hou)(hou)度。

磁(ci)(ci)感應(ying)涂(tu)(tu)層(ceng)測(ce)厚儀則(ze)是利用(yong)了磁(ci)(ci)感應(ying)原(yuan)理(li)，可(ke)以經過(guo)測(ce)量(liang)測(ce)頭內長久磁(ci)(ci)鐵通過(guo)非鐵磁(ci)(ci)性(xing)的(de)(de)涂(tu)(tu)層(ceng)流(liu)入磁(ci)(ci)性(xing)金(jin)屬基(ji)材的(de)(de)磁(ci)(ci)通量(liang)確定涂(tu)(tu)層(ceng)的(de)(de)厚度(du)，相同，涂(tu)(tu)層(ceng)越厚，磁(ci)(ci)通量(liang)越小，當(dang)獲得一定的(de)(de)比例關(guan)系(xi)后可(ke)以計算出涂(tu)(tu)層(ceng)的(de)(de)厚度(du)。

（2）渦流測厚儀原理

渦流(liu)(liu)測(ce)厚儀采用了電(dian)渦流(liu)(liu)原(yuan)理，在(zai)測(ce)頭(tou)(tou)內的(de)(de)線圈(quan)鐵芯通電(dian)后可(ke)以發生高頻(pin)磁(ci)場，經(jing)過測(ce)頭(tou)(tou)與被(bei)測(ce)涂層(ceng)的(de)(de)金屬基(ji)(ji)材接觸發生的(de)(de)渦流(liu)(liu)大小(xiao)(xiao)來反(fan)映測(ce)頭(tou)(tou)與基(ji)(ji)材之(zhi)間的(de)(de)間隔大小(xiao)(xiao)，測(ce)頭(tou)(tou)離(li)金屬基(ji)(ji)材越近(jin)，渦流(liu)(liu)越大，越遠則渦流(liu)(liu)越小(xiao)(xiao)，基(ji)(ji)于這樣的(de)(de)原(yuan)理可(ke)以找(zhao)出渦流(liu)(liu)大小(xiao)(xiao)與間隔大小(xiao)(xiao)之(zhi)間的(de)(de)比(bi)例(li)關系，從而求出間隔大小(xiao)(xiao)，也就是涂層(ceng)的(de)(de)厚度。

二、渦流測厚儀和磁性測厚儀哪個好

磁(ci)性測(ce)厚儀和渦流測(ce)厚儀對比(bi)起來，主(zhu)要(yao)是(shi)原理不同，二者各有各的優勢(shi)和應用領域(yu)，并不能說(shuo)哪種更好，選(xuan)擇(ze)時主(zhu)要(yao)是(shi)根據測(ce)量需要(yao)來選(xuan)：

1、磁性測厚儀適用于測(ce)(ce)量磁(ci)性金(jin)屬(shu)基材上(shang)的(de)非(fei)磁(ci)性覆蓋層(ceng)的(de)厚度(du)，主要應用于鋼鐵等磁(ci)性金(jin)屬(shu)基材上(shang)的(de)釉瓷，搪瓷防(fang)護層(ceng)，鎳鉻等有色金(jin)屬(shu)鍍層(ceng)，油(you)漆以及一(yi)些(xie)防(fang)腐(fu)涂層(ceng)的(de)厚度(du)測(ce)(ce)量等。另外還有一(yi)些(xie)塑料，電容器(qi)紙，聚脂薄膜等材料，也可以利(li)用鋼鐵制造的(de)基材來(lai)實現其厚度(du)測(ce)(ce)量。

2、渦流測(ce)厚(hou)儀適用于(yu)測(ce)量非磁性金屬基(ji)(ji)材上(shang)的(de)非導電覆蓋層的(de)厚(hou)度。主要應用一些非磁性金屬基(ji)(ji)材（比如銅，鋁(lv)，壓鑄鋅）上(shang)的(de)涂料，陶瓷或者陽(yang)極氧化層的(de)厚(hou)度測(ce)量。