一、探針壓合不回位是什么情況

探針是一種用于探測、檢測和測量物理特性或環境條件的工具或設備。它們在各種領域中被廣泛應用，包括科學實驗、醫療診斷、工程檢驗、環境監測等等。探針可以通過測量不同的物理量來提供有關目標物體或環境的信息，包括溫度、濕度、壓力、電流、電壓、速度、位置等等。那么在使用的時候，探針壓合不回位是什么情況呢？

探針壓合不回位的情況：

1、探針感應程序(xu)行凸輪的活動(dong)的角度太小。

2、探(tan)(tan)針的探(tan)(tan)針頭和探(tan)(tan)針線接觸不良。

3、I/0輸入(ru)輸出到節制器的信號線接觸不良。

二、探針卡故障分析及維護方法

探針卡狀態的(de)好壞直接影響測試(shi)的(de)質(zhi)量(liang)。以下是(shi)探針卡的(de)常見故障(zhang)及維護方法：

1、探針卡使用中出現的問題：

（1）針尖(jian)端面(mian)氧化：長(chang)時(shi)間(jian)不使用可能導致針尖(jian)端面(mian)氧化，從而在檢(jian)測時(shi)出現探(tan)針和ITO或PAD接(jie)觸不良的(de)現象。

處理方法(fa)：：從探針(zhen)臺上取下(xia)針(zhen)卡，利用(yong)sanding砂紙(zhi)對(dui)針(zhen)尖端(duan)進行輕微的打磨(mo)，避免過度(du)打磨(mo)使針(zhen)的平(ping)坦(tan)度(du)和排列變形。

（2）濕度(du)(du)影響(xiang)：在(zai)濕度(du)(du)較大的環境下，水份可能侵入EPOXY的內部且不易散發(fa)出(chu)(chu)去，導致(zhi)在(zai)生(sheng)產測試前出(chu)(chu)現空測短路現象。

處(chu)理(li)方法：將針卡放入(ru)溫(wen)度設為80°C的oven里，時間(jian)為15分(fen)鐘(zhong)。結(jie)束后用顯微鏡檢(jian)查針尖(jian)部分(fen)是(shi)否有異物或灰(hui)塵附(fu)著(zhu)，如無異常(chang)即可(ke)進(jin)行作(zuo)業。

2、探針卡的一般維修

（1）定(ding)期檢查(cha)：每(mei)張探針(zhen)(zhen)卡(ka)約使用25,000次(ci)(ci)時需(xu)要檢查(cha)其位(wei)置(zhi)基準(zhun)(zhun)和水(shui)平基準(zhun)(zhun)值，約使用250,000次(ci)(ci)時需(xu)要重新更(geng)換(huan)所(suo)有(you)探針(zhen)(zhen)。

（2）清(qing)潔(jie)與調(diao)整(zheng)：探(tan)針(zhen)卡(ka)(ka)(ka)在使(shi)用一段時間(jian)后，針(zhen)尖上可能會(hui)附著(zhu)污染物(wu)，如(ru)外來碎片、灰塵等。此時需要進(jin)行(xing)化學清(qing)潔(jie)，并調(diao)整(zheng)水平及其位置基準。每次取下探(tan)針(zhen)卡(ka)(ka)(ka)進(jin)行(xing)清(qing)潔(jie)或調(diao)整(zheng)后，需要用特殊(shu)藥劑清(qing)洗后烘(hong)干，以確保探(tan)針(zhen)卡(ka)(ka)(ka)的電子性能。

3、維護的重要性

探(tan)針卡在(zai)使用一(yi)段時間后(hou)，如果針尖位置偏移可能(neng)會導致接觸(chu)斷路、接觸(chu)短路、破壞焊(han)墊(dian)周圍的保護層等問題。

若探針卡因本身的(de)污染或水平基(ji)準偏差導致高阻抗、接觸短路(lu)、高泄漏電(dian)流、不(bu)一致的(de)參(can)數測量(liang)、信(xin)號及電(dian)源傳導失敗等現象，這些(xie)都可能對測試造成(cheng)不(bu)良影響。